磁共振成像装置、图像处理装置以及图像处理方法
【专利摘要】本发明提供一种磁共振成像装置、图像处理装置以及图像处理方法。提供在DKI解析中高速地得到高品质图像的技术。在DKI解析中，当推定与每个MPG脉冲的施加方向的弥散相关的参数时，分离最小二乘拟合与制约处理，在最小二乘拟合中仅对成为制约条件范围外的像素的像素值进行校正处理。并且，对该像素，从校正后的像素值重新推定与弥散相关的参数，使用得到的与弥散相关的参数生成参数图像。
【专利说明】磁共振成像装置、图像处理装置以及图像处理方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种对通过磁共振成像（Magnetic Resonance Imaging,以下称为 MRI)装置取得的图像进行处理的技术。尤其涉及一种弥散峰度成像技术。
【背景技术】
[0002] MRI装置是主要利用质子（proton)的核磁共振现象的医用图像取得装置。MRI 装置能够不介入地拍摄任意断面，在取得形态信息外，还能够取得与血流和代谢功能等生 物体功能相关的信息。通过MRI拍摄的重要图像之一为弥散加权图像（DWI :Diffusion Weighted Image)。弥散加权图像是对生物体组织中包含的水分子的自我弥散进行了加 权的图像，拍摄时取得与弥散速度对应的信号，因此，在重新聚焦用高频磁场脉冲的前后 施加对于随机运动的核自旋引起基于相位分散的信号强度下降的MPG(motion probing gradient :弥散梯度磁场）脉冲，并取得回波。
[0003] 向MPG脉冲的施加方向弥散的核自旋引起基于相位分散的信号强度下降，因此， 通过控制MPG脉冲的施加方向能够取得任意方向的弥散信息。此外，能够通过与MPG脉冲 的施加强度和施加时间相关的参数即弥散因子（b值）调整弥散加权度，因此b值越高，能 够取得弥散加权度越高的图像。
[0004] 作为测量水分子的空间性的弥散分布的方法，有DTI (Diffusion Tensor Imaging :弥散张量成像）。在DTI中，假设水分子的空间性的弥散分布符合正态分布的三 维椭圆弥散模型，并计算其各向异性分数FA(Fractional Anisotropy)，由此，解析白质的 神经行进路线的构造。DTI的脉冲序列，重复一边改变MPG脉冲的施加方向一边取得弥散加 权图像DWI的脉冲序列。
[0005] 此外，近年来，作为对细胞膜或细胞内小器官等引起的弥散运动的限制程度进行 加权的方法，提出了将水分子的空间性的弥散分布假设成非正态分布的弥散模型的弥散峰 度成像DKI (Diffusion Kurtosis Imaging)。与假设为正态分布的弥散模型的DTI相比，期 待该方法是能够捕捉伴随组织变性或细胞增殖的细微结构变化的方法。将DKI的脉冲序列 构成为在变更b值的同时重复DTI的脉冲序列。
[0006] 一般，在通过DKI得到的图像的解析（以后，称为DKI解析）中，在通过MPG脉冲施 加方向相同并且b值不同的序列得到的弥散加权图像中，对每个像素执行非线性的最小二 乘拟合处理，作为每个MPG脉冲的施加方向的与弥散相关的参数，推定弥散系数和峰度系 数（例如，非专利文献1)。并且，为了描绘各系数的空间分布，例如计算出弥散张量以及峰 度张量的成分，计算出第一主成分方向或与主成分垂直的方向的弥散系数和峰度系数等。
[0007] 在DKI解析中，为了在短时间内取得高品质的图像，与弥散相关的参数推定中的 非线性最小二乘拟合的稳定化以及高速化成为课题。在非专利文献1中记载的方法中，为 了使计算稳定化，作为预处理，对弥散加权图像整体应用平滑化滤波器。因此，在成为与弥 散相关的参数推定的基础的弥散加权图像中产生模糊，对作为结果而得到的参数图像的品 质也产生影响。此外，作为一般的计算稳定化方法，存在有限制的非线性最小二乘拟合，但 有限制时，需要多次变更初始值，重复进行计算，使处理时间变长。
[0008]非专利文献 I :Falangola MF、Jensen JH、Babb JS、Hu C、Castellanos FX、Martino AD、Ferris SH、Helpern JA 著,''Age-related non-Gaussian diffusion patterns in the prefrontal brain，'，Journal of Magnetic Resonance Imaging28, 2008, pl345_1350
【发明内容】
[0009] 鉴于上述情况而做出本发明，其目的是提供一种在DKI解析中能够高速地得到高 品质的图像的技术。
[0010] 本发明，在DKI解析中推定与每个MPG脉冲的施加方向的弥散相关的参数时，分离 最小二乘拟合与制约处理，仅对在最小二乘拟合中成为制约条件范围以外的像素的像素值 进行校正处理。然后，对该像素，从校正后的像素值重新推定与弥散相关的参数，使用得到 的与弥散相关的参数来生成参数图像。
[0011] 根据本发明，在DKI解析中能够高速地得到高品质的图像。
【专利附图】
【附图说明】
[0012] 图1是第一实施方式的MRI装置的框图。
[0013] 图2是第一实施方式的计算机的功能框图。
[0014] 图3是用于说明弥散加权图像取得序列的脉冲序列的说明图。
[0015] 图4是第一实施方式的图像处理的流程图。
[0016] 图5是第二实施方式的参数推定处理的流程图。
[0017] 图6是第三实施方式的像素值校正处理的流程图。
[0018] 图7是第四实施方式的计算机的功能框图。
[0019] 图8是第四实施方式的图像处理的流程图。
[0020] 图9是第四实施方式的参数校正处理的流程图。
[0021] 图10是第五实施方式的计算机的功能框图。
[0022] 图11是第五实施方式的图像处理的流程图。
[0023] 符号说明
[0024] 100 MRI 装置
[0025]101 磁铁
[0026]102倾斜磁场线圈
[0027] 103被检体
[0028] 104顺序控制器
[0029] 105倾斜磁场电源
[0030] 106高频磁场发生器
[0031] 107 RF 线圈
[0032] 108 RF 探头
[0033] 109接收器
[0034] 110计算机
[0035] 111显示装置
[0036]112存储装置
[0037] 113匀场线圈
[0038] 114匀场电源
[0039] 115 床
[0040] 116输入装置
[0041] 210拍摄部
[0042] 220图像处理部
[0043] 221关心区域设定部
[0044] 222参数推定部
[0045] 223判别部
[0046]224像素值校正部
[0047] 225图像生成部
[0048] 226参数校正部
[0049] 227可靠度运算部
[0050] 300 ss-DWEPI 脉冲序列
[0051] 301倾斜磁场脉冲
[0052] 3〇2 RF 脉冲
[0053] 303 MPG 脉冲
[0054] 304切片倾斜磁场脉冲
[0055] 305磁化重新聚焦用RF脉冲
[0056] 306 MPG 脉冲
[0057] 307相位编码倾斜磁场脉冲
[0058] 308弥散用读取倾斜磁场脉冲
[0059] 309读取倾斜磁场脉冲
[0060] 310 回波
[0061] 311相位编码倾斜磁场脉冲
[0062]312读取倾斜磁场脉冲
【具体实施方式】
[0063]《第一实施方式》
[0064] 以下，对应用本发明的第一实施方式进行说明。在用于说明本发明的实施方式的 所有附图中，除非另有说明，对具有相同功能的部件赋予相同符号，省略其重复的说明。
[0065] 首先，对本实施方式的磁共振成像（MRI)装置进行说明。本实施方式的MRI装置 100对放置在静磁场内的被检体施加切片（slice)倾斜磁场的同时施加具有特定频率的 高频磁场，激发要拍摄的断面内的核磁化。通过对被激发的核磁化施加相位编码倾斜磁场 以及读取（read-out)倾斜磁场，给予平面位置信息，测量核磁化产生的核磁共振信号（回 波）。重复进行核磁共振信号的测量，直到填充被称为k空间的测量空间为止，通过逆傅立 叶变换将填充k空间的信号图像化（拍摄）。
[0066] 图1是表示实现这些的、本实施方式的MRI装置100的典型结构的框图。本实施 方式的MRI装置100具有：产生静磁场的磁铁101、产生倾斜磁场的倾斜磁场线圈102、向被 检体（生物体）103照射高频磁场脉冲（以下称为RF脉冲）的RF线圈107、检测从被检体 103产生的回波信号的RF探头108以及在磁铁101产生的静磁场空间内放置被检体（例如 生物体）103的床（工作台）115。
[0067] 并且，本实施方式的MRI装置100具备：驱动倾斜磁场线圈102的倾斜磁场电源 105 ;驱动RF线圈107的高频磁场发生器106 ;接收通过RF探头108检测到的回波信号的 接收器109 ;向倾斜磁场电源105以及高频磁场发生器106发送命令，分别产生倾斜磁场以 及高频磁场，并且对接收器109设置作为检波的基准的核磁共振频率的顺序控制器104 ;对 检波的信号实施信号处理（运算处理）的计算机110 ;显示计算机110中的处理结果的显 示装置111 ;保持该处理结果的存储装置112;以及接收来自操作员的指示的输入装置116。
[0068] 在具有以上结构的MRI装置100中，根据顺序控制器104的控制，通过RF线圈107 向被检体103施加RF脉冲，并且通过倾斜磁场线圈102施加用于向回波信号给予切片选择 和相位编码等位置信息的倾斜磁场脉冲。此外，通过RF探头108接收从被检体103产生的 信号，将检测到的信号发送给计算机110,在此进行图像重构等信号处理。另外，在存储装置 112中不仅存储信号处理的结果，根据需要还可以存储检测到的信号本身、拍摄条件等。
[0069] 此外，当需要调节静磁场均匀度时，MRI装置100还可以具备匀场线圈113和驱动 匀场线圈113的匀场电源114。匀场线圈113由多个通道（channel)构成，通过从匀场电 源114供给的电流产生用于校正静磁场不均匀的附加磁场。当调整静磁场均匀度时，通过 顺序控制器104控制流过构成匀场线圈113的各通道的电流。
[0070] 此外，计算机110不仅进行针对检测到的信号的信号处理（运算处理），还进行 MRI装置100整体动作的控制。例如向顺序控制器104给予指示，使其实现上述的各部的控 制，执行测量、摄像。
[0071] 另外，以各部按照预先被编程的定时、强度动作的方式向顺序控制器104进行指 示。上述的程序中，尤其将记述高频磁场、倾斜磁场、信号接收的定时和强度的程序称为脉 冲序列。根据脉冲序列和为对其进行控制所需要的拍摄参数进行测量。预先制作脉冲序列 并将其保持在存储装置112中，操作员经由用户界面输入拍摄参数。
[0072] 因此，如图2所示，本实施方式的计算机110具备：拍摄部210,其根据预定的脉冲 序列进行测量并重构图像；以及图像处理部220,其针对重构的图像实施运算处理，得到参 数图像。另外，在本说明书中，参数图像是使用针对每个像素计算出的弥散系数以及峰度系 数的平均值或弥散张量（tensor)以及峰度张量等，描绘弥散系数以及峰度系数的空间分 布的图像。
[0073] 根据目的，已知各种脉冲序列。在本实施方式中，作为该脉冲序列，使用施加 MPG(Motionprobinggradient,弥散梯度磁场）脉冲的弥散加权拍摄序列，所述MPG脉冲 作为倾斜磁场向核磁共振信号附加伴随弥散的信号变化。具体而言，使用DKI的脉冲序列 (DKI脉冲序列）。DKI脉冲序列改变MPG脉冲的施加方向和b值来重复执行得到弥散加权 图像的DWI的脉冲序列。另外，弥散加权图像是对生物体组织中包含的水分子的自身弥散 进行加权而得的图像。能够描述急性期脑梗塞刚发病后的病变，已知Tl加权图像和T2加 权图像表示不同的对比度。
[0074] 作为DWI的脉冲序列的一例，在图3中不出了 SS-DWEPI(singleshotDiffusion weighted Echo Planar Imaging:单次激发弥散加权平面回波成像）的脉冲序列300。
[0075] ss-DWEPI的脉冲序列300的动作如以下所示。施加切片方向（z)的倾斜磁场脉冲 301，并且以成为对象的核磁化的共振频率&施加RF脉冲302,对对象物体内的某切片的核 磁化感应核磁共振现象。接下来,施加用于测量核磁化的随机运动的MPG脉冲303。此时， 施加MPG脉冲303的轴，向要在核磁化的随机运动中测量的方向进行施加。另外，本图中作 为一例，不出了向X轴、y轴、z轴三轴方向施加的情况。然而，施加方向并不局限于此。
[0076] 接下来，施加切片倾斜磁场脉冲304,并且施加共振频率&的磁化重新聚焦 (refocus)用RF脉冲305,使由于静磁场的不均勻而分散的磁化相位重新收敛。接下来，向 与MPG脉冲303相同的方向施加MPG脉冲306,使由于MPG脉冲303而分散的不动的核磁化 相位重新收敛。
[0077] 接下来，向磁化的相位施加用于附加相位编码方向（y)的位置信息的相位编码倾 斜磁场脉冲307、弥散用读取倾斜磁场脉冲308后，施加用于附加读取方向（X)的位置信息 的读取倾斜磁场脉冲309的同时测量核磁共振信号（回波）310。
[0078] 之后，施加相位编码倾斜磁场脉冲311使相位编码量变化，使读取倾斜磁场脉冲 312反相，重复再次取得核磁共振信号（回波）310的步骤，取得为得到一张图像所需要的回 波。各回波310被配置在k空间中，通过二维逆傅立叶变换重构图像。
[0079] 本实施方式的拍摄部210作为DKI脉冲序列，改变所述MPG脉冲303的施加方向 以及b值，重复执行上述ss-DWEPI脉冲序列300,针对每个MPG脉冲303的施加方向以及b 值得到多个弥散加权图像。另外，如上所述，b值是与MPG脉冲303以及306的施加强度以 及时间相关的参数。因此，通过变更b值，MPG脉冲303以及306的施加强度或时间变化。
[0080] 例如，当将MPG脉冲的施加方向变化成不同的M方向，在不同的N个间变化b值 时，拍摄部210执行MXN次的ss-DWEPI脉冲序列300。在本实施方式中，例如将MPG脉冲 303的施加方向设成15轴以上的不同方向。此外，b值使用不同的3个以上（包括b = 0) 的值。
[0081] 本实施方式的图像处理部220从得到的多个弥散加权图像中，针对每个像素，作 为与弥散相关的参数（弥散参数）而推定表观弥散系数ADC以及表观峰度系数AKC，使用其 来生成参数图像。在本实施方式中，推定弥散参数时，代替进行有制约条件的非线性最小二 乘拟合处理，进行没有制约条件的非线性最小二乘拟合处理，仅对得到的弥散参数不满足 制约条件的像素校正像素值，重新推定弥散参数。此外，在本说明书中分别将表观弥散系数 ADC以及表观峰度系数AKC简称为弥散系数ADC以及峰度系数AKC。
[0082] 如图2所示，为了实现这些，本实施方式的图像处理部220具备：关心区域设定 部221，其在得到的图像（弥散加权图像）上设定关心区域；参数推定部222,其使用通过 使MPG脉冲303的施加方向相同，使b值变化来执行脉冲序列300而得到的多个图像（弥 散加权图像）的关心区域的像素的像素值，针对每个像素推定与弥散相关的参数即弥散参 数；判别部223,其判别推定的弥散参数是否在预先决定的制约条件范围内；像素值校正部 224,其对判别结果在制约条件范围以外的像素的像素值进行校正；以及图像生成部225， 其使用每个像素的弥散参数生成参数图像。参数推定部222通过没有制约条件的最小二乘 拟合来推定弥散参数，并且使用校正后的像素值重新推定弥散参数，图像生成部225对校 正了像素值的像素使用重新推定的弥散参数。
[0083] 首先，对本实施方式的图像处理部220的各部的图像处理的流程进行说明。在此， 拍摄部210从通过变化MPG脉冲303的施加方向以及b值来执行DKI脉冲序列而得到的多 个弥散加权图像，得到参数图像。
[0084] 图4是本实施方式的图像处理的处理流程。在此，将MPG脉冲303的施加方向数设 为M，将不同的b值数设为N(M、N是2以上的整数。以下，在本说明书中都是相同的）。拍 摄部210按照DKI脉冲序列得到预定张数（在此为MXN张）的弥散加权图像后，接受来自 用户的指示，开始本处理。另外，也可以以拍摄部210得到预定张数的弥散加权图像为契机 开始本处理。
[0085] 首先，关心区域设定部221在取得的弥散加权图像上设定关心区域（步骤S1101)。 在此，将得到的关心区域内的像素数设为P(P是1以上的整数。以下，在本说明书内是相同 的）。
[0086] 接下来，图像处理部220的各部针对MXN张弥散加权图像的关心区域的各像素， 对取得时的每个MPG脉冲303的施加方向执行以下的从步骤S1103至步骤S1107的处理 (步骤 S1102、步骤 S1103)。
[0087] 首先，参数推定部222使用取得时的MPG脉冲303的施加方向为m(m为1以上M以 下的整数）且b值不同的多个（N张）弥散加权图像的、像素p (p是1以上P以下的整数） 的像素值，推定该像素P的弥散系数ADC以及峰度系数AKC作为弥散参数（步骤S1104)。 接下来，判别部223判别推定出的弥散参数是否在预先决定的制约条件范围以内（步骤 S1105)。
[0088]当推定出的弥散参数在制约条件范围以外时，像素值校正部224校正N张弥散加 权图像的该像素P的像素值（步骤S1106)，参数推定部222使用校正后的像素值重新推定 该像素P的弥散参数（弥散系数ADC以及峰度系数AKC)(步骤Sl 107)。
[0089] 当针对各MPG脉冲303施加方向，所有关心区域的像素P的弥散参数的推定完成 时（步骤S1108、S1109)，图像生成部225根据各MPG脉冲303施加方向的每个像素的推定 出的弥散参数，制作平均弥散图像以及平均峰度图像等参数图像（步骤S1110)。
[0090] 另外，可以在步骤S1102之前由像素值校正部224对所有弥散加权图像的关心区 域的各像素的像素值实施在步骤S1106中进行的校正处理，存储到存储装置112中。此时， 在上述步骤Sl 106中代替进行校正处理而从存储装置112重新载入（re-load)相应的像素 的校正后的像素值。
[0091] 接下来，对上述各部的处理进行说明。
[0092] 首先，对基于关心区域设定部221的关心区域设定的方法进行说明。关心区域是 由成为进行以后的图像处理运算的对象的像素构成的区域。即，是弥散加权图像中的背景 以外的区域。关心区域设定部221例如通过判别分析法等确定作为关心区域而提取的像 素。具体而言，求出分离度最大的阈值，提取像素值成为阈值以上的像素作为关心区域。另 夕卜，也可以采用操作员经由界面指定阈值或关心区域本身的结构。
[0093] 对参数推定部222中的弥散参数的计算方法进行说明。如上所述，要计算的弥散 参数是弥散系数ADC以及峰度系数AKC。
[0094] 在此，将MPG脉冲303的施加方向数设成M，设成对每个施加方向赋予流水号。此 夕卜，当对第m个施加方向施加MPG脉冲303时，将MPG脉冲303的施加方向称为m。此外，将 b值的数设成N。
[0095] 当将MPG脉冲303的施加方向设成m，将b值设成b时，在DKI解析中，通过式（I) 表示弥散加权图像的预定的像素的信号强度S (m，b)。
[0096][式1]
[0097]
【权利要求】
1. 一种磁共振成像装置，其特征在于，具备： 拍摄部，其按照预定的脉冲序列进行测量，重构图像；以及 图像处理部，其对所述重构的图像实施运算处理，得到参数图像， 所述脉冲序列是施加弥散梯度磁场脉冲的弥散加权拍摄序列，所述弥散梯度磁场脉冲 作为倾斜磁场对核磁共振信号附加伴随弥散的信号变化， 所述拍摄部使所述弥散梯度磁场脉冲的施加方向以及b值变化来执行所述脉冲序列， 取得多个所述图像， 所述图像处理部具备： 关心区域设定部，其在所述图像上设定关心区域； 参数推定部，其使用使所述弥散梯度磁场脉冲的施加方向相同，使b值变化来执行所 述脉冲序列而得到的多个所述图像的所述关心区域的像素的像素值，针对每个像素推定与 弥散相关的参数即弥散参数； 判别部，其判别推定的所述弥散参数是否在预先决定的范围内； 像素值校正部，其对所述判别结果为在所述范围外的所述像素的像素值进行校正；以 及 图像生成部，其使用每个像素的所述弥散参数生成所述参数图像， 所述参数推定部通过没有制约条件的最小二乘拟合推定所述弥散参数，并且针对所述 判别结果为在所述范围外的所述像素，使用所述校正后的像素值重新推定所述弥散参数， 所述图像生成部，针对校正了像素值的所述像素，使用重新推定的所述弥散参数。
2. 根据要求1所述的磁共振成像装置，其特征在于， 所述最小二乘拟合的模型函数是非线性函数。
3. 根据要求1所述的磁共振成像装置，其特征在于， 所述最小二乘拟合的模型函数是一次函数。
4. 根据要求3所述的磁共振成像装置，其特征在于， 所述像素值校正部通过去除所述弥散参数在所述范围外的像素来进行所述校正。
5. 根据要求1所述的磁共振成像装置，其特征在于， 还具备对重新推定的所述弥散参数进行校正的参数校正部， 所述参数推定部通过没有制约条件的最小二乘拟合从所述校正后的像素值重新推定 所述弥散参数， 所述判别部判别重新推定的所述弥散参数是否在所述范围内， 当所述判别结果为在所述范围外时，所述参数校正部对重新推定的所述弥散参数进行 校正。
6. 根据要求5所述的磁共振成像装置，其特征在于， 通过所述参数校正部进行的校正，将重新推定的所述弥散参数置换成所述范围内最接 近的值。
7. 根据要求5所述的磁共振成像装置，其特征在于， 通过所述参数校正部进行的校正，以预先决定的校正值对重新推定的所述弥散参数进 行校正， 以针对一个像素计算出的所有弥散参数收敛在所述范围内的方式决定所述校正值。
8. 根据要求1所述的磁共振成像装置，其特征在于， 还具备可靠度运算部，其计算出推定的所述弥散参数中的、被判别为所述范围内的参 数的个数，将从计算结果得到的信息作为可靠度显示提示给用户。
9. 根据要求1所述的磁共振成像装置，其特征在于， 所述弥散参数是弥散系数以及峰度系数， 所述参数图像将平均弥散、平均峰度、轴向的峰度以及周向的峰度中的某一个作为像 素值的图像。
10. 根据要求1所述的磁共振成像装置，其特征在于， 所述像素值校正部通过平滑化滤波器进行所述校正。
11. 根据要求1所述的磁共振成像装置，其特征在于， 所述参数推定部当重新推定时，将已推定的该像素的所述弥散参数作为初始值，通过 有制约条件的最小二乘拟合重新推定所述弥散参数。
12. -种图像处理装置，其特征在于，具备： 关系区域设定部，其在磁共振成像装置中取得的图像上设定关心区域； 参数推定部，其使用使弥散梯度磁场脉冲的施加方向相同，使b值变化来执行弥散加 权拍摄序列而得到的多个所述图像的所述关心区域的像素的像素值，针对每个像素推定与 弥散相关的参数即弥散参数，其中，所述弥散加权拍摄序列是施加弥散梯度磁场脉冲的序 列，所述弥散梯度磁场脉冲作为倾斜磁场对核磁共振信号附加伴随弥散的信号变化； 判别部，其判别推定的所述弥散参数是否在预先决定的范围内； 像素值校正部，其对所述判别结果为在所述范围外的所述像素的像素值进行校正；以 及 图像生成部，其使用每个像素的所述弥散参数生成所述参数图像， 所述参数推定部通过没有制约条件的最小二乘拟合推定所述弥散参数，并且使用所述 校正后的像素值重新推定所述弥散参数， 所述图像生成部，针对校正了像素值的所述像素，使用重新推定的所述弥散参数。
13. -种图像处理方法，其特征在于， 在磁共振成像装置中取得的图像上设定关心区域， 使用使弥散梯度磁场脉冲的施加方向相同，使b值变化来执行弥散加权拍摄序列而得 到的多个图像的所述关心区域的像素的像素值，针对每个像素，通过没有制约条件的最小 二乘拟合推定与弥散相关的参数即弥散参数，其中，所述弥散加权拍摄序列是施加弥散梯 度磁场脉冲的序列，所述弥散梯度磁场脉冲作为倾斜磁场对核磁共振信号附加伴随弥散的 信号变化， 判别推定的所述弥散参数是否在预先决定的范围内， 对判别结果为在所述范围外的所述像素的像素值进行校正， 使用所述校正后的像素值重新推定所述弥散参数， 针对校正了像素值的所述像素，使用重新推定的所述弥散参数来生成所述参数图像， 针对其他所述像素，使用推定的所述弥散参数来生成所述参数图像。
【文档编号】A61B5/055GK104323775SQ201410347887
【公开日】2015年2月4日 申请日期:2014年7月21日 优先权日:2013年7月22日
【发明者】横泽俊, 越智久晃, 尾藤良孝 申请人:株式会社日立制作所