用于在X方向和Y方向上的焦点运动检测和校正的系统和方法与流程

用于在x方向和y方向上的焦点运动检测和校正的系统和方法


背景技术：

1.本说明书的实施方案整体涉及基于x射线的成像技术，并且更具体地涉及与x射线发射点和x射线检测器元件未对准相关的问题。
2.在基于x射线的成像系统诸如计算机断层摄影(ct)成像系统中，朝向诸如患者或物品(例如，包裹、制造的物品等)之类的对象发射x射线束以对物体中的感兴趣区域进行成像。射束在穿过对象时通常会被衰减。随后，衰减的射束入射到具有检测器元件阵列的辐射探测器上。响应于衰减的射束，阵列的检测器元件生成表示对象的内部信息的相应电信号。这些电信号由数据处理单元处理以生成表示对象中感兴趣区域的图像。
3.从所采集的数据重建图像通常基于这样的假设：x射线光子已经以直线路径从x射线发射焦点行进到检测到相应光子的检测器元件。然而，x射线焦点相对于一个或多个准直元件或板(例如，后置式防散射光栅)的未对准或移动可导致对成像系统(诸如ct成像系统)的临床使用不利的图像伪影。在准直器刀片节距大于通道(即，像素)节距的系统中，这种影响可能更显著，使得各个准直器刀片的“阴影”情况可以不同程度地影响不同的通道。


技术实现要素：

4.下文概述了与最初要求保护的主题范围相称的某些实施方案。这些实施方案并非旨在限制要求保护的主题的范围，而是这些实施方案仅旨在提供可能的实施方案的简要概述。实际上，本发明可包括多种形式，这些形式可类似于或不同于下文所述的实施方案。
5.在一个实施方案中，提供了一种用于估计x射线焦点的运动的方法。该方法的动作包括通过使x射线从x射线源的x射线焦点向包括多个通道的辐射探测器发射来采集图像数据，其中该通道的子集各自具有准直器刀片，该准直器刀片定位在该相应通道上方。该方法的动作还包括基于该通道的该子集的第一通道和第二通道的相应通道增益，独立地估计该x射线焦点相对于该辐射探测器的等中心点在x方向上的x射线焦点运动，以及该x射线焦点相对于该等中心点在沿着该x射线方向的在y方向上的x射线焦点运动。
6.在另一实施方案中，提供了成像系统。该成像系统包括：x射线源，该x射线源被配置成在操作期间从x射线焦点发射x射线；准直器，该准直器包括多个准直器刀片；和辐射探测器，该辐射探测器包括多个像素，每个像素对应于该辐射探测器的通道，其中通道的子集各自具有定位在相应通道上方的准直器刀片。该成像系统还包括处理电路，该处理电路被配置成执行动作。该动作包括通过使x射线从x射线源朝向辐射探测器发射来采集图像数据；该动作还包括基于该通道的该子集的第一通道和第二通道的相应通道增益，独立地估计该x射线焦点相对于该辐射探测器的等中心点在x方向上的x射线焦点运动以及该x射线焦点相对于该等中心点在y方向上的x射线焦点运动。
7.在另一实施方案中，一种非暂态计算机可读介质，该计算机可读介质包括处理器可执行代码，该处理器可执行代码在由处理器执行时使处理器执行动作。该动作包括通过使x射线从x射线源的x射线焦点向包括多个通道的辐射探测器发射来采集图像数据，其中该通道的子集各自具有准直器刀片，该准直器刀片定位在相应通道上方。该动作还包括同
时测量设置在该辐射探测器的等中心点的相对侧上的通道子集中的第一通道和第二通道的相应通道增益。该动作还包括基于该第一通道和该第二通道的相应通道增益，独立地估计该x射线焦点相对于该等中心点在x方向上的x射线焦点运动以及该x射线焦点相对于该等中心点在y方向上的x射线焦点运动。
附图说明
8.当参考附图阅读以下详细描述时，将更好地理解本公开的这些和其他特征、方面和优点，附图中相同的符号在整个附图中表示相同的部分，其中：
9.图1示出了根据本公开的某些方面的计算机断层摄影成像系统的部件；
10.图2示意性地示出了根据本公开的某些方面的其上设置有准直器刀片的检测器的通道的侧视图；
11.图3示意性地示出了根据本公开的各方面的其上设置有准直器刀片的检测器的通道的附加侧视图；
12.图4示意性地描绘了根据本公开的某些方面的在准直辐射探测器的上下文中的对准和未对准的x射线焦点；
13.图5示意性地描绘了根据本公开的某些方面的x射线焦点运动对像素增益的影响；
14.图6图形化地描绘了根据本公开的某些方面的由于x射线焦点的x运动的增益灵敏度函数；
15.图7示意性地描绘了根据本公开的某些方面的由x射线焦点的y运动引起的x射线焦点的x视运动；
16.图8图形化地描绘了根据本公开的某些方面的由x射线焦点的y运动引起的x射线焦点的x视运动；
17.图9图形化地描绘了根据本公开的某些方面的在具有倾斜准直器板的通道上y运动引起的x运动对x运动增益灵敏度的影响；
18.图10示意性地和图形化地描绘了根据本公开的某些方面的响应于在x方向上的总x射线焦点偏移的探测器通道的线性倾斜增益响应；并且
19.图11描绘了根据本公开的某些方面的用于检测和校正x射线焦点运动的方法的流程图。
具体实施方式
20.在下面将描述一个或多个具体的实施方案。为了提供这些实施方案的简明描述，并非实际具体实施的所有特征都要在说明书中进行描述。应当理解，在任何此类实际具体实施的开发中，如在任何工程或设计项目中，必须做出许多特定于具体实施的决策以实现开发者的具体目标，诸如遵守可能因具体实施而不同的系统相关和业务相关约束。此外，应当理解，此类开发努力可能是复杂且耗时的，但对于受益于本公开的普通技术人员来说仍然是设计、制作和制造的常规任务。
21.介绍本发明主题的各种实施方案的要素时，冠词“一个”、“一种”、“该”和“所述”旨在表示存在一个或多个(种)所述要素。术语“包括”、“包含”和“具有”旨在是包含性的，并且意指除了列出的元件之外还可存在附加元件。此外，以下讨论中的任何数值示例旨在非限
制性的，并且因此附加的数值、范围和百分比在所公开的实施方案的范围内。
22.虽然在医学成像的背景中可提供以下讨论的各方面，但是应当理解，本技术不限于这样的此类医学背景。实际上，在此类医学背景中提供示例和解释仅是为了通过提供现实具体实施和应用的实例来便于进行解释。然而，本方法也可以用于其它背景中，诸如用于在制成件或制成品的非破坏性检查(即，质量控制或质量审核应用)和/或包裹、箱盒、行李等的非侵入性检查(即，安检或筛检应用)中使用的工业计算机断层摄影(ct)的断层摄影图像重建。一般来讲，本发明方法可以用于任何成像或筛选环境中，或者图像处理领域，x射线发射点的未对准可能与具有相关联的防散射或准直元件(例如，刀片)的检测器元件的阵列未对准。
23.如本文所讨论，来自所采集的x射线透射数据的图像的重建通常基于这样的假设：x射线光子已经以直线路径从x射线发射焦点行进到检测到相应光子的检测器元件。然而，x射线焦点相对于一个或多个准直元件或板(例如，后置式防散射光栅)的未对准或移动可导致对成像系统(诸如ct成像系统)的临床使用不利的图像伪影。在准直器刀片节距大于通道(即，像素)节距的系统中，这种影响可能更明显。
24.本发明所公开的技术可用于检测和校正在扫描过程期间由x射线焦点未对准(这可导致所述图像伪影)引起的通道增益误差。本文相对于常规技术所述的技术的一个益处在于，它们不需要用于检测焦点漂移的附加硬件。相反，本文所述的方法考虑了制造期间每个刀片的静态未对准，作为估计和校正x射线焦点漂移或未对准的一部分。这样，减少了由于焦点运动引起的图像伪影的风险，并且避免了对检测焦点运动的昂贵硬件解决方案的需要。
25.考虑到前述讨论，图1示出了根据本文所讨论的结构和方法的用于采集和处理图像数据的成像系统10的实施方案。在示出的实施方案中，系统10为计算机断层摄影(ct)系统，其被设计成采集x射线投影数据并将投影数据重构为体积重构以用于显示和分析。ct成像系统10包括一个或多个x射线源12，诸如一个或多个x射线管或允许在成像阶段期间在一个或多个能谱处生成x射线的固态发射结构。
26.在某些具体实施中，源12可以定位在前置式准直器和/或滤波器组件22附近，该前置式准直器和/或滤波器组件可以用于操纵x射线束20、限定x射线束20的高强度区域的形状(诸如通过限制偏角度发射)和/或范围、控制或限定x射线射束20的能量分布，和/或以其它方式限制患者24的不在感兴趣区域内的那些部分上的x射线暴露。在实践中，滤波器组件或射束整形器22可结合在源12和成像体积之间的机架内。
27.x射线束20进入其中定位有受检者(例如，患者24)或感兴趣对象(例如，制造部件、行李、包裹等)的区域。受检者使x射线光子20的至少一部分衰减，从而得到衰减的x射线光子26，其撞击到由被布置为m
×
n阵列的多个检测器元件(例如，像素)形成的像素化检测器阵列28上。在所描绘的示例中，衰减的x射线光子26在到达检测器阵列28之前穿过准直器18(例如，和防散射光栅)。如本文所讨论，准直器18可由基本上垂直于检测器阵列28的表面对准并且由衰减材料形成的多个刀片或其它元件组成，所述衰减材料限制或防止以偏离角度行进的x射线光子26(例如，散射的x射线)到达检测器阵列28。到达检测器阵列28的电信号被检测和处理以生成一个或多个投影数据集。在所描绘的示例中，检测器28联接到系统控制器30，该系统控制器命令获取由检测器28生成的数字信号。
28.系统控制器30命令操作成像系统10以执行过滤、检查和/或校准方案，并且可处理所采集的数据。相对于x射线源12，系统控制器30为x射线检查序列提供功率、焦点位置、控制信号等。根据某些实施方案，系统控制器30可以控制滤波器组件22、ct机架(或x射线源12和检测器28附接到的其它结构支撑件)的操作，和/或患者支撑件在检查过程中的平移和/或倾斜。
29.此外，经由马达控制器36，系统控制器30可控制用于分别移动受检者24和/或成像系统10的部件的线性定位子系统32和/或旋转子系统34的操作。例如，在ct系统中，辐射源12和检测器28围绕对象(例如，患者24)旋转，以采集一系列角度视角上的x射线透射数据。因此，在真实世界具体实施中，成像系统10被配置成生成与覆盖整个感兴趣的扫描区域的多个角位置(例如，360
°
、180
°
+扇形射束角度(α)等)中的每一者相对应的x射线透射数据。
30.系统控制器30可包括信号处理电路和相关联的存储器电路。在此类实施方案中，存储器电路可以存储由系统控制器30执行以操作成像系统10(包括x射线源12和/或滤波器组件22)并且根据本文讨论的步骤和过程处理由检测器28采集的数字测量值的程序、例程和/或编码算法。在一个实施方案中，算法被存储在存储器电路中并且由处理器执行，以在相对于探测器28的等中心点的x方向上和在相对于探测器28的等中心点的y方向上都进行x射线焦点运动。在一个实施方案中，系统控制器30可以被实现为基于处理器的系统的全部或部分。
31.源12可以由包含在系统控制器30内的x射线控制器38控制。x射线控制器38可被配置成向源12提供功率、定时信号和/或焦点尺寸和焦点位置。此外，在一些实施方案中，x射线控制器38可被配置成选择性地激活源12，使得系统10内的不同位置处的管或发射器可彼此同步地或彼此独立地操作，或者在成像阶段期间在不同能量分布之间切换源。
32.系统控制器30可以包括数据采集系统(das)40。das 40接收由检测器28的读出电子器件收集的数据，诸如来自检测器28的数字信号。然后，das 40可以转换和/或处理数据以供基于处理器的系统(诸如计算机42)进行后续处理。在本文讨论的某些实施中，检测器28内的电路可使检测器的模拟信号在传输到数据采集系统40之前转换为数字信号。计算机42可以包括一个或多个非暂时性存储器设备46或与其通信，该存储器设备能够存储由计算机42处理的数据、将由计算机42处理的数据、或者将由计算机42的图像处理电路44执行的指令。例如，计算机42的处理器可以执行存储在存储器46上的一个或多个指令集，该存储器可为计算机42的存储器、处理器的存储器、固件或类似的实例。以举例的方式，计算机42的图像处理电路44可被配置成生成诊断图像。在一个实施方案中，诊断图像是使用图像重建技术获得的实时图像，所述图像重建技术应用于从多个像素102获得的并针对x射线焦点运动或未对准校正的多个信号。在一个实施方案中，诊断图像是针对x射线焦点运动或未对准校正的ct图像，并且显示在用于帮助医务人员的显示装置50上。
33.计算机42可还适于控制由系统控制器30启用的特征(即，扫描操作和数据采集)，诸如响应于由操作员经由操作员工作站48提供的命令和扫描参数。系统10还可包括耦接到操作员工作站48的显示器50，该显示器允许操作员查看相关的系统数据、成像参数、原始成像数据、重建的数据或图像等。另外，系统10可以包括打印机52，该打印机联接到操作员工作站48并且被配置成打印任何期望的测量结果。显示器50和打印机52可也直接或经由操作员工作站48连接到计算机42(如图1中所示)。另外，操作员工作站48可以包括或联接到图片
存档和通信系统(pacs)54。pacs 54可以联接到远程系统或客户端56、放射科信息系统(ris)、医院信息系统(his)、或者内部或外部网络，使得不同位置处的其它人能够访问图像数据。
34.考虑到前述对整体成像系统10的讨论，并且转到图2，以剖面侧视图示出了现有检测器28和准直器18布置的示例。在该示例中，检测器28被示出为包括各自对应于读出通道的像素82的阵列。在一个此类示例中，像素节距可为约1mm。一组准直器刀片80被示出为与像素82的阵列相关联，使得每个像素被单独准直。刀片80被示出为放置在其中像素被接合的地方，使得可归因于刀片80的阴影主要位于这些接合处，使得像素82的大部分有效区域相对地不含由刀片产生的阴影。这样，每个像素82相对一致且均匀地受准直器刀片80影响。具体地讲，如果x射线发射焦点未对准，则可归因于相邻通道之间的未对准的差分增益变化相对较小。
35.转到图3，其为具有较小像素82(例如，小于1mm的像素节距)的较高空间分辨率检测器28的示例。由于像素较小，每个通道可能不被各个准直器刀片分开。相反，如图所示，每个准直器刀片80可为多个像素82(即，通道)提供准直，其中一些像素82由刀片80触摸或紧邻刀片，并且其它像素不邻近刀片80。相应地，在x射线焦点未对准的情况下，由于相关刀片80的不同放置，由于相邻通道之间的x射线焦点未对准的差分增益变化可能很大。即，x射线焦点未对准可导致高分辨率检测器中的大增益变化。
36.概念性地，这在图4中示出，其中对准的(左)和未对准的(右)x射线焦点83的并排比较在准直检测器28的背景下示出。如左图中所示，当x射线焦点83与刀片80对准(如由延伸穿过刀片80的纵向轴线85表示)时，由刀片80投射的阴影87通常是对称的并且最小化。相反，如右侧所示，当x射线焦点83相对于刀片80未对准时，由刀片80投射的阴影87相对于不同像素82(此处表示为通道(ch)-1、-2、-3)不对称，并且尺寸可相对于当x射线焦点83对准时增大。
37.考虑到前述讨论，准直器刀片80和x射线焦点83未对准可导致对临床图像质量不利的图像伪影。具体地讲，检测器级未对准的影响是由于准直器刀片遮蔽x射线焦点而在各个通道的增益中引入较小但有效的变化，如图4中所示。即，准直器刀片阴影在各个检测器通道上的增量变化可导致通道增益的差分变化，这可导致图像伪影。如相对于图2至图4所示，在准直器刀片80的节距大于像素(即，通道)节距使得存在其上方具有准直器刀片的像素和其上方不具有此类刀片的像素的情况下，这种影响可能更显著。如果未检测并校正，则由于x射线焦点未对准而导致的这些变化可能被错误地解释为对象衰减的变化，从而导致图像伪影。
38.在实践中，x射线焦点未对准可为两种类型。如本文所用，静态未对准可被理解为由于制造公差，诸如相对于准直器刀片的偏转或倾斜，并且可通过检测器校准在一定程度上进行校正。然而，由于在操作期间产生的热和机械力，在扫描过程期间可能发生动态未对准。动态未对准可能难以检测，并且对应地难以校正。
39.考虑到前述内容，本文所讨论的技术可用于检测和校正在扫描过程期间(包括在较高分辨率类型的系统中)可归因于x射线焦点未对准的通道增益误差，如图3中所示。具体地讲，可在没有用于检测x射线焦点漂移的附加硬件的情况下执行本文所公开的技术。
40.如图5和图6所示，其上存在准直器刀片的像素受到x射线焦点未对准(例如，运动)
的影响。图5描绘了x射线焦点84(表示为s(x，源到检测器的距离(sdd))和设置在像素或通道88上的倾斜准直器刀片86。当x射线焦点84从倾斜准直器刀片86的左侧(如左图所描绘的)偏移到倾斜准直器刀片86的右侧(如右图所描绘的)时，由刀片86投射的阴影90(例如，像素88丢失的信号)在尺寸和形状上发生变化(这意味着像素或通道增益也发生变化)。对于点焦点，具有倾斜准直器刀片86的像素88所经历的像素增益g由以下x运动增益灵敏度函数g(x,θ)表示，其中w表示板宽度，h表示板高度，p表示像素或通道间距，并且θ表示准直器刀片86的倾斜：
41.(1)
42.(2)以及
43.(3)
44.图6描绘了特定像素的x运动增益灵敏度函数的曲线图92，特定像素具有以不同倾斜角(θ)设置在其上的准直器刀片。曲线图92包括表示增益灵敏度的y轴线94和表示在x方向上x射线焦点偏移的x轴线94。对于曲线98、100、102、104和106，准直器刀片处于不同的倾斜角(θ)(表示为一分钟的几分之一)。如所描绘的，对于在x方向上的大位移(由曲线98、100、102、104和106的倾斜(sloped或inclined)部分表示)，像素增益是x射线焦点位置的线性函数，而对于由曲线98、100、102、104和106的平稳段表示的在x方向上的较小位移，像素增益是恒定的。曲线98、100、102、104和106的形状是相同的，但是曲线98、100、102、104、106基于板倾斜角而偏移。曲线98、100、102、104和106的斜率与板倾斜角无关。
45.如图7所描绘的，对于某些像素或通道，x射线焦点相对于探测器的等中心点(iso)在y方向(由箭头108指示并且沿着x射线的方向)上的运动可能经历相对于等中心点在x方向(由箭头110指示并且沿着探测器的弧)上的视运动。更远离等中心点的通道(例如，图7中的通道i和通道j)，诸如那些更靠近探测器边缘的通道，可能经历在x方向上的视运动。更靠近等中心点的通道可能经历在x方向上的可忽略的视运动。在图7中，通道i和通道j在扇角
–
γ和扇角+γ处与等中心点等距。在等中心点的通道可以被指定为通道iso。通道i、j和iso包括设置在它们上面的倾斜准直器刀片。由于在y方向上的运动而引起的在x方向上的视运动与扇角γ的正弦值成比例，并且可由以下方程表示：
46.(4)x(运动)～y
·
sin(γ)，
47.其中x表示x射线焦点在x方向上的视运动，并且y表示x射线焦点在y方向上的运动。
48.图8利用方程(4)描绘了响应于x射线焦点在y方向上的运动的探测器的通道经历的x射线焦点在x方向上的视运动的曲线图112。曲线图112包括表示x射线焦点在x方向上的视运动的y轴线114和表示探测器通道(例如，等中心点在通道400附近)的x轴线116。曲线118、120和122表示x射线焦点在y方向上的不同运动量。如曲线图112所描绘的，x射线焦点的y运动引起的x视运动(如经由方程(4)确定)是非对称函数。如曲线图112所描绘，在存在x
射线焦点的y运动的情况下，x视运动随着距等中心点的距离增加而增加(在等中心点的左侧和右侧两者)。在存在x射线焦点的y运动的情况下，在等中心点左侧和右侧的相等距离处，x视运动是相同的，但是方向不同。同样，如曲线图112所描绘的，随着x射线焦点的y运动的幅度增加，对于给定通道，x视运动增加。
49.回到图7，相对于等中心点在x方向上和在y方向上的x射线焦点运动将分别导致通道i和通道j在x方向上的净或总焦点运动(x)，由下式表示：
50.(5)x＝x
x
+xy＝x
x
±y·
sin(γ)。
51.y运动引起的通道增益g对通道距等中心点的距离的非对称依赖性可用于通过以下方式提取x射线焦点的x运动和y运动：
52.(6)以及
53.(7)
54.图9中示出了用以提取或检测x射线焦点的x运动和y运动两者的y运动引起的通道增益g对通道距等中心点的距离的非对称依赖性。曲线图124描绘了图7中检测器的通道i和通道j以及通道iso在等中心点处通道的y运动引起的x运动(x视运动)。曲线图124包括表示x运动的y轴线126和表示检测器通道的x轴线128(例如，等中心点在通道400附近)。曲线图124分别示出了通道i、iso和j的y运动引起的x运动xj、xo和xj。曲线图130描绘了响应于曲线图124中示出的y运动引起的x运动的通道i、j和iso的增益灵敏度(和线性增益响应)。曲线图130包括表示增益灵敏度的y轴线132和表示在x方向上焦点偏移的x轴线134。通道i、j和iso的增益灵敏度分别为gj、go和gi。具有倾斜准直器板的通道(例如，通道i、iso和j)的线性增益响应可以用于检测x射线焦点的x运动和y运动。
55.基于上面讨论的这些关系，可以利用算法来检测x射线焦点的x运动和y运动。具体地讲，可从两个同时的测量结果独立地估计x运动和y运动。图10通过将图7的示意图与曲线图136相关联，示出了在以下讨论中使用的限定中的一些限定，该曲线图示出了响应于在x方向上的总x射线焦点偏移的通道i和j的线性倾斜增益响应。通道i和通道j相应的总x运动为
56.(8)xi＝x
xi
+x
yi
以及
57.(9)xj＝x
xj
+x
yj
，
58.其中x
x
和xy分别表示固有x运动和x视运动。通道i和通道j的相应倾斜刀片增益响应(例如，线性增益响应)(在曲线图136中分别示出为曲线138和曲线140)为
59.(10)gi＝mixi+ci以及
60.(11)gj＝mjxj+cj，
61.其中m表示斜率，并且c表示竖直截距。由于对称性，这些方程还可以简化。例如，固有x运动对于是相同的，因此：
62.(12)x
xi
＝x
xj
＝x
x
以及
63.(13)x
yj
＝y
·
sin(γ)＝-x
yi
＝xy。
64.此外，x射线焦点的y运动是反对称的，因此：
65.(14)xi＝x
x-xy以及
66.(15)xj＝x
x
+xy。
67.此外，斜率mj和mi是相同的，因此，
68.(16)
69.基于这些方程，可以独立地估计x射线焦点的x运动和y运动两者。可以利用以下公式来估计x运动：
70.(17)
71.可以利用以下公式来估计y运动：
72.(18)其中
73.(19)
74.在某些实施方案中，用于确定x射线焦点运动的具有倾斜刀片增益响应的通道可以具有相同的倾斜角但取向相反，因为这些通道位于探测器的等中心点的相对侧。在其他实施方案中，如曲线图136所示，在确定x射线焦点运动中使用的具有倾斜刀片增益响应的通道(例如，通道i和通道j)可以具有不同的倾斜角以及相反的取向。尽管优选利用具有与检测器的等中心点等距的准直器板的通道(例如，在扇角
–
γ和扇角+γ处)，但是在某些实施方案中，用于确定x射线焦点的具有倾斜刀片增益响应的通道可能与检测器的等中心点不等距。
75.图11描绘了用于检测和校正x射线焦点运动的方法142的流程图。方法142的一个或多个步骤可由图1的ct成像系统10执行。方法142包括通过使x射线从x射线源的x射线焦点向包括多个通道或像素的辐射探测器发射来采集图像数据(例如，ct扫描数据)(框144)。第一子集的通道各自具有定位在相应通道上方的准直器刀片，而第二子集的通道不受准直器刀片阻挡。方法142还包括同时测量通道子集的第一通道和第二通道的相应的通道增益，其中准直器刀片设置在通道子集中的第一通道和第二通道上(框146)。通道增益的测量可在采集图像数据时进行。第一通道和第二通道设置在检测器的等中心点的相对侧。在某些实施方案中，第一通道和第二通道与检测器的等中心点等距设置。在其他实施方案中，第一通道和第二通道与检测器的等中心点不等距。在某些实施方案中，为了测量相应的通道增益，方法142包括确定第一通道和第二通道两者在x方向上相应的总x射线焦点运动，从中可以确定通道增益。总x射线焦点运动包括在x方向上的固有x射线焦点运动和在x方向上的x射线焦点视运动(由x射线焦点的y运动引起)的总和。方法142还包括基于第一通道和第二通道的相应通道增益，独立地估计相对于等中心点在x方向和y方向两者上的x射线焦点运动(框148)。方法142甚至还包括基于在x方向上和在y方向上的估计x射线焦点运动来计算焦点运动校正因子(框150)。方法142依旧还包括使用焦点移动校正因子作为图像重建或后重建过程的一部分，以校正或移除伪影或其他图像不规则部分(框152)。以举例的方式，在某些实施方案中，信号校正可以限于与准直器板上定位的像素相关联的那些通道，即信号变化可能是由于准直器刀片的未对准引起的那些通道。另选地，在某些实施方案中，基于在x方向上和在y方向上的x射线焦点运动的估计，可以主动控制或校正x射线焦点位置(例如，
经由将电子束导向阳极的磁体)。
76.公开的实施方式的技术效果包括提供ct成像系统，该ct成像系统能够在成像操作期间减少x射线焦点运动的影响，诸如通过减少或消除可归因于x射线焦点运动的图像伪影。在没有附加硬件的情况下实现x射线焦点运动效果的估计和/或校正。
77.参考本文所提出的并受权利要求书保护的技术并将其应用于具有实际性质的实物和具体示例，所述实际性质明确地改善目前的技术领域，因此，不是抽象的、无形的或纯理论的。此外，如果附加到本说明书末尾的任何权利要求含有指定为“用于[执行]
…
功能的装置”或“用于[执行]
…
功能的步骤”的一个或多个元素，则旨在将此类元素根据u.s.c.第35条第112(f)款加以解释。然而，对于含有以任何其它方式指定的元素的任何权利要求，则不旨在将此类元素根据u.s.c.第35条第112(f)款加以解释。
[0078]
该书面描述使用示例来公开本发明，包括最佳模式，并且还使本领域技术人员能够实践本发明，包括制造和使用任何设备或系统以及执行任何包含的方法。本发明的专利范围由权利要求书限定，并且可包括本领域技术人员想到的其他示例。如果此类其他示例具有与权利要求书的字面语言没有区别的结构元素，或者如果它们包括与权利要求书的字面语言具有微小差别的等效结构元素，则此类其他示例旨在落入权利要求书的范围内。