一种耳声发射测量仪校准用声学耦合腔的制作方法

文档序号:8533875阅读:527来源:国知局
一种耳声发射测量仪校准用声学耦合腔的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种听力计量设备,尤其涉及一种耳声发射测量仪校准用声学耦合腔。
【背景技术】
[0002]耳声发射测量仪是利用耳声发射原理开展听力检测的一类客观测听仪器。耳声发射(Oto-Acoustic Emiss1n, 0ΑΕ)是一种产生于耳蜗,经听骨链及鼓膜传导释放入外耳道的音频能量。耳声发射以机械振动的形式起源于耳蜗,大量研宄表明,这种振动能量来自外毛细胞的主动运动。外毛细胞的这种运动可以是自发的,也可以是对外来刺激的反应,其运动通过Corti器(螺旋器spiral organ)中与其相连结构的机械联系使基底膜发生各种形式的机械振动。这种振动在内耳淋巴液中以压力变化的形式传导,并通过卵圆窗推动听骨链及鼓膜振动,最终引起外耳道内的空气振动。上述过程大体上是声音传入内耳的逆过程。耳声发射的各种特点与耳蜗功能和感音神经性听力的损失存在内在的关系,目前已成为临床上测试听力的一项最基本的客观且无损的手段。
[0003]耳声发射测量仪的工作原理如图1所示,耳声发射测量仪发出声刺激信号,受试者若听力正常,则会在耳道内产生声响应信号,耳声发射测量仪通过测量有无声响应信号即可判断受试者的听力水平。
[0004]由于耳声发射测量仪低价、客观、检测时间短和对测试环境要求不高等特点,它已经成为听力检测中的基本仪器。目前,耳声发射测听技术主要应用于听觉生理学研宄、听觉疾病的检测与诊断、新生儿听力筛查等方面,成为检测听觉外周系统是否完好的一种重要手段。
[0005]为了保证测量结果的准确和统一,耳声发射测量仪需要进行定期校准。在校准过程中,需要将耳声发射测量仪的探头与声学耦合腔或仿真耳进行耦合,此时声音信号才能够被传声器所接收,并被后端的声学分析仪处理和分析。因此,声学耦合腔或仿真耳在校准过程中具有十分重要的地位,不可或缺。
[0006]声学耦合腔或仿真耳的设计必须符合一定的技术规范,才能保证校准结果的统一和准确。现有技术中,针对耳声发射测量仪探头耦合用的声学耦合腔或仿真耳主要有两个国际标准:声学親合腔 IEC 60318-5:2006Electroacoustics-Simulators of human headand ear—Part 5:2cm3coupler for the measurement of hearing aids and earphonescoupled to the ear by means of ear inserts.;仿真耳 IEC60318-4:2011Electroacoustics—Simulators of human head and ear—Part 4:occluded_ear simulator for themeasurement of earphones coupled to the ear by means of ear inserts.但这两种声学耦合元件均只能测量耳声发射测量仪的声刺激强度。不能对耳声发射测量仪的响应测量单元的性能进行评估。

【发明内容】

[0007]本发明的目的是提供一种可同时对耳声发射测量仪的声音刺激单元和响应测量单元进行校准的耳声发射测量仪校准用声学耦合腔。
[0008]本发明的目的是通过以下技术方案实现的:
[0009]本发明的耳声发射测量仪校准用声学耦合腔,包括底座,所述底座上固定有连接体,所述连接体内部设有耦合腔腔体,所述耦合腔腔体的顶壁设有直通孔,所述直通孔中固定有耦合塞,所述耦合腔腔体的侧壁设有小通孔,所述耦合塞和底座在轴向上分别设有通孔。
[0010]由上述本发明提供的技术方案可以看出,本发明实施例提供的耳声发射测量仪校准用声学耦合腔,由于底座上固定有连接体,连接体内部设有耦合腔腔体,耦合腔腔体的顶壁设有直通孔,直通孔中固定有耦合塞,耦合腔腔体的侧壁设有小通孔,耦合塞和底座在轴向上分别设有通孔,能实现耳声发射测量仪和其校准装置之间的耦合,可同时对耳声发射测量仪的声音刺激单元和响应测量单元进行校准,且设计满足IEC 60318-5:2006国际标准的要求。设计结构巧妙、简单、通用,密封性能可靠。
【附图说明】
[0011]图1为耳声发射测量仪的工作原理示意图;
[0012]图2为本发明实施例提供的耳声发射测量仪校准用声学耦合腔的装配结构示意图;
[0013]图3为本发明实施例中耦合塞的剖视结构示意图;
[0014]图4为本发明实施例中连接体的剖视结构示意图;
[0015]图5为本发明实施例中底座的剖视结构示意图。
[0016]图中:1、耦合塞,2、连接体,3、底座。
【具体实施方式】
[0017]下面将对本发明实施例作进一步地详细描述。
[0018]本发明的耳声发射测量仪校准用声学耦合腔,其较佳的【具体实施方式】是:
[0019]包括底座,所述底座上固定有连接体,所述连接体内部设有耦合腔腔体,所述耦合腔腔体的顶壁设有直通孔,所述直通孔中固定有耦合塞,所述耦合腔腔体的侧壁设有小通孔,所述耦合塞和底座在轴向上分别设有通孔。
[0020]所述耦合塞上的通孔为锥形通孔,所述底座上的通孔为台阶孔。
[0021]所述耦合塞的内壁和外壁分别设有密封圈。
[0022]所述耦合腔腔体的有效体积为2000mm3+70mm3。
[0023]所述连接体与所述底座之间螺纹连接;
[0024]所述的底座内设有两个通孔,该通孔内设有连接螺纹。
[0025]所述耦合塞上的通孔与耳声发射测量仪探头的紧密耦合,所述的底座上的通孔与带有前置放大器的传声器连接。
[0026]本发明设有用于耳声发射测量仪校准的双传声器结构的声学耦合腔,包括锥形的耳声发射测量仪探头耦合部分、有效体积为2000mm3+70mm3的腔体、两个1/4英寸传声器大小的通孔和一个调节静态压力平衡的小孔组成。本发明实现了耳声发射测量仪和其校准装置之间的耦合,可同时对耳声发射测量仪的声音刺激单元和响应测量单元进行校准,该结构既能接收来自耳声发射测量仪的声音刺激信号,也能在后端设备的配合下,产生模拟受试者的响应信号。且设计满足IEC 60318-5:2006国际标准的要求。设计结构巧妙、简单、通用、密封性能可靠、具有很好的耦合功能。
[0027]具体实施例:
[0028]如图2所示,耳声发射测量仪校准用声学耦合腔主要由耦合塞、连接体和底座组成。
[0029]如图3所示,所述耦合塞内设有锥形通孔,耦合塞内有密封圈,用于和耳声发射测量仪探头的耦合,耦合塞外设有密封圈,用于和图4所示连接体装置的连接;所述的连接体内上方设有一个直通孔,用于和耦合塞的连接,连接中间设有一个有效体积为2000mm3+70mm3的腔体,侧面设有一个用来调节压力的小通孔;连接体的下面设有一个与I英寸传声器外径尺寸相同的直通孔,下方直通孔内含有连接内螺纹,图5所示的底座一端外设有连接外螺纹,所述连接外螺纹和图4所示连接体的连接内螺纹连接;
[0030]如图5所示,底座内设有两个直通孔,该通孔内设有连接螺纹,所述连接螺纹用于和带有前置放大器的传声器的连接。所述底座的外径尺寸大小与I英寸传声器外径尺寸相同,所述底座内两个直通孔的内径尺寸与1/4英寸传声器外径尺寸相同,这样的结构设计可以保证图4所述连接体中腔体体积2000mm3+70mm3的有效体积,符合IEC 60318-5:2006国际标准的要求。
[0031]以上所述,仅为本发明较佳的【具体实施方式】,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明披露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。
【主权项】
1.一种耳声发射测量仪校准用声学耦合腔,其特征在于,包括底座,所述底座上固定有连接体,所述连接体内部设有耦合腔腔体,所述耦合腔腔体的顶壁设有直通孔,所述直通孔中固定有耦合塞,所述耦合腔腔体的侧壁设有小通孔,所述耦合塞和底座在轴向上分别设有通孔。
2.根据权利要求1所述的耳声发射测量仪校准用声学耦合腔,其特征在于,所述耦合塞上的通孔为锥形通孔,所述底座上的通孔为台阶孔。
3.根据权利要求2所述的耳声发射测量仪校准用声学耦合腔,其特征在于,所述耦合塞的内壁和外壁分别设有密封圈。
4.根据权利要求3所述的耳声发射测量仪校准用声学耦合腔,其特征在于,所述耦合腔腔体的有效体积为2000mm3+70mm3。
5.根据权利要求4所述的耳声发射测量仪校准用声学耦合腔,其特征在于,所述连接体与所述底座之间螺纹连接。
6.根据权利要求5所述的耳声发射测量仪校准用声学耦合腔,其特征在于,所述的底座内设有两个通孔,该通孔内设有连接螺纹。
7.根据权利要求1至6任一项所述的耳声发射测量仪校准用声学耦合腔,其特征在于,所述耦合塞上的通孔与耳声发射测量仪探头的紧密耦合,所述的底座上的通孔与带有前置放大器的传声器连接。
【专利摘要】本发明公开了一种耳声发射测量仪校准用声学耦合腔,包括底座,底座上固定有连接体,连接体内部设有耦合腔腔体,耦合腔腔体的顶壁设有直通孔,直通孔中固定有耦合塞,耦合腔腔体的侧壁设有小通孔,耦合塞和底座在轴向上分别设有通孔,能实现耳声发射测量仪和其校准装置之间的耦合,可同时对耳声发射测量仪的声音刺激单元和响应测量单元进行校准,且设计满足IEC 60318-5:2006国际标准的要求。设计结构巧妙、简单、通用、密封性能可靠。
【IPC分类】A61B5-12
【公开号】CN104856688
【申请号】CN201510121187
【发明人】钟波, 何龙标, 牛锋, 许欢, 白滢, 李瑞静, 郑云山, 陈晓梅
【申请人】中国计量科学研究院, 华北电力大学
【公开日】2015年8月26日
【申请日】2015年3月18日
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