磁共振断层成像设备的制造方法

文档序号:9512195阅读:178来源:国知局
磁共振断层成像设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种用于借助脉冲序列产生磁场中的检查对象的断层成像数据的磁共振断层成像设备和一种用于设置磁共振断层成像设备的方法。
【背景技术】
[0002]为了规划和参数化磁共振检查(MR检查),在目前的磁共振断层成像设备中存在大量设置参数(每测量过程大约700个相关的参数),其对激励特性和磁共振测量的最终结果产生影响。
[0003]在软件版本更换、系统更换或系统变化的情况下几乎不可能确定,磁共振断层成像设备的新的设置是否反映了磁共振断层成像设备的前面的激励特性。因此在磁共振断层成像设备的这种技术变化之后试图这样设置新的设置参数,使得其再次与原始的设置参数一致。
[0004]新的设置参数的一致性意味着,其不互相排斥或影响。但是该过程会导致与系统变化之前完全不同的物理激励特性和不同的测量结果。在重新设置的情况下的基本原理是,这样选择物理输入参数(诸如激励或磁场)的影响,使得产生的图像与检查相应并且能够进行医学诊断。
[0005]序列开发者,也称为参数化者(Parametrisierer),因此对于磁共振断层成像设备的硬件或软件的每个变化手动地检查激励特性和测量结果,例如通过受试者测量。这一点实现如下目的,即,手动地再次这样更新并且改变此前自动调整的、一致的设置参数,使得激励特性和测量结果相应于在系统变化之前的激励特性和测量结果。
[0006]该方法是麻烦的并且容易出现错误,因为参数化者必须具有关于设置参数的精确概况,以便能够评估自动执行的变化并且估计,自动设置的设置参数对激励特性和测量结果产生了哪些影响。

【发明内容】

[0007]本发明要解决的技术问题是,提供一种磁共振断层成像设备和一种用于设置磁共振断层成像设备的方法,通过该方法在磁共振断层成像设备的技术变化之后能够更快速且更简单地进行参数的设置。
[0008]上述技术问题通过具有根据本发明的特征的技术方案来解决。本发明的优选实施方式是附图、说明书和从属权利要求的内容。
[0009]按照本发明的第一方面,上述技术问题通过用于借助脉冲序列产生磁场中的检查对象的断层成像数据的磁共振断层成像设备来解决,所述设备具有用于存储参考检查对象的参考断层成像数据的存储器;用于借助脉冲序列产生参考检查对象的断层成像数据的测量装置;和用于通过调整(Anpassen)脉冲序列的物理参数减小在断层成像数据和参考断层成像数据之间的偏差的调整装置(Anpassungseinrichtung)。由此实现如下技术优点,即,在技术变化之后实现磁共振断层成像设备的快速且简单的再次启动。一直调整并且改变脉冲序列,直至获得的参考检查对象的断层成像数据相应于预先存储的参考检查对象的参考断层成像数据。
[0010]在磁共振断层成像设备的优选的实施方式中,参考断层成像数据和断层成像数据是位置频率空间的元素。由此例如实现如下技术优点,即,可以弃用傅里叶变换并且可以以较小的计算开销进行调整。
[0011]在磁共振断层成像设备的另一种优选的实施方式中,参考断层成像数据和断层成像数据是位置空间的元素。由此例如实现如下技术优点,即,实现位置空间中的良好一致,也就是在系统变化之前和之后的断层成像图像中的良好一致。
[0012]在磁共振断层成像设备的另一种优选的实施方式中,物理参数是在脉冲序列的两个脉冲之间的脉冲间隔。由此例如实现如下技术优点,即,可以通过简单实现的措施调整断层成像数据。
[0013]在磁共振断层成像设备的另一种优选的实施方式中,物理参数是脉冲序列的脉冲的脉冲频率。由此例如实现如下技术优点,即,可以影响检查对象的激励特性。
[0014]在磁共振断层成像设备的另一种优选的实施方式中,物理参数是脉冲序列的脉冲的功率。由此例如同样实现如下技术优点,即,可以影响激励特性。
[0015]在磁共振断层成像设备的另一种优选的实施方式中,物理参数是磁场的梯度。由此例如实现如下技术优点,即,可以优化选择性。
[0016]在磁共振断层成像设备的另一种优选的实施方式中,物理参数是脉冲序列的读取方法。由此例如实现如下技术优点,即,可以优化读取特性。
[0017]在磁共振断层成像设备的另一种优选的实施方式中,构造调整装置,其基于对比值或颜色值确定在断层成像数据和参考断层成像数据之间的偏差。由此例如实现如下技术优点,即,获得对于在断层成像数据和参考断层成像数据之间的偏差的精确度量。
[0018]在磁共振断层成像设备的另一种优选的实施方式中,磁共振断层成像设备包括用于存储如下的值的数据库,该值说明了断层成像数据的取决于物理参数的变化的变化。由此例如实现如下技术优点,即,可以通过较小数量的迭代以更短的时间进行调整。
[0019]按照本发明的第二方面,上述技术问题通过用于设置磁共振断层成像设备的方法来解决,具有以下步骤:存储参考检查对象的参考断层成像数据;借助脉冲序列产生参考检查对象的断层成像数据;和通过调整脉冲序列的物理参数减小在断层成像数据和参考断层成像数据之间的偏差。由此实现了与通过按照第一方面的磁共振断层成像设备实现的相同的技术优点。
[0020]在方法的优选的实施方式中,方法包括基于对比值或颜色值确定在断层成像数据和参考断层成像数据之间的偏差的步骤。由此例如同样实现如下技术优点,即,获得对于在断层成像数据和参考断层成像数据之间的偏差的精确度量。
[0021]在方法的另一种优选的实施方式中,方法包括基于位置空间中的图像分析来确定在断层成像数据和参考断层成像数据之间的偏差的步骤。由此例如实现如下技术优点,即,使在系统变化之前和之后的参考检查对象的断层成像图像相比较。
[0022]在方法的另一种优选的实施方式中,执行基于如下值减小偏差的步骤,该值说明了断层成像数据的取决于物理参数的变化的变化。由此例如同样实现如下技术优点,即,获得对于在断层成像数据和参考断层成像数据之间的偏差的精确度量。
[0023]在方法的另一种优选的实施方式中,一直重复借助脉冲序列产生参考检查对象的断层成像数据的步骤和通过调整脉冲序列的物理参数减小偏差的步骤,直至在断层成像数据和参考断层成像数据之间的偏差达到局部或全局的最小值。由此例如实现如下技术优点,即,获得良好的调整结果。
【附图说明】
[0024]在附图中示出本发明的实施例并且下面对其进行详细描述。
[0025]附图中:
[0026]图1示出了磁共振断层成像设备的示意性视图;和
[0027]图2示出了方法的框图。
【具体实施方式】
[0028]图1示出了磁共振断层成像设备100的示意性视图。磁共振断层成像设备100包括磁体111、在其磁场中布置检查对象101。对于磁共振断层成像设备100的测量方法使用脉冲序列103,其用于激励检查对象101。
[0029]脉冲序列103是高频脉冲113与特定频率和强度的磁梯度场的组合,其在每秒以预先给定的顺序多次地接通和断开。脉冲序列103通过物理激励方法和读取方法来定义。序列特性可以通过物理特征变量来描述,其可以明确识别脉冲序列103并且可以与另外的脉冲序列103区分。每个脉冲序列103可以通过物理参数来影响,该物理参数对激励、读取和图像最终结果产生影响。一般地,对于磁共振断层成像设备100公知大量不同的脉冲序列 103,例如 GRASS (Gradient Refocused Acquisit1n in the Steady State,稳态梯度重聚焦采集)、FISP (Fast Imaging with Steady state Precess1n,稳态进动快速成像)或SE自旋回波。
[0030]磁共振断层成像设备100的测量装置107用于借助脉冲序列103产生检查对象101的断层成像数据。为此目的,在激励检查对象101之后将由接收线圈接收的信号数字化。断层成像数据可以通过如下矩阵构成,其相应于位置空间中的检查对象101的可视的截面图像。断层成像数据也可以通过位置频率空间(K空间)中的矩阵构成。由位置频率空间构成的断层成像数据可以借助傅里叶变换转换为位置空间中的断层成像数据。
[0031]磁共振断层成像设备100包括数字存储器105,在其中存
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