清洁纱线的方法和装置的制作方法

专利名称：清洁纱线的方法和装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及清洁纱线的方法和装置，借助一可调的清洁界限可获取所需的纱线特性，并限定待除去的纱线疵点。
例如，从CH683 350可知这种方法。在此例中，纱线疵点按其细度和长度与预定值的偏离程度进行二维分级并展示。已产生并测得的纱线疵点数进入二维分级区并例如储存在一些单元中。清洁界限以此方式设置，在有较高纱线疵点数的单元附近，其向外偏离，在有较低纱线疵点数的单元附近，其向内偏离。以此方式可减少纱线上必要的接头或结头。
上述方法允许清洁界限以任何所需的方式设置，因此它可采用任何所需的形状。然而，上述方法在生产纱线或退绕纱线之前要在纱线上进行花费很高的试验。
从CH 681 462可知调节电子清纱器的操作限度的方法。在此例中，测量的数值在清洁过程中被连续记录下来，并确定它们的分布。基于其分布及预定许可的信号频率，根据统计恒性自动确定其操作限度。
上述另一种方法涉及纱线监控装置上操作限度的调节，其中纱线值的偏离度或纱线细度，即纱线平均尺寸的偏离度触发一信号或停止生产。因此它不涉及清纱器对纱线疵点的反应。因此，所述操作界限与小的纱线直径偏离度无关，而与极大的偏离度有关。即所述操作界限与任何长度无关。
因此，至今还没有能实现清理界限的最佳管理，又不需很高支出的方法。
本发明的目的在于提供一种能改进清纱器的清理界限的固定和调节的方法和装置，其能近可能实现最佳调节，同时满足特殊规定。
上述目的是这样实现的，根据所需的特性自动确定清理界限，并且清理界值由自动计算确定。清理界限一旦确定，其优选能在清纱器内自动调节，使得它可以周期性地或连续适应所产生的纱线疵点的性质和频率。这可以根据标准的或最初调节或根据同一物品的在先生产所需的数值进行。在此情况下清洁限度的确定是循环控制的结果，其参照纱线特性的测量值，及与清理限度特征有关的各重要参数，优选根据模糊逻辑原则处理上述数据。所述参数对测量是很困难的，或很难使其与清理界限有清楚的数学关系。对确定而言，例如清纱器确定纱线的疵点值，并根据输入分级区模拟预想纱线疵点的参数进行分级。从模拟的纱线疵点可以确定分级区纱线疵点的密度，进而得出清理界限位置有关的参数。
上述装置大致包括一控制循环，该控制循环有一模糊循环控制器，纱线特性值的输入端，以及输入确定或影响清洁界限的参数的单元。控制循环可以包括多个输入多根纱线值的输入端，也可以连到多个清纱器上以输出一公用清理界限。
本发明的优点在于可以考虑大量的形成清理界限的参数。上述参数与纱线，例如，纱线疵点的密度或纱线卷装的形式有关，或者其也可与生产或退绕纱线的装置，例如传感器的类型(光学或电容)有关。其它的参数可以涉及普通的质量参考情况，例如大纱线疵点比小纱线疵点更严重，或一个区域的特殊疵点极严重的情况等。使清理界限适合于测量纱线疵点的方法同样是可能的。例如可以考虑这样的因素，即纱线的电容取样不再完全检测短的纱线疵点，而光学取样则尽量检测很短的纱线疵点，因此这可以确保光学取样不象电学取样的纱线那样经常接头或结头。本系统可以自动操作，即可以没有特殊输入，按标准输入自动工作，或可以有适当输入，按所有可能所需的参数以最佳方式操作。依照基于所确定的纱线疵点值所产生的模拟纱线疵点，可能减少样品的数量或纱线疵点值，这对产生纱线疵点密度的减小及确定清洁限度是很必要的。
下面以举例方式参照附图详细描述本发明。其中

图1是分级区的清洁界限图；图2是根据本发明的装置的示意图；图3是模拟纱线疵点的示意图；图4是纱线疵点密度的减少图；图5是计算纱线疵点的参数图。
图1示出一水平轴1，沿其记录纱线疵点的第一尺寸或第一参数，此处是长度。纱线直径(质量)相对平均直径(质量)的偏离度以平均直径(质量)的百分数表示，绘制为沿纵轴的第二尺寸或参数。在两轴1和2界定的平面内示出的是区域3，具体而言是区域3a，3b，3c等，其界定纱线疵点的级别，例如在CH 477 573中描述的，或通过乌斯特纱疵分级已知的类型。纱线疵点在平面或区域3中用十字表示。例如十字4表示纱线疵点大约是8cm，其细度或质量超过平均直径或平均质量400％。清理界限此处由5表示。其界定哪些纱线疵点应从纱线上除去，哪些不除去。因此位于轴1和清理界限5之间的由十字表示的纱线疵点是不被除去的，不会导致纱线的接头或接头。在第一近似区，可以表述为清理界限在十字，即纱线疵点云斑周围，纱线疵点位于轴1和清理界限之间。
图2示出清理纱线的方法或装置的方块图。该装置包括一控制循环6，其包括一优选是模糊循环控制器的循环控制器7，和用于各方法步骤的处理单元8，9，10，各单元也可以解释为循环控制器7的一部分。此处，将其单独列出以清晰地示出各功能和方法步骤。处理单元8实际上是有多个存储位置的存储器，其存储选定纱线长度(例如100km)纱线疵点参数(长度和直径偏离度)。有存储器的处理单元有至少一个测量值的输入11a，11b，所述输入端又连接到清纱器32，33上。当该装置用于多个清纱器时，则设有相应多的输入端，处理单元9用于以下述方式调整每个测量值，其大致包括一处理器或计算机或其一部分。类似地处理单元10包括有多个存储位置的存储器，其相应于区域3a，3b，3c等(图1)。循环控制器7包括一处理器或计算机，其也有清理界限数值的输出端12，当循环控制器采取模糊循环控制器的形式时，其还有输入生产参数的输入端13，普通质量参数的输入端14，特定纱线参数的输入端15，特定装置参数的输入端16，其它或特定质量参数的输入端17。输出端12又连接到处理单元8上，由区域30表示的清洁界限值可为其它目的储存，展示或输出而存在。循环控制器7因此由输出端12连到清纱器32，33上。
图3示出绘出在子区域19的模拟纱线疵点。模拟纱线疵点是从每个测量值得出的纱线疵点的部分和类似再现。例如它模拟做高斯钟。其最大值在例如图1的十字位于分级区的位置。钟下的区域界定为1。由绘制半径或直径偏离度的轴20和绘制疵点长度的轴21界定子区域19。纱线疵点的高度或容积沿轴22绘制。
上述表示的目的是正确示出分级区的纱线疵点，以及由其产生的影响值，例如纱线疵点密度的表示，以此方式不会得出错误结论。危险在于对随后的使用和加工而言，纱线疵点仅仅解释为区域中的一个点，其对分级区环境的影响可忽略。特别是以下两个事实需要考虑。
首先纱线疵点值的收集与收集系统限定的特殊限度有关，例如纱线的非均匀速度。如果对同一纱线疵点测量第二次，很可能产生不同的值并分到不同的分级区。另一方面当测量很多纱线疵点时，所述界限会减小。通过模拟纱线疵点可能减少所需的测量纱线疵点的数目，由此，实现纱线疵点密度的减小，或简单地获得足够的纱线疵点密度值以确定清洁限度。通过所述模拟可在初斯阶段实现纱线疵点密度的减小，在所测的纱疵数目相对较低后，从上述纱疵密度的减轻可得出良好的清洁界限以及可靠的切割频率的预测。因此可能甚至在生产之前确保根据质量和/或产量的生产运行。
图4示出了根据图1中平面3而表示为区域29的平面上的模拟纱线疵点的总数。上述模拟纱线疵点绘制在与从图3所知的同样轴上。但与图3不同，带总和纱线疵点的多个子区域19一个接一个被记录下来，这样各子区域的模拟测量值仍然会彼此影响，从而在子区域的边界区域之间产生流动传递。这在区域23是高疵点频率，在区域24是低疵点频率，在相邻区域没有明显影响。
图5示出沿相同的已知轴线20，21，22绘制的区域25表示纱线疵点的严重程度。从这可明显看出，例如有大长度和大质量或直径偏离度的纱线疵点表示严重的错误，其可由数值量化。例如区域26a，26b，26c等界定为增加的严重疵点区。当假定起始点是轴20和21的交点，x值沿轴20绘制，y值沿轴21绘制，或者相反时此区域表示的数学函数是例如z＝x y，面积25因此是圆锥面的一部分。然而使用者还可以界定表示严重度的任何所需区域。
本发明的操作模式如下在清纱器中器32，33中，纱线传感器监测例如对应直径或质量的纱线疵点或测量其值。为将上述纱线疵点根据预定的参数在现有状态分级，使直径偏离度和纱线疵点的长度选定为参数，它们以已知的方式与单位长度的纱线直径或质量的平均值有关，央此基础上计算出从平均直径或质量的偏离度。在清纱器上以类似方式使用所述测量值来确定超过下限值(直径或质量)的偏离长度值。这种相对偏离度和偏离长度的测量值通过输入端11引入控制循环6。所述值先进入处理单元8，并储存在那。因此预选纱线长度的纱线疵点值储存在处理单元8中，可以以图1中由十字表示的纱疵占据整个分级区。由于现有技术已有纱线测量值的分级，上述操作是已知的。上述操作对从多个清纱器的多根纱线的测量值同样有效，其钭所有的测量值通过输入端11输入处理单元8。从处理单元8将储存内容或纱线疵点读入处理单元9，在此以图3所示的方式模拟纱线疵点。出于上述目的，整个分级区，即根据图1的所有区域3a，3b，3c等预先用光栅细分，光栅单元可以包括一个或多个子区域19，这样模拟的纱线疵点可以延伸过一个或多个光栅单元。光栅可以例如沿轴2以5％的增量拆分，并沿轴1以1cm的增量分解。高斯钟的延伸可以改变并优选延伸过多个光栅单元。钟延伸的越大，其高度约小，因此体积保持恒定。从轴1和轴2的交叉点模拟的纱线疵点的距离越大，高斯钟表示的就应延伸的越多。为计算光栅单元的密度，将跨过光栅单元的所有高斯钟的体积加起来。然后以类似方式计算整个分级区的密度。这样密度可以以图4所示的方式表示为区域29。上述操作的目的是确保，当确定纱疵点密度时，不是产生单独的分离值，而是形成一个区域，使得分级区的每个区域都能获取纱线疵点密度的表示。这也应用在只探测到很少纱线疵点的地方。
在前述部分中图5所示的表示纱线疵点严重程度的区域25已经装入处理单元10。在循环控制器7中进行最新出现的纱线疵点密度值与预选参数的比较。所有的在处理单元9，10和计算机7中进行的操作超出单纯计算水平，即图3至图5的表示应理解为仅仅是出于清晰的目的。通过区域25所表示的疵点严重度与区域29(图4)所表示的纱线疵点密度或模拟纱线疵点的总数的比较，就可能确定图4所示的纱线疵点是否是可以接收的。这种比较在循环控制器7，优选为模糊循环控制器中进行，因此要考虑已知的第一准则近似如下纱线疵点的长度或质量越大，纱线疵点越严重。所述准则由图5的表示准确描述。在最简单的情况下，通过将区域25与图4中表示模拟纱线疵点总数的区域分割开而获取第一清理界限。由于对纱线连续的测量，所述总数类似形成一连续变化区域，而区域25始终保持恒定，切割线和清理界限自动适应变化的条件，并且循环控制器7通过输出端12输出清理界限值。这可以周期性或连续性或根据任何外部产生的方式进行。从其它申请得知的普通循环控制器7足以用于此目的。清理界限的特性在图4中用31表示。
然而清理界限并非对所有的情况都是最佳的。为此可能考虑其它的参数。所述参数可以是例如，通过输入端13输入循环控制器的产量参数。这种参数例如是每km纱线许可的切断点(cuts)数。利用上述参数清理界限在所有或个别区域移动。从处理单元8由实际清理界限5提供给预选纱线长度的切断点数(图1中清理界限5外侧的十字数)是已知的，通过改变清理界限的位置可以改变所述数值。通用质量参数可以通过输入端14输入。例如可以规定一条原则，即清理界限在分级区较高纱线疵点密度区。当模糊循环控制器从处理单元10获取纱线疵点密度的表示值，并将其与设定输入的密度比较时，可以鉴别出所述区域。通过输入端15可以输入特定纱线参数，例如以适应清理的纱线特性。作为参数可能输入例如距纱线卷装的一段距离，其界定纱线卷装周围的区域，在该区域纱线疵点忽略不计。特定装置参数可以通过输入端16输入。此处从各清纱(光学，电容)系统的测量值的比较可以通过建立这样的规则来进行，即对电容确定的测量值，短的纱疵表示大的重量，而对光学确定的测量值，长的纱疵表示大的重量。或者也可以规定与工艺有关的系统纱疵必须被除去或根本不用除去。此外，通过输入端17可以输入特定的质量参数。此处例如表示特殊产生的特殊纱线疵点分布能被输入。当这种分布是由在模糊循环控制器中进行比较的测量值产生的时，能自动进行补偿或触发信号。由模糊循环控制器7考虑所述参数，所述参数以作为数字或转化为数字的数值输入。通过上述数值改变清洁界限5的特性并最佳化，所述参数转化为与纱线疵点密度有关的设定输入值，所述的设定输入值又与实际的当时的纱线疵点密度值进行比较。最佳化的清理界限可以自动确定，并通过自动装入清纱器而自动进行调整和修改。
虽然已用关于纱线特性，即细度或质量的偏离度和所述偏离度的长度的优选实施例的形式对本发明进行了描述，然而应该知道对其它的特性例如颜色，结构(毛羽，捻回)，纱线的周期性直径变化同样适用。因此也能对纱线疵点例如，外来纤维，外来物质，毛羽等确定和调节清理界限。
权利要求
1.一种清理纱线的方法，其中，通过可调的清理界限(5)界定纱线的特性，并界定待除去的纱线疵点，其特征在于，所述清理界限根据所需的特性自动确定。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述清理界限自动调节和修正。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述清理界限的确定根据模糊逻辑原则进行。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述界限的同时考虑难以测量并与清理界限无清楚数学关系的参数。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，为确定清理界限，从纱线上确定纱线疵点的测量值，并根据选定的参数分级，按预选的纱线疵点的猜想模拟纱线疵点，从模拟的纱线疵点(18)确定表示纱线疵点密度超过分级区的区域(19)。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述清理界限由相应于可允许疵点的设定输入和密度分布得出。
7.实施根据权利要求1所述的方法的装置，其特征在于，一控制循环(6)有一循环控制器(7)和一从纱线确定的特性值的输入端(11)。
8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述控制循环包括多个用于多根纱线值的输入端(11)。
9.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置通过输入端(11)与多个清纱器(32，33)相连以输出一公用清理界限。
10.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述循环控制器采取模糊循环控制器的形式，后者有输入确定清理界限的参数的单元(13，14，15，16，17)。
全文摘要
本发明涉及一种清理纱线的方法和装置,其中,通过一可调的清理界限能实现所需的纱线特性,并界定待除去的纱线疵点。为提供一种能改进清纱器(32,33)清理界限的调节的方法和装置,即尽可能实现最佳调节,清理界限应根据所需的纱线特性在控制循环(6)中自动调节。
文档编号D01H13/26GK1198486SQ9810796
公开日1998年11月11日 申请日期1998年4月23日 优先权日1997年4月23日
发明者H·维普费尔, J·胡瑟, E·比安迪 申请人:泽韦格路瓦有限公司