一种半导体分立器件可调节测试夹具的制作方法

文档序号:29526970发布日期:2022-04-07 02:33阅读:125来源:国知局
一种半导体分立器件可调节测试夹具的制作方法

1.本实用新型涉及半导体技术领域,尤其涉及一种半导体分立器件可调节测试夹具。


背景技术:

2.半导体分立器件具有开关频率高、损耗低、导通电阻低、通态电流大、体积小等优点,在太阳能逆变器、高压dc/dc转换器、电动机、电源等方面的应用日益广泛,需求量越来越大,为保证产品的质量,必须通过测试过程将不合格产品筛选出去,因此测试是保证产品质量必不可少的环节。
3.现有技术中,多数半导体分立器件的夹具大多只能用单一方式夹取器件,且被稳定的多个器件需要单独进行不同种类的测试,从而增加了整个测试的工作时间,也就增加了工作人员的工作负担,为此,我们提出一种半导体分立器件可调节测试夹具来解决上述问题。


技术实现要素:

4.本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在多数半导体分立器件的夹具不能同时进行不同种类测试的问题,而提出的一种半导体分立器件可调节测试夹具。
5.为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:
6.一种半导体分立器件可调节测试夹具,包括底座,所述底座的上端侧壁固定连接有工作台,所述工作台的上端侧壁固定连接有第一限位滑轨,所述第一限位滑轨通过两个与其匹配的第一滑块连接有两个夹板,两个所述夹板的内侧侧壁均设有橡胶涂层,且两个夹板位于同一平面,所述第一限位滑轨的一侧外壁固定连接有电机,所述电机的输出轴密封贯穿第一限位滑轨的一侧侧壁,且电机的输出轴固定连接有双向螺杆,所述双向螺杆的两端分别螺纹贯穿两个第一滑块。
7.优选地,所述双向螺杆远离电机的一端固定连接有第一转杆,所述第一转杆密封贯穿第一限位滑轨的另一侧侧壁,且第一转杆远离双向螺杆的一端固定连接有第一伞齿轮。
8.优选地,所述工作台的上端侧壁固定连接有直板,所述直板的一侧侧壁固定连接有第二限位滑轨,且第二限位滑轨通过与其匹配的第二滑块连接有横板。
9.优选地,所述第二限位滑轨的下端设有与第一伞齿轮匹配的第二伞齿轮,所述第二伞齿轮的上端侧壁固定连接有第二转杆,所述第二转杆密封贯穿第二限位滑轨的下端侧壁,且第二转杆远离第二伞齿轮的一端固定连接有螺纹杆,所述螺纹杆螺纹贯穿第二滑块,且螺纹杆远离第二伞齿轮的一端通过转轴与第二限位滑轨的上端内壁连接。
10.优选地,所述工作台的上端侧壁固定连接有基座,且基座的上端侧壁固定连接有第一橡胶块。
11.优选地,所述横板的下端侧壁通过多组弹簧连接有与第一橡胶块匹配的第二橡胶
块,且第二橡胶块与第一橡胶块位于同一平面。
12.本实用新型中有益效果如下:
13.1、通过调节电机能够带动双向螺杆的转动,从而使两个夹板互相靠近或者互相远离,进而能够根据测试的要求夹紧需要测试的半导体分类件,也就方便工作人员对其进行测试;
14.2、通过双向螺杆能够带动第一伞齿轮的转动,也就使第二伞齿轮也转动,能够带动螺纹杆的转动,也就改变横板的位置,从而同时对两个半导体分类件进行不同的测试,进而减少整个测试的工作时间,减轻工作人员的工作负担。
附图说明
15.图1为本实用新型提出的一种半导体分立器件可调节测试夹具的结构示意图;
16.图2为图1中a处的结构示意图;
17.图3为本实用新型提出的一种半导体分立器件可调节测试夹具的俯视结构示意图。
18.图中:1底座、2工作台、3第一限位滑轨、4夹板、5电机、6双向螺杆、7第一转杆、8第一伞齿轮、9直板、10第二限位滑轨、11横板、12第二伞齿轮、13第二转杆、14螺纹杆、15基座、16第一橡胶块、17第二橡胶块。
具体实施方式
19.下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。
20.参照图1-3,一种半导体分立器件可调节测试夹具,包括底座1,底座1的上端侧壁固定连接有工作台2,工作台2的上端侧壁固定连接有第一限位滑轨3,第一限位滑轨3通过两个与其匹配的第一滑块连接有两个夹板4,两个夹板4的内侧侧壁均设有橡胶涂层,两个夹板4位于同一平面,第一限位滑轨3的一侧外壁固定连接有电机5,电机5的输出轴密封贯穿第一限位滑轨3的一侧侧壁,电机5的输出轴固定连接有双向螺杆6,双向螺杆6的两端分别螺纹贯穿两个第一滑块,双向螺杆6远离电机5的一端固定连接有第一转杆7,第一转杆7密封贯穿第一限位滑轨3的另一侧侧壁,第一转杆7远离双向螺杆6的一端固定连接有第一伞齿轮8,通过电机5能够带动双向螺杆6的转动,能够使两个夹板4互相靠近或者互相远离,从而能够夹持住需要进行测试的器件,在第一转杆7的作用下,能够带动第一伞齿轮8转动;
21.工作台2的上端侧壁固定连接有直板9,直板9的一侧侧壁固定连接有第二限位滑轨10,第二限位滑轨10通过与其匹配的第二滑块连接有横板11,第二限位滑轨10的下端设有与第一伞齿轮8匹配的第二伞齿轮12,第二伞齿轮12的上端侧壁固定连接有第二转杆13,第二转杆13密封贯穿第二限位滑轨10的下端侧壁,第二转杆13远离第二伞齿轮12的一端固定连接有螺纹杆14,螺纹杆14螺纹贯穿第二滑块,螺纹杆14远离第二伞齿轮12的一端通过转轴与第二限位滑轨10的上端内壁连接,在第一伞齿轮8与第二伞齿轮12的啮合作用下,第一伞齿轮8带动第二伞齿轮12转动,在第二转杆13的作用下,能够使螺纹杆14转动,从而能够使横板11的位置移动;
22.工作台2的上端侧壁固定连接有基座15,基座15的上端侧壁固定连接有第一橡胶块16,横板11的下端侧壁通过多组弹簧连接有与第一橡胶块16匹配的第二橡胶块17,第二橡胶块17与第一橡胶块16位于同一平面,当第一橡胶块16上放置需要进行测试的器件时,通过横板11的位置移动带动第二橡胶块17的位置移动,在多组弹簧的作用下能够夹持住需要进行测试的器件。
23.本实用新型中,当需要对半导体分立器件进行测试时,首先将一个半导体分类件设置在两个夹板4之间,另一个半导体分类件设置在第一橡胶块16上,通过调节电机5能够带动双向螺杆6转动,从而使两个夹板4能够互相靠近或者互相远离,进而根据测试的要求稳定一个半导体分类件,再通过第一转杆7的作用下,能够利用双向螺杆6的转动带动第一伞齿轮8的转动,也就使第二伞齿轮12转动,在第二转杆13的作用下,能够使螺纹杆14转动,从而使横板11向上移动或者向下移动,在多组弹簧与第二橡胶板的作用下,进而根据测试的另一个要求稳定另一个半导体分类件,能够同时对两个半导体分类件进行不同的测试,从而减少整个测试的工作时间,进而减轻工作人员的工作负担。
24.以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。


技术特征:
1.一种半导体分立器件可调节测试夹具,包括底座(1),其特征在于,所述底座(1)的上端侧壁固定连接有工作台(2),所述工作台(2)的上端侧壁固定连接有第一限位滑轨(3),所述第一限位滑轨(3)通过两个与其匹配的第一滑块连接有两个夹板(4),两个所述夹板(4)的内侧侧壁均设有橡胶涂层,且两个夹板(4)位于同一平面,所述第一限位滑轨(3)的一侧外壁固定连接有电机(5),所述电机(5)的输出轴密封贯穿第一限位滑轨(3)的一侧侧壁,且电机(5)的输出轴固定连接有双向螺杆(6),所述双向螺杆(6)的两端分别螺纹贯穿两个第一滑块。2.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件可调节测试夹具,其特征在于,所述双向螺杆(6)远离电机(5)的一端固定连接有第一转杆(7),所述第一转杆(7)密封贯穿第一限位滑轨(3)的另一侧侧壁,且第一转杆(7)远离双向螺杆(6)的一端固定连接有第一伞齿轮(8)。3.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件可调节测试夹具,其特征在于,所述工作台(2)的上端侧壁固定连接有直板(9),所述直板(9)的一侧侧壁固定连接有第二限位滑轨(10),且第二限位滑轨(10)通过与其匹配的第二滑块连接有横板(11)。4.根据权利要求3所述的一种半导体分立器件可调节测试夹具,其特征在于,所述第二限位滑轨(10)的下端设有与第一伞齿轮(8)匹配的第二伞齿轮(12),所述第二伞齿轮(12)的上端侧壁固定连接有第二转杆(13),所述第二转杆(13)密封贯穿第二限位滑轨(10) 的下端侧壁,且第二转杆(13)远离第二伞齿轮(12)的一端固定连接有螺纹杆(14),所述螺纹杆(14)螺纹贯穿第二滑块,且螺纹杆(14)远离第二伞齿轮(12)的一端通过转轴与第二限位滑轨(10)的上端内壁连接。5.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件可调节测试夹具,其特征在于,所述工作台(2)的上端侧壁固定连接有基座(15),且基座(15)的上端侧壁固定连接有第一橡胶块(16)。6.根据权利要求3所述的一种半导体分立器件可调节测试夹具,其特征在于,所述横板(11)的下端侧壁通过多组弹簧连接有与第一橡胶块(16)匹配的第二橡胶块(17),且第二橡胶块(17)与第一橡胶块(16)位于同一平面。

技术总结
本实用新型公开了一种半导体分立器件可调节测试夹具,包括底座,所述底座的上端侧壁固定连接有工作台,所述工作台的上端侧壁固定连接有第一限位滑轨,所述第一限位滑轨通过两个与其匹配的第一滑块连接有两个夹板,两个所述夹板的内侧侧壁均设有橡胶涂层,且两个夹板位于同一平面,所述第一限位滑轨的一侧外壁固定连接有电机。本实用新型通过多组结构的配合,能够根据测试的要求夹紧需要测试的半导体分类件,还能利用双向螺杆带动第一伞齿轮的转动,也就使第二伞齿轮也转动,能够带动螺纹杆的转动,也就改变横板的位置,从而同时对两个半导体分类件进行不同的测试,进而减少整个测试的工作时间,减轻工作人员的工作负担。减轻工作人员的工作负担。减轻工作人员的工作负担。


技术研发人员:刘清宽
受保护的技术使用者:刘清宽
技术研发日:2021.03.30
技术公布日:2022/4/6
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