，读取该读指令包含的地址所指向的耗材芯片上的数据，并返回给打印成像设备。
[0042]如果是，则获取与第一目标字段和第二目标字段有关的标记信息的状态；当所述标记信息为第一状态时，且读指令指向所述第一目标字段时，或者，当所述标记信息为第二状态时，且读指令指向所述第二目标字段时，采用预设算法对耗材芯片的数据进行计算得到当前数据的校验值，并发送该校验值给打印成像设备；如果所述标记信息的状态和读指令所指向的目标字段不符合以上两种情况时，一般表示打印成像设备对耗材芯片进行试错性测试，可以忽略该读指令，或者产生一个与当前数据的校验值不同的数值并发送该数值给打印成像设备。
[0043]具体地，
[0044]步骤S04，当步骤S02中判断读指令包含的地址为N时，即读指令指向第一目标字段，判断标记信息是否为第一状态，如果标记信息为第一状态，采用预设的算法对耗材芯片的数据进行计算得到当前数据的校验值，并将该校验值发送给打印成像设备；
[0045]步骤S05，当步骤S02中判断读指令包含的地址为N+1时，即读指令指向第二目标字段，判断标记信息是否为第二状态，如果标记信息为第二状态，采用预设的算法对耗材芯片的数据进行计算得到当前数据的校验值，并将该校验值发送给打印成像设备。并且，相对应的，
[0046]步骤S06，当步骤SOl中判断所接收的指令为写指令时，判断该写指令是否指向所述第一目标字段或第二目标字段，具体地，判断写指令所包含的地址是否为N或N+1。
[0047]步骤S07，当判断到写指令不是指向第一目标字段或第二目标字段时，即写指令中包含的地址不是N或者N+1时，将要写入耗材芯片的数据写入到该写指令所包含的地址所指向的耗材芯片的位置；
[0048]如果是，当接收到打印成像设备发送的写指令指向所述第一目标字段时，将所述标记信息设置为第一状态；当接收到打印成像设备发送的写指令指向所述第二目标字段时，将所述标记信息设置为第二状态；
[0049]具体地，
[0050]步骤S08，当步骤S06中判断写指令包含的指令的地址为N时，即写指令指向第一目标字段，将标记信息更新为第一状态；
[0051]步骤S09，当步骤S06中判断写指令包含的指令的地址为N+1时，即写指令指向第二目标字段，将标记信息更新为第二状态。
[0052]通过以上方法，在打印成像设备写入数据时更新与数据相关联的标记信息，并在打印成像设备读出数据时，能够找到相关联的标记信息，进而依据该标记信息，在合适的时亥IJ，计算出打印成像设备用于进行合法性验证的校验值，无需在耗材芯片中存储校验值，相比冗长的校验值，标记信息一般比较短，从而可以降低成本并能通过打印成像设备的合法性验证的方案。
[0053]实施例二
[0054]与实施例一所述的耗材芯片的校验值的产生方法相对应的，本发明还提供了一种耗材芯片，该耗材芯片能够利用内部的结构模块，执行实施例一所述的校验值产生流程的至少一部分步骤，从而在不存储校验值的基础上，依据标记信息计算出打印成像设备用于进行合法性验证的校验值。
[0055]本发明提供的耗材芯片的结构组成如图2所示，耗材芯片I包括存储单元101，存储单元中设置有第一目标字段和第二目标字段，
[0056]所述耗材芯片I还包括:
[0057]指令处理模块102，其用于接收并判断打印成像设备发送的读指令/写指令是否指向所述第一目标字段或第二目标字段；
[0058]状态获取模块103，其用于获取与第一目标字段和第二目标字段有关的标记信息的状态；
[0059]校验值计算模块104，其用于当所述标记信息为第一状态时，且读指令指向所述第一目标字段时，或者，当所述标记信息为第二状态时，且读指令指向所述第二目标字段时，采用预设算法对耗材芯片的数据进行计算得到当前数据的校验值，并发送该校验值给打印成像设备；及
[0060]状态变更模块105，其用于当接收到打印成像设备发送的写指令指向所述第一目标字段时，将所述标记信息设置为第一状态；当接收到打印成像设备发送的写指令指向所述第二目标字段时，将所述标记信息设置为第二状态。
[0061]本领域技术人员可知，除了上述的几个模块外，耗材芯片一般还包括用于接收和发送指令的接口电路、用于承载以上各个模块的电路基板及其根据耗材芯片的功能需求可选择性地设置的传感器和发光单元等部件。
[0062]实施例三
[0063]与实施例一所述的耗材芯片的校验值的产生方法相类似的，本发明还提供了另一种耗材芯片的校验值的产生方法，所述耗材芯片设置有第一目标字段和第二目标字段，对应于第一目标字段和第二目标字段分别包括两个标记信息:第一标记信息和第二标记信息，其余判断指令的步骤S11、确定指令的地址的步骤S12、S16以及地址不符时的读写步骤S13、S17分别与实施例一所述步骤SO1、S02、S06、S03、S07相同，在此不再详细赘述。
[0064]与实施例一类似地，第一标记信息和第二标记信息分别有两种状态，为了便于与实施例一的标记信息进行区分，将这两种状态分别命名为“当前的”和“未来的”，这个命名方式和标记信息的具体值没有直接关系，仅用于区别不同的状态，例如，假如第一标记信息为I位的二进制数时，可以将该二进制数为I时命名为“当前的”，而将二进制数为O时命名为“未来的”。
[0065]本发明的另一种用于耗材芯片的校验值产生方法流程图如图3所示，所述耗材芯片设置有第一目标字段和第二目标字段，所述方法包括:
[0066]步骤S11，接收并判断打印成像设备发送的指令类型。
[0067]步骤S12，当判断到接收到的指令为读指令时，判断读指令是否指向所述第一目标字段或第二目标字段。
[0068]步骤S13，当判断到读指令不是指向第一目标字段或第二目标字段时，读取该读指令包含的地址所指向的耗材芯片上的数据，并返回给打印成像设备；
[0069]如果是，则获取与所指向的字段有关的标记信息的状态；
[0070]当所述标记信息的状态为“当前的”时，采用预设算法对耗材芯片的数据进行计算得到当前数据的校验值，并发送该校验值给打印成像设备；
[0071 ] 其中，第一标记信息与第一目标字段有关，第二标记信息与第二目标字段有关；
[0072]具体地，
[0073]步骤S14，当步骤S12中判断读指令包含的地址为N时，即读指令指向第一目标字段，判断第一标记信息是否为“当前的”状态，如果标记信息为“当前的”状态，采用预设的算法对耗材芯片的数据进行计算得到当前数据的校验值，并将该校验值发送给打印成像设备;
[0074]步骤S15，当步骤S12中判断读指令包含的地址为N+1时，即读指令指向第二目标字段，判断第二标记信息是否为“当前的”状态，如果标记信息为“当前的”状态，采用预设的算法对耗材芯片的数据进行计算得到当前数据的校验值，并将该校验值发送给打印成像设备。
[0075]如果所述第一标记信息、第二标记信息的状态和读指令所指向的目标字段不符合以上两种情况时，一般表示打印成像设备对耗材芯片进行试错性测试，可以忽略该读指令，或者产生一个与当前数据的校验值不同的数值并发送该数值给打印成像设备。
[0076]并且，相对应的，
[0077]步骤S16，当步骤Sll中判断所接收的指令为写指令时，判断该写指令是否指向所述第一目标字段或第二目标字段。
[0078]步骤S17，当判断到写指令不是指向第一目标字段或第二目标字段时，将要写入耗材芯片的数据写入到该写指令所包含的地址所指向的耗材芯片的位置；
[0079]如果是，当接收到打印成像设备发送的写指令指向所述第一目标字段时，将第一标记信息设置为“当前的”状态，而将第二标记信息设置为“未来的”状态；当接收到打印成像设备发送的写指令指向所述第二目标字段时，将第二标记信息设置为“当前的”状态，而将第一标记信息设置为“未来的”状态；
[0080]具体地，
[0081]步骤S18，当步骤S16中判断写指令包含的指令的地址为N时，即写指令指向第一目标字段，将第一标记信息更新为“当前的”状态，并将第二标记信息更新为“未来的”状态；
[0082]步骤S19，当步骤S16中判断写指令包含的指令的地址为N+1时，即写