专利名称：一种基于arm7的液晶显示模组测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及液晶显示模组测试系统，尤其是涉及一种基于ARM7的液晶显示模组测试系统。
背景技术：
ARM (Advanced RISC Machines)是微处理器行业的一家知名企业，其提供了一系列内核、体系扩展、微处理器和系统芯片方案，由于所有产品均采用一个通用的软件体系， 所以相同的软件可在所有产品中运行。英国ARM公司设计的主流嵌入式处理器最典型的就是ARM7系列处理器，ARM7内核是0. 9MIPS/MHz的三级流水线和冯·诺伊曼结构。ARM7以其小型、快速、低能耗、集成式RISC(Reduced Instruction Set Computer，精简指令集计算机)内核，广泛用于移动通信、电子数码显示产品中。但是，ARM7内部自带的LCD控制器只支持CPU 80系列接口，不支持RGB接口，也不能测试RGB接口带触摸屏的LCM(液晶显示模组)。
实用新型内容本实用新型为了解决现有技术ARM7内部自带的LCD控制器只支持CPU 80系列接口，不支持RGB接口的技术问题，提供了一种基于ARM7的液晶显示模组测试系统。为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为设计一种基于ARM7的液晶显示模组测试系统，包括ARM7处理器，所述基于ARM7的液晶显示模组测试系统还包括一与所述ARM7处理器连接的转RGB接口芯片。所述转RGB接口芯片为无铅方形扁平型引脚封装芯片。所述转RGB接口芯片为SSD1963。所述基于ARM7的液晶显示模组测试系统还包括一连接在所述转RGB接口芯片和 ARM7处理器之间的外围驱动电路。本实用新型通过在ARM7处理器上连接转RGB接口芯片，使得测试系统的功能更强大，不仅可以用来测RGB接口模组，而且可以用来测RGB接口带触摸屏的液晶显示模组，通过加入一芯片来转换成模拟电平，来算出触摸屏的精确位置。同时，采用ARM7处理器和转 RGB接口芯片加起来也没有ARM9处理器价格贵，但可以同样达到ARM9测试RGB接口模组的效果，且ARM9不良率也高，维修成本是ARM7维修成本的三到五倍，因此，本实用新型基于 ARM7的液晶显示模组测试系统的成本更低。另外，转RGB接口芯片使用简单，应用灵活，很多主控芯片都可以用来驱动它。
下面结合实施例和附图对本实用新型进行详细说明，其中图1是本实用新型基于ARM7的液晶显示模组测试系统的主视结构图；图2是本实用新型基于ARM7的液晶显示模组测试系统的原理框图；[0012]图3是本实用新型基于ARM7的液晶显示模组测试系统的测试原理图；图4是本实用新型基于ARM7的液晶显示模组测试系统的测试流程图。
具体实施方式
请参见图1。本实用新型基于ARM7的液晶显示模组测试系统的外壳上设置有显示屏1、功能切换按键2、电压显示屏3、电流显示屏4、指示灯5和外接端子6。请参见图2。本实用新型基于ARM7的液晶显示模组测试系统主要包括电源、ARM7 处理器、外围驱动电路和转RGB接口芯片。其中，ARM7处理器、外围驱动电路和转RGB接口芯片均与电源连接，外围驱动电路连接在ARM7处理器和转RGB接口芯片之间，主要用于实现ARM7处理器和转RGB接口芯片的无缝连接。由于普通的转RGB接口芯片为BGA封装，这种封装要求高，容易坏，而采用QF (无铅方形扁平型)引脚封装的芯片封装要求相对较低， 不容易坏，因此本实用新型优选转RGB接口芯片为无铅方形扁平型引脚封装芯片。在本具体实施例中，所述转RGB接口芯片为SSD1963。请一并参见图3。测试时，通过电源来驱动ARM7处理器、转RGB接口芯片，ARM7处理器工作后有信号送入转RGB接口芯片，再通过按键控制来操作触摸屏和显示屏工作，模拟电流表、电压表用来测量RGB接口产品的电压电流值，来保证电压电流在正常范围内工作。请一并参见图4。本实用新型基于ARM7的液晶显示模组测试系统接通电源后，打开显示屏显示测试开关，通过基于ARM7的液晶显示模组测试系统的显示屏显示来显示产品型号，通过外部上下按键来选择测试型号，通过进入键来确认是否测试，如果所选型号和产品型号不一致，则通过系统判断回到上一步选择型号操作，来重新选择型号，直到型号与产品相符合，再进行RGB测试，之后返回循环测试产品来继续检测产品。本实用新型基于ARM7的液晶显示模组测试系统具有以下优点1、转RGB接口芯片可靠性高，我们摒弃BGA(球栅阵列，面阵列)引脚封装，采用 QF(无铅方形扁平型)引脚封装，这种封装要求相对较低，不容易坏。2、成本低，我们采用的ARM7处理器和转RGB接口芯片加起来没有ARM9处理器价格贵，但可以同样达到ARM9测试RGB接口模组的效果，且ARM9不良率也高，维修成本是 ARM7维修成本的三到五倍；3、转RGB接口芯片使用简单，应用灵活，很多主控芯片都可以用来驱动它；4、ARM7测试平台对于模组测试相当成熟和完善，它能够与转RGB接口芯片无缝结合，组合成测RGB接口完整的测试系统；5、功能更强大，不仅可以用来测RGB接口模组，而且可以用来测RGB接口带触摸屏的液晶显示模组，通过加入一芯片来转换成模拟电平，来算出触摸屏的精确位置；6、结构上体积小，材质轻、携带方便。本实用新型可用于带RGB接口产品的液晶显示模组的测试。以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种基于ARM7的液晶显示模组测试系统，包括ARM7处理器，其特征在于所述基于 ARM7的液晶显示模组测试系统还包括一与所述ARM7处理器连接的转RGB接口芯片。
2.根据权利要求1所述的基于ARM7的液晶显示模组测试系统，其特征在于所述转 RGB接口芯片为无铅方形扁平型引脚封装芯片。
3.根据权利要求2所述的基于ARM7的液晶显示模组测试系统，其特征在于所述转 RGB接口芯片为SSD1963。
4.根据权利要求1所述的基于ARM7的液晶显示模组测试系统，其特征在于所述基于 ARM7的液晶显示模组测试系统还包括一连接在所述转RGB接口芯片和ARM7处理器之间的外围驱动电路。
专利摘要本实用新型公开了一种基于ARM7的液晶显示模组测试系统，旨在提供一种可支持RGB接口的基于ARM7的液晶显示模组测试系统，其包括ARM7处理器，所述基于ARM7的液晶显示模组测试系统还包括一与所述ARM7处理器连接的转RGB接口芯片。本实用新型可用于带RGB接口产品的液晶显示模组的测试。
文档编号G09G3/00GK202159471SQ20112024817
公开日2012年3月7日 申请日期2011年7月14日 优先权日2011年7月14日
发明者张木平, 李俊丰, 李顺义, 袁婧 申请人:深圳市立德通讯器材有限公司