OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法及系统的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法及系统，本发明方法通过对采集的ShortingBar输出端的实际电压值运用最小二乘法拟合直线的方法进行校准后再输出，解决了因ShortingBar电压输出精度不高，而导致OLED玻璃画面异常的问题，且校准精度高、能大幅提高测试效率。本发明装置采用采集板依次与ShortingBar的每个输出端导通采集电压值，采集后自动切换下一个输出端，使PC获得ShortingBar的实际电压值与校准电压值，本装置能扩展至48路I/O接口。
【专利说明】OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法及系统
【技术领域】
[0001] 本发明属于0LED测试设备【技术领域】，具体地指一种0LED的ShortingBar输出精 度校准测试方法及系统。
【背景技术】
[0002] ShortingBar(探针短接式信号测试机）是一款能产生高压波形信号的模拟信号 发生装置，在0LED面板生产工序中，其可用于检测0LED面板是否存在VLINE、HLINE、DOT等 不良异常。
[0003] ShortingBar的电压输出精度需要校准，没有经过校准的ShortingBar其输出电 压的误差可达500mv。ShortingBar电压输出精度不高，会导致0LED玻璃画面异常等问题 的发生。目前ShortingBar电压输出采集过程都是通过人工方式，使用数字万用表手动采 集各通道电压的接口输出值并记录，采集过程完全依靠手拿表笔探针，再将探针接触到输 出接口上的触点完成，该测试方式由于需要人工的进行量测、记录和保存数据，往往会导致 测试效率低、数据准确度不高等问题，加上人眼疲劳，不排除出现记录错误现象，产生无效 数据，亦会导致校准精度不高。
【发明内容】
[0004] 针对现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种0LED的ShortingBar输出精度 校准测试方法及系统，能够解决因 ShortingBar电压输出精度不高，而导致0LED玻璃画面 异常的问题，且校准精度高、能大幅提高测试效率。
[0005] 为实现上述目的，本发明所设计的一种0LED的ShortingBar输出精度校准测试方 法，其特殊之处在于，包括如下步骤：
[0006] 1)使ShortingBar的每个输出端输出相应的设定电压值；
[0007] 2)依次采集所述ShortingBar的每个输出端的实际电压值；
[0008] 3)将所述ShortingBar每个输出端的实际电压值与设定电压值进行比对，用最小 二乘法拟合直线的方法计算出校准参数；
[0009] 4)将所述校准参数输入ShortingBar,所述ShortingBar根据校准参数修正每个 输出端的设定电压后再输出校准电压值；
[0010] 5)重复步骤2)，若所述ShortingBar的每个输出端的实际电压值与设定电压值的 误差在±50mv以内，测试完成；若误差大于±50mv，贝丨」重复步骤3)、4)、5)。
[0011] 优选地，所述步骤2)中依次采集所述ShortingBar的每个输出端的实际电压值的 具体步骤包括：
[0012] 21)将ShortingBar的输入端和电压监控模块的输出端分别与PC机连接；
[0013] 22)使所述电压监控模块的输入端依次与ShortingBar的每个输出端导通，使所 述电压监控模块的输入端依次采集所述每个输出端的实际电压值，并将所述实际电压值依 次传输给PC机；
[0014] 23)所述PC机依次记录ShortingBar每个输出端的实际电压值。
[0015] 优选地，所述步骤3)的具体步骤包括；
[0016] 31)将所述ShortingBar⑴每个输出端的设定电压值依次记为......xn，将每 个输出端的实际电压值依次记为y:、......yn，（η为ShortingBar输出端的个数）；
[0017] 32)根据最小二乘法拟合直线的公式
【权利要求】
1. 一种OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法，其特征在于，包括如下步骤： 1) 使ShortingBar(l)的每个输出端输出相应的设定电压值； 2) 依次采集所述ShortingBar(l)的每个输出端的实际电压值； 3) 将所述Sh〇rtingBar(l)每个输出端的实际电压值与设定电压值进行比对，用最小 二乘法拟合直线的方法计算出校准参数； 4) 将所述校准参数输入ShortingBar (1)，所述ShortingBar (1)根据校准参数修正每 个输出端的设定电压后再输出校准电压值； 5) 重复步骤2)，若所述ShortingBar (1)的每个输出端的实际电压值与设定电压值的 误差在±50mv以内，测试完成；若误差大于±50mv，贝丨」重复步骤3)、4)、5)。
2. 根据权利要求1所述的0LED的ShortingBar输出精度校准测试方法，其特征在于： 所述步骤2)中依次采集所述Sh 〇rtingBar(l)的每个输出端的实际电压值的具体步骤包 括： 21) 将ShortingBar (1)的输入端和电压监控模块（4)的输出端分别与PC机（2)连接； 22) 使所述电压监控模块（4)的输入端依次与ShortingBar (1)的每个输出端导通，使 所述电压监控模块（4)的输入端依次采集所述每个输出端的实际电压值，并将所述实际电 压值依次传输给PC机（2); 23) 所述PC机（2)依次记录ShortingBar (1)每个输出端的实际电压值。
3. 根据权利要求1所述的0LED的ShortingBar输出精度校准测试方法，其特征在于： 所述步骤3)的具体步骤包括； 31) 将所述ShortingBar (1)每个输出端的设定电压值依次记为XpX2......xn，将每个输 出端的实际电压值依次记为......yn，（η为ShortingBar⑴输出端的个数）； 32) 根据最小二乘法拟合直线的公式
计算出校准参数a和b的值（N为ShortingBar (1)输出端的个数）。
4. 根据权利要求3所述的0LED的ShortingBar输出精度校准测试方法，其特征在于： 所述步骤4)中所述Sh〇rtingBar(l)将根据校准参数修正每个输出端的设定电压的具体步 骤包括： 步骤41)所述ShortingBar (1)将每个输出端的设定电压值......χη带入校准参数 公式y = ax+b得到每个输出端的校准电压值y/、y2' ......yn' ； 步骤42)所述ShortingBar (1)使每个输出端分别输出校准电压值y/、y2' ......yn'（η 为ShortingBar (1)输出端的个数）。
5. 根据权利要求3所述的OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法，其特征在于： 所述步骤1)中所述设定电压值为根据0LED玻璃参数设置的每个输出端的设定电压值。
6. -种用于权利要求1所述的OLED的ShortingBar输出精度校准测试系统，其特征在 于：包括ShortingBar(l)、PC机（2)、采集板（3)和电压监控模块（4)，所述ShortingBar(l) 的输入端与PC机（2)连接，所述ShortingBar(l)的每个输出端分别与采集板（3)的一个 支路一一对应连接，所述采集板（3)的所有支路与电压监控模块（4)的输入端连接，所述电 压监控模块（4)的输出端与PC机（2)连接，所述ShortingBar(l)根据设定电压值和校准 信号输出电压，所述PC机（2)向采集板（3)发出启动信号和结束信号、记录所述电压监控 模块（4)采集的实际电压值、计算校准参数并向Sh 〇rtingBar(l)发出校准信号，所述采集 板（3)根据PC机（2)的启动信号依次为每一个支路导通电源，且一个支路导通时其余所有 支路关断，所述采集板（3)接收结束信号后关断所有支路。
7. 根据权利要求6所述的0LED的ShortingBar输出精度校准测试系统，其特征在于： 所述采集板（3)包括MCU (3-1)和若干个支路，所述MCU (3-1)接收所述PC机（2)发出启动 信号和结束信号并控制每个支路的导通与关断。
8. 根据权利要求7所述的0LED的ShortingBar输出精度校准测试系统，其特征在于： 所述采集板（3)的若干个支路通过IIC总线（3-4)、I/O扩展器（3-2)和继电器（3-3)实 现，所述IIC总线（3-4)分别与MCU (3-1)和I/O扩展器（3-2)连接，所述I/O扩展器（3-2) 具有若干个I/O接口，每一个I/O接口与一个继电器（3-3)相连接。
9. 根据权利要求8所述的0LED的ShortingBar输出精度校准测试系统，其特征在于： 所述I/O扩展器（3-2)为具有16路I/O接口的PCA955?芯片。
10. 根据权利要求9所述的0LED的ShortingBar输出精度校准测试系统，其特征在于： 所述I/O扩展器（3-2)由三个PCA955?芯片组成，共有48路I/O接口。
【文档编号】G09G3/32GK104157228SQ201410351790
【公开日】2014年11月19日 申请日期:2014年7月23日 优先权日:2014年7月23日
【发明者】彭骞, 徐锐, 陈凯, 沈亚非 申请人:武汉精测电子技术股份有限公司