一种显示面板检测装置及显示面板检测的方法与流程

本发明涉及但不限于显示技术领域，尤其涉及一种显示面板检测装置及显示面板检测的方法。

背景技术：

液晶显示器(Liquid Crystal Display，简称LCD)，为平面超薄的显示设备，它由一定数量的彩色或黑白像素组成，放置于光源或者反射面前方。液晶显示器功耗很低，并且具有高画质、体积小、重量轻的特点，因此倍受大家青睐，成为显示器的主流。目前液晶显示器是以薄膜晶体管(Thin Film Transistor，简称TFT)液晶显示器为主。

显示面板的制备包括阵列(Array)基板工序、彩膜(CF)基板工序以及阵列基板与彩膜基板的对盒(Cell)工序，一般在进行Cell工序时要进行面板功能测试(Cell Test)。以通过Cell Test检测面板在Array、CF、Cell这三个工序中出现的不良，把不良的产品去除。

传统TFT(Thin Film Transistor，薄膜场效应晶体管)LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)检测领域面板功能测试检测对象为加电后的目视性不良和人眼明显可见的外观性不良，加电方式为全面接触测试法(Full Contact)方式或短路条(Shorting Bar)测试法方式。对于平板显示器(Panel)边缘电极区的微小贝壳(贝壳是指不贯穿的表层破损，形状类似贝壳)或破损，采用上述方式因目视无现象或现象与其他不良相同无法区分而无法检测出来。

技术实现要素：

本发明要解决的技术问题是提供一种显示面板检测装置及显示面板检测的方法，以准确检测出显示面板电极区的破损。

一种显示面板检测装置，用于检测显示面板上的信号线，其中，所述信号线至少包括多条数据线，将多条所述数据线分成N组，所述显示面板检测装置包括设置在显示面板电极区的N条短路条，和设置在所述电极区两侧的多个焊盘，每一条所述短路条用于将一组数据线短接在一起，每一条所述短路条的两端分别连接一个所述焊盘，在所有所述短路条的同一侧，在每条所述短路条与所连接的焊盘之间设置一开关，其中，N大于等于2。

可选地，所述N为2。

可选地，位于奇数位置的所述数据线连接同一条短路条；位于偶数位置的所述数据线连接同一条短路条。

可选地，两相邻的所述焊盘之间的距离大于两相邻数据线之间的距离。

可选地，所述显示面板检测装置还包括：

与所述焊盘尺寸相同冗余焊盘，所述电极区两侧的所述焊盘对称设置，所述冗余焊盘对称设置。

可选地，所述开关为场效应管。

一种显示面板检测的方法，应用于上述的显示面板检测装置，包括：

关闭所述开关；

从远离所述开关的一侧的焊盘引入检测信号；

根据点灯画面显示检测所述显示面板。

可选地，所述根据点灯画面检测所述显示面板，包括：

根据点灯画面颜色发生变化的界线检测出所述显示面板破损的位置。

可选地，所述根据点灯画面检测所述显示面板，包括：

根据颜色变化的程度检测出伤及短路条的数量。

综上，本发明实施例提供一种显示面板检测装置及显示面板检测方法，可以准确检测出显示面板电极区的破损位置及破损程度。

附图说明

图1为相关技术的显示面板检测结构的示意图；

图2为破损或贝壳未伤及电极区数据线只伤及短路条的示意图；

图3为破损或贝壳伤及电极区数据线及短路条的示意图；

图4为本发明实施例一的显示面板检测装置的示意图；

图5为本发明实施例的显示面板检测方法检测到未破损的显示面板的点灯画面；

图6a为本发明实施例的短路条部分破损的显示面板的示意图；

图6b为本发明实施例的短路条部分破损的显示面板对应的点灯画面的示意图；

图7a为本发明实施例的短路条全部破损的显示面板的示意图；

图7b为本发明实施例的短路条全部破损的显示面板对应的点灯画面的示意图；

图8为本发明实施例三的显示面板检测装置的示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

图1为相关技术的显示面板检测结构的示意图，显示面板检测结构是用于对显示面板上的信号线是否存在不良进行检测的。如图1所示，显示面板的电极区(Lead区)Q1上设置有多条数据线100，在数据线100上线交叉设置有N条短路条110，其中，N大于等于2，可以将数据线100分为N组，每条短路条110用于将一组数据线100短接在一起，这样N条短路条与N组数据线连接，一一对应，短路条110从两侧分别延伸到位于电极区Q1两侧的第一检测区Q2和第二检测区Q3，每条短路条110的两端分别连接一个第一焊盘120和一个第二焊盘130。

短路条设计在Trimming(边缘)区，即面板功能测试后激光通过Trimming MarkAlign(对位)后将焊盘引线及短路条边缘断开，可避免短路条和焊盘外露引起的短路及腐蚀风险对后工序的影响。

图2为破损或贝壳未伤及Lead区数据线只伤及短路条的示意图，对于未伤及Lead区数据线只伤及短路条的破损或贝壳的情况，如图2虚线所示，由于图1的显示面板检测结构的检测信号是第一检测区Q2和第二检测区Q3双侧Pad输入，所以点灯画面不受影响，就无法检测出这类未伤及Lead区数据线只伤及短路条的破损或贝壳。

图3为破损或贝壳伤及Lead区数据线及短路条的示意图，对于伤及Lead区数据线及短路条的破损或贝壳的情况，如图3虚线所示，损伤的Lead数据线位置信号输入断开，点灯画面显示为单根或多根线不良(指竖向线(X-Line))，此时不良现象与其他原因造成的竖向线不良无法区分，造成错误的判决，对后续维修和将产品投给后工艺有极大影响。

为了准确检测出电极区上的破损或贝壳，本发明实施例设计如下的显示面板检测装置。

实施例一

图4为本实施例一的显示面板检测装置的示意图，如图4所示，本实施例的显示面板检测装置：在电极区Q1上设置有多条数据线100，在数据线100上交叉设置有2条短路条110，例如，可以将数据线100按奇数行和偶数行分为2组，每条短路条110用于将一组数据线100短接在一起，短路条110从两侧分别延伸到位于电极区Q1两侧的第一检测区Q2和第二检测区Q3，每条短路条110的两端分别连接第一焊盘120和第二焊盘130。当然对数据线100的分组方式不限于上述方式，在不背离本发明目的的前提下也可以采取其他分组方式。本实施例的显示面板检测结构将单侧所有短路条110与短路条信号输入焊盘120间的连线断开，分别接入开关200。在对数据线100进行不良检测时，只需将检测探针(Block Pin)与第二焊盘130连接，即可将测试信号引入至数据线100中。

利用本实施例的显示面板检测结构进行显示面板检测的方法包括以下步骤：

步骤S11，将单侧所有短路条110与短路条信号输入焊盘120间的开关200关闭；

步骤S12，从短路条信号输入Pad130引入检测信号；

步骤S13，根据点灯画面显示来检测所述显示面板。

本实施例的显示面板检测结构增加控制单侧短路条信号输入的开关信号，增加破损贝壳检测画面，关闭开关200，此时只有单侧短路条输入Gray127灰阶信号。

破损或贝壳检测存在以下三个方面：

当显示面板没有破损或贝壳伤及短路条时，由于检测信号是单侧输入，可能存在衰减，破损检测画面为从单侧信号输入端向另一侧渐变的Gray(灰度)画面，如图5所示。

当破损或贝壳伤及最外侧单个(或部分)的短路条时，如图6a所示，虚线为破损的位置，以TN(常白)产品为例，点灯画面以破损位置为分界线，开关一侧画面变亮(ADS(宽视角，常黑产品)产品变暗)，如图6b所示；

当破损或贝壳伤及全部短路条时，如图7a所示，虚线为破损的位置，以TN(常白)产品为例，点灯画面以破损位置为分界线，开关一侧画面完全变白(ADS产品变黑)，如图7b所示。

按照上述方式，破损或贝壳位置纵坐标与画面异常分界线相同，破损或贝壳的深度由损伤的短路条数量，即显示在图像上的画面颜色判断(TN产品白色为最重，ADS产品黑色为最重)。

作为本实施例中的一种优选情况，位于奇数位置的所述数据线100连接同一条短路条110；位于偶数位置的所述述数据线100连接同一条短路条110。从而避免在引入检测信号时，由于信号延时，导致不良的误判断。

之所以采用两条短路条110，存在如下有益效果：每一条短路条110的宽度可以设置得比较宽，可以有效降低电阻，解决了单侧焊盘130加载检测信号引起的信号衰减问题。两条短路条110设计极大减少检测探针数量(1000根左右>2根)，提高焊盘130与检测探针连接的稳定性，避免电极区Q1扎伤，以及检测探针短接引起的烧伤的问题。

当然，第一短路条31的条数也不局限于两条，可以根据具体情况具体设定。

在本实施例中，在短路条31的两端分别增加了第一焊盘120和第二焊盘130，而检测探针所提供的测试信号，仅需与第一焊盘120或者第二焊盘130连接就可以将测试信号引入数据线100中，而可以理解的是，第一焊盘120的宽度远大于每一根数据线100的宽度，且两相邻第一焊盘120或者两相邻第二焊盘130之间的距离是大于两条数据线100的宽度的，因此，第一焊盘120或者第二焊盘130与检测探针充分保证两者连接的稳定性，同时也可以避免检测探针之间出现短路的问题，且即使检测探针很小也不会划伤显示面板的数据线10。

实施例二

本实施例中，开关200为场效应管，场效应管的优点是反应快，漏电小，功率大。

本实施例中，将单侧所有短路条110与短路条信号输入焊盘120间连线断开，并分别使用场效应管连接，场效应管的漏极接短路条110，源极接短路条信号输入焊盘120；场效应管的删极短接在一起并与开关信号输入Pad连接。场效应管及信号输入焊盘在面板功能测试后的切边工艺会被激光切除，不影响后续MDL(Module，模组工艺(增加背光，PCB，外壳等结果))工艺。

本实施例，增加控制单侧短路条信号输入的开关信号，当开关信号输入低电平(OFF，关)，此时只有单侧短路条输入Gray127灰阶信号；在检测其他不良时，开关信号输入高电平(On，开)，双侧短路条输入均导通，检测方式同现有方式。

开关也可以是任何可实现开关功能的电路结构，比如任何种类的三极管。

实施例三

本实施例中的显示面板检测结构与实施例一相比，还包括：与所述第一焊盘120尺寸相同且同侧设置的冗余第一焊盘121，以及与所述第二焊盘130尺寸相同且同侧设置的冗余第二焊盘131；其中，所述第一焊盘120和冗余第一焊盘121与第二焊盘130所在位置和所述冗余第二焊盘131对称设置，如图8所示。

之所以设置冗余第一焊盘121和冗余第二焊盘131的原因是，为了检测不同型号的显示面板的数据线100的检测探针模块150可以通用，且对于不同型号的显示面板设计中所有的第一焊盘120与第二焊盘130的相对位置相同。检测信号时，检测探针140在无信号位置悬空(悬空对应的焊盘即是冗余的)，在有第一焊盘120与第二焊盘130的位置连接，所有型号产品的检测探针模块150通用。

检测探针140为两侧对称设计，对称位置检测探针内部电路相连，输出信号相同。显示面板上的电极区信号分为需要双侧输入的数字信号和单侧输入的GOA信号以及本实施例中的开关信号。对于双侧输入信号，对称位置的检测探针与显示面板上的信号输入焊盘全部接触；对于单侧输入信号，检测探针单侧接触，对侧检测探针悬空，此时显示面板上的对应位置被称作Dummy Pad(虚设焊盘)。此种设计可降低Block成本，提高便利性和生产效率。

本发明实施例的显示面板检测结构可以检测出Lead区破损及贝壳，避免漏检，可以将破损贝壳与线不良相区分，避免错判；可以及时准确定位破损贝壳位置，便于排查设备对应点位，查找破损原因。

本发明实施例的显示面板检测结构适用于LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)、PDP(等离子显示)、OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)等平板显示器(Panel)及Cell检测领域。

本领域普通技术人员可以理解上述方法中的全部或部分步骤可通过程序来指令相关硬件完成，所述程序可以存储于计算机可读存储介质中，如只读存储器、磁盘或光盘等。可选地，上述实施例的全部或部分步骤也可以使用一个或多个集成电路来实现。相应地，上述实施例中的各模块/单元可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。本发明不限制于任何特定形式的硬件和软件的结合。

以上仅为本发明的优选实施例，当然，本发明还可有其他多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。