一种显示面板的制作方法

本发明涉及显示技术领域，更具体的说，涉及一种显示面板。

背景技术：

液晶显示器具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用。现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶面板及背光模组(backlightmodule)。液晶面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子，并在两片玻璃基板上施加驱动电压来控制液晶分子的旋转方向，以将背光模组的光线折射出来产生画面。

其中，薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，TFT-LCD)由于具有低的功耗、优异的画面品质以及较高的生产良率等性能，目前已经逐渐占据了显示领域的主导地位。同样，薄膜晶体管液晶显示器包含液晶面板和背光模组，液晶面板包括彩膜基板(Color Filter Substrate，CF Substrate，也称彩色滤光片基板)、薄膜晶体管阵列基板(Thin Film Transistor Substrate，TFTSubstrate)和光罩(Mask)，上述基板的相对内侧存在透明电极。两片基板之间夹一层液晶分子(LiquidCrystal，LC)。

随着显示器比如薄膜晶体管液晶显示器逐渐往超大尺寸、高驱动频率、高分辨率等方面发展，显示面板的大尺寸边框往往会影响使用者观看时的视觉感受，造成视觉的感官不佳，不能提高好的显示品味体现。但窄边框的显示面板在做单元检测(cell test)时往往需要更多的制程来实现，不利于节省工序和成本。

技术实现要素：

本发明所要解决的技术问题是提供一种减少制程、节省时间的显示面板。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：一种显示面板，所述显示面板包括单元测试结构，所述单元测试结构设置于所述显示面板的边框位置，所述单元测试结构包括

单元测试部，用于提供所述单元测试结构的电力；

多条连接线，用于连接所述显示面板的显示区域的导电线；

第一短路棒，所述第一短路棒设置在所述单元测试部和连接线之间并连接所述单元测试部和所述连接线；

多个主动开关，所述主动开关设置在所述连接线上，所述主动开关与所述单元测试部电性连接。

其中，所述单元测试结构包括与所述连接线相交的主动开关控制线，多个所述主动开关设置在所述主动开关控制线上。主动开关不管设置在多条连接线上以控制连接线的连接与否，同时共同设置在于连接线相交的主动开关控制线以便同时工作，减少对单个主动开关分别控制的繁复设置、节省成本，同时便于管理。

其中，所述主动开关控制线的两端设置有所述主动开关的主动开关控制部。两端设置有的主动开关控制部可以通过外部的输入实时有效的控制主动开关的开启与断开，输入的形式更多样、适应下更强。

其中，所述主动开关控制线与所述显示面板的驱动芯片耦合。与驱动芯片耦合则由显示面板的内部信号控制主动开关的开启与断开，可以利用显示面板的原有电元件设置及布线设置等，减少单元测试结构的结构设置，节省成本。

其中，所述主动开关采用的宽度为30μm。采用宽度小的主动开关便于单元测试结构在窄边框甚至超窄边框显示面板上的使用，不占用过多的空间、方便布线。

其中，所述第一短路棒上设置有与所述单元测试部连接的连接部，所述第一短路棒上至少设置有两个所述连接部。至少两个连接部也就是至少两个单元测试部与第一短路棒连接，在单元测试结构用于测试显示面板时常常分区测试，比如两个在同一方向上相邻的测试区域可以共用同一个第一短路棒，在第一短路棒的两端和中部同设置三个单元测试部，充分利用相应结构，优化结构布设。

其中，所述连接线与所述显示面板的显示区域的数据线连接，所述显示面板的边框位置设置有所述数据线的第一导电线扇出区，多条所述数据线经所述第一导电线扇出区以不平行的形式排布，在所述第一导电线扇出区内所述数据线之间的距离由靠近所述显示面板的显示区域向所述显示面板的边框位置缩小。这是连接线与数据线连接时进行单元测试的一个实施方式，显示区域内的数据线通过扇出区后与连接线连接。

其中，所述连接线与所述显示面板的显示区域的扫描线连接，所述显示面板的边框位置设置有所述扫描线的第二导电线扇出区，多条所述扫描线经所述第二导电线扇出区以不平行的形式排布，在所述第二导电线扇出区内所述扫描线之间的距离由靠近所述显示面板的显示区域向所述显示面板的边框位置缩小。这是连接线与扫描线连接时进行单元测试的一个实施方式，显示区域内的扫描线通过扇出区后与连接线连接。

其中，所述主动开关采用薄膜晶体管。薄膜晶体管(Thin-film transistor，TFT)取材广泛、技术成熟、便于利用。

其中，所述单元测试结构包括与所述连接线相交的主动开关控制线，一条所述第一短路棒的两端分别设置有一个所述单元测试部，所述第一短路棒的中部与三条所述连接线连接，三条所述连接线在对应位置上分别设置有一个所述主动开关，三个所述主动开关设置在一条所述主动开关控制线上，所述主动开关控制线的两端设置有两个所述主动开关的主动开关控制部。这是单元测试结构进行分区测试时的一种实施方式。

与现有技术相比，本发明的技术效果是：

本发明由于设置主动开关在连接线上，利用主动开关与单元测试部的电性连接共同实现连通、断开，对显示面板进行单元测试，最大限度的节省空间，减去多余的制程，节省节拍时间。

附图说明

所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本申请的实施方式，并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1是本发明实施例一种显示面板的单元测试结构的结构示意图；

图2是本发明实施例一种显示面板的单元测试结构的结构示意图；

图3是本发明实施例一种显示面板的结构示意图。

其中，1、显示区域；2、边框；3、单元测试部；4、连接线；5、第一短路棒；6、主动开关；61、主动开关控制线；62、主动开关控制部；7、数据线。

具体实施方式

这里所公开的具体结构和功能细节仅仅是代表性的，并且是用于描述本发明的示例性实施例的目的。但是本发明可以通过许多替换形式来具体实现，并且不应当被解释成仅仅受限于这里所阐述的实施例。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。另外，术语“包括”及其任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

这里所使用的术语仅仅是为了描述具体实施例而不意图限制示例性实施例。除非上下文明确地另有所指，否则这里所使用的单数形式“一个”、“一项”还意图包括复数。还应当理解的是，这里所使用的术语“包括”和/或“包含”规定所陈述的特征、整数、步骤、操作、单元和/或组件的存在，而不排除存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。

下面结合附图和较佳的实施例对本发明作进一步详细说明。

下面参考图1至图3描述本发明实施例的显示面板结构示意图。

作为本发明的一个实施例，如图1-2所示，所述显示面板包括单元测试结构，所述单元测试结构设置于所述显示面板的边框位置，所述单元测试结构包括单元测试部，用于提供所述单元测试结构的电力；多条连接线，用于连接所述显示面板的显示区域的导电线；第一短路棒，所述第一短路棒设置在所述单元测试部和连接线之间并连接所述单元测试部和所述连接线；多个主动开关，所述主动开关设置在所述连接线上，所述主动开关与所述单元测试部电性连接。本发明由于设置主动开关在连接线上，利用主动开关与单元测试部的电性连接共同实现连通、断开，对显示面板进行单元测试，最大限度的节省空间，减去多余的制程，节省节拍时间(tact time)。

此时，当单元测试结构开启工作时，先对单元测试部加电；于此同时通过单位测试部与主动开关的控制端的信号连接，主动开关处于导通状态；电力通过所述第一短路棒(Shorting Bar)走线，传给连接线(lead)，直至显示区域的导电线；完成对显示面板的单元测试(cell test)。不需要进行单元测试时，单元测试结构不工作，单元测试部不加电，与之信号连接的主动开关也不导通，shorting bar和lead之间是断开的。

作为本发明的又一个实施例，如图1-2所示，所述显示面板包括单元测试结构，所述单元测试结构设置于所述显示面板的边框位置，所述单元测试结构包括单元测试部，用于提供所述单元测试结构的电力；多条连接线，用于连接所述显示面板的显示区域的导电线；第一短路棒，所述第一短路棒设置在所述单元测试部和连接线之间并连接所述单元测试部和所述连接线；多个主动开关，所述主动开关设置在所述连接线上，所述主动开关与所述单元测试部电性连接。设置主动开关在连接线上，利用主动开关与单元测试部的电性连接共同实现连通、断开，对显示面板进行单元测试，最大限度的节省空间，减去多余的制程，节省节拍时间。所述单元测试结构包括与所述连接线相交的主动开关控制线，多个所述主动开关设置在所述主动开关控制线上。主动开关不管设置在多条连接线上以控制连接线的连接与否，同时共同设置在于连接线相交的主动开关控制线以便同时工作，减少对单个主动开关分别控制的繁复设置、节省成本，同时便于管理。所示主动开关控制线与所述连接线相垂直设置。所述主动开关控制线的两端设置有所述主动开关的主动开关控制部。两端设置有的主动开关控制部可以通过外部的输入实时有效的控制主动开关的开启与断开，输入的形式更多样、适应下更强。主动开关控制部可以采用焊盘的形式。

作为本发明的又一个实施例，如图1-2所示，所述显示面板包括单元测试结构，所述单元测试结构设置于所述显示面板的边框位置，所述单元测试结构包括单元测试部，用于提供所述单元测试结构的电力；多条连接线，用于连接所述显示面板的显示区域的导电线；第一短路棒，所述第一短路棒设置在所述单元测试部和连接线之间并连接所述单元测试部和所述连接线；多个主动开关，所述主动开关设置在所述连接线上，所述主动开关与所述单元测试部电性连接。设置主动开关在连接线上，利用主动开关与单元测试部的电性连接共同实现连通、断开，对显示面板进行单元测试，最大限度的节省空间，减去多余的制程，节省节拍时间。所述单元测试结构包括与所述连接线相交的主动开关控制线，多个所述主动开关设置在所述主动开关控制线上。主动开关不管设置在多条连接线上以控制连接线的连接与否，同时共同设置在于连接线相交的主动开关控制线以便同时工作，减少对单个主动开关分别控制的繁复设置、节省成本，同时便于管理。所示主动开关控制线与所述连接线相垂直设置。所述主动开关控制线与所述显示面板的驱动芯片耦合。与驱动芯片耦合则由显示面板的内部信号控制主动开关的开启与断开，可以利用显示面板的原有电元件设置及布线设置等，减少单元测试结构的结构设置，节省成本。比如，与驱动芯片耦合的主动开关控制线上可以设置一个主动开关，通过此主动开关来调控设置在连接线上的主动开关的工作情况。

作为本发明的又一个实施例，如图3所示，所述显示面板包括单元测试结构，所述单元测试结构设置于所述显示面板的边框位置，所述单元测试结构包括单元测试部，用于提供所述单元测试结构的电力；多条连接线，用于连接所述显示面板的显示区域的导电线；第一短路棒，所述第一短路棒设置在所述单元测试部和连接线之间并连接所述单元测试部和所述连接线；多个主动开关，所述主动开关设置在所述连接线上，所述主动开关与所述单元测试部电性连接。设置主动开关在连接线上，利用主动开关与单元测试部的电性连接共同实现连通、断开，对显示面板进行单元测试，最大限度的节省空间，减去多余的制程，节省节拍时间。

所述连接线与所述显示面板的显示区域的数据线连接，所述显示面板的边框位置设置有所述数据线的第一导电线扇出区，多条所述数据线经所述第一导电线扇出区以不平行的形式排布，在所述第一导电线扇出区内所述数据线之间的距离由靠近所述显示面板的显示区域向所述显示面板的边框位置缩小。所述单元测试结构包括与所述连接线相交的主动开关控制线，一条所述第一短路棒的两端分别设置有一个所述单元测试部，所述第一短路棒的中部与三条所述连接线连接，三条所述连接线在对应位置上分别设置有一个所述主动开关，三个所述主动开关设置在一条所述主动开关控制线上，所述主动开关控制线的两端设置有两个所述主动开关的主动开关控制部。两个在同一方向上相邻的测试区域可以共用同一个第一短路棒，在第一短路棒的两端和中部同设置三个单元测试部，充分利用相应结构，优化结构布设。所述主动开关采用的宽度为30μm。采用宽度小的主动开关便于单元测试结构在窄边框甚至超窄边框显示面板上的使用，不占用过多的空间、方便布线。所述主动开关可采用薄膜晶体管。薄膜晶体管(Thin-film transistor，TFT)取材广泛、技术成熟、便于利用。申请人考虑过在不使用主动开关时采用激光(laser)在测试完成后把shorting bar和lead之间的连接打断，然而激光切割的精度一般在100μm左右，不仅平白增加laser cut这一制程，还浪费空间，不利于超窄边框。

此时，如图1-2所示的主动开关导通、断开的示意图，通过单元测试部(cell test pad)加电通过所述第一短路棒(Shorting Bar)走线，传给连接线(lead)，通过所述第一导电线扇出区(fanout)走线，最终导给显示区域的像素。当cell test点灯时，通过单位测试部与主动开关的控制端的信号连接同时给TFT pad高电位，这时候电压可以通过shorting bar给到lead；不点灯的时候shorting bar和lead之间是断开的，节省laser cut制程。

具体的，所述单元测试结构包括与所述连接线相交的主动开关控制线，多个所述主动开关设置在所述主动开关控制线上。主动开关不管设置在多条连接线上以控制连接线的连接与否，同时共同设置在于连接线相交的主动开关控制线以便同时工作，减少对单个主动开关分别控制的繁复设置、节省成本，同时便于管理。所示主动开关控制线与所述连接线相垂直设置。所述主动开关控制线的两端设置有所述主动开关的主动开关控制部。两端设置有的主动开关控制部可以通过外部的输入实时有效的控制主动开关的开启与断开，输入的形式更多样、适应下更强。这里是一种通过外部控制的形式。主动开关控制部可以采用焊盘的形式。或者，所述主动开关控制线与所述显示面板的驱动芯片耦合。与驱动芯片耦合则由显示面板的内部信号控制主动开关的开启与断开，可以利用显示面板的原有电元件设置及布线设置等，减少单元测试结构的结构设置，节省成本。这里是一种通过显示面板的内部控制的形式。比如，与驱动芯片耦合的主动开关控制线上可以设置一个主动开关，通过此主动开关来调控设置在连接线上的主动开关的工作情况。

具体的，所述第一短路棒上设置有与所述单元测试部连接的连接部，所述第一短路棒上至少设置有两个所述连接部。至少两个连接部也就是至少两个单元测试部与第一短路棒连接，在单元测试结构用于测试显示面板时常常分区测试。单元测试部可以采用焊盘的形式。

作为本发明的又一个实施例，所述显示面板包括单元测试结构，所述单元测试结构设置于所述显示面板的边框位置，所述单元测试结构包括单元测试部，用于提供所述单元测试结构的电力；多条连接线，用于连接所述显示面板的显示区域的导电线；第一短路棒，所述第一短路棒设置在所述单元测试部和连接线之间并连接所述单元测试部和所述连接线；多个主动开关，所述主动开关设置在所述连接线上，所述主动开关与所述单元测试部电性连接。设置主动开关在连接线上，利用主动开关与单元测试部的电性连接共同实现连通、断开，对显示面板进行单元测试，最大限度的节省空间，减去多余的制程，节省节拍时间。

所述连接线与所述显示面板的显示区域的扫描线连接，所述显示面板的边框位置设置有所述扫描线的第二导电线扇出区，多条所述扫描线经所述第二导电线扇出区以不平行的形式排布，在所述第二导电线扇出区内所述扫描线之间的距离由靠近所述显示面板的显示区域向所述显示面板的边框位置缩小。所述单元测试结构包括与所述连接线相交的主动开关控制线，一条所述第一短路棒的两端分别设置有一个所述单元测试部，所述第一短路棒的中部与三条所述连接线连接，三条所述连接线在对应位置上分别设置有一个所述主动开关，三个所述主动开关设置在一条所述主动开关控制线上，所述主动开关控制线的两端设置有两个所述主动开关的主动开关控制部。两个在同一方向上相邻的测试区域可以共用同一个第一短路棒，在第一短路棒的两端和中部同设置三个单元测试部，充分利用相应结构，优化结构布设。所述主动开关采用的宽度为30μm。采用宽度小的主动开关便于单元测试结构在窄边框甚至超窄边框显示面板上的使用，不占用过多的空间、方便布线。所述主动开关可采用薄膜晶体管。薄膜晶体管(Thin-film transistor，TFT)取材广泛、技术成熟、便于利用。申请人考虑过在不使用主动开关时采用激光(laser)在测试完成后把shorting bar和lead之间的连接打断，然而激光切割的精度一般在100μm左右，不仅平白增加laser cut这一制程，还浪费空间，不利于超窄边框。

此时，如图1-2所示的主动开关导通、断开的示意图，通过单元测试部(cell test pad)加电通过所述第一短路棒(Shorting Bar)走线，传给连接线(lead)，通过所述第二导电线扇出区(fanout)走线，最终导给显示区域的像素。当cell test点灯时，通过单位测试部与主动开关的控制端的信号连接同时给TFT pad高电位，这时候电压可以通过shorting bar给到lead；不点灯的时候shorting bar和lead之间是断开的，节省laser cut制程。

具体的，所述单元测试结构包括与所述连接线相交的主动开关控制线，多个所述主动开关设置在所述主动开关控制线上。主动开关不管设置在多条连接线上以控制连接线的连接与否，同时共同设置在于连接线相交的主动开关控制线以便同时工作，减少对单个主动开关分别控制的繁复设置、节省成本，同时便于管理。所示主动开关控制线与所述连接线相垂直设置。所述主动开关控制线的两端设置有所述主动开关的主动开关控制部。两端设置有的主动开关控制部可以通过外部的输入实时有效的控制主动开关的开启与断开，输入的形式更多样、适应下更强。这里是一种通过外部控制的形式。主动开关控制部可以采用焊盘的形式。或者，所述主动开关控制线与所述显示面板的驱动芯片耦合。与驱动芯片耦合则由显示面板的内部信号控制主动开关的开启与断开，可以利用显示面板的原有电元件设置及布线设置等，减少单元测试结构的结构设置，节省成本。这里是一种通过显示面板的内部控制的形式。比如，与驱动芯片耦合的主动开关控制线上可以设置一个主动开关，通过此主动开关来调控设置在连接线上的主动开关的工作情况。

具体的，所述第一短路棒上设置有与所述单元测试部连接的连接部，所述第一短路棒上至少设置有两个所述连接部。至少两个连接部也就是至少两个单元测试部与第一短路棒连接，在单元测试结构用于测试显示面板时常常分区测试。单元测试部可以采用焊盘的形式。

需要说明的是，在上述实施例中，所述基板的材料可以选用玻璃、塑料等。

在上述实施例中，显示面板包括液晶面板、OLED(Organic Light-Emitting Diode)面板、曲面面板、等离子面板等，以液晶面板为例，液晶面板包括阵列基板(Thin Film Transistor Substrate，TFT Substrate)和彩膜基板(Color Filter Substrate，CF Substrate)，所述阵列基板与彩膜基板相对设置，所述阵列基板与彩膜基板之间设有液晶和间隔单元(PS，photo spacer)，所述阵列基板上设有薄膜晶体管(TFT，Thin Film Transistor)，彩膜基板上设有彩色滤光层。

在上述实施例中，彩膜基板可包括TFT阵列，彩膜及TFT阵列可形成于同一基板上，阵列基板可包括彩色滤光层。

在上述实施例中，本发明的显示面板可为曲面型面板。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。