便于测试的COG面板的制作方法

本发明涉及液晶面板测试技术领域，尤其涉及一种便于测试的cog面板。

背景技术：

目前，各大tftlcd(thinfilmtransistor-liquidcrystaldisplay，即薄膜晶体管液晶显示器)液晶面板制造厂商的出货形式包括opencell出货、cog(chiponglass，即芯片搭载在玻璃面板上)出货、fog(filmonglass，即柔性电路板搭载在玻璃面板上)出货及mod(module，即背光模块)出货。opencell指只包含cell(玻璃面板)，未绑定驱动芯片(bondingdriveric)和fpc(柔性电路板)，且无背光源；cog指在cell上只bondingdriveric，无fpc和背光；fog指在cell上bondingdriveric和fpc，但无背光源；mod指包含driveric、fpc及背光源。

然而，tftlcd液晶面板制造厂商无论在以何种形式出货前都要进行显示效果和其他性能测试，全部符合质量规范和客户要求后，才会出货给客户。目前的主要出货形式以cell出货和mod出货为主，针对cog出货并无确定的测试方法来保证出货产品的显示效果和其他性能全都符合相应的质量规范和客户要求。

技术实现要素：

鉴于现有技术存在的不足，本发明提供了一种便于测试的cog面板，可以简化测试过程，提高测试效率。

为了实现上述的目的，本发明采用了如下的技术方案：

一种便于测试的cog面板，包括玻璃面板和设于所述玻璃面板的绑定端的背面的驱动芯片，所述玻璃面板包括固定在所述绑定端的连接端；所述连接端上设有若干分别连接所述驱动芯片且相互平行的导线以及设于各导线自由端的测试端子；所述连接端沿所述绑定端的长度方向延伸，且相对于所述驱动芯片更靠近所述绑定端的自由端。

作为其中一种实施方式，所述连接端的测试端子被布置成复数列相互平行的线性端子组，每列所述线性端子组包括若干测试端子，且所述线性端子组延伸方向与所述绑定端的长度方向一致。

作为其中一种实施方式，靠近所述绑定端的自由端的一列所述线性端子组中的每两个相邻的测试端子之间夹设有至少一个其他列的所述线性端子组中的测试端子。

作为其中一种实施方式，所述线性端子组的数量为2。

作为其中一种实施方式，靠近所述绑定端的自由端的所述线性端子组中的每两个相邻的测试端子之间夹设有一个另一所述线性端子组中的测试端子。

作为其中一种实施方式，同一列所述测试端子中，所述测试端子的形状相同。

作为其中一种实施方式，靠近所述驱动芯片的所述线性端子组中的测试端子为三角形，三角形的所述测试端子的一边朝向所述驱动芯片所在侧，另外两边朝向靠近所述绑定端的自由端的所述线性端子组；靠近所述绑定端的自由端的所述线性端子组中，每个测试端子上朝向所述驱动芯片所在侧具有两个围成角部的斜边。

作为其中一种实施方式，每列所述线性端子组的测试端子均呈三角形。

或者，靠近所述绑定端的自由端的所述线性端子组中，每个测试端子均呈菱形。

作为其中一种实施方式，所述连接端包括衬底层，所述导线和所述测试端子集成在所述衬底层上，且所述衬底层上开设有垂直于所述导线且将所述导线划分成两部分的撕裂线。

本发明的cog面板的绑定端具有方便测试的连接端，可以简化测试过程，提高测试效率。另外，通过将测试端子通过特定的排列方式进行布置，使得测试结构可以占用最少的空间，测试也更加方便。

附图说明

图1为本发明实施例1的cog面板的结构示意图；

图2为本发明实施例1的cog面板的绑定端的局部放大图；

图3为本发明实施例1的cog面板的绑定端的另一种结构的局部放大图；

图4为本发明实施例2的cog面板的结构示意图；

图5为本发明实施例2的cog面板的绑定端的局部放大图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

实施例1

参阅图1，本实施例的便于测试的cog面板包括玻璃面板10和设于玻璃面板10的绑定端的背面的驱动芯片20，玻璃面板10包括固定在绑定端的连接端b；连接端b上设有若干分别连接驱动芯片20且相互平行的导线l以及设于各导线l自由端的测试端子100；连接端b沿绑定端的长度方向延伸，且相对于驱动芯片20更靠近绑定端的自由端。该cog面板并无fpc，在出货完成后，将连接有主控芯片40的fpc30通过其上的金手指300与连接端b导通即可。在出货前进行测试时，只需要通过连接端b输入测试信号即可测试产品的显示效果等性能。

如图2所示，连接端b的测试端子100被布置成复数列相互平行的线性端子组，每列线性端子组包括若干测试端子100，且线性端子组延伸方向与绑定端的长度方向一致。通过将测试端子100划分成多组间隔开的线性端子组，可以合理地设计测试端子100的伸出位置和相应的导线l的长度，一方面减小连接端b所占用的整体面积，另一方面，可以方便fpc30的金手指300或外部的测试电路端子与测试端子100的对准，提高测试效率。

在靠近绑定端的自由端的一列线性端子组中，每两个相邻的测试端子100之间夹设有至少一个其他列的线性端子组中的测试端子100。本实施例选取线性端子组的数量为2，两组线性端子组呈左右(如图2所示的方位)排列，各测试端子100通过相应的导线l延伸至与驱动芯片20连接，且所有的导线l相互平行。靠近绑定端的自由端的线性端子组中的每两个相邻的测试端子100之间夹设有一个另一线性端子组中的测试端子100。

为尽可能方便布线并节约空间，最好是在同一列测试端子100中，使每个测试端子100的形状相同。这里，靠近驱动芯片20的线性端子组中的测试端子100为三角形，三角形的测试端子100的一边朝向驱动芯片20所在侧，另外两边朝向靠近绑定端的自由端的线性端子组；同时，在靠近绑定端的自由端的线性端子组中，每个测试端子100上朝向驱动芯片20所在侧具有两个围成角部的斜边。两列线性端子组布置好后，左侧的两个三角形的测试端子100围成供右侧的测试端子100容纳的布置空间，右侧的测试端子100的角部嵌入该布置空间，且该角部的两条斜边分别与左侧的两个三角形的相应边相对设置，最好是平行，以最大限度避免不必要的空隙。

本实施例中进一步将每列线性端子组的测试端子100均设置为呈等腰三角形的构造，即靠近驱动芯片20的线性端子组中的每个测试端子100的等腰三角形的底边中部连接各自的导线l，顶部的角朝向另一列线性端子组，另一列线性端子组中的每个测试端子100的等腰三角形的顶角连接各自的导线l，使其顶角的两边分别朝向相邻线性端子组的两个测试端子100。最终，靠近驱动芯片20的线性端子组中的每两个相邻的测试端子100将相邻的线性端子组中的一个测试端子100一端包围，这三个测试端子100围成等腰梯形状的空间，使得线性端子组的结构更紧凑。相应地，为了方便与cog面板的连接端b连接，fpc30的金手指300或外部的测试电路端子也可以设计为类似的构造，即也具有导线和分别连接各导线的多组端子，多组端子的布置与连接端b的测试端子100匹配，即连接端b具有伸出的测试端子的部位，金手指300(或外部的测试电路端子)的端子呈回缩状态，连接端b具有回缩的测试端子的部位，金手指300(或外部的测试电路端子)的端子呈伸出状态。

如图3所示，靠近绑定端的自由端的线性端子组中，每个测试端子100也可以均呈菱形，使得该列线性端子组中的测试端子100更凸出，能更方便、快速、准确地与fpc30的金手指300或外部的测试电路的端子对准。

实施例2

如图4和图5，与实施例1不同，在实施例1的基础上，本实施例的连接端b还包括衬底层101，导线和测试端子100集成在衬底层101上，并且，衬底层101上开设有垂直于导线且将导线划分成两部分的撕裂线101a。当测试完成后，只需要沿该撕裂线101a将撕开，具有测试端子100的衬底层101所在端即可被撕除，测试端子100也随之被撕除，从外表上看，cog面板与正常的外观并无二致。

本发明的cog面板的绑定端具有方便测试的连接端，可以简化测试过程，提高测试效率。另外，通过将测试端子通过特定的排列方式进行布置，使得测试结构可以占用最少的空间，测试也更加方便。

以上所述仅是本申请的具体实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本申请的保护范围。