显示面板的测试方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板的测试方法及装置。
【背景技术】
[0002]现有显示装置的生产工艺中，Mura(显示亮度不均匀)是一类很容易出现并严重影响显不效果的不良。例如在AMOLED(Active_Matrix Organic Light Emitting D1de，有源矩阵有机发光二极体)显示装置中，薄膜晶体管的阈值电压漂移、OLED器件的老化以及不同像素间工艺差异都可能导致不同像素间发光亮度的差异，在画面上呈现出暗点、暗区或者条纹，严重影响正常的画面显示效果。为避免出现该类不良的显示面板按照正常流程制成产品并流通向市场、导致人力和物力上的浪费，需要在生产过程中非常准确而及时地检测出具有该类不良的样品。对此，现有技术虽然可以通过点灯测试从外观上检测出一些明显的Mura不良，但是外观上的发光情况并不能详尽地反映出像素之间在亮度上的细微的差另IJ，因此很容易造成Mura不良的漏检，使得具有该类不良的样品进入到之后的工序中，造成人力和物力上的浪费。
【发明内容】
[0003]针对现有技术中的缺陷，本发明提供一种显示面板的测试方法及装置，可以解决现有技术中Mura不良容易漏检的问题。
[0004]第一方面，本发明提供一种显示面板的测试方法，包括:
[0005]向所述显示面板输出预设测试画面的数据信号，以使设置在所述显示面板的每一像素区域内的发光元件按照所述预设测试画面发光;每一所述像素区域内的发光元件连接一开关单元，所述开关单元用于在所述开关单元的第一端处为有效电平时将发光元件的第一端处的电压传导至所述开关单元的第二端；
[0006]向设置在所述显示面板内的扫描单元输出启动信号，以使所述扫描单元按照预设时序依次向所连接的多行第一扫描线输出开关单元的有效电平;任一所述开关单元的第一端连接一行所述第一扫描线；
[0007]接收来自设置在所述显示面板内的传感单元的传感信号;所述传感信号包括每一所述发光元件的第一端的电压值信息，由所述传感单元配合所述预设时序接收来自多列传感线的电压信号后得到;其中，任一所述开关单元的第二端连接一列所述传感线;连接同一行的所述第一扫描线的任意两个所述开关单元连接不同列的所述传感线；
[0008]将所述传感信号中每一所述发光元件的第一端的电压值信息与所述预设测试画面进行比较，以得到测试结果。
[0009]可选地，所述将所述传感信号中每一所述发光元件的第一端的电压值信息与所述预设测试画面进行比较，以得到测试结果，包括:
[0010]根据所述预设测试画面计算得到每一所述发光元件的第一端的标准电压值；
[0011]将每一所述发光元件的第一端的电压值与所述标准电压值进行比较，并在差值超过预设阈值时生成异常信号；
[0012]接收所述异常信号，并在检测结果画面中将位置坐标与该异常信号对应的像素显示为异常像素。
[0013]可选地，所述接收来自设置在所述显示面板内的传感单元的传感信号，包括:
[0014]对接收到的传感信号进行下述的一项或多项的处理:信号失真补偿、滤波、功率放大、模数转换。
[0015]可选地，所述开关单元包括第三晶体管，所述第三晶体管的栅极连接一行所述第一扫描线，源极与漏极中的一个连接所述发光元件的第一端，另一个连接一列所述传感线。
[0016]可选地，所述多个像素区域呈行列设置;任一行所述第一扫描线位于相邻两行的像素区域之间;任一列所述传感线位于相邻两列的像素区域之间。
[0017]第二方面，本发明还提供了一种显示面板的测试装置，包括:
[0018]第一输出单元，用于向所述显示面板输出预设测试画面的数据信号，以使所述多个发光元件按照所述预设测试画面发光；每一所述像素区域内的发光元件连接一开关单元，所述开关单元用于在所述开关单元的第一端处为有效电平时将发光元件的第一端处的电压传导至所述开关单元的第二端；
[0019]第二输出单元，用于向所述扫描单元输出启动信号，以使所述扫描单元按照预设时序依次向所述多行第一扫描线输出所述开关单元的有效电平;任一所述开关单元的第一端连接一行所述第一扫描线；
[0020]接收单元，用于接收来自所述传感单元的信号以生成传感信号;所述传感信号包括每一所述发光元件的第一端的电压值信息，由所述传感单元配合所述预设时序接收来自多列传感线的电压信号后得到;任一所述开关单元的第二端连接一列所述传感线;连接同一行的所述第一扫描线的任意两个所述开关单元连接不同列的所述传感线；
[0021]比较单元，用于将所述传感信号中每一所述发光元件的第一端的电压值信息与所述预设测试画面进行比较，以得到测试结果。
[0022]可选地，所述接收单元具体用于对接收到的信号进行下述的一项或多项的处理:信号失真补偿、滤波、功率放大、模数转换。
[0023]可选地，所述比较单元具体包括:
[0024]计算模块，用于根据所述预设测试画面计算得到每一所述发光元件的第一端的标准电压值；
[0025]比较模块，用于将每一所述发光元件的第一端的电压值与所述标准电压值进行比较，并在差值超过预设阈值时生成异常信号；
[0026]显示模块，用于接收所述异常信号，并在检测结果画面中将位置坐标与该异常信号对应的像素显示为异常像素。
[0027]可选地，所述开关单元包括第三晶体管，所述第三晶体管的栅极连接一行所述第一扫描线，源极与漏极中的一个连接所述发光元件的第一端，另一个连接一列所述传感线。
[0028]可选地，所述多个像素区域呈行列设置;任一行所述第一扫描线位于相邻两行的像素区域之间;任一列所述传感线位于相邻两列的像素区域之间。
[0029]由上述技术方案可知，本发明基于显示面板内的开关单元、第一扫描线和传感线的设置，可以实现发光元件的第一端处电压值的获取;从而，可以在测试时通过比较这一电压值与理论值之间的差别就可以实现Mura不良的检测。相比于现有技术而言，本发明直接以量化的数值来检测Mura不良的存在，不仅具有更高的准确程度，还可以实现检测过程的自动化，有利于提高工艺流程中测试过程的进行效率。
【附图说明】
[0030]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0031 ]图1是本发明一个实施例中一种显不面板的结构不意图；
[0032]图2是本发明一个实施例中一种显示面板在像素区域内的电路结构图；
[0033]图3是本发明一个实施例中一种显示面板的测试装置的结构框图；
[0034]图4是本发明一个实施例中的数据比较器的结构示意图；
[0035]图5是本发明一个实施例中一种显示面板的测试方法的步骤流程示意图。
【具体实施方式】
[0036]为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0037I图1是本发明一个实施例中一种显示面板的结构示意图。参见图1，该显示面板包括分别设置在多个像素区域PO内的多个发光元件L0。可以理解的是，该发光元件可以是任意一种并可用于发光显示的电子器件，例如有机发光二极管(Organic Light-EmittingD1de，0LED)或者半导体发光二极管(Semiconductor Light Emitting D1de