一种测试设备及测试方法与流程

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种测试设备及测试方法。

背景技术：

在液晶显示器的制造工艺流程中，通常在对盒完成后要对一整张母板进行切割，形成多个独立的显示面板，为了对产品质量进行监控，需要对切割后形成的显示面板进行et测试，即电学测试。

传统的et测试是在待测面板上设计一些测试区域(testpad)，然后通过设计一套针对该待测面板的测试治具，通过测试治具对待测面板进行电学测试，从而判断待测面板是否正常。

但是，由于不同待测面板的设计不一致，对于采用goa(gatedriveronarray，阵列基板行驱动)方式的待测面板和采用非goa方式的待测面板，其测试区域的数量、测试信号的顺序不一样，导致其测试设备之间不能共用；对于同样采用goa方式的两个待测面板，其测试信号的种类也不一样，两者的测试设备也不能共用；导致每一种类型的待测面板都需要单独设计一套测试设备，造成整个工艺流程的成本大幅度增加。

技术实现要素：

本发明提供一种测试设备及测试方法，以解决现有的每一种类型的待测面板都需要单独设计一套测试设备进行电学测试的问题。

为了解决上述问题，本发明公开了一种测试设备，包括：可移动的探针平台、多个信号接入点，以及固定在所述可移动的探针平台上的多个测试探针；

每一个信号接入点与一个测试探针对应连接，用于接入相应的测试信号；

所述测试探针用于与待测面板上的测试区域接触，将所述信号接入点接入的测试信号传输至所述测试区域，以对所述待测面板进行电学测试。

优选地，还包括第一框架、第二框架，以及支撑所述第一框架和所述第二框架的支撑装置；所述第一框架用于承载所述待测面板，所述第二框架用于承载所述可移动的探针平台。

优选地，所述支撑装置为可调节高度的支撑装置。

优选地，所述测试探针为等间距排布的双排测试探针。

优选地，所述测试探针的个数大于或等于15个。

优选地，所述测试探针为可伸缩的测试探针，所述可伸缩的测试探针包括壳体、探针头部、以及用于改变所述壳体和所述探针头部相对位置的弹力组件。

优选地，所述弹力组件包括控制部件，以及与所述控制部件一端连接的弹簧，所述弹簧设置在所述探针头部远离所述待测面板的一侧，所述控制部件设置在所述弹簧远离所述探针头部的一侧；用于当所述弹簧受到所述控制部件的压力变形时，以控制所述探针头部从所述壳体伸出，并与所述待测面板上的测试区域接触；且当撤销压力时，所述弹簧恢复至初始状态，以控制所述探针头部缩回至所述壳体内部。

优选地，所述探针头部的尺寸小于所述测试区域的尺寸。

优选地，还包括固定在所述可移动的探针平台上的对位装置；所述对位装置用于与所述待测面板上的对位标记进行对位。

优选地，所述对位装置为ccd(chargecoupleddevice，电荷耦合元件)对位相机。

为了解决上述问题，本发明还公开了一种测试方法，包括：

控制向多个信号接入点接入相应的测试信号；

控制对应的多个测试探针与待测面板上的测试区域接触，将所述测试信号传输至所述测试区域，以对所述待测面板进行电学测试；

其中，所述多个测试探针固定在可移动的探针平台上，每一个信号接入点与一个测试探针对应连接。

优选地，在所述控制向多个信号接入点接入相应的测试信号的步骤之前，还包括：

控制对位装置与所述待测面板上的对位标记进行对位；所述对位装置固定在所述可移动的探针平台上。

与现有技术相比，本发明包括以下优点：

通过设置多个信号接入点，以及固定在可移动的探针平台上的多个测试探针，每一个信号接入点与一个测试探针对应连接，用于接入相应的测试信号；所述测试探针用于与待测面板上的测试区域接触，将所述信号接入点接入的测试信号传输至所述测试区域，以对所述待测面板进行电学测试。根据不同待测面板上的测试区域的数量，选择对应数量的测试探针，当不同待测面板的测试信号的种类和顺序不同时，通过改变多个信号接入点接入的测试信号的种类和顺序，使得不同类型的待测面板都可以共用一套测试设备进行电学测试，降低工艺流程的成本。

附图说明

图1示出了本发明提供的一种测试设备的结构示意图；

图2示出了本发明提供的可移动的探针平台的结构示意图；

图3示出了本发明提供的待测面板的结构示意图；

图4示出了本发明提供的可伸缩的测试探针的结构示意图；

图5示出了本发明实施例的一种测试方法的流程图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

实施例一

参照图1，示出了本发明提供的一种测试设备的结构示意图。

本发明实施例提供了一种测试设备，包括：可移动的探针平台11、多个信号接入点(未在图1中示出)，以及固定在所述可移动的探针平台11上的多个测试探针111；每一个信号接入点与一个测试探针对应连接，用于接入相应的测试信号；所述测试探针111用于与待测面板12上的测试区域121接触，将所述信号接入点接入的测试信号传输至所述测试区域121，以对所述待测面板进行电学测试。

其中，信号接入点可位于在探针平台上，也可以位于探针平台外；信号接入点与测试探针之间一一对应且固定连接；通过控制可移动的探针平台11的移动，使得测试探针111与待测面板12上的测试区域121可以准确接触。

通过向信号接入点输入相应的测试信号，与所述信号接入点固定连接的测试探针111接收所述测试信号，控制所述测试探针111与待测面板12上的测试区域121接触，将所述测试信号传输至所述测试区域121，以对所述待测面板12进行电学测试。

如图1所示，所述测试设备还包括第一框架13、第二框架14，以及支撑所述第一框架13和所述第二框架14的支撑装置15；所述第一框架13用于承载所述待测面板12，所述第二框架14用于承载所述可移动的探针平台11。

所述支撑装置15为可调节高度的支撑装置，当不需要对待测面板12上的测试区域121进行电学测试时，可调节支撑装置15的高度，使得第一框架13和第二框架14的距离增大，从而使得测试探针111与测试区域121不接触；当需要待测面板12上的测试区域121进行电学测试时，可调节支撑装置15的高度，使得测试探针111与测试区域121接触。

优选地，所述测试设备还包括固定在所述可移动的探针平台11上的对位装置112；所述对位装置112用于与所述待测面板12上的对位标记122进行对位。

需要说明的是，在待测面板12上设置对位标记122，在可移动的探针平台11上设置对位装置112时，对位标记122与最接近对位标记122的测试区域121之间的距离为d1，对位装置112与最接近对位装置112的测试探针111之间的距离为d2，且d1＝d2。

本发明实施例中，在进行电学测试时，对位装置112首先采集对位标记122的偏移量，根据偏移量控制可移动的探针平台11进行移动，使得对位装置112与对位标记122实现对位；对位完成后，根据测试区域121的数量选择对应数量的测试探针111，也就是选择对应数量的信号接入点，根据待测面板12需要进行测试的测试信号的种类和顺序，确定测试探针111对应连接的信号接入点接入的测试信号的种类和顺序；控制测试探针111与测试区域121接触，将信号接入点接入的测试信号传输至测试区域121，以对待测面板12进行电学测试。也就是说，一次对位完成后，可以对待测面板上的所有测试区域进行电学测试。

由于信号接入点可以自由接入相应的测试信号，即使不同待测面板需要进行测试的测试区域的测试信号的种类和顺序不同，也可共用一套测试设备进行电学测试；同样，由于信号接入点可以自由删减测试信号，即使不同待测面板的测试区域的数量不同，也可共用一套测试设备进行电学测试。

通过对位装置与对位标记进行对位，使得测试探针可以准确接触到测试区域，可实现不同尺寸的待测面板的电学测试。其中，所述对位装置112为ccd对位相机。

需要说明的是，图1中可移动的探针平台11上的测试探针111为等间距排布的双排测试探针，因此，每一排测试探针都需要对应一个对位装置112。而待测面板12上的测试区域121可以是单排设置，也可以是双排设置；当测试区域121是单排设置时，对应的对位标记122的个数为1个；当测试区域121是双排设置时，对应的对位标记122的个数为2个。其中，图1中的每一个测试探针111代表一排测试探针，而不是一个测试探针，相应的，图1中的每一个测试区域121代表一排测试区域。

参照图2，示出了本发明提供的可移动的探针平台的结构示意图。

在可移动的探针平台11上设置有多个测试探针111，且测试探针为等间距排布的双排测试探针，每一排相邻两个测试探针111之间的距离相等；优选地，可将信号接入点113设置在可移动的探针平台11上，简化了结构设计，且每一个信号接入点111与一个测试探针113通过走线114对应连接。

例如，当待测面板上的测试区域只有7个时，上面一排的测试区域的个数为4个，下面一排的测试区域的个数为3个，且下面一排的3个测试区域接近对位标记；当需要对待测面板进行电学测试时，可去掉与区域a中的测试探针111连接的信号接入点113的测试信号，其余的信号接入点正常接入测试信号，以对待测面板进行电学测试。

目前，待测面板的下边框越来越窄，只能在待测面板上设置单排测试区域，而对于本发明提供的测试设备来说，可选择其中任意一排的测试探针以实现电学测试，另一排的测试探针闲置；而对于待测面板上设置的测试区域为双排时，选择双排测试探针以实现电学测试。对于不同类型的待测面板可共用一套测试设备进行电学测试。

由于目前的待测面板上的测试区域的个数通常小于或等于15个，因此，本发明实施例中，所述测试探针的个数大于或等于15个，保证可以对所有的测试区域进行电学测试。

参照图3，示出了本发明提供的待测面板的结构示意图

本发明实施例中，在待测面板12上设置有对位标记122和测试区域121，对位标记122与可移动的探针平台上的对位装置进行对位，测试区域121用于接收测试探针输入的测试信号，以对待测面板12进行电学测试。每一排相邻两个测试区域的距离相等，且每个测试区域的大小相同；对位标记122的形状可以为如图3所示的十字形，也可以设置成其他形状，本发明实施例对此不做限制。

例如，测试区域121可以为sw、gch、clk2、clk4、stv1、gcl、dy、vdd、vgl、clk1、clk3、vss、vcom，其中，sw表示开关信号，用于控制待测面板中薄膜晶体管的打开或关闭；gch和vdd表示不同的高电平信号；clk1、clk2、clk3、lk4表示不同的时钟信号；stv1表示触发信号，是每一帧画面显示的初始信号；gcl、vss、vgl表示不同的低电平信号；dy表示给待测面板中的数据线提供的信号；vcom表示公共电平信号。上述各个测试区域分别表示不同的测试信号的种类。

参照图4，示出了本发明提供的可伸缩的测试探针的结构示意图。

本发明实施例中，所述测试探针为可伸缩的测试探针，所述可伸缩的测试探针包括壳体21、探针头部22、以及用于改变所述壳体21和所述探针头部22相对位置的弹力组件(未在图4中示出)。

其中，所述弹力组件包括控制部件，以及与所述控制部件一端连接的弹簧，所述弹簧设置在所述探针头部远离所述待测面板的一侧，所述控制部件设置在所述弹簧远离所述探针头部的一侧；用于当所述弹簧受到所述控制部件的压力变形时，以控制所述探针头部从所述壳体伸出，并与所述待测面板上的测试区域接触；且当撤销压力时，所述弹簧恢复至初始状态，以控制所述探针头部缩回至所述壳体内部。。

当需要对待测面板进行电学测试时，控制探针头部22从壳体21伸出，与待测面板上的测试区域接触；当不需要对待测面板进行电学测试时，控制探针头部22缩回至壳体21内部，与待测面板上的测试区域不接触，减少探针头部对待测面板造成的划伤。

所述探针头部22的尺寸小于所述测试区域的尺寸，保证探针头部22可以与测试区域有效接触；探针头部的材料为金属材料。

本发明实施例中，通过设置多个信号接入点，以及固定在可移动的探针平台上的多个测试探针，每一个信号接入点与一个测试探针对应连接，用于接入相应的测试信号；所述测试探针用于与待测面板上的测试区域接触，将所述信号接入点接入的测试信号传输至所述测试区域，以对所述待测面板进行电学测试。根据不同待测面板上的测试区域的数量，选择对应数量的测试探针，当不同待测面板的测试信号的种类和顺序不同时，通过改变多个信号接入点接入的测试信号的种类和顺序，使得不同类型的待测面板都可以共用一套测试设备进行电学测试，降低工艺流程的成本。

实施例二

参照图5，示出了本发明实施例的一种测试方法的流程图，具体可以包括如下步骤：

步骤501，控制向多个信号接入点接入相应的测试信号。

本发明实施例中，在对待测面板进行电学测试时，首先，根据待测面板上测试区域的数量选择对应数量的信号接入点，根据待测面板需要进行测试的测试信号的种类和顺序，确定信号接入点接入的测试信号的种类和顺序；然后根据测试信号的种类和顺序控制向多个信号接入点接入相应的测试信号。

在一种优选实施例中，在控制向多个信号接入点接入相应的测试信号之前，控制对位装置与所述待测面板上的对位标记进行对位；所述对位装置固定在所述可移动的探针平台上。

对位装置首先采集待测面板上的对位标记的偏移量，根据偏移量控制可移动的探针平台进行移动，使得对位装置与对位标记实现对位，对位完成后，再根据测试信号的种类和顺序控制向多个信号接入点接入相应的测试信号。

步骤502，控制对应的多个测试探针与待测面板上的测试区域接触，将所述测试信号传输至所述测试区域，以对所述待测面板进行电学测试。

本发明实施例中，所述多个测试探针固定在可移动的探针平台上，每一个信号接入点与一个测试探针对应连接。控制对应的多个测试探针与待测面板上的测试区域接触，将信号接入点接入的测试信号传输至测试区域，以对待测面板进行电学测试。

本发明实施例中，控制向多个信号接入点接入相应的测试信号，控制对应的多个测试探针与待测面板上的测试区域接触，将所述测试信号传输至所述测试区域，以对所述待测面板进行电学测试。根据不同待测面板上的测试区域的数量，选择对应数量的测试探针，当不同待测面板的测试信号的种类和顺序不同时，通过改变多个信号接入点接入的测试信号的种类和顺序，使得不同类型的待测面板都可以共用一套测试设备进行电学测试，降低工艺流程的成本。

对于前述的方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定是本发明所必须的。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上对本发明所提供的一种测试设备及测试方法，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。