本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板、显示面板的测试方法及显示装置。
背景技术：
随着面板显示屏运用越来越广泛，全面屏技术成为其中的重要技术项，与此同时，在全面屏技术中显示面板的窄边框设计也越来越重要。先进的电子产品，尤其是手携式电子产品，越来越趋向90％以上的屏占比。
电子产品为了提升屏占比，显示面板上的非显示区域被压缩得越来越小，例如手机的显示屏中，为了尽量压缩非显示区域，已经出现在显示区域上端设置开口，将手机的前置摄像头和听筒等装置设置在开口中的技术。
其中，在显示区域外围的非显示区即边框区尤其是靠近驱动芯片端的下边框区的收窄设计一直重要的研究课题，但由于下边框区存在不可或缺的电子器件排布，所以对下边框的收窄设计技术难度也是越来越高。
技术实现要素：
有鉴于此，本发明实施例提供了一种显示面板、显示面板的测试方法及显示装置，通过在显示面板的非显示区中靠近驱动芯片端的下边框区，采用部分复用常规测试焊盘和初始化测试焊盘，从而减少了部分初始化测试焊盘所占据的下边框区的面积，从而可以大大节省了下边框区的面积，收窄显示屏的“下巴区域”，从而提升整体显示区的屏占比。
一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，所述显示面板包括显示区和非显示区，在所述非显示区包括测试焊盘区，
所述测试焊盘区包括多个用于对所述显示面板进行初始化测试的第一测试焊盘，和与所述第一测试焊盘对应连接的第一测试引线；
所述测试焊盘区还包括至少一个用于所述显示面板进行常规测试的第二测试焊盘，和与所述第二测试焊盘对应设置的第二测试引线；
其中，所述第二测试焊盘还用于对所述显示面板进行初始化测试，且所述第二测试焊盘与对应的第三测试引线连接。
可选地，所述第二测试焊盘与所对应的所述第二测试引线通过电容方式电连接。
可选地，所述第二测试引线包括第二输出端部；所述第二测试焊盘包括第三输出端部，其中所述第二输出端部与所述第三输出端部相互交叠，形成平行板电容。
可选地，所述第二输出端部与所述第三输出端部由不同导电层图案化形成。
可选地，所述第三输出端部包括第一子电极块，至少一个第二子电极块和至少一个第三子电极块，所述第二子电极块与第三子电极块直接相连；
其中，所述第一子电极块与所述第二子电极块异层交叠设置形成一个第一子电容；所述第三子电极块与所述第二输出端部异层交叠设置至少第二子电容；所述第一子电容与所述第二子电容相互串联。
可选地，其中所述第三输出端部的第一子电极块与所述第二输出端部由相同电层图案化形成。
可选地，当对所述显示面板进行常规测试之前，采用激光熔融方式对所述第二输出端部与所述第三输出端部进行烧结处理。经过烧结处理后，所述第二输出端部与所述第三输出端之间短路连接。
可选地，所述第二测试焊盘与对应的所述第三测试引线直接相连；在经过烧结处理之前或者之后，采用激光切割方式对所述第二测试焊盘与对应的所述第三测试引线进行切断处理；经过切断处理后，所述第二测试焊盘与对应的所述第三测试引线之间断路。
可选地，所述初始化测试包括对所述显示面板的晶体管开关特性测试、rgb显示灰阶性能测试、触控信号性能测试中的一种或多种；所述常规测试包括对所述显示面板的扫描驱动电路输出性能测试、数据线传输性能测试中的一种或多种。
另一方面，基于同一发明构思，本发明实施例提供一种显示面板的测试方法，所述显示面板包括以上显示面板，
该测试方法包括对所述显示面板进行初始化测试和常规测试，所述初始化测试在所述常规测试之前进行；
其中，当对所述显示面板进行常规测试之前，采用激光熔融方式对所述第二输出端部与所述第三输出端部进行烧结处理。
可选地，所述测试方法还包括在经过所述烧结处理之前或者之后，采用激光切割方式对所述第二测试焊盘与对应的所述第三测试引线进行切断处理。
又一方面，基于同一发明构思，本发明实施例提供一种显示装置，所述显示装置包括以上任一项所述的显示面板。
本发明实施例提供的一种显示面板和显示装置，该显示面板通过在非显示区的下边框区中复用测试焊盘，减少焊盘的数量，从而节省焊盘在显示面板上的占据面积，为实现90％以上的屏占比的显示面板提供了优化的窄边框设计方案。具体来说，由于对显示面板的初始化测试用的初始化测试焊盘仅仅是在显示面板组装之前进行功能检测用，后续不再会使用到。而显示面板的常规化测试一般是在对显示面板完成初始化测试之后进行的。有鉴于此，本发明实施例通过在采用测试焊盘与常规测试引线之间虚拟电容方式，即在显示面板进行初始化测试时，测试焊盘与常规测试引线之间是处于断路状态，并不电连接；而在需要进行常规测试时，则通过激光焊接的方式使测试焊盘与常规测试引线进行电连接在一起，从而实现对显示面板的常规测试。但，在进行常规测试的时候，需要将测试焊盘与初始化测试引线之间通过激光切割的方式，断开测试焊盘与初始化测试引线，防止对常规化测试的影响。通过以上方式，既能够实现两种不同的测试需求共用测试焊盘，也能实现两种测试过程相互无影响，从测试过程来说是简单易行的，同时节省了非显示区的焊盘占据面积，为显示面板下边框的收缩设计提供了优化方式。
【附图说明】
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1是现有技术中一种显示面板的示意图；
图2是图1中非显示区da中测试焊盘区t的示意图；
图3是本发明实施例中提供的一种显示面板的示意图；
图4是图3中非显示区da中测试焊盘区103的示意图；
图5是图4中沿着x-x’方向的一截面示意图；
图6是图4中沿着x-x’方向的又一截面示意图；
图7是图1中非显示区da中进行常规化测试时示意图；
图8是本发明实施例中提供的一种显示面板的测试方法流程示意图；
图9是本发明实施例所提供的显示装置的结构示意图。
【具体实施方式】
为了更好的理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明实施例进行详细描述。
应当明确，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。
应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
应当理解，尽管在本发明实施例中可能采用术语第一、第二、第三等来描述测试引线，但这些测试引线不应限于这些术语。这些术语仅用来将测试引线彼此区分开。例如，在不脱离本发明实施例范围的情况下，第一测试引线也可以被称为第二测试引线，类似地，第二测试引线也可以被称为第一测试引线。
为了更加充分说明本发明实施例中的技术方案，本申请文件将对现有技术中的存在的技术问题进行深入的分析。本案发明人通过细致深入研究，发现现有技术中的显示面板如图1～2所示，显示面板10包括显示区aa和非显示区da，其中在靠近驱动芯片(图中未示出)一侧的非显示区da中包括有焊盘区t，其中在焊盘区t包括常规测试焊盘1和传输常规测试信号的信号线1l；初始化测试焊盘2和传输初始化测试信号的信号线2l。
在显示面板的制成工艺中，一般在显示面板的下台阶区或称下边框区是设置有多个焊盘，故在此申请文件中，将多个焊盘设置的区域称为焊盘区。其中，多个焊盘主要是用来对显示面板在进行出厂或者出货之前进行检查显示面板的各种性能测试，如触控感应电极测试，晶体管开关性能测试和rgb显示灰阶性能测试等初始化测试焊盘2l，也是称为vt(visualtest)测试焊盘等，此类测试焊盘一般是在显示面板进行模组组装或者出货前使用，而在后续的返修或者显示面板不良解析过程中一般不会再次使用。另外，在焊盘区t中设置用于当显示面板出货之后，出现产品不良需要进行修复测试时需要的常规测试焊盘1，此类测试焊盘在初始化测试过程中是不会启动使用的。在显示面板中每个测试焊盘的面积为几十微米左右，现有技术中在焊盘区分别独立设置两种不同工段使用的独立的焊盘，对非显示区t的下边框区域的空间占据较大，从而为下边框区的窄化设计带来了技术困难。
针对以上技术问题，本案发明人通过细致深入研究，提供了一种显示面板可以既能保证初始化测试和常规化测试，也能保证显示面板的非显示区的下边框区域能够较大程度收缩，即降低了现有技术中的焊盘区在显示面板上的面积占比。具体如图3～图7所示，其中，图3是本发明实施例中提供的一种显示面板的示意图；图4是图3中非显示区da中测试焊盘区103的示意图；图5是图4中沿着x-x’方向的一截面示意图；图6是图4中沿着x-x’方向的又一截面示意图。本发明提供了一种显示面板100，通过在显示面板100的非显示区101中靠近驱动芯片端的下边框区，采用部分复用常规测试焊盘12和初始化测试焊盘11，从而减少了部分初始化测试焊盘11所占据的下边框区的面积，可以大大节省下边框区的面积，收窄显示面板的“下巴区域”，从而提升整体显示区的屏占比。
具体如3和图4所示，该显示面板100包括显示区102(即包括有显示单元，能够显示画面的区域)和围绕显示区102四周的非显示区101，在非显示区101中靠近驱动芯片一侧的区域(即“下边框区”或“下台阶”或“显示面板的下巴”)包括测试焊盘区103，在测试焊盘区103中包括多个用于对显示面板进行性能测试的测试焊盘，也称为测试pad。在本发明实施例中，在测试焊盘区103中包括有多个用于对显示面板100进行初始化测试的第一测试焊盘11，和与第一测试焊盘11对应连接的第一测试引线111；在本发明实施例中一个第一测试焊盘对应连接一条测试引线。其中，需要说的是：初始化焊盘主要是用来对显示面板在进行出厂或者出货之前进行检查显示面板的各种性能测试，如晶体管开关特性测试、rgb显示灰阶性能测试、触控信号性能测试，也是称为vt(visualtest)测试焊盘等。通过第一测试焊盘11和第一测试引线111将外接的测试信号(图中未示出)传输至显示面板中对应的被测试金属走线或者器件上，来检查其性能是否达标。其中，第一测试焊盘11是为外部测试信号提供一个信号输入端口，从而避免损伤显示面板中的正常电子元件或者金属走线等。当该显示面板完成初始化测试后，第一测试引线111可以和第一测试焊盘11断开或者第一测试引线111上不接入任何电位信号。因为，在进行相应的初始化测试后，第一测试焊盘11是在后续的返修或者显示面板不良解析过程中一般是不会再次使用的。
继续参考图3和图4，在测试焊盘区103还包括至少一个用于对显示面板进行常规测试的第二测试焊盘12，和与第二测试焊盘12对应设置的第二测试引线122和第三测试引线123。在本发明实施例中一个第二测试焊盘对应连接两条测试引线，即一个第二测试焊盘分别对应连接一个第二测试引线和一个第三测试引线。其中，需要说的是：在对该显示面板100进行常规测试时，当第二测试焊盘12与第二测试引线122相互之间是电连接，主要是通过第二测试引线122将显示面板100中的反馈信号传输第二测试焊盘12中，然后通过第二测试焊盘12作为一个输出端口将反馈信号传输至外接检查仪器上。其中需要是说明的：在常规测试过程主要是用于当显示面板出货之后，出现产品不良需要进行修复测试或者显示面板的反向解析推测显示不良发生的具体位置等。具体来说，如对显示面板上的扫描驱动电路输出性能测试、数据线传输性能测试等多种返修测试。此类测试一般是发生在显示面板出货之后的返厂检修工段。
继续参考图4所示，对于第二测试焊盘12而言，还用于对显示面板进行初始化测试，具体来说，在对该显示面板100进行常规测试时，当第二测试焊盘12与第三测试引线123相互之间是电连接，通过第二测试焊盘12和第三测试引线123将外接的测试信号(图中未示出)传输至显示面板中对应的被测试金属走线或者器件上，来检查其性能是否达标。其中，第二测试焊盘12是为外部测试信号提供一个信号输入端口，从而避免损伤显示面板中的正常电子元件或者金属走线等。当该显示面板完成初始化测试后，第三测试引线123可以和第二测试焊盘12断开或者第三测试引线123上不接入任何电位信号。
以上，本发明实施例中为了减少测试焊盘的数量，通过将第二测试焊盘12复用，既能完成对显示面板的初始化测试也能完成对显示面板的常规测试。从而节省了初始化焊盘或者常规测试在焊盘区的空间占比。如图4所示，示例性的，如果原来是需要3个初始化测试焊盘和2个常规测试焊盘，在本发明实例中可以通过将2个第二测试焊盘12复用为初始化测试焊盘和常规测试焊盘，这样就可以节省出2个焊盘的位置(如图4中虚线框出位置)。从而可以收缩测试焊盘区103在非显示区102中的面积占比，为非显示区的下边框区空出空间，可以进一步提升显示面板的屏占比。
接下来将具体描述复用为初始化测试焊盘和常规测试焊盘的具体实现方式，如图4～图6所示，第二测试焊盘12与所对应的第二测试引线122通过电容方式电连接。具体的为：第二测试引线122包括第二输出端部122p；第二测试焊盘12包括第三输出端部123p，其中第二输出端部122p与第三输出端部123p相互异层交叠，形成平行板电容即虚拟电容。其具体的实现方式可以为：对于第二测试引线122的第二输出端部122p和第二测试焊盘12的第三输出端部123p而言，两者是由不同的导电层图案化形成。其中需要说明的是，在不进行常规化测试时，虽然第二输出端部122p与第三输出端部123p相互异层交叠，但由于两者所存在的电荷是不足以将第二测试焊盘12与所对应的第二测试引线122导通，故可以理解为即使存在形式电容或者虚拟电容，但第二测试焊盘12与所对应的第二测试引线122之间是断路的，不形成电连接结构。
继续参考图4和图5所示，对于第二测试引线122的第二输出端部122p和第二测试焊盘12的第三输出端部123p而言，两者是由不同的导电层图案化形成，在本发明实施例中的一种实现方式如图4和图5所示。第三输出端部包括第一子电极块12a，至少一个第二子电极块12b和至少一个第三子电极块12c，其中，第二子电极块12b与第三子电极块12c可以直接相连，由同一金属层图案化形成。
其中，第一子电极块12a与第二子电极块12b异层交叠设置形成一个第一子电容c11；第三子电极块12c与第二输出端部122p异层交叠设置形成第二子电容c12；其中第一子电容c11与第二子电容c12相互串联。
如图6所示，在另一实施方式中，可以将第三输出端部123p的第一子电极块12a与第二输出端部122p由相同电层图案化形成从而分别形成第一电容c11和第二子电容c12。从而可以节省一个单独形成第二输出端部122p的金属层，节省工艺成本。
由于第二测试焊盘12既需要完成初始化测试也要完成常规测试，一般来说初始化测试是在常规测试之前完成的，并且不再会进行。那么为了保证顺利完成常规测试，在本发明实施例中，当对显示面板100进行常规测试时，采用激光熔融方式对第二输出端部122p与第三输出端部123p进行烧结处理。经过烧结处理后，第二输出端部122p与第三输出端部123p之间短路连接。具体可以参见图5或图6所示，通过激光熔融方式对第一子电极块12a与第二子电极块12b进行烧结处理，使得第一子电极块12a与第二子电极块12b短接在一起，形成直接连接；通过激光熔融方式对第三子电极块12c与第二输出端部122p进行烧结处理，使得第三子电极块12c与第二输出端部122p短接在一起，形成直接连接。从而使得第二输出端部122p与第三输出端部123p从未进行常规测试之前的断路状态变成为通路状态，使得第二测试焊盘12能够实现测试信号的输入和反馈信号的输出。
另外，由于在进行初始化测试时，第二测试焊盘12与对应的第三测试引线123是直接相连的，当不再进行初始化测试时，第三测试引线123上是不接任何电位的。但在对显示面板需要进行常规测试时，若是第三测试引线123与第二测试焊盘12直接相连可能会导致常规测试电路短路等问题。故在本发明实施例中，需要在进行常规测试之前，采用激光切割方式对第二测试焊盘12与对应的第三测试引线123进行切断处理，经过切断处理后，第二测试焊盘12与对应的第三测试引线123之间断路。具体的激光切割步骤可以在上述的烧结处理之前或者之后都可以。
如图8所示，在本发明实施例提供上述的显示面板的测试方法，该测试方法包括对所述显示面板进行初始化测试和常规测试，所述初始化测试在所述常规测试之前完成。具体如8所示，该方法包括：
s01:通过第一测试焊盘和第二测试焊盘对该显示面板进行初始化测试；
s02：采用激光熔融方式对第二输出端部与第三输出端部进行烧结处理；
s03:通过第二测试焊盘对该显示面板进行初始化测试。
其中需要说明的是：该方法还包括在对第二输出端部与第三输出端部进行烧结处理之前或之后，可以采用激光切割方式对第二测试焊盘与对应的第三测试引线进行切断处理。
以上方法通过激光熔融将第二输出端部与第三输出端部连接来进行常规化测试，和激光切割的方式将第二测试焊盘与对应的第三测试引线进行切断处理，从工艺角度上来说简单易行的。
本发明实施例还提供了一种显示装置，如图9所示，图9为本发明实施例所提供的显示装置的结构示意图，该显示装置包括上述显示面板100其中，显示面板100的具体结构已经在上述实施例中进行了详细说明，此处不再赘述。当然，图9所示的显示装置仅仅为示意说明，该显示装置可以是例如手机、平板计算机、笔记本电脑、电纸书或电视机等任何具有显示功能的电子设备。
由于本发明实施例所提供的显示装置包括上述显示面板，因此，采用该显示装置，该显示面板通过在非显示区的下边框区中复用测试焊盘，减少焊盘的数量，从而节省焊盘在显示面板上的占据面积，为实现90％以上的屏占比的显示面板提供了优化的窄边框设计方案。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。