一种柔性显示屏、其检测方法及显示装置与流程

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种柔性显示屏、其检测方法及显示装置。

背景技术：

在生产或运输过程中，因碰撞或挤压，柔性显示屏的边缘很容易产生断裂，如何检测断裂，并定位断裂的位置就变得相当重要。

技术实现要素：

本发明提供了一种柔性显示屏、其检测方法及显示装置，用于检测柔性显示屏边缘的断裂，并定位该断裂所在的位置。

第一方面，本发明实施例提供了一种柔性显示屏，分为显示区和包围所述显示区的非显示区；所述显示区包括交叉设置的数据线和栅线，所述非显示区包括分别设置在每条所述栅线两侧的外围驱动电路，以及与所述外围驱动电路电连接的测试电路；

其中，所述外围驱动电路包括两组级联的移位寄存器，一个所述移位寄存器与一条所述栅线电连接，所述测试电路包括多个测试开关和多条测试线，一个所述测试开关与一个所述移位寄存器电连接，所述测试线与所述测试开关一一对应连接，所述测试线至少设置在所述非显示区的外侧边缘且具有与所述数据线延伸方向一致的线段，所述测试电路用于在连接的测试线所在位置发生断裂时，向电连接的所述移位寄存器加载信号，使对应的所述栅线加载点亮信号。

可选地，所述测试开关包括薄膜晶体管，其中，所述薄膜晶体管的源极和栅极分别和所述测试线的不同端电连接，所述薄膜晶体管的漏极与所述移位寄存器电连接，所述薄膜晶体管的源极与电源信号线电连接。

可选地，所述测试开关为n型薄膜晶体管，所述电源信号线提供低电位信号；或，所述测试开关为p型薄膜晶体管，所述电源信号线提供高电位信号。

可选地，所述移位寄存器和所述测试开关一一对应设置。

可选地，各所述测试线在与所述数据线平行的侧边的正投影构成一连续线段。

可选地，所述非显示区具有设置在所述数据线延伸的任一端部的绑定区，在所述数据线延伸的另一端部的非显示区内设置所述测试线，所述测试线具有与所述栅线延伸方向一致的线段。

可选地，在所述数据线延伸的另一端部的非显示区内设置的所述测试线，与最邻近的测试开关电连接。

可选地，所述测试线与所述栅线同层设置。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括如上面所述的柔性显示屏。

第三方面，本发明实施例还提供了一种所述的柔性显示屏的检测方法，包括：

对所述测试开关加载截止信号；

检测所述柔性显示屏的显示区内是否存在亮线；

在确定所述柔性显示屏存在亮线时，根据所述亮线的位置，确定与出现所述亮线的栅线对应的测试线所在位置发生断裂。

本发明的有益效果如下：

本发明提供了一种柔性显示屏、其检测方法及显示装置，在非显示区，分别在每条栅线两侧设置外围驱动电路，该外围驱动电路包括至少两组级联的移位寄存器，一个移位寄存器与一条栅线电连接，比如n个移位寄存器中，每个移位寄存器与一条栅线电连接，n为大于或者等于2的正整数。此外，在非显示区，该外围驱动电路与包括多个测试开关和多条测试线的测试电路电连接，具体地，一个测试开关与一个移位寄存器电连接，仍以上述例子为例，若有n个移位寄存器，则设置有n个测试开关，每个移位寄存器与一个测试开关电连接。此外，测试线与测试开关一一对应连接，且该测试线至少设置在非显示区的外侧边缘具有与数据线延伸方向一致的线段。一旦任一测试线所在位置发生断裂时，与其连接的测试电路便向电连接的移位寄存器加载信号，使对应的栅线加载点亮信号，非显示区与栅线对应的位置为柔性显示屏断裂出现的位置，这样的话，便实现对柔性显示屏断裂的确认，以及对断裂的定位。

附图说明

图1为本发明实施例提供的柔性显示屏的其中一种结构示意图；

图2为本发明实施例提供的柔性显示屏的另外一种结构示意图；

图3为图2中区域c所包括的电路结构的其中一种结构示意图；

图4为图2中区域c所包括的电路结构的其中一种结构示意图；

图5为图2中区域c所包括的电路结构的其中一种结构示意图；

图6为图2中区域c所包括的电路结构的其中一种结构示意图；

图7为本发明实施例提供的柔性显示屏的另外一种结构示意图；

图8为本发明实施例提供的柔性显示屏的另外一种结构示意图；

图9为本发明实施例中将测试线与栅线进行同层设置的工艺流程图；

图10为本发明实施例提供的显示装置的其中一种结构示意图；

图11为本发明实施例提供的一种柔性显示屏的检测方法的流程图。

具体实施方式

除非另外定义，本发明使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。

需要注意的是，附图中各图形的尺寸和形状不反映真实比例，目的只是示意说明本发明内容。并且自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。并且在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。基于所描述的本发明的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在现有技术中，针对柔性oled(organicelectroluminesencedisplay，即有机发光半导体)显示屏，常采用pcd(panelcrackdetect，即屏幕裂纹检测)金属走线来检测柔性oled显示屏边缘是否存在crack(即断裂)，具体来讲，将pcd金属走线围绕屏幕设置一周，其一端与g像素(即绿色像素)相连，其另一端与测试信号相连，如屏幕边缘出现crack，则会引起pcd金属走线断裂，导致g像素上面的信号线断裂，出现open(即断开)状态，从而出现特定黑画面g亮线，则将该柔性oled显示屏判定为不良。可见，整个过程检出crack的效率较低，且无法精确定位crack的位置。

鉴于此，本发明实施例提供了一种柔性显示屏，用于检测柔性显示屏边缘是否存在的断裂，并定位断裂所在的位置。

具体地，如图1所示为本发明实施例提供的柔性显示屏的其中一种结构示意图，具体来讲，分为显示区a和包围显示区a的非显示区b；显示区a包括交叉设置的数据线和栅线1，非显示区b包括分别设置在每条栅线1两侧的外围驱动电路10，以及与外围驱动电路10电连接的测试电路20；如图1所示，箭头x所示的方向为数据线延伸方向，箭头y所示的方向为栅线1延伸方向。

其中，外围驱动电路10包括两组级联的移位寄存器30(即图1中所示的eoa)，一个移位寄存器30与一条栅线1电连接，测试电路20包括多个测试开关201和多条测试线202，一个测试开关201与一个移位寄存器30电连接，测试线202与测试开关201一一对应连接，测试线202至少设置在非显示区b的外侧边缘且具有与数据线延伸方向一致的线段，测试电路20用于在连接的测试线202所在位置发生断裂时，向电连接的移位寄存器30加载信号，使对应的栅线1加载点亮信号。图1所示的柔性显示屏中移位寄存器30的个数为4，每个移位寄存器30与一条栅线2电连接，且每个移位寄存器30与一个测试开关201电连接。此外，测试线202与测试开关201一一对应连接，且该测试线202至少设置在非显示区的外侧边缘具有与数据线延伸方向一致的线段。其中，该测试线202为沿数据线延伸方向一致的部分线段，这里的“一致”指的是大致一致，而非绝对一致。测试线202可以是全部设置在非显示区的外侧边缘，还可以是部分设置在非显示区的外侧边缘，在此不做限定。在具体实施过程中，一旦任一测试线202所在位置发生断裂时，与其连接的测试电路20便向电连接的移位寄存器30加载信号，使对应的栅线加载点亮信号，非显示区与栅线2对应的位置为柔性显示屏断裂出现的位置，这样的话，便实现对柔性显示屏断裂的确认，以及对断裂的定位。

在本发明实施例中，如图2所示的柔性显示屏的另外一种结构示意图，具体来讲，该测试开关201包括薄膜晶体管，其中，薄膜晶体管的源极和栅极分别和测试线202的不同端电连接，这样的话，便实现了薄膜晶体管与测试线202的电连接，薄膜晶体管的漏极与移位寄存器30的电连接，这样的话，便实现了薄膜晶体管与移位寄存器30的电连接，薄膜晶体管的源极与电源信号线2电连接，这样的话，就可以通过调整电源信号线2的电位，来实现对薄膜晶体管开关状态的控制，进而实现对测试线202断裂情况的检测。

在本发明实施例中，薄膜晶体管可以是n型薄膜晶体管，还可以是p型薄膜晶体管，具体来讲，测试开关201为n型薄膜晶体管，电源信号线2提供低电位信号；图3和图4为图2中区域c所包括的电路结构的其中一种结构示意图，比如，在低电位信号vgl的电位为-7v，n型薄膜晶体管的阈值电压vth为2v，此时若n型薄膜晶体管的栅极电压vg＝-7v，源极电压vs＝-7v，栅源电压vgs＝vg-vs＝0v，此时vgs小于vth,则n型薄膜晶体管处于截止状态，此时，表明测试线202所在的柔性显示屏边缘无断裂，此时，图2中区域c所包括的电路结构的其中一种结构示意图如图3所示。假设测试线202所在的柔性显示屏边缘出现断裂，此时，vg＝0v，vgs＝vg-vs＝0v-(-7v)＝7v,此时vgs大于vth,则n型薄膜晶体管处于导通状态，此时有该测试线202相对应的显示区内将产生亮线，此时，图2中区域c所包括的电路结构的其中一种结构示意图如图4所示。在具体实施过程中，在初始状态下，可以对n型薄膜晶体管加载截止信号，一旦确定柔性显示屏存在亮线时，便可以根据该亮线的位置，确定与出现该亮线的栅线2对应的测试线202所在位置发生断裂。

在本发明实施例中，测试开关201为p型薄膜晶体管，电源信号线提供高电位信号。图5和图6为图2中区域c所包括的电路结构的其中一种结构示意图，比如，在高电位信号vgh的电位为7v，p型薄膜晶体管的阈值电压vth为-2v，此时若p型薄膜晶体管的栅极电压vg＝7v，源极电压vs＝7v，栅源电压vgs＝vg-vs＝0v，此时vgs大于vth,则p型薄膜晶体管处于截止状态，此时，表明测试线202所在的柔性显示屏边缘无断裂。此时，图2中区域c所包括的电路结构的其中一种结构示意图如图5所示。假设测试线202所在的柔性显示屏边缘出现断裂，此时，vg＝0v，vgs＝vg-vs＝0v-7v＝-7v,此时vgs小于vth,则p型薄膜晶体管处于导通状态，此时有该测试线202相对应的显示区内将产生亮线，此时，图2中区域1所包括的电路结构的其中一种结构示意图如图6所示。在具体实施过程中，在初始状态下，可以对p型薄膜晶体管加载截止信号，一旦确定柔性显示屏存在亮线时，便可以根据该亮线的位置，确定与出现该亮线的栅线1对应的测试线202所在位置发生断裂。

在本发明实施例中，移位寄存器30和测试开关201一一对应设置，这样的话，通过测试开关201便可以对移位寄存器30进行信号加载，进而确定柔性显示屏边缘是否产生断裂。

在本发明实施例中，如图7所示为柔性显示屏的另外一种结构示意图，各测试线202在与数据线平行的侧边的正投影构成一连续线段。这样的话，各测试线202便将柔性显示屏非显示区b的外侧边缘进行充分覆盖，从而能够对柔性显示屏非显示区b外侧边缘的断裂进行全面的检测，从而提高了断裂检测的精度。

在本发明实施例中，如图8所示为柔性显示屏的另外一种结构示意图，具体来讲，非显示区b具有设置在数据线延伸的任一端部的绑定区f，在数据线延伸的另一端部的非显示区b内设置测试线202，测试线202具有与栅线2延伸方向一致的线段。这样的话，就可以实现对另一端部非显示区b内断裂的检测，从而提高了柔性显示屏断裂的检测精度。

在本发明实施例中，仍结合图8所示，在数据线延伸的另一端部的非显示区b内设置的测试线202，与最邻近的测试开关201电连接。这样的话，通过在数据线延伸的另一端部的非显示区b内设置的测试线202，与最邻近的测试开关201的电连接，从而实现了通过测试线202对最邻近的测试开关201的信号加载，进而通过检测亮线位置来确定断裂的位置，从而提高了柔性屏断裂的检测精度。

在本发明实施例中，测试线202与栅线12同层设置，如图9所示为将测试线202与栅线2进行同层设置的工艺流程图，具体来讲，首先，在衬底基板3上沉积诸如遮光层、缓冲层等绝缘层4，然后沉积在该绝缘层4上沉积有源层5，然后利用构图工艺，形成有源层5的图案，其中，有源层5的图案主要位于非显示区b的外侧边缘，然后在有源层5的图案上沉积第一层栅极绝缘层6，然后利用构图工艺，形成第一层栅极绝缘层6的图案，然后在第一层栅极绝缘层6的图案上沉积栅极7，然后利用构图工艺，形成栅极7的图案，然后在栅极7的图案上沉积第二层栅极绝缘层8，然后在第二层栅极绝缘层8上沉积层间绝缘层9。然后对层间绝缘层9进行打孔，然后在层间绝缘层9上磁控溅射源漏极11，其中，源漏极11通过层间绝缘层9上的过孔与栅极7电连接，这样的话，便可以通过测试线202来实现对柔性显示屏是否断裂进行检测。

基于同样的发明构思，本发明实施例提供了一种显示装置，如图10所示为显示装置的其中一种结构示意图，该显示装置包括如本发明实施例提供的上述柔性显示屏100。

在具体实施过程中，该显示装置可以为：手机(如图10所示)、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪、手表等任何具有显示功能的产品或部件。该显示装置的实施可以参见上述显示面板的实施例，重复之处不再赘述。

基于同样的发明构思，本发明实施例还提供了一种柔性显示屏的检测方法，如图11所示为柔性显示屏的检测方法的流程图，可以包括：

s101：对所述测试开关加载截止信号；

s102：检测所述柔性显示屏的显示区内是否存在亮线；

s103：在确定所述柔性显示屏存在亮线时，根据所述亮线的位置，确定与出现所述亮线的栅线对应的测试线所在位置发生断裂。

在具体实施过程中，步骤s101至步骤s103的具体实现过程如下：

首先，对测试开关加载截止信号，比如，对初始状态下的柔性显示屏中的测试开关加载截止信号。然后检测柔性显示屏的显示区a内是否存在亮线，在确定柔性显示屏存在亮线时，根据亮线的位置，确定与出现亮线的栅线对应的测试线所在位置发生断裂。

在本发明实施例中，在测试开关为n型薄膜晶体管时，可以通过与n型薄膜晶体管的源极电连接的电源信号线来提供低电位信号，进而实现对测试开关截止信号的加载。在测试开关为p型薄膜晶体管时，可以通过与p型薄膜晶体管的源极电连接的电源信号线来提供高电位信号，进而实现对测试开关截止信号的加载。其中，低电位信号或者高电位信号的具体数值需要根据薄膜晶体管的阈值电压的具体数值来确定，只要是最终能够实现为测试开关加载截止信号都是可以的。

尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。