显示面板的检测方法及装置、计算机设备、存储介质与流程

本发明涉及显示面板测试，特别涉及一种显示面板的检测方法及装置、计算机设备、存储介质。

背景技术：

1、薄膜晶体管液晶显示器(tft-lcd，thin film transistor-liquid crystaldisplay)由于其轻薄化和低功耗等优点，是目前市场中的主流显示装置，显示面板的制备过程通常包括阵列基板工序、彩膜基板工序以及阵列基板与彩膜基板的成盒(cell)工序，在进行cell工序后，需要对显示面板进行点灯测试，在此阶段中可以检测出显示面板是否有坏点(例如：亮点或暗点)，让用户可以对不良的显示面板进行及时的拦截，避免造成浪费资源，以及可以让用户尽早对制程进行改善处理。

技术实现思路

1、本发明实施例提供了一种显示面板的检测方法及装置、计算机设备、存储介质，用于在点灯测试阶段，能够对存在微小显示不良的显示面板进行拦截，使其不进行后续工艺，避免造成浪费资源，可以提高显示面板的良率。

2、本发明实施例提供的一种显示面板的检测方法，包括：

3、将点灯测试装置的各探针与待测显示面板的各测试焊垫对应电连接；

4、所述点灯测试装置通过相应的所述探针将扫描信号输入到与所述显示面板内扫描信号线电连接的测试焊垫，将数据信号输入到与所述显示面板内数据线电连接的测试焊垫，对所述显示面板进行点灯测试；其中，所述扫描信号的脉冲宽度与正常测试时的标准脉冲宽度不同；

5、确定出具有显示不良的显示面板。

6、可选地，在本发明实施例提供的上述显示面板的检测方法中，所述扫描信号的脉冲宽度大于正常测试时的标准脉冲宽度。

7、可选地，在本发明实施例提供的上述显示面板的检测方法中，所述扫描信号的脉冲宽度与正常测试时的标准脉冲宽度之间的差值为正极限值。

8、可选地，在本发明实施例提供的上述显示面板的检测方法中，所述扫描信号的脉冲宽度小于正常测试时的标准脉冲宽度。

9、可选地，在本发明实施例提供的上述显示面板的检测方法中，所述扫描信号的脉冲宽度与正常测试时的标准脉冲宽度之间的差值为负极限值。

10、可选地，在本发明实施例提供的上述显示面板的检测方法中，所述点灯测试装置对所述扫描信号线的两端同时输入所述扫描信号。

11、可选地，在本发明实施例提供的上述显示面板的检测方法中，所述显示面板在进行点灯测试时显示的画面为纯色画面。

12、相应地，本发明实施例还提供了一种显示面板的点灯测试装置，包括：主板，设置在所述主板上的数据信号输出通道和扫描信号输出通道，以及与所述数据信号输出通道和所述扫描信号输出通道分别通过排线电连接的探针；与所述数据信号输出通道电连接的探针和待测显示面板内的数据信号线电连接，与所述扫描信号输出通道电连接的探针和待测显示面板内的扫描信号线电连接；其中，所述扫描信号输出通道输出的扫描信号的脉冲宽度可调，以与正常测试时输出的标准脉冲宽度不同。

13、可选地，在本发明实施例提供的上述点灯测试装置中，所述扫描信号输出通道输出的扫描信号的脉冲宽度大于正常测试时的标准脉冲宽度。

14、可选地，在本发明实施例提供的上述点灯测试装置中，所述扫描信号输出通道输出的扫描信号的脉冲宽度与正常测试时的标准脉冲宽度之间的差值为正极限值。

15、可选地，在本发明实施例提供的上述点灯测试装置中，所述扫描信号输出通道输出的扫描信号的脉冲宽度小于正常测试时的标准脉冲宽度。

16、可选地，在本发明实施例提供的上述点灯测试装置中，所述扫描信号输出通道输出的扫描信号的脉冲宽度与正常测试时的标准脉冲宽度之间的差值为负极限值。

17、可选地，在本发明实施例提供的上述点灯测试装置中，所述扫描信号线的两端分别通过对应的所述探针与所述扫描信号输出通道电连接。

18、相应地，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本发明实施例提供的上述显示面板的检测方法的步骤。

19、相应地，本发明实施例还提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现本发明实施例提供的上述显示面板的检测方法的步骤。

20、本发明实施例的有益效果如下：

21、本发明实施例公开的一种显示面板的检测方法及装置、计算机设备、存储介质，在点灯测试时，通过将输入到显示面板内扫描信号线上的扫描信号的脉冲宽度设置成与正常测试时的标准脉冲宽度不同，例如可以大于正常测试时的标准脉冲宽度，也可以小于正常测试时的标准脉冲宽度，这样可以放大具有显示不良(横纹、发暗)的显示面板的不良程度，例如原本无法识别的缺陷被放大从而能够被检测出来。因此，本发明实施例不仅可以对不良现象较为明显的显示面板进行拦截，还可以对存在微小显示不良的显示面板进行拦截，使其不进行后续工艺，避免造成浪费资源，可以提高显示面板的良率。

技术特征：

1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述扫描信号的脉冲宽度大于正常测试时的标准脉冲宽度。

3.如权利要求2所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述扫描信号的脉冲宽度与正常测试时的标准脉冲宽度之间的差值为正极限值。

4.如权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述扫描信号的脉冲宽度小于正常测试时的标准脉冲宽度。

5.如权利要求4所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述扫描信号的脉冲宽度与正常测试时的标准脉冲宽度之间的差值为负极限值。

6.如权利要求1-5任一项所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述点灯测试装置对所述扫描信号线的两端同时输入所述扫描信号。

7.如权利要求1-5任一项所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述显示面板在进行点灯测试时显示的画面为纯色画面。

8.一种显示面板的点灯测试装置，其特征在于，包括：主板，设置在所述主板上的数据信号输出通道和扫描信号输出通道，以及与所述数据信号输出通道和所述扫描信号输出通道分别通过排线电连接的探针；与所述数据信号输出通道电连接的探针和待测显示面板内的数据信号线电连接，与所述扫描信号输出通道电连接的探针和待测显示面板内的扫描信号线电连接；其中，所述扫描信号输出通道输出的扫描信号的脉冲宽度可调，以与正常测试时输出的标准脉冲宽度不同。

9.如权利要求8所述的点灯测试装置，其特征在于，所述扫描信号输出通道输出的扫描信号的脉冲宽度大于正常测试时的标准脉冲宽度。

10.如权利要求9所述的点灯测试装置，其特征在于，所述扫描信号输出通道输出的扫描信号的脉冲宽度与正常测试时的标准脉冲宽度之间的差值为正极限值。

11.如权利要求8所述的点灯测试装置，其特征在于，所述扫描信号输出通道输出的扫描信号的脉冲宽度小于正常测试时的标准脉冲宽度。

12.如权利要求11所述的点灯测试装置，其特征在于，所述扫描信号输出通道输出的扫描信号的脉冲宽度与正常测试时的标准脉冲宽度之间的差值为负极限值。

13.如权利要求8-12任一项所述的点灯测试装置，其特征在于，所述扫描信号线的两端分别通过对应的所述探针与所述扫描信号输出通道电连接。

14.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1-7任一项所述的显示面板的检测方法的步骤。

15.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1-7任一项所述的显示面板的检测方法的步骤。

技术总结
本发明公开了一种显示面板的检测方法及装置、计算机设备、存储介质，在点灯测试时，通过将输入到显示面板内扫描信号线上的扫描信号的脉冲宽度设置成与正常测试时的标准脉冲宽度不同，例如可以大于正常测试时的标准脉冲宽度，也可以小于正常测试时的标准脉冲宽度，这样可以放大具有显示不良(横纹、发暗)的显示面板的不良程度，例如原本无法识别的缺陷被放大从而能够被检测出来。因此，本发明实施例不仅可以对不良现象较为明显的显示面板进行拦截，还可以对存在微小显示不良的显示面板进行拦截，使其不进行后续工艺，避免造成浪费资源，可以提高显示面板的良率。

技术研发人员：赵瑞龙,王志强,唐乌力吉白尔,周延伟,王薇慧
受保护的技术使用者：鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13