显示设备的制造方法
【专利说明】显示设备
[0001]本申请要求于2014年2月25日在韩国知识产权局提交的第10-2014-0022184号韩国专利申请的优先权和权益，所述韩国专利申请的公开内容通过引用全部包含于此。
技术领域
[0002]本发明的一个或更多个实施例涉及一种显示设备以及一种测试该显示设备的方法。
【背景技术】
[0003]面板在制造显示设备的一般工艺期间经受各种测试。这些测试中的一种是开路检测测试，即，使用通过将信号施加到数据线而显示的屏幕来检测开路的数据线或扇出线。
[0004]然而，数据线或扇出线的电阻缺陷可能无法通过这样的开路检测测试来检测。
【发明内容】
[0005]本发明的一个或更多个实施例包括一种显示设备以及一种测试该显示设备的方法，从而可在执行组件工艺之前并发地(例如，同时地)检测导线的开路和电阻缺陷。
[0006]其它方面将在下面的描述中部分地阐述且部分地通过描述将是明显的，或可通过当前的实施例的实践来得知。
[0007]根据本发明的一个或更多个实施例，一种显示设备包括:显示单元，包括连接到多条扫描线和多条数据线的多个像素；初始化单元，构造成向所述多条数据线施加初始化信号；以及导线测试单元，构造成通过分别连接在所述多条数据线中的每条的第一端处的多条扇出线来向所述多条数据线施加导线测试信号。
[0008]初始化信号可配置为在导线测试信号之前施加。
[0009]初始化单元可包括分别位于初始化信号线与所述多条数据线中的每条的第二端之间的多个第一开关。
[0010]所述多个第一开关可包括:第一初始化开关，在初始化信号线的第一初始化信号线和与第一像素的列对应的数据线之间；第二初始化开关，在初始化信号线的第二初始化信号线和与第二像素的列对应的数据线之间；以及第三初始化开关，在初始化信号线的第三初始化信号线和与第三像素的列对应的数据线之间。
[0011 ] 第一像素和第二像素可交替地布置在相同的列中，第一初始化开关可在第一初始化信号线与第一像素和第二像素的列的数据线之间，第二初始化开关可在第二初始化信号线与第一像素和第二像素的列的数据线之间。
[0012]初始化单元可构造成在与施加初始化信号的时间不同的时间通过所述多个第一开关来向所述多条数据线施加由初始化信号线提供的点亮测试信号。
[0013]导线测试单元可包括分别位于所述多条扇出线中的每条与测试信号线之间的多个第二开关，其中，测试信号线构造成提供导线测试信号。
[0014]所述多个第二开关可包括:第一测试开关，在第一测试信号线与所述多条扇出线的连接到与第一像素的列对应的数据线的第一扇出线之间；第二测试开关，在第二测试信号线与所述多条扇出线的连接到与第二像素的列对应的数据线的第二扇出线之间；第三测试开关，在第三测试信号线与所述多条扇出线的连接到与第三像素的列对应的数据线的第三扇出线之间。
[0015]所述设备还可包括连接到所述多条扇出线的多个数据焊盘，其中，所述多个第二开关分别位于所述多个数据焊盘与测试信号线之间。
[0016]所述多个第二开关可包括:第一测试开关，在第一测试信号线与连接到所述多条扇出线的第一扇出线的数据焊盘之间，其中，第一扇出线连接到与第一像素的列对应的数据线；第二测试开关，在第二测试信号线与连接到所述多条扇出线的第二扇出线的数据焊盘之间，其中，第二扇出线连接到与第二像素的列对应的数据线；第三测试开关，在第三测试信号线与连接到所述多条扇出线的第三扇出线的数据焊盘之间，其中，第三扇出线连接到与第三像素的列对应的数据线。
[0017]导线测试单元可构造成在与施加导线测试信号的时间不同的时间通过所述多个第二开关来将由测试信号线提供的点亮测试信号施加到所述多条数据线。
[0018]根据本发明的一个或更多个实施例，一种显示设备可包括:显示单元，包括连接到多条扫描线和多条数据线的多个像素；初始化单元，包括在第一信号线与所述多条数据线中的每条的第一端之间的多个第一开关，所述多个第一开关构造成通过所述多个第一开关来将由第一信号线提供的初始化信号施加到所述多条数据线中的每条的第一端；以及导线测试单元，包括在第二信号线与多条扇出线之间的多个第二开关，所述多条扇出线连接到所述多条数据线中的每条的第二端，所述多个第二开关构造成通过所述多个第二开关而经由所述多条扇出线来将由第二信号线提供的导线测试信号施加到所述多条数据线中的每条的第二端。
[0019]初始化信号可配置成在导线测试信号之前施加。
[0020]所述多个第一开关中的每个可包括:栅极，连接到控制线；第一端子，连接到第一信号线；以及第二端子，连接到所述多条数据线中的一条的第一端。
[0021]初始化单元可包括多条第一信号线，所述多个第一开关中的每个可包括连接到控制线的栅极、连接到所述多条第一信号线中的一条的第一端子以及连接到所述多条数据线中的一条的第一端的第二端子。
[0022]初始化单元可包括多条第一信号线，所述多个第一开关中的每个包括连接到多条控制线中的一条的栅极、连接到所述多条第一信号线中的一条的第一端子以及连接到所述多条数据线中的一条的第一端的第二端子。
[0023]所述多个第一开关可构造成在与施加初始化信号的时间不同的时间将点亮测试信号施加到所述多条数据线中的每条的第一端。
[0024]所述多个第二开关中的每个可包括连接到控制线的栅极、连接到第二信号线的第一端子以及连接到所述多条扇出线中的一条的第二端子。
[0025]初始化单元可包括多条第二信号线，所述多个第一开关中的每个包括连接到控制线的栅极、连接到所述多条第二信号线中的一条的第一端子以及连接到所述多条扇出线中的一条的第二端子。
[0026]所述多个第二开关可构造成在与施加导线测试信号的时间不同的时间将点亮测试信号施加到所述多条数据线中的每条的第二端。
[0027]显示设备还可包括分别连接到所述多条扇出线的多个数据焊盘以及位于所述多个数据焊盘与第二信号线之间的所述多个第二开关。
[0028]根据本发明的一个或更多个实施例，描述了一种测试显示设备的方法，所述显示设备具有包括连接到多条扫描线和多条数据线的多个像素的显示单元以及分别连接到所述多条数据线中的每条的第一端的多条扇出线。所述方法可包括下述步骤:将初始化信号施加到所述多条数据线中的每条的第一端或第二端；以及经由所述多条扇出线而将导线测试信号施加到所述多条数据线中的每条的第二端。
[0029]导线测试信号可在初始化信号施加到所述多条数据线之后施加。
[0030]初始化信号的施加步骤可包括:通过分别位于所述多条数据线中的每条的第一端或第二端与信号线之间的多个第一开关进行的电连接，信号线构造成提供初始化信号；以及通过所述多个第一开关来将初始化信号施加到所述多条数据线中的每条的第一端或第
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[0031]导线测试信号的施加步骤可包括:通过分别位于所述多条扇出线与测试信号线之间的多个第二开关进行的电连接，测试信号线构造成提供导线测试信号；以及通过所述多个第二开关来将导线测试信号施加到所述多条数据线中的每条的第二端。
[0032]所述方法还可包括检测连接到所述多条数据线的与像素的列对应的数据线的有缺陷的扇出线，所述像素的列发射具有比多个像素当中的相邻列的亮度高的亮度的光。
[0033]所述方法还可包括将点亮测试信号施加到所述多条数据线中的每条的第二端。
【附图说明】
[0034]通过下面结合附图进行的实施例的描述，这些和/或其它方面将变得明显且更容易理解，在附图中:
[0035]图1是根据本发明的实施例的制造有机发光显示设备的方法的流程图；
[0036]图2是示意性地示出根据本发明的实施例的显示设备的平面图；
[0037]图3是图2的显示设备的示例的平面图；
[0038]图4是用于描述对图3的显示设备进行的导线测试的时序图；
[0039]图5是根据本发明的另一实施例的显示设备的图；
[0040]图6是用于描述对图5的显示设备进行的导线测试的时序图；
[0041]图7是用于描述对图5的显示设备进行的点亮测试的时序图；
[0042]图8是根据本发明的另一实施例的显示设备的图；
[0043]图9是用于描述对图8的显示设备进行的导线测试的时序图；
[0044]图10是根据本发明的另一实施例的显示设备的图；
[0045]图11是用于描述对图10的显示设备进行的导线测试的时序图；
[0046]图12是用于描述对图10的显示设备进行的点亮测试的时序图；以及
[0047]图13是示意性地示出根据本发明的另一实施例的显示设备的平面图。
【具体实施方式】
[0048]以下，将参照示出了发明的示例实施例的附图来更充分地描述本发明。然而，本发明可以以许多不同形式来实施并且不应被解释为局限于在这里阐述的实施例；相反，提供这些实施例使得本公开将是彻底的和完整的，并且这些实施例将向本领域技术人员充分地传达本发明的构思。
[0049]在附图中，同样的附图标记指示同样的元件，并且省略重复的描述。
[0050]在说明书中，诸如“第一”、“第二”等的术语不具有限制的意义并且仅用于将一个组件与另一个组件区分开。除非以单数形式使用的表述在上下文中具有明显不同的意义，否则它也包含复数形式。
[0051]在本说明书中，将理解的是，诸如“包括”或“具有”等的术语意图指示特征或组件的存在，而不意图排除可存在或可添加一个或更多个其它特征或组件的可能性。
[0052]将理解的是，当元件被称为“连接”或“结合”到另一元件时，它可直接连接或结合到所述另一元件，或可存在中间元件。相反，当元件被称为“直接连接”或“直接结合”到另一元件时，不存在中间元件。用于描述元件之间的关系的其它词汇应该以同样的方式来解释(例如，“在……之间”与“直接在……之间”，“相邻”与“直接相邻”，“在……上”与“直接在……上”等)。
[0053]如在这里使用的，术语“和/或