Lcd的可靠性测试方法
【专利摘要】本发明提供一种LCD的可靠性测试方法，该方法包括以下步骤：提供高空低压试验机；提供一批LCD样品；从一批LCD样品中抽检多个LCD样品；检查多个LCD样品是否正常；将多个LCD样品置于高空低压试验机中，以第一预设海拔高度和第一预设温度保温第一预设时间；使多个LCD样品置于常温和常压环境中静置第二预设时间，检查多个LCD样品是否正常；当判定多个LCD样品正常时，多个LCD样品的可靠性能够满足在低温低压的环境中的使用。该测试方法能够测试出LCD在低压的环境中受到的气压应力，暴露产品产生黑屏等不正常现象的缺陷，有效的筛选出LCD在设计阶段结构设计可能存在的缺陷，有益于提高产品的可靠度，制造出可靠的可供客户长期使用的产品。
【专利说明】
LCD的可靠性测试方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种测试方法，尤其涉及一种LCD的可靠性测试方法。
【背景技术】
[0002]随着科学技术的发展，LCD的应用越来越广泛，LCD在各种环境中使用的可靠性越来越受到重视。IXD (液晶显示器)是Liquid Crystal Display的简称,IXD由两块玻璃板构成，约1mm，两块玻璃板中间设有5um的液晶材料，液晶材料本身不发光，故显示屏都设有作为光源的灯管，而在液晶显示屏背面有一块背光板和反光膜，从而提供均匀的背景光源。
[0003]现有的LCD产品在设计过程中忽略了荧光灯管在一些极端环境使用过程中的可靠性，特别是在海拔低的地区生产的产品在海拔高的地区使用时的适应性，从而导致了 IXD在高海拔地区使用时，频繁出现启动异常的现象，并且，目前采用的简单的高低温启动等测试方法并没有办法有效检测出产品在低气压环境中使用的可靠性，不利于找出产品在高海拔地区使用的薄弱点并进行改善。
【发明内容】
[0004]本发明的目的在于提供一种能够测试出在高海拔环境中的LCD的可靠性测试方法。
[0005]为了解决上述技术问题，本发明提供了一种LCD的可靠性测试方法，该方法包括以下步骤:
提供闻空低压试验机；
提供一批L⑶样品；
从一批LCD样品中抽检多个LCD样品；
检查所述多个LCD样品是否正常，当所述多个LCD样品出现启动异常，或者所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端出现焊接不良时，判定所述多个LCD样品不正常，且记录;
将所述多个IXD样品置于高空低压试验机中，以第一预设海拔高度和第一预设温度保温第一预设时间，所述第一预设温度低于常温；
使所述多个LCD样品置于常温和常压环境中静置第二预设时间，检查所述多个LCD样品是否正常，当所述多个LCD样品出现启动异常，或者所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端出现焊接不良时，判定所述多个LCD样品不正常，且记录；
当判定所述多个LCD样品正常时，所述多个LCD样品的可靠性能够满足在低温低压的环境中的使用。
[0006]其中，在所述当判定所述多个LCD样品正常时，所述多个LCD样品的可靠性能够满足在低温低压的环境中的使用的步骤之后，还包括以下步骤:
当所述多个LCD样品正常时，将所述多个LCD样品置于所述高空低压试验机中，以第二预设海拔高度和第二预设温度保温第三预设时间，所述第二预设海拔高度低于所述第一海拔预设高度，所述第二预设温度高于常温；
使所述多个LCD样品置于常温和常压环境中静置第四预设时间，检查所述多个LCD样品是否正常，当所述多个LCD样品出现启动异常，或者所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端出现焊接不良时，判定所述多个LCD样品不正常，且记录；
当判定所述多个LCD样品正常时，所述多个LCD样品的可靠性能够满足在高温低压的环境中的使用。
[0007]其中，在所述从一批LCD样品中抽检出多个LCD样品的步骤中，所述多个LCD样品的数量为3?9个。
[0008]其中，在所述检查所述多个IXD样品是否正常，当所述多个IXD样品出现启动异常，或者所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端出现焊接不良时，判定所述多个LCD样品不正常，且记录的步骤中，通过电性检查所述多个LCD样品的启动是否异常，和通过拆开所述多个LCD样品来检查所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端是否焊接不良。
[0009]其中，在所述检查所述多个IXD样品是否正常，当所述多个IXD样品出现启动异常，或者所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端出现焊接不良时，判定所述多个LCD样品不正常，且记录的步骤后，还包括以下步骤:
对所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端进行拍照。
[0010]其中，在所述将所述多个IXD样品置于高空低压试验机中，以第一预设海拔高度和第一预设温度保温第一预设时间，所述第一预设温度低于常温的步骤中，还包括以下子步骤:使所述多个LCD样品分别以第一预设次数在所述多个LCD样品的发光状态和所述多个LCD样品的不发光状态之间切换。
[0011]其中，在所述将所述多个IXD样品置于高空低压试验机中，以第一预设海拔高度和第一预设温度保温第一预设时间，所述第一预设温度低于常温的步骤中，所述第一预设海拔高度至少为30000ft，所述第一预设温度低于或者等于-20°，所述第一预设时间为24h。
[0012]其中，在所述使所述多个IXD样品置于常温和常压环境中静置第四预设时间，检查所述多个LCD样品是否正常，当所述多个LCD样品出现启动异常，或者所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端出现焊接不良时，判定所述多个LCD样品不正常，且记录的步骤中，所述第二预设时间大于或者等于2小时。
[0013]其中，在所述当所述多个IXD样品正常时，将所述多个IXD样品置于所述高空低压试验机中，以第二预设海拔高度和第二预设温度保温第三预设时间，所述第二预设海拔高度低于所述第一海拔预设高度，所述第二预设温度高于常温的步骤中，使所述多个LCD样品分别以第二预设次数在所述多个LCD样品的发光状态和所述多个LCD样品的不发光状态之间切换。
[0014]其中，在所述当所述多个LCD样品正常时，将所述多个LCD样品置于所述高空低压试验机中，以第二预设海拔高度和第二预设温度保温第三预设时间，所述第二预设海拔高度低于所述第一海拔预设高度，所述第二预设温度高于常温的步骤中，所述第二预设海拔高度为16000ft，所述第二预设温度低于或者等于50°，所述第三预设时间为24h。
[0015]本发明提供的测试方法能够测试出LCD在低压的环境中受到的气压应力，暴露产品产生黑屏等不正常现象的缺陷，有效的筛选出LCD在设计阶段结构设计可能存在的缺陷，并经过技术整改和再验证的通过，为市场提供优质IXD提供依据，使IXD能在高海拔环境中使用，使得产品具有较高的品质水准，满足客户使用的需求，同时也有益于提高产品的可靠度，制造出可靠的可供客户长期使用的产品。
【专利附图】
【附图说明】
[0016]为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1是本发明提供的一种实施方式中的LCD的可靠性测试方法的流程图；
图2是本发明提供的另一种实施方式中的LCD的可靠性测试方法的流程图。
【具体实施方式】
[0018]下面将结合本发明实施方式中的附图，对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述。
[0019]请参阅图1，本发明实施方式提供的一种LCD的可靠性测试方法。该方法包括以下步骤:
步骤101:提供闻空低压试验机。
[0020]步骤103:提供一批IXD样品。
[0021]步骤105:从一批IXD样品中抽检多个IXD样品。所述多个IXD样品的数量根据实际情况而确定。所述多个LCD样品的数量为3?9个。在本实施例中，考虑到节约成本和抽检概率的情况下，所述多个LCD样品的数量为3个。
[0022]步骤107:检查所述多个IXD样品是否正常，当所述多个IXD样品出现启动异常，或者所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端出现焊接不良时，判定所述多个LCD样品不正常，且记录。该步骤用于进行常规品质检查，确认所述多个LCD样品中的各个荧光灯管进行测试前的状况，保证试验的有效性。在本实施例中，通过电性检查所述多个LCD样品的启动是否异常，和通过拆开所述多个IXD样品来检查所述多个IXD样品中的各个荧光灯管电极端是否焊接不良。具体的，所述多个LCD样品皆为正常。当所述多个LCD样品中有出现不正常的现象时，将出现不正常现象的LCD样品取出，重新抽取所述LCD样品，使得所述多个LCD样品保持在3个的数量，并且将不正常的现象记录下，以便于后续的技术整改。
[0023]步骤109:对所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端进行拍照。该步骤为了更直观观察到所述多个LCD样品在测试前的状态。在本实施例中，对所述多个LCD样品进行拍照后，获取第一图像。
[0024]步骤111:将所述多个IXD样品置于高空低压试验机中，以第一预设海拔高度和第一预设温度保温第一预设时间，所述第一预设温度低于常温。该步骤用于模拟所述多个LCD样品在低温低压环境中的使用。所述第一预设海拔高度根据所述多个LCD样品的耐低压等级确定。所述第一预设温度根据所述多个LCD样品耐温等级确定。所述第一预设时间根据所述多个LCD样品的使用寿命确定。在本实施例中，所述第一预设海拔高度至少为30000ft，所述第一预设温度低于或者等于-20°，所述第一预设时间为24h。具体的，所述第一预设海拔高度为30000ft。所述第一预设温度为-20°。所述第一预设时间为24h。为了更准确的模拟所述多个LCD样品在低温低压环境中的使用，使所述多个LCD样品分别以第一预设次数在所述多个LCD样品的发光状态和所述多个LCD样品的不发光状态之间切换。具体的，将用于控制所述LCD样品的发光状态和不发光状态的开关控制工装与所述多个LCD样品中的各个荧光灯管的输入端电连接在一起，并且将所述开关控制工装设置为以下模式:通电10秒，断电10秒，使得所述多个LCD样品发光10秒和不发光10秒，使所述多个LCD样品在所述多个LCD样品的发光状态和所述多个LCD样品的不发光状态之间切换2500次，从而可以使所述多个LCD样品在低温低压环境中的高压启动，加速导致所述多个LCD荧光灯管焊接点出现拉弧或者烧毁现象，暴露所述多个LCD样品在低温低压环境中启动可能出现的启动异常现象。当然，在其它实施例中，所述使所述多个LCD样品分别以第一预设次数在所述多个LCD样品的发光状态和所述多个LCD样品的不发光状态之间切换这个步骤可以省略，该步骤在本实施例中实施是为了更准确的模拟所述多个LCD样品在低温低压环境中的使用。
[0025]步骤113:使所述多个IXD样品置于常温和常压环境中静置第二预设时间，检查所述多个LCD样品是否正常，当所述多个LCD样品出现启动异常，或者所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端出现焊接不良时，判定所述多个LCD样品不正常，且记录。该步骤是为了检查所述多个LCD样品经过低温低气压测试后的可靠性。在本实施例中，所述第二预设时间大于或者等于2小时。将所述高空低压试验机的条件调整为常温和常压，待所述高空低压试验机恢复常温和常压的状态，将所述多个IXD取出，且在常温下静置2小时。通过电性检查所述多个IXD样品的启动是否异常，通过拆开所述多个IXD样品来检查所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端是否焊接不良，以及对所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端进行拍照，获取第二图像。具体的，所述多个LCD样品的外观皆为正常，将所述第二图像与所述第一图像相对比，所述多个LCD样品中的各个荧光灯管皆正常。当所述多个LCD样品中有出现不正常的现象时，将出现不正常现象的LCD样品取出，并且将不正常的现象记录下，以便于后续的技术整改。
[0026]步骤115:当判定所述多个IXD样品正常时，所述多个IXD样品的可靠性能够满足在低温低压的环境中的使用。在本实施例中，所述多个LCD样品的可靠性能够满足在低温低压的环境中的使用。
[0027]请参阅图2，本发明实施方式提供的另一种LCD的可靠性测试方法，该方法包括以下步骤:
步骤201:提供闻空低压试验机。
[0028]步骤203:提供一批IXD样品。
[0029]步骤205:从一批IXD样品中抽检多个IXD样品。所述多个IXD样品的数量根据实际情况而确定。所述多个LCD样品的数量为3?9个。在本实施例中，考虑到节约成本和抽检概率的情况下，所述多个LCD样品的数量为3个。
[0030]步骤207:检查所述多个IXD样品是否正常，当所述多个IXD样品出现启动异常，或者所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端出现焊接不良时，判定所述多个LCD样品不正常，且记录。该步骤用于进行常规品质检查，确认所述多个LCD样品中的各个荧光灯管进行测试前的状况，保证试验的有效性。在本实施例中，通过电性检查所述多个LCD样品的启动是否异常，和通过拆开所述多个IXD样品来检查所述多个IXD样品中的各个荧光灯管电极端是否焊接不良。具体的，所述多个LCD样品皆为正常。当所述多个LCD样品中有出现不正常的现象时，将出现不正常现象的LCD样品取出，重新抽取所述LCD样品，使得所述多个LCD样品保持在3个的数量，并且将不正常的现象记录下，以便于后续的技术整改。
[0031]步骤209:对所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端进行拍照。该步骤为了更直观观察到所述多个LCD样品在测试前的状态。在本实施例中，对所述多个LCD样品进行拍照后，获取第一图像。
[0032]步骤211:将所述多个IXD样品置于高空低压试验机中，以第一预设海拔高度和第一预设温度保温第一预设时间，所述第一预设温度低于常温。该步骤用于模拟所述多个LCD样品在低温低压环境中的使用。所述第一预设海拔高度根据所述多个LCD样品的耐低压等级确定。所述第一预设温度根据所述多个LCD样品耐温等级确定。所述第一预设时间根据所述多个LCD样品的使用寿命确定。在本实施例中，所述第一预设海拔高度至少为30000ft，所述第一预设温度低于或者等于-20°，所述第一预设时间为24h。具体的，所述第一预设海拔高度为30000ft。所述第一预设温度为-20°。所述第一预设时间为24h。为了更准确的模拟所述多个LCD样品在低温低压环境中的使用，使所述多个LCD样品分别以第一预设次数在所述多个LCD样品的发光状态和所述多个LCD样品的不发光状态之间切换。具体的，将用于控制所述LCD样品的发光状态和不发光状态的开关控制工装与所述多个IXD样品中的各个荧光灯管的输入端电连接在一起，并且将所述开关控制工装设置为以下模式:通电10秒，断电10秒，使得所述多个LCD样品发光10秒和不发光10秒，使所述多个LCD样品在所述多个LCD样品的发光状态和所述多个LCD样品的不发光状态之间切换2500次，从而可以使所述多个LCD样品在低温低压环境中的高压启动，加速导致所述多个LCD荧光灯管焊接点出现拉弧或者烧毁现象，暴露所述多个LCD样品在低温低压环境中启动可能出现的启动异常现象。当然，在其它实施例中，所述使所述多个LCD样品分别以第一预设次数在所述多个LCD样品的发光状态和所述多个LCD样品的不发光状态之间切换这个步骤可以省略，该步骤在本实施例中实施是为了更准确的模拟所述多个LCD样品在低温低压环境中的使用。
[0033]步骤213:使所述多个IXD样品置于常温和常压环境中静置第二预设时间，检查所述多个LCD样品是否正常，当所述多个LCD样品出现启动异常，或者所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端出现焊接不良时，判定所述多个LCD样品不正常，且记录。该步骤是为了检查所述多个LCD样品经过低温低气压测试后的可靠性。在本实施例中，所述第二预设时间大于或者等于2小时。将所述高空低压试验机的条件调整为常温和常压，待所述高空低压试验机恢复常温和常压的状态，将所述多个IXD取出，且在常温下静置2小时。通过电性检查所述多个IXD样品的启动是否异常，通过拆开所述多个IXD样品来检查所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端是否焊接不良，以及对所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端进行拍照，获取第二图像。具体的，所述多个LCD样品的外观皆为正常，将所述第二图像与所述第一图像相对比，所述多个LCD样品中的各个荧光灯管皆正常。当所述多个LCD样品中有出现不正常的现象时，将出现不正常现象的LCD样品取出，并且将不正常的现象记录下，以便于后续的技术整改。
[0034]步骤215:当判定所述多个IXD样品正常时，所述多个IXD样品的可靠性能够满足在低温低压的环境中的使用。在本实施例中，所述多个LCD样品的可靠性能够满足在低温低压的环境中的使用。
[0035]步骤217:当所述多个IXD样品正常时，将所述多个IXD样品置于所述高空低压试验机中，以第二预设海拔高度和第二预设温度保温第三预设时间，所述第二预设海拔高度低于所述第一海拔预设高度，所述第二预设温度高于常温。该步骤用于模拟所述多个LCD样品在高温低压环境中的使用。所述第二预设海拔高度根据所述多个LCD样品的耐低压等级确定。所述第二预设温度根据所述多个LCD样品耐温等级确定。所述第三预设时间根据所述多个LCD样品的使用寿命确定。在本实施例中，所述第二预设海拔高度为16000ft，所述第二预设温度低于或者等于50°，所述第三预设时间为24h。具体的，所述第二预设海拔高度为16000ft。所述第二预设温度为50°。所述第三预设时间为24h。为了更准确的模拟所述多个LCD样品在高温低压环境中的使用，使所述多个LCD样品分别以第二预设次数在所述多个LCD样品的发光状态和所述多个LCD样品的不发光状态之间切换。具体的，将所述开关控制工装与所述多个LCD样品中的各个荧光灯管的输入端电连接在一起，并且将所述开关控制工装设置为以下模式:通电10秒，断电10秒，使得所述多个LCD样品发光10秒和不发光10秒，使所述多个LCD样品在所述多个LCD样品的发光状态和所述多个LCD样品的不发光状态之间切换2500次，从而可以使所述多个LCD样品在高温低压环境中的高压启动，加速导致所述多个LCD荧光灯管焊接点出现拉弧或者烧毁现象，暴露所述多个LCD样品在高温低压环境中启动可能出现的启动异常现象。当然，在其它实施例中，所述使所述多个LCD样品分别以第一预设次数在所述多个LCD样品的发光状态和所述多个LCD样品的不发光状态之间切换这个步骤可以省略，该步骤在本实施例中实施是为了更准确的模拟所述多个LCD样品在高温低压环境中的使用。
[0036]步骤219:使所述多个IXD样品置于常温和常压环境中静置第二预设时间，检查所述多个LCD样品是否正常，当所述多个LCD样品出现启动异常，或者所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端出现焊接不良时，判定所述多个LCD样品不正常，且记录。该步骤是为了检查所述多个LCD样品经过低温低气压测试后的可靠性。在本实施例中，将所述高空低压试验机的条件调整为常温和常压，待所述高空低压试验机恢复常温和常压的状态，将所述多个IXD取出，且在常温下静置2小时。通过电性检查所述多个IXD样品的启动是否异常，通过拆开所述多个IXD样品来检查所述多个IXD样品中的各个荧光灯管电极端是否焊接不良，以及对所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端进行拍照，获取第三图像。具体的，所述多个LCD样品的外观皆为正常，将所述第三图像与所述第一图像相对比，所述多个LCD样品中的各个荧光灯管皆正常。当所述多个LCD样品中有出现不正常的现象时，将出现不正常现象的LCD样品取出，并且将不正常的现象记录下，以便于后续的技术整改。
[0037]步骤221:当判定所述多个IXD样品正常时，所述多个IXD样品的可靠性能够满足在低温低压的环境中的使用。在本实施例中，所述多个LCD样品的可靠性能够满足在高温低压的环境中的使用。
[0038]本发明提供的测试方法能够测试出LCD在低压的环境中受到的气压应力，暴露产品产生黑屏等不正常现象的缺陷，有效的筛选出LCD在设计阶段结构设计可能存在的缺陷，并经过技术整改和再验证的通过，为市场提供优质IXD提供依据，使IXD能在高海拔环境中使用，使得产品具有较高的品质水准，满足客户使用的需求，同时也有益于提高产品的可靠度，制造出可靠的可供客户长期使用的产品。
[0039]以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本【技术领域】的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本发明的保护范围。
【权利要求】
1.一种LCD的可靠性测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤: 提供闻空低压试验机； 提供一批L⑶样品； 从一批LCD样品中抽检多个LCD样品； 检查所述多个LCD样品是否正常，当所述多个LCD样品出现启动异常，或者所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端出现焊接不良时，判定所述多个LCD样品不正常，且记录; 将所述多个IXD样品置于高空低压试验机中，以第一预设海拔高度和第一预设温度保温第一预设时间，所述第一预设温度低于常温； 使所述多个LCD样品置于常温和常压环境中静置第二预设时间，检查所述多个LCD样品是否正常，当所述多个LCD样品出现启动异常，或者所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端出现焊接不良时，判定所述多个LCD样品不正常，且记录； 当判定所述多个LCD样品正常时，所述多个LCD样品的可靠性能够满足在低温低压的环境中的使用。
2.根据权利要求1所述的LCD的可靠性测试方法，其特征在于，在所述当判定所述多个LCD样品正常时，所述多个LCD样品的可靠性能够满足在低温低压的环境中的使用的步骤之后，还包括以下步骤: 当所述多个LCD样品正常时，将所述多个LCD样品置于所述高空低压试验机中，以第二预设海拔高度和第二预设温度保温第三预设时间，所述第二预设海拔高度低于所述第一海拔预设高度，所述第二预设温度高于常温； 使所述多个LCD样品置于常温和常压环境中静置第四预设时间，检查所述多个LCD样品是否正常，当所述多个LCD样品出现启动异常，或者所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端出现焊接不良时，判定所述多个LCD样品不正常，且记录； 当判定所述多个LCD样品正常时，所述多个LCD样品的可靠性能够满足在高温低压的环境中的使用。
3.根据权利要求1所述的LCD的可靠性测试方法，其特征在于，在所述从一批LCD样品中抽检出多个LCD样品的步骤中，所述多个LCD样品的数量为3?9个。
4.根据权利要求1所述的LCD的可靠性测试方法，其特征在于，在所述检查所述多个LCD样品是否正常，当所述多个LCD样品出现启动异常，或者所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端出现焊接不良时，判定所述多个LCD样品不正常，且记录的步骤中，通过电性检查所述多个LCD样品的启动是否异常，和通过拆开所述多个LCD样品来检查所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端是否焊接不良。
5.根据权利要求1所述的LCD的可靠性测试方法，其特征在于，在所述检查所述多个LCD样品是否正常，当所述多个LCD样品出现启动异常，或者所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端出现焊接不良时，判定所述多个LCD样品不正常，且记录的步骤后，还包括以下步骤: 对所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端进行拍照。
6.根据权利要求1所述的LCD的可靠性测试方法，其特征在于，在所述将所述多个LCD样品置于高空低压试验机中，以第一预设海拔高度和第一预设温度保温第一预设时间，所述第一预设温度低于常温的步骤中，还包括以下子步骤:使所述多个LCD样品分别以第一预设次数在所述多个LCD样品的发光状态和所述多个LCD样品的不发光状态之间切换。
7.根据权利要求1所述的LCD的可靠性测试方法，其特征在于，在所述将所述多个LCD样品置于高空低压试验机中，以第一预设海拔高度和第一预设温度保温第一预设时间，所述第一预设温度低于常温的步骤中，所述第一预设海拔高度至少为30000ft，所述第一预设温度低于或者等于-20°，所述第一预设时间为24h。
8.根据权利要求1所述的LCD的可靠性测试方法，其特征在于，在所述使所述多个LCD样品置于常温和常压环境中静置第四预设时间，检查所述多个LCD样品是否正常，当所述多个LCD样品出现启动异常，或者所述多个LCD样品中的各个荧光灯管电极端出现焊接不良时，判定所述多个LCD样品不正常，且记录的步骤中，所述第二预设时间大于或者等于2小时。
9.根据权利要求2所述的LCD的可靠性测试方法，其特征在于，在所述当所述多个LCD样品正常时，将所述多个IXD样品置于所述高空低压试验机中，以第二预设海拔高度和第二预设温度保温第三预设时间，所述第二预设海拔高度低于所述第一海拔预设高度，所述第二预设温度高于常温的步骤中，使所述多个LCD样品分别以第二预设次数在所述多个LCD样品的发光状态和所述多个LCD样品的不发光状态之间切换。
10.根据权利要求2所述的LCD的可靠性测试方法，其特征在于，在所述当所述多个IXD样品正常时，将所述多个IXD样品置于所述高空低压试验机中，以第二预设海拔高度和第二预设温度保温第三预设时间，所述第二预设海拔高度低于所述第一海拔预设高度，所述第二预设温度高于常温的步骤中，所述第二预设海拔高度为16000ft，所述第二预设温度低于或者等于50°，所述第三预设时间为24h。
【文档编号】G02F1/13GK104345480SQ201310322678
【公开日】2015年2月11日 申请日期:2013年7月29日 优先权日:2013年7月29日
【发明者】周明杰, 王永清 申请人:海洋王（东莞）照明科技有限公司, 海洋王照明科技股份有限公司, 深圳市海洋王照明工程有限公司