配向膜的边界获取方法及检测方法
【专利摘要】本发明提供了一种配向膜的边界获取方法，包括步骤：对图像进行边缘处理，抓取配向膜的边界；对抓取到的边界进行一次筛选，排除为直线的边界；在一次筛选后的边界上进行二次筛选，选取最外层的边界线作为配向膜的实际边界。同时本发明还提供了一种配向膜的检测方法。本发明提供配向膜的边界获取方法及检测方法，通过对抓取后的图像边界进行筛选，不仅可以快速准确地获得配向膜的实际边界，减小配向膜边界的误抓率，进而方便对配向膜的管控和防治；而且该方法简单，便于操作。
【专利说明】配向膜的边界获取方法及检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示面板生产【技术领域】，尤其涉及一种配向膜的边界获取方法及检测方法。
【背景技术】
[0002]液晶显示装置(LCD, LiquidCrystalDisplay)具有机身薄、省电、无福射等众多优点，从而得到了广泛的应用。现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示装置，其包括液晶显示面板及背光模组(backlightmodule)。液晶显示面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子，通过玻璃基板通电电压来控制液晶分子改变方向，将背光模组的光线折射出来产生画面。
[0003]配向膜用于施予液晶分子朝配向的方向排列，使得液晶显示面板中的液晶分子拥有一致的方向性，或是定向排列。当电场驱动液晶分子动作时，全部或局部的液晶分子需要有同步且一贯性的动作，使得显示动作能快速且一致。
[0004]新一代的配向膜涂布技术是以喷墨(Inkjet)印刷的方式，使聚酰亚胺(polyimide, PI)液覆盖在薄膜晶体管基板或是彩色滤光基板上，再通过加热的方式使PI液里面的溶剂挥发，从而形成一层固定膜厚的配向膜。然而PI液由于液体所具有的流动性，在固化的过程中会向外扩散，在边缘PI液会流到没有涂布的地方，从而使得PI液固化后在边缘处直线性不佳，易呈现波浪状(EdgeWave)。现有改良EdgeWave方法是以液滴的大小进行改善。以DPI (dotsperinch)来做为一个衡量指标,DPI (dotsperinch)越高,达成的直线性就越高。具体为采用较小的PI液滴并以较密集地排列达成较高的DPI，然而在实际操作过程中仍会出现EdgeWave的现象。另外，因边缘干燥速度不同，使得边缘会形成膜厚不均的区域，称之为Haloarea或Edgearea。此Haloarea若位于显不区(Activearea)JlJ将于25%灰阶下的画面边缘会有明显偏白的现象。因此，在对配向膜的检测以及切割精度的检测等后续制程中，准确获取配向膜的边界尤其重要。然而由于PI液扩散后的边界亮度变化较多，且玻璃基板上有大量的金属线路，从而导致现有技术对配向膜的实际边界误抓率很高，从而影响后续制程。
【发明内容】
[0005]为解决上述现有技术所存在的问题，本发明的目的在于提供一种配向膜的边界获取方法及检测方法，该方法可以快速简便地准确获取配向膜的实际边界，减小配向膜边界的误抓率。
[0006]为了实现上述目的，本发明提供的一种配向膜的边界获取方法，包括步骤:
[0007]A、对图像进行边缘处理，抓取配向膜的边界；
[0008]B、对抓取到的边界进行一次筛选，排除为直线的边界；
[0009]C、在一次筛选后的边界上进行二次筛选，选取最外层的边界线作为配向膜的实际边界。[0010]优选地，步骤B具体为:选取一基准线，并在抓取到的任一条边界线上随机选取多条线段；计算所述多条线段与所述基准线之间的角度，若角度均为一固定值，则排除该条边界线。
[0011]优选地，步骤B具体为:在抓取到的任一条边界线上随机选取多条线段；计算所述多条线段之间的角度差，若该角度差为O度或者180度，则排除该条边界线。
[0012]优选地，步骤A具体为:对所述图像进行二值化处理；选取图像内的任一像素，与该像素周围的其他像素进行比较，若该像素与周围的其他像素的灰度值一致，则去除该像素；若该像素与周围的其他像素中的至少一个像素的灰度值不一致，则保留该像素。
[0013]优选地，步骤C具体为:建立坐标轴；在乂值一定时，保留竖直边界线上Y值最大和最小的点，删除其余所述竖直边界线上的点；在Y值一定时，保留水平边界线上X值最大和最小的点，删除其余所述水平边界线上的点。
[0014]本发明的另一目的在于提供一种配向膜的检测方法，包括:
[0015]采用如上所述的边界获取方法获取配向膜的实际边界；
[0016]在所述实际边界内对配向膜图像进行采集并处理；
[0017]将处理后的图像与数据库中的数据进行对比，以判断是否有缺陷。
[0018]优选地，步骤B具体为:选取一基准线，并在抓取到的任一条边界线上随机选取多条线段；计算所述多条线段与所述基准线之间的角度，若角度均为一固定值，则排除该条边界线。
[0019]优选地，步骤B具体为:在抓取到的任一条边界线上随机选取多条线段；计算所述多条线段之间的角度差，若所述角度差均为固定值，则排除该条边界线。
[0020]优选地，步骤A具体为:对所述图像进行二值化处理；选取图像内的任一像素，与该像素周围的其他像素进行比较，若该像素与周围的其他像素的灰度值一致，则去除该像素；若该像素与周围的其他像素中的至少一个像素的灰度值不一致，则保留该像素。
[0021]优选地，步骤C具体为:建立坐标轴；在乂值一定时，保留竖直边界线上Y值最大和最小的点，删除其余所述竖直边界线上的点；在Y值一定时，保留水平边界线上X值最大和最小的点，删除其余所述水平边界线上的点。
[0022]有益效果:
[0023]本发明提供配向膜的边界获取方法及检测方法，通过对抓取后的图像边界进行筛选，不仅可以快速准确地获得配向膜的实际边界，减小配向膜边界的误抓率，进而方便对配向膜的管控和防治；而且该方法简单，便于操作。
【专利附图】
【附图说明】
[0024]图1为本发明一实施例提供的一种配向膜的边界获取方法流程图。
[0025]图2采用本发明提供的边界获取方法获取到的配向膜的边界的示意图，其中，图2a为抓取到的配向膜的边界示意图；图2b为第一次筛选后的边界示意图；图2c为第二次筛选后的边界示意图。
【具体实施方式】
[0026]为了更好地阐述本发明的技术特点和结构，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
[0027]参阅图1，为本实施例提供的一种配向膜的边界获取方法流程图，包括步骤:
[0028]A、对图像进行边缘处理，抓取配向膜的边界；
[0029]B、对抓取到的边界进行一次筛选，排除为直线的边界；
[0030]C、在一次筛选后的边界上进行二次筛选，选取最外层的边界线作为配向膜的实际边界。
[0031]具体地，首先对含有配向膜的图像进行二值化处理:设计一阈值，用该阈值将含有配向膜的图像分为两个部分，即大于阈值的像素群和小于阈值的像素群，其中大于阈值的像素群的像素的灰度值被设为255，小于阈值的像素群的像素的灰度值被设为O。当然，在其他实施例中也可以相反，即大于阈值的像素群的像素的灰度值被设为0，小于阈值的像素群的像素的灰度值被设为255。在对图像进项二值化处理后，选取图像内的任一像素，与该像素周围的8个像素进行比较，若该像素与周围的8个像素的灰度值一致，则去除该像素；若该像素与周围的8个像素中的至少一个像素的灰度值不一致,则保留该像素。
[0032]当然，在其他实施例中也可以采取这种方法抓取配向膜的边界:首先对图像进行二值化处理，然后选取图像内3X3的像素矩阵单元，利用该像素矩阵单元对图像进行腐蚀，最后用原图像减负去腐蚀后的图像即可得到取配向膜的边界。
[0033]参阅图2a，为采用如上所述的方法抓取到的配向膜的边界，由于配向膜是覆盖在薄膜晶体管基板或是彩色滤光基板上，薄膜晶体管基板或是彩色滤光基板上均存在大量的金属线路，而金属线路与配向膜之间的图像像素的灰度值不一致，因此抓取到的边界不仅包括配向膜的实际边界110，还包括金属线路的边界130，以及金属线路周围的由于配向膜的涂布不平整而形成的内在边界120或者PI液涂布后在边界处扩散不均匀而形成的内在边界120。因此，需要对抓取到的边界做进一步的处理。
[0034]在抓取到配向膜的边界之后，对抓取到的边界进行一次筛选，具体为:选取一基准线，并在抓取到的任一条边界线上随机选取多条线段；计算该多条线段与基准线之间的角度，若角度均为一固定值，则排除该条边界线；若角度为不固定的值，则保留该边界线。当然，在其他实施例中，也可以直接计算在抓取到的任一条边界线上随机取得的多条线段之间的角度差，若该角度差均为固定值，则排除该条边界线；若该角度差为不固定的值，则保留该条边界线。参阅图2b，为一次筛选后的边界，由于金属线路的边界一定为直线，而由于PI液扩散后的边界轮廓为一扭扭曲曲的曲线，因此在排除直线边界之后就可以把误抓的金属线路的边界130排除掉，此时剩下的为配向膜的实际边界110，以及位于实际边界110内部的内部边界120。
[0035]进一步地, 对一次筛选后的边界进行二次筛选,其具体为:建立坐标轴；在X值一定时，保留竖直边界线上Y值最大和最小的点，删除其余竖直边界线上的点；在￥值一定时，保留水平边界线上X值最大和最小的点，删除其余水平边界线上的点，这样就筛除内部边界120而保留最外层的边界了。参阅图2c，在二次筛选后，选取的即为配向膜的实际边界110。
[0036]基于同一发明构思，本实施例还提供了一种配向膜的检测方法，包括
[0037]采用如上所述的边界获取方法获取配向膜的实际边界；
[0038]在所述实际边界内对配向膜图像进行采集并处理；[0039]将处理后的图像与数据库中的数据进行对比，以判断是否有缺陷。
[0040]该检测方法通过提高配向膜实际边界获取的精度，从而减小了检测难度，提高了检测精度。[0041]综上所述，本发明提供配向膜的边界获取方法及检测方法，通过对抓取后的图像边界进行筛选，不仅可以快速准确地获得配向膜的实际边界，减小配向膜边界的误抓率，进而方便对配向膜的管控和防治；而且该方法简单，便于操作。
[0042]需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
[0043]虽然本发明是参照其示例性的实施例被具体描述和显示的，但是本领域的普通技术人员应该理解，在不脱离由权利要求限定的本发明的精神和范围的情况下，可以对其进行形式和细节的各种改变。
【权利要求】
1.一种配向膜的边界获取方法，其特征在于，包括步骤: A、对图像进行边缘处理，抓取配向膜的边界； B、对抓取到的边界进行一次筛选，排除为直线的边界； C、在一次筛选后的边界上进行二次筛选，选取最外层的边界线作为配向膜的实际边界。
2.根据权利要求1所述的边界获取方法，其特征在于，步骤B具体为:选取一基准线，并在抓取到的任一条边界线上随机选取多条线段；计算所述多条线段与所述基准线之间的角度，若角度均为一固定值，则排除该条边界线。
3.根据权利要求1所述的边界获取方法，其特征在于，步骤B具体为:在抓取到的任一条边界线上随机选取多条线段；计算所述多条线段之间的角度差，若该角度差为O度或者180度，则排除该条边界线。
4.根据权利要求1所述的边界获取方法，其特征在于，步骤A具体为:对所述图像进行二值化处理；选取图像内的任一像素，与该像素周围的其他像素进行比较，若该像素与周围的其他像素的灰度值一致，则去除该像素；若该像素与周围的其他像素中的至少一个像素的灰度值不一致，则保留该像素。
5.根据权利要求1所述的边界获取方法，其特征在于，步骤C具体为:建立坐标轴；在X值一定时，保留竖直边界线上Y值最大和最小的点，删除其余所述竖直边界线上的点；在￥值一定时，保留水平边界线上X值最大和最小`的点，删除其余所述水平边界线上的点。
6.一种配向膜的检测方法，其特征在于，包括: 采用如权利要求1所述的边界获取方法获取配向膜的实际边界； 在所述实际边界内对配向膜图像进行采集并处理； 将处理后的图像与数据库中的数据进行对比，以判断是否有缺陷。
7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，步骤B具体为:选取一基准线，并在抓取到的任一条边界线上随机选取多条线段；计算所述多条线段与所述基准线之间的角度，若角度均为一固定值，则排除该条边界线。
8.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，步骤B具体为:在抓取到的任一条边界线上随机选取多条线段；计算所述多条线段之间的角度差，若所述角度差均为固定值，则排除该条边界线。
9.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，步骤A具体为:对所述图像进行二值化处理；选取图像内的任一像素，与该像素周围的其他像素进行比较，若该像素与周围的其他像素的灰度值一致，则去除该像素；若该像素与周围的其他像素中的至少一个像素的灰度值不一致，则保留该像素。
10.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，步骤C具体为:建立坐标轴；在乂值一定时，保留竖直边界线上Y值最大和最小的点，删除其余所述竖直边界线上的点；在Y值一定时，保留水平边界线上X值最大和最小的点，删除其余所述水平边界线上的点。
【文档编号】G02F1/13GK103676328SQ201310710999
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年12月20日 优先权日:2013年12月20日
【发明者】邓鸿韬, 洪宗义 申请人:深圳市华星光电技术有限公司