技术总结
一种测量硅基液晶相位分辨率的装置及方法，涉及光通信领域，光信号从环形器的一号端口输入，从二号端口输出后进入单光纤准直器，经准直后的空间光通过透镜后入射到硅基液晶上，硅基液晶的反射光通过透镜耦合到单光纤准直器，再经过环形器第三端口输出至功率计；调节硅基液晶相邻像素间的相位差，同时观察功率计，当功率计的测量值不变时，此时硅基液晶相邻像素间的相位差，即为硅基液晶的相位分辨率；本发明能够降低测量的复杂程度，且测量精度高。
技术研发人员：谢德权;徐凤;刘子晨;尤全;杨奇;余少华
受保护的技术使用者：武汉邮电科学研究院
文档号码：201611169913
技术研发日：2016.12.16
技术公布日：2017.02.15