兼容多种边框尺寸的显示面板及显示面板的点灯测试方法与流程

文档序号:12458845阅读:188来源:国知局
兼容多种边框尺寸的显示面板及显示面板的点灯测试方法与流程

本发明属于液晶显示技术领域,尤其涉及一种兼容多种边框尺寸的显示面板及显示面板的点灯测试方法。



背景技术:

近年来,随着显示行业的快速发展,显示产品越来越多样化。不同的客户对于面板规格的要求也经常各不相同,如分辨率,对比度,穿透率,边框大小等等。面板厂商通常会面临两种边框其他面板参数皆相同的需求。不同边框尺寸但面板其他参数相同的光罩涉及,除短路棒(Shorting Bar)和绑定引线端(Bounding Lead)处不一样,其他布线皆相同。

因不同边框尺寸的显示面板的短路棒和绑定引线端的位置不同,传统方法就是设计两套不同的光罩来生产两种不同边框尺寸的面板,且其他规格相同的产品,这样就会增加光罩成本,而且生产不同边框尺寸的产品时需要更换光罩,增加面板制程时间。

因此,亟需对短路棒与绑定引线端的走线进行改进,以实现不同边框尺寸的显示面板的兼容布线。



技术实现要素:

本发明所要解决的技术问题之一是对短路棒与绑定引线端的走线进行改进,以实现不同边框尺寸的显示面板的兼容布线。

为了解决上述技术问题,本申请的实施例首先提供了一种兼容多种边框尺寸的显示面板,在每种边框尺寸所界定的显示面板区域内分别设置有一组绑定引线端及多条短路棒,且对应于不同边框尺寸的绑定引线端的尺寸参数相同,其中,所述短路棒设置在靠近由不同边框尺寸所界定的边框线处;各组绑定引线端对应位序处的所述绑定引线端依次串接后连接至显示面板的扇区走线;对应于最大边框尺寸的所述绑定引线端直接与对应的短路棒相连接,对应于其余边框尺寸的所述绑定引线端通过开关元件与对应的短路棒相连接。

优选地,所述开关元件设置在相邻的两组绑定引线端之间的区域。

优选地,对应于最小边框尺寸的所述开关元件设置在显示面板的扇区走线区域内。

优选地,对应于每种边框尺寸的开关元件的数目等于对应于该边框尺寸的绑定引线端的数目。

优选地,所述显示面板用于兼容第一边框尺寸与第二边框尺寸,所述第一框尺寸大于所述第二边框尺寸:所述开关元件为薄膜晶体管,设置在对应于第一边框尺寸的绑定引线端与对应于第二边框尺寸的绑定引线端之间,且完全包含在由第二边框尺寸所界定的显示面板区域内;对应于第一边框尺寸的所述绑定引线端直接与对应的短路棒相连接;对应于第二边框尺寸的所述绑定引线端与薄膜晶体管的源极相连接,其漏极与对应的短路棒相连接,各薄膜晶体管的栅极接入相同的控制信号。

优选地,所述显示面板用于兼容第一边框尺寸与第二边框尺寸,所述第一框尺寸大于所述第二边框尺寸:所述开关元件为薄膜晶体管,设置在显示面板的扇区走线区域内;对应于第一边框尺寸的所述绑定引线端直接与对应的短路棒相连接;对应于第二边框尺寸的所述绑定引线端与薄膜晶体管的源极相连接,其漏极与对应的短路棒相连接,各薄膜晶体管的栅极接入相同的控制信号。

优选地,在对由第二边框尺寸所界定的显示面板区域进行点灯测试时,所述显示面板配置为,通过所述控制信号开启各薄膜晶体管,所述绑定引线端与其对应的短路棒之间的连接被导通;在向由第二边框尺寸所界定的显示面板区域传输数据信号时,所述显示面板配置为,通过所述控制信号关闭各薄膜晶体管,所述绑定引线端与其对应的短路棒之间的连接被断开。

优选地,在结束对由第一边框尺寸所界定的显示面板区域所进行的点灯测试后,所述显示面板配置为,利用激光将对应于该第一边框尺寸的绑定引线端与对应的短路棒之间的连接切断。

优选地,在每种边框尺寸所界定的显示面板区域内,所述短路棒的数目与显示面板所具有的子像素单元的数目相等,对应于同一种颜色的子像素单元通过绑定引线端与同一条短路棒相连接。

本申请的实施例还提供了一种对显示面板进行点灯测试的方法,包括:当对由最大边框尺寸所界定的显示面板区域进行点灯测试时,通过开关元件将对应于其余边框尺寸的所述显示面板的绑定引线端与短路棒之间的连接断开;向对应于最大边框尺寸的各条短路棒输入点灯测试信号;结束点灯测试后利用激光切断对应于最大边框尺寸的所述绑定引线端与短路棒之间的连接;将驱动电路COF绑定至各绑定引线端;

当对由其余边框尺寸所界定的显示面板区域进行点灯测试时,通过开关元件将除由当前被测试的边框尺寸所界定的显示面板区域以外,对应于其他边框尺寸的所述绑定引线端与短路棒之间的连接断开;向对应于当前被测试的边框尺寸的各条短路棒输入点灯测试信号;结束点灯测试后通过开关元件将对应于当前被测试的边框尺寸的所述绑定引线端与短路棒之间的连接断开;将驱动电路COF绑定至各绑定引线端。

与现有技术相比,上述方案中的一个或多个实施例可以具有如下优点或有益效果:

通过改进短路棒和绑定引线端的走线,并使用开关元件来控制短路棒与绑定引线端之间的连接与断开,实现了在一个显示面板区域内兼容多种边框尺寸的布线,进而可以利用一套光罩上两种或者多种边框兼容的布线来生产出具有不同边框尺寸的显示面板,可以降低光罩成本,同时减少制程时间,提升产能。

本发明的其他优点、目标,和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述,并且在某种程度上,基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的,或者可以从本发明的实践中得到教导。本发明的目标和其他优点可以通过下面的说明书,权利要求书,以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本申请的技术方案或现有技术的进一步理解,并且构成说明书的一部分。其中,表达本申请实施例的附图与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案,但并不构成对本申请技术方案的限制。

图1为现有显示面板产品的源极驱动电路侧短路棒和绑定引线端的布线示意图;

图2为根据本发明第一实施例的兼容多种边框尺寸的显示面板的结构示意图;

图3为根据本发明第一实施例的宽边框显示面板的结构示意图;

图4为根据本发明第一实施例的窄边框显示面板的结构示意图;

图5为根据本发明第二实施例的兼容多种边框尺寸的显示面板的结构示意图。

具体实施方式

以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的实施方式,借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题,并达成相应技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。本申请实施例以及实施例中的各个特征,在不相冲突前提下可以相互结合,所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内。

图1为现有显示面板产品的源极驱动电路侧短路棒和绑定引线端的布线示意图。如图所示,在显示面板的边框范围内(也就是TFT Cut Line内),面板中所有的红色子像素信号都连在一根短路棒走线上,同样,绿色和蓝色子像素信号也都分别连在另外两根短路棒走线上。

进行短路棒点灯测试时,给三个点灯测试信号即可完成整快显示面板的点灯检测,方便快捷,节省测试时间,节省成本。最终产品上,面板正常运行时,不同列的红色(绿色或者蓝色)需要不同的数据信号,才能完成面板的正常的显示,因此在点灯测试后,模组制程中将会进行激光切断(Laser Cut),切断的位置如图所示,将绑定引线端和短路棒之间的走线断开,然后将驱动电路COF(Chip OnFilm)绑定在绑定引线端上给面板提供数据信号,由驱动电路COF给每列红色(绿色或者蓝色)传输灰阶信号,每列间是彼此分离的,可以传输不同信号。该布线就可以实现便捷测试,并且在激光切断后面板又能正常工作。

如果要在上述显示面板范围内实现两种边框兼容布线则需要布线两组短路棒和两组绑定引线端,而短路棒是同绑定引线端相连通的,因此,现有技术中无法实现同时布线。

在本发明的第一实施例和第二实施例中,分别提出一种能够兼容两种边框尺寸的显示面板的结构,下面结合具体的实施例进行说明。

另外,还需要说明的是,本发明的第一实施例和第二实施例仅以能够兼容两种边框尺寸的显示面板为例进行说明,在不背离本发明的精神及其实质的情况下,熟悉本领域的技术人员当可根据第一实施例和第二实施例的记载推广至能够兼容多种边框尺寸的情况。

第一实施例:

本实施例以能够兼容两种边框尺寸的显示面板的源极驱动电路侧的布线为例进行说明。

图2为根据本发明第一实施例的兼容多种边框尺寸的显示面板的结构示意图,如图所示,图中从上至下第一条虚线为第一边框尺寸所对应的边框线,此时显示面板为宽边框。第三条虚线为第二边框尺寸所对应的边框线,此时显示面板为窄边框。

本实施例中的显示面板用于兼容第一边框尺寸与第二边框尺寸,假设第一框尺寸大于所述第二边框尺寸。如图2所示,第一边框尺寸所对应的各绑定引线端1与第二边框尺寸所对应的各绑定引线端2的对应位序处的端子相互连接,并由第二边框尺寸所对应的各绑定引线2端通过走线连接至显示面板的扇区走线3。绑定引线端1的信号经绑定引线端2后通过扇区走线3后给入到面内对应像素,面板即可工作。

对应于第一边框尺寸的绑定引线端1直接与对应的短路棒1相连接,对应于第二边框尺寸的绑定引线端2通过开关元件与对应的短路棒2相连接。

开关元件设置在绑定引线端2和短路棒2的走线之间的位置,且开关元件完全包含在由第二边框尺寸所界定的显示面板区域内。每一位序处的绑定引线端对应设置一个开关元件。在本发明实施例中,直接以薄膜晶体管(TFT)作为开关元件进行说明。

薄膜晶体管的源极与绑定引线端2相连接,其漏极与短路棒2相连接,各薄膜晶体管的栅极接入相同的控制信号VEE。

VEE为TFT的栅极电压信号,以a-Si为半导体的TFT为例,VEE=-6V时TFT处于关闭状态,则短路棒2同绑定引线端2是断开的,绑定引线端2直接连接到绑定引线端1上,VEE=33V时TFT处于导通状态,短路棒2同绑定引线端2是导通的,TFT的实际开关电压与制程参数有关,TFT开关电压以具体数值为准。

当需要宽边框时,如图3所示,此时显示面板的边缘对应位置为第一边框尺寸,始终保证VEE=-6V,相当于短路棒2和绑定引线端2始终处于断开状态,绑定引线端1和绑定引线端2相连。利用短路棒进行点灯测试时,只需要给短路棒1RGB三个信号,经绑定引线端2和扇区走线3后给入面内像素。测试后,模组制程在激光切断线处将短路棒1和绑定引线端1之间的线用激光切断,然后将驱动电路COF绑定在绑定引线端1上,既可实现正常测试和工作。

需要窄边框时,面板的边框为第二边框尺寸,将对应于第一边框尺寸的显示面板的部分切掉后,对应于第二边框尺寸的显示面板区域的边框处电路图如图4所示。当利用短路棒进行点灯测试的时候,给VEE=33V的信号,此时TFT处于开通状态,短路棒2同绑定引线端2导通,信号再通过扇区走线3给入面内像素。当测试结束后给VEE=-6V的信号,关闭TFT并可以保证TFT始终处于断开状态,短路棒2和绑定引线端2处入断开状态,将驱动电路COF绑定到绑定引线端2上,向显示面板传输数据信号。

在这种情况下,无需利用激光切断任何短路棒2和绑定引线端2间的走线,相当于节省了一道制程,有利于降低总的制程时间,实现快捷测试和面板的正常工作。

第二实施例:

图5为根据本发明第二实施例的兼容多种边框尺寸的显示面板的结构示意图,在该实施例中,其与第一实施例的区别在于开关元件的设置的位置不同。

如图所示,仍以薄膜晶体管作为开关元件进行说明,薄膜晶体管设置在显示面板的扇区走线3的区域内,来控制短路棒2和绑定引线端2的开关。

在本实施例中,绑定引线端1和绑定引线端2之间距离为H2,相比于第一实施例中的绑定引线端1和绑定引线端2之间的距离H1(如图2所示),H2<H1。因为TFT布线在扇区走线3的区域内,不占用绑定引线端1和绑定引线端2之间的空间,因此将TFT布线在扇区走线3的区域内,有利于实现超窄边框显示面板的布线。

本实施例中对显示面板进行点灯测试的原理,以及点灯测试后对显示面板的处理以便其正常接收数据信号进行画面显示,与第一实施例相同。

简言之,当需要宽边框时,VEE=-6V,面板可以正常连接短路棒进行点灯测试,激光切断后再将驱动电路COF绑定在绑定引线端1上则可正常显示。当需窄边框时,面板的边框为第二边框尺寸,利用短路棒进行点灯测试时给VEE=33V 信号,测试完后不需激光切断,通过给TFT的Gate电压VEE=-6V信号,则短路棒2和绑定引线端2断开,将驱动电路COF绑定到绑定引线端2上,面板即可正常工作。

容易理解的是,当显示面板能够兼容三种或三种以上边框尺寸时,点灯测试过程如下:

当对由最大边框尺寸所界定的显示面板区域进行点灯测试时,

通过开关元件将对应于其余边框尺寸的显示面板的绑定引线端与短路棒之间的连接断开,向对应于最大边框尺寸的各条短路棒输入点灯测试信号,结束点灯测试后利用激光切断对应于最大边框尺寸的绑定引线端与短路棒之间的连接,将驱动电路COF绑定至各绑定引线端。

当对由其余边框尺寸所界定的显示面板区域进行点灯测试时,

通过开关元件将除由当前被测试的边框尺寸所界定的显示面板区域以外,对应于其他边框尺寸的绑定引线端与短路棒之间的连接断开,向对应于当前被测试的边框尺寸的各条短路棒输入点灯测试信号,结束点灯测试后通过开关元件将对应于当前被测试的边框尺寸的绑定引线端与短路棒之间的连接断开,将驱动电路COF绑定至各绑定引线端。

在本发明的实施例中,改进短路棒和绑定引线端的走线,使用TFT来控制不同边框中较窄边框对应短路棒与绑定引线端的开关,实现不同边框的兼容布线。

虽然本发明所揭露的实施方式如上,但所述的内容只是为了便于理解本发明而采用的实施方式,并非用以限定本发明。任何本发明所属技术领域内的技术人员,在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下,可以在实施的形式上及细节上作任何的修改与变化,但本发明的专利保护范围,仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

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