本实用新型属于显微镜技术领域，特别涉及一种防护型显微镜。
背景技术：
电子产品在生产过程中或进行实验分析时会使用显微镜设备对制品进行检查、实验分析，在检查、分析过程中，会有2个问题存在。
1、显微镜在下压时，物镜镜头会与电子部件撞击，会损坏镜头；
2、电子拆卸后放在载物台上容易产生灰尘，在制品上会造成污染，影响制品的品质或分析结果。
技术实现要素：
本实用新型的目的是针对现有的上述问题，提供一种专门针对工业观测的显微镜。
本实用新型的目的可通过下列技术方案来实现：一种防护型显微镜，它包括显微镜主体、观察调试台、载物台、光源，所述的观察调试台上设有目镜和物镜，所述的物镜对准载物台，其特征在于，所述的物镜上设有镜头帽，所述的载物台上设有一个防尘盖，所述的防尘盖上设有一个观察孔，所述的观察孔边缘设有圈罩，所述的圈罩为柔性材质制成，同时圈罩也围接在镜头帽上。
所述的镜头帽套设在显微镜的物镜上，所述的镜头帽上设有紧固螺丝，所述的紧固螺丝端部穿过镜头帽顶压在物镜上，镜头帽上又套有一个可沿轴向伸缩的防压帽，所述的防压帽上设有树脂玻璃或钢化玻璃镜片，所述的镜头帽和防压帽之间设有弹性复位结构。
所述的防压帽外套在镜头帽上，所述的弹性复位结构包括防压帽内壁上的一圈环形凸壁，所述的环形凸壁上设有若干的复位弹簧，所述的复位弹簧方向沿镜头帽的轴向朝设，复位弹簧连接在凸壁和镜头帽的下端面上。
与现有技术相比，该装置有效的保护了物镜镜头，在显微镜下压调节时，既不会对物镜产生影响，也不会压坏观测物，有效的保护了两者，其次能起到很好的防尘效果，不会对观察产生影响。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
图中，1、显微镜主体；2、光源；3、载物台；4、防尘盖；5、防压帽；6、复位弹簧；7、镜头帽；8、物镜；9、目镜；10、观察调试台；11、紧固螺丝；12、镜片；13、圈罩；14、观察孔。
具体实施方式
以下是本实用新型的具体实施例并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步的描述，但本实用新型并不限于这些实施例。
图1所示，本实用新型包括显微镜主体1、观察调试台10、载物台3、光源2，观察调试台10上设有目镜9和物镜8。所述的物镜8对准载物台3，物镜8上设有镜头帽7，镜头帽7上设有紧固螺丝11，所述的紧固螺丝11端部穿过镜头帽7顶压在物镜8上，镜头帽7上又套有一个可沿轴向伸缩的防压帽5，所述的防压帽5上设有树脂玻璃或钢化玻璃镜片12，所述的镜头帽7和防压帽5之间设有弹性复位结构。弹性复位结构包括防压帽5内壁上的一圈环形凸壁，所述的环形凸壁上设有若干的复位弹簧6，所述的复位弹簧6方向沿镜头帽7的轴向朝设，复位弹簧6连接在凸壁和镜头帽7的下端面上。
所述的载物台3上设有一个防尘盖4，防尘盖4上设有一个观察孔14，观察孔14边缘设有圈罩13，所述的圈罩13为柔性材质制成，同时圈罩13也围接在防压帽5上，使载物台3上的空间形成完全遮蔽的环境。