TFT基板及其测试方法、消除关机残像的方法与流程

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种tft基板及其测试方法、消除关机残像的方法。

背景技术：

液晶显示器(liquidcrystaldisplay，lcd)具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用。如：液晶电视、移动电话、个人数字助理(pda)、数字相机、计算机屏幕或笔记本电脑屏幕等，在平板显示领域中占主导地位。

现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlightmodule)。液晶显示面板的工作原理是在薄膜晶体管阵列基板(thinfilmtransistorarraysubstrate，tftarraysubstrate)与彩色滤光片基板(colorfilter，cf)之间灌入液晶分子，并在两片基板上施加驱动电压来控制液晶分子的旋转方向，以将背光模组的光线折射出来产生画面。

主动矩阵式液晶显示器(activematrixliquidcrystaldisplay，amlcd)是目前最常用的液晶显示器，包含多个像素，每个像素各受一个薄膜晶体管(thinfilmtransistor，tft)的控制，该tft的栅极连接至沿水平方向延伸的扫描线，漏极连接至沿垂直方向延伸的数据线，源极连接至对应的像素电极。如果在水平方向的某一扫描线上施加足够的正电压，则会使得连接在该条扫描线上的所有tft打开，将数据线上所加载的数据信号电压写入像素电极中，控制不同液晶的透光度进而达到控制色彩的效果。

主动矩阵式液晶显示器中扫描线的驱动(即栅极驱动)最初由外接的集成电路(integratedcircuit，ic)来完成，外接的ic可以控制各级水平扫描线的逐级充电和放电。goa技术(gatedriveronarray)即阵列基板行驱动技术，可以运用液晶显示面板的阵列制程将水平扫描线的驱动电路制作在显示区周围的基板上，使之能替代外接ic来完成水平扫描线的驱动。goa技术能减少外接ic的邦定(bonding)工序，提升产能并降低产品成本，而且可以使液晶显示面板更适合制作窄边框的显示产品。如图1所示，为现有设计的goa电路图示，所述goa电路包括：多个goa单元100，每一个goa单元100对应一行液晶显示面板内的扫描线，通过连接到各个对应的时钟信号ck、对应的第一低频下拉驱动信号lc1、第二低频下拉驱动信号lc2以及低电位信号vss，形成一个移位寄存器，通过多级移位寄存器组成整个goa电路，所述goa电路能够依次输出g(1)、g(2)、g(n)和g(n+1)等栅极扫描信号对液晶显示面板内的扫描线进行逐行扫描。

阵列测试(arraytest)是tft基板在array制程做完后的一道不良检测工序，通过阵列测试机台向tft基板上的阵列测试点(arraytestpad)输入测试信号，再通过连线导入至面板内部，以检测面内线路的短路和断路等不良。

具体地，请参阅图2，图2是现有技术对采用的goa技术的tft基板的示意图，如图2所示，所述tft基板包括：显示区、包围所述显示区的非显示区，其中显示区内设有多条沿水平方向延伸的扫描线101和多条沿竖直方向延伸的数据线(未图示)，所述非显示区内设有goa电路102和多个阵列测试信号点103，阵列测试时，通过阵列测试机台扎针在阵列测试点103上向所述液晶显示面板提供测试信号，所述测试信号包括goa电路所需的信号goasignal、数据信号data、以及公共电压信号等，各个测试信号通过走线输入至tft基板内部，以检测tft基板内线路的短路和断路等不良。

然而，针对goa技术的tft基板，其栅极扫描信号需要先通过goa电路102生成后再传输至显示区内的扫描线101上，利用上述阵列测试方法进行测试时，若测试到tft基板上出现栅极扫描信号传输不良(即水平方向上的不良)，难以判断是显示区内的扫描线101出现不良还是goa电路102出现不良，进而导致无法准确定位出阵列基板不良的位置进行针对性的不良修复。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种tft基板，在进行阵列测试时能够准确区分扫描线不良和goa电路不良，确定定位不良位置，提升阵列测试的不良检出率，保障tft基板的质量。

本发明的目的还在于提供一种tft基板的测试方法，能够准确区分扫描线不良和goa电路不良，确定定位不良位置，提升阵列测试的不良检出率，保障tft基板的质量。

本发明的目的还在于提供一种消除关机残像的方法，能够有效消除液晶显示器的关机残像，提升显示品质。

为实现上述目的，本发明提供了一种tft基板，包括：多条平行间隔排列的水平的扫描线、多条平行间隔排列的竖直的数据线、与所述多条扫描线电性连接的goa电路和面内测试电路、与所述goa电路电性连接的多个goa信号输入点、与所述面内测试电路电性连接的至少一个面内测试信号输入点、与所述多条数据线一一对应电性连接的多个数据信号输入点；

所述goa电路包括：级联的多个goa单元，每一个goa单元均与所述多个goa信号输入点电性连接，每一个goa单元均包括一个扫描信号输出端，每一个扫描信号输出端对应电性连接一条扫描线；

所述面内测试电路包括：与所述多个goa单元一一对应的多个开关模块、以及至少一条开关控制走线，每一个开关模块均包括：控制端、输入端、以及输出端，所述控制端与输入端均电性连接一条开关控制走线，输出端电性连接该开关模块对应的goa单元的扫描信号输出端，每一条开关控制走线均电性连接一个面内测试信号输入点。

所述面内测试电路包括：一条开关控制走线；每一个开关模块包括：一个控制tft，所述控制tft的栅极和源极分别为所述开关模块的控制端和输入端，漏极为所述开关模块的输出端；

所有的控制tft栅极和源极均与该条开关控制走线电性连接。

所述面内测试电路包括：两条开关控制走线；每一个开关模块包括：一个控制tft，所述控制tft的栅极和源极分别为所述开关模块的控制端和输入端，漏极为所述开关模块的输出端；

奇数行的goa单元对应的控制tft栅极和源极电性连接一条开关控制走线，偶数行的goa单元对应的控制tft栅极和源极电性连接另一条开关控制走线。

所述面内测试电路包括：一条开关控制走线；每一个开关模块包括：两个控制tft，所述两个控制tft的栅极相连后作为所述开关模块的控制端，源极相连后作为所述开关模块的输入端，漏极相连后作为所述开关模块的输出端；

所有的控制tft栅极和源极均与该条开关控制走线电性连接。

所述面内测试电路包括：两条开关控制走线；每一个开关模块包括：两个控制tft，所述两个控制tft的栅极相连后作为所述开关模块的控制端，源极相连后作为所述开关模块的输入端，漏极相连后作为所述开关模块的输出端；

奇数行的goa单元对应的控制tft栅极和源极电性连接一条开关控制走线，偶数行的goa单元对应的控制tft栅极和源极电性连接另一条开关控制走线。

本发明还提供一种tft基板的测试方法，包括如下步骤：

提供一tft基板，所述tft基板包括：多条平行间隔排列的水平的扫描线、多条平行间隔排列的竖直的数据线、与所述多条扫描线电性连接的goa电路和面内测试电路、与所述goa电路电性连接的多个goa信号输入点、与所述面内测试电路电性连接的至少一个面内测试信号输入点、与所述多条数据线一一对应电性连接的多个数据信号输入点；所述goa电路包括：级联的多个goa单元，每一个goa单元均与所述多个goa信号输入点电性连接，每一个goa单元均包括一个扫描信号输出端，每一个扫描信号输出端对应电性连接一条扫描线；所述面内测试电路包括：与所述多个goa单元一一对应的多个开关模块、以及至少一条开关控制走线，每一个开关模块均包括：控制端、输入端、以及输出端，所述控制端与输入端均电性连接一条开关控制走线，输出端电性连接该开关模块对应的goa单元的扫描信号输出端，每一条开关控制走线均电性连接一个面内测试信号输入点；

经由所述面内测试信号输入点向所述开关控制走线提供面内测试信号，经由所述数据信号输入点向所述数据线提供数据信号，所述开关模块打开，所述面内测试信号写入所有的扫描线，单独对所述扫描线进行不良检测；

经由所述goa信号输入点向所述goa电路提供goa信号，同时停止向所述开关控制走线提供面内测试信号，所述开关模块关闭，所述goa电路工作，同时对所述goa电路和扫描线进行不良检测。

每一个开关模块包括：一个控制tft，所述控制tft的栅极和源极分别为所述开关模块的控制端和输入端，漏极为所述开关模块的输出端；或者每一个开关模块包括：两个控制tft，所述两个控制tft的栅极相连后作为所述开关模块的控制端，源极相连后作为所述开关模块的输入端，漏极相连后作为所述开关模块的输出端。

所述面内测试电路包括：一条开关控制走线；所有的控制tft栅极和源极均与该条开关控制走线电性连接；

单独对所述扫描线进行不良检测时，经由一面内测试信号输入点向该条开关控制走线提供一面内测试信号，所述面内测试信号同时写入所有的扫描线。

所述面内测试电路包括：两条开关控制走线，奇数行的goa单元对应的控制tft栅极和源极电性连接一条开关控制走线，偶数行的goa单元对应的控制tft栅极和源极电性连接另一条开关控制走线；

单独对所述扫描线进行不良检测时，经由两面内测试信号输入点分别向两条开关控制走线提供两面内测试信号，所述两面内测试信号分别写入奇数行的扫描线和偶数行的扫描线。

本发明还提供一种消除关机残像的方法，包括如下步骤：

提供一液晶显示装置，所述液晶显示装置包括tft基板、以及驱动主板；所述tft基板包括：多条平行间隔排列的水平的扫描线、多条平行间隔排列的竖直的数据线、与所述多条扫描线电性连接的goa电路和面内测试电路；所述goa电路包括：级联的多个goa单元，每一个goa单元均与所述驱动主板电性连接，每一个goa单元均包括一个扫描信号输出端，每一个扫描信号输出端对应电性连接一条扫描线；所述面内测试电路包括：与所述多个goa单元一一对应的多个开关模块、以及至少一条开关控制走线，每一个开关模块均包括：控制端、输入端、以及输出端，所述控制端与输入端均电性连接一条开关控制走线，输出端电性连接该开关模块对应的goa单元的扫描信号输出端，每一条开关控制走线均与所述驱动主板电性连接；

在所述液晶显示装置关机的同时，所述驱动主板向所述开关控制走线提供放电信号，控制所有的开关模块打开，所述放电信号同时输入所有的扫描线。

本发明的有益效果：本发明提供一种tft基板，所述tft基板包括goa电路和面内测试电路；所述goa电路包括：级联的多个goa单元，每一个goa单元均与多个goa信号输入点电性连接，每一个goa单元均包括一个扫描信号输出端，每一个扫描信号输出端对应电性连接一条扫描线；面内测试电路包括：与多个goa单元一一对应的多个开关模块、以及至少一条开关控制走线，每一个开关模块均包括：控制端、输入端、以及输出端，所述控制端与输入端均电性连接一条开关控制走线，输出端电性连接该开关模块对应的goa单元的扫描信号输出端，每一条开关控制走线均电性连接一个面内测试信号输入点，通过所述开关控制走线和开关模块向所述扫描线输入面内测试信号能够单独对扫描线的进行不良检测，在液晶显示装置关机时，通过所述开关控制走线和开关模块向所述扫描线输入放电信号能够消除液晶显示装置的关机残像。本发明还提供一种tft基板的测试方法，能够准确区分扫描线不良和goa电路不良，确定定位不良位置，提升阵列测试的不良检出率，保障tft基板的质量。本发明还提供一种消除关机残像的方法，能够有效消除液晶显示器的关机残像，提升显示品质。

附图说明

为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。

附图中，

图1为现有的goa电路的示意图；

图2为现有的tft基板的示意图；

图3为本发明的tft基板的第一和第二实施例的示意图；

图4为本发明的tft基板的第一实施例中goa电路和面内测试电路的示意图；

图5为本发明的tft基板的第二实施例中goa电路和面内测试电路的示意图；

图6为本发明的tft基板的第三和第四实施例的示意图；

图7为本发明的tft基板的第三实施例中goa电路和面内测试电路的示意图；

图8为本发明的tft基板的第四实施例中goa电路和面内测试电路的示意图；

图9本发明的消除关机残像的方法的步骤1的示意图；

图10为本发明的tft基板的测试方法的流程图；

图11为本发明的消除关机残像的方法的流程图。

具体实施方式

为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。

请参阅图3或图6、本发明提供一种tft基板，包括：多条平行间隔排列的水平的扫描线10、多条平行间隔排列的竖直的数据线20、与所述多条扫描线10电性连接的goa电路30和面内测试电路40、与所述goa电路30电性连接的多个goa信号输入点50、与所述面内测试电路40电性连接的至少一个面内测试信号输入点60、与所述多条数据线20一一对应电性连接的多个数据信号输入点70；

请参阅图4、图5、图7、或图8，所述goa电路30包括：级联的多个goa单元31，每一个goa单元31均与所述多个goa信号输入点50电性连接，每一个goa单元31均包括一个扫描信号输出端，每一个扫描信号输出端对应电性连接一条扫描线10；

请参阅图4、图5、图7、或图8，所述面内测试电路40包括：与所述多个goa单元31一一对应的多个开关模块41、以及至少一条开关控制走线42，每一个开关模块41均包括：控制端、输入端、以及输出端，所述控制端与输入端均电性连接一条开关控制走线42，输出端电性连接该开关模块41对应的goa单元31的扫描信号输出端，每一条开关控制走线42均电性连接一个面内测试信号输入点60。

具体地，请参阅图4，在本发明的第一实施例中，所述面内测试电路40包括：一条开关控制走线42；每一个开关模块41包括：一个控制tftt，所述控制tftt的栅极和源极分别为所述开关模块41的控制端和输入端，漏极为所述开关模块41的输出端；所有的控制tftt栅极和源极均与该条开关控制走线42电性连接。

具体地，请参阅图5，在本发明的第二实施例中，所述面内测试电路40包括：一条开关控制走线42；每一个开关模块41包括：两个控制tftt，所述两个控制tftt的栅极相连后作为所述开关模块41的控制端，源极相连后作为所述开关模块41的输入端，漏极相连后作为所述开关模块41的输出端；所有的控制tftt栅极和源极均与该条开关控制走线42电性连接。

具体地，请参阅图7，在本发明的第三实施例中，所述面内测试电路40包括：两条开关控制走线42；每一个开关模块41包括：一个控制tftt，所述控制tftt的栅极和源极分别为所述开关模块41的控制端和输入端，漏极为所述开关模块41的输出端；

奇数行的goa单元31对应的控制tftt栅极和源极电性连接一条开关控制走线42，偶数行的goa单元31对应的控制tftt栅极和源极电性连接另一条开关控制走线42。

具体地，请参阅图8，在本发明的第四实施例中，所述面内测试电路40包括：两条开关控制走线42；每一个开关模块41包括：两个控制tftt，所述两个控制tftt的栅极相连后作为所述开关模块41的控制端，源极相连后作为所述开关模块41的输入端，漏极相连后作为所述开关模块41的输出端；

奇数行的goa单元31对应的控制tftt栅极和源极电性连接一条开关控制走线42，偶数行的goa单元31对应的控制tftt栅极和源极电性连接另一条开关控制走线42。

需要说明的是，利用本发明的tft基板进行阵列测试时，可通过所述面内测试信号输入点60向所述开关控制走线42提供面内测试信号，使所述开关模块41打开，所述面内测试信号写入所有的扫描线10，单独对所述扫描线10进行不良检测，之后再停止向开关控制走线42提供面内测试信号，使得所述开关模块41关闭，再利用goa信号输入点50向所述goa电路30提供goa信号，使得所述goa电路30工作，同时对所述goa电路30和扫描线10进行不良检测，通过一次单独检测和一个整体检测，能够准确区分扫描线不良和goa电路不良，确定定位不良位置，提升阵列测试的不良检出率，保障tft基板的质量。

具体地，所述goa信号包括：时钟信号ck、第一低频下拉驱动信号lc1、第二低频下拉驱动信号lc2、以及低电位信号vss等。在单独对所述扫描线10进行不良检测和同时对所述goa电路30和扫描线10进行不良检测时，均还通过数据信号输入点70向所述数据线20提供数据信号，进一步地，所述tft基板上还设有公共电极走线(未图示)以及公共信号输入点(未图示)，在单独对所述扫描线10进行不良检测和同时对所述goa电路30和扫描线10进行不良检测时，均还通过公共信号输入点向所述公共电极走线提供公共电压信号。

值得一提的是，利用本发明的tft基板还可以消除液晶显示器的关机残像，具体为将所述开关控制走线42电性连接到液晶显示器的驱动主板上，并相应设置控制程序，使得驱动主板在液晶显示器关机的同时向所述开关控制走线42提供放电信号，控制所述开关模块41打开，所述放电信号同时写入所有的扫描线10，将液晶显示器所有像素中的电荷迅速导通至公共电极上，进而消除液晶显示器的关机残像。

请参阅图10、一种tft基板的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

s1、提供一上述的tft基板。

s2、经由所述面内测试信号输入点60向所述开关控制走线42提供面内测试信号，经由所述数据信号输入点70向所述数据线20提供数据信号，所述开关模块41打开，所述面内测试信号写入所有的扫描线10，单独对所述扫描线10进行不良检测。

具体地，如图4和图5所示，在采用本发明的tft基板的第一和第二实施例时，经由一面内测试信号输入点60向该条开关控制走线42提供一面内测试信号gn，所述面内测试信号同时写入所有的扫描线10。

具体地，如图7和图8所示，在采用本发明的tft基板的第三和第四实施例时，单独对所述扫描线10进行不良检测时，经由两面内测试信号输入点60分别向两条开关控制走线42提供两面内测试信号go、ge，其中一个面内测试信号go写入奇数行的扫描线10，另一个面内测试信号ge写入偶数行的扫描线10。

s3、经由所述goa信号输入点50向所述goa电路30提供goa信号，同时停止向所述开关控制走线42提供面内测试信号，所述开关模块41关闭，所述goa电路30工作，同时对所述goa电路30和扫描线10进行不良检测。

具体地，所述goa电路30工作时，各个goa单元31依次产生并向各个扫扫描线10输入扫描驱动信号g(1)、g(2)、g(n)、g(n+1)等，以同时对所述goa电路30和扫描线10进行不良检测。所述goa信号包括：时钟信号ck、第一低频下拉驱动信号lc1、第二低频下拉驱动信号lc2、以及低电位信号vss等。

具体地，所述步骤s2和步骤s3中通过阵列测试机台对所述goa信号输入点50、面内测试信号输入点60以及数据信号输入点70扎针的方式输入goa信号、面内测试信号、以及数据信号。

请参阅图11，基于上述的tft基板，本发明还提供一种消除关机残像的方法，包括如下步骤：

s1’、请参阅图9，提供一液晶显示装置，所述液晶显示装置包括tft基板1、以及驱动主板2；

所述tft基板1包括：多条平行间隔排列的水平的扫描线10、多条平行间隔排列的竖直的数据线20、与所述多条扫描线10电性连接的goa电路30和面内测试电路40；

所述goa电路30包括：级联的多个goa单元31，每一个goa单元31均与所述驱动主板2电性连接，每一个goa单元31均包括一个扫描信号输出端，每一个扫描信号输出端对应电性连接一条扫描线10；

所述面内测试电路40包括：与所述多个goa单元31一一对应的多个开关模块41、以及至少一条开关控制走线42，每一个开关模块41均包括：控制端、输入端、以及输出端，所述控制端与输入端均电性连接一条开关控制走线42，输出端电性连接该开关模块41对应的goa单元31的扫描信号输出端，每一条开关控制走线42均与所述驱动主板2电性连接；

s2’、在所述液晶显示装置的关机的同时，所述驱动主板2向所述开关控制走线42提供放电信号，控制所有的开关模块41打开，所述放电信号同时写入所有的扫描线10。

具体地，所述放电信号同时写入所有的扫描线10，将液晶显示器所有像素中的电荷迅速导通至公共电极上，进而消除液晶显示器的关机残像。

综上所述，本发明提供一种tft基板及其测试方法、消除关机残像的方法，所述tft基板包括goa电路和面内测试电路；所述goa电路包括：级联的多个goa单元，每一个goa单元均与多个goa信号输入点电性连接，每一个goa单元均包括一个扫描信号输出端，每一个扫描信号输出端对应电性连接一条扫描线；面内测试电路包括：与多个goa单元一一对应的多个开关模块、以及至少一条开关控制走线，每一个开关模块均包括：控制端、输入端、以及输出端，所述控制端与输入端均电性连接一条开关控制走线，输出端电性连接该开关模块对应的goa单元的扫描信号输出端，每一条开关控制走线均电性连接一个面内测试信号输入点，通过所述开关控制走线和开关模块向所述扫描线输入面内测试信号能够单独对扫描线的进行不良检测，在液晶显示装置关机时，通过所述开关控制走线和开关模块向所述扫描线输入放电信号能够消除液晶显示装置的关机残像。

以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。