技术特征：
技术总结
本发明提供一种TFT基板及其测试方法、消除关机残像的方法。所述TFT基板中设有面内测试电路；所述面内测试电路包括：与多个GOA单元一一对应的多个开关模块、以及至少一条开关控制走线，每一个开关模块均包括：控制端、输入端、以及输出端，所述控制端与输入端均电性连接一条开关控制走线，输出端电性连接该开关模块对应的GOA单元的扫描信号输出端，每一条开关控制走线均电性连接一个面内测试信号输入点，通过所述开关控制走线和开关模块向所述扫描线输入面内测试信号能够单独对扫描线的进行不良检测，在液晶显示装置关机时，通过所述开关控制走线和开关模块向所述扫描线输入放电信号能够消除液晶显示装置的关机残像。
技术研发人员：曾勉
受保护的技术使用者：深圳市华星光电技术有限公司
技术研发日：2017.04.19
技术公布日：2017.08.04