一种显示面板及显示模块的制作方法

本发明涉及一种显示面板及显示模块，尤其指一种可方便确认自身穿透率的显示面板及显示模块。

背景技术：

现有技术中，在制作显示面板时，会在阵列基板母板上设置第一对位标记，在彩膜基板母板上对应设置第二对位标记，将两者对盒时，通过自动光学检索(automatedopticalinspection，aoi)机台来监测第一对位标记与第二对位标记的对组精度，确保两片母板的对盒在规格范围内。对盒后，将母板切割成多个显示面板。实际生产中，不论机台的精度多高，仍然可能有部分的显示面板存在对组精度偏低的情况，导致这些显示面板的穿透率较低。依照现有的生产效率要求，在切割成显示面板后，直接将每一片显示面板与背光模块进行组装，而难以将每一片显示面板逐一放置于自动光学检测机台上进行穿透率的测量，导致上述显示面板在与背光模块组成显示模块成品后出现显示模块成品亮度不符合规格的现象发生。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种显示面板及显示模块，可简单、方便地确认显示面板的穿透率。即使出现穿透率低于规格范围的显示面板，也可通过搭配高亮度的背光模块，使得显示模块成品的亮度在规格范围内，提高显示模块的良品率。

为了达到上述目的，本发明提出一种显示面板，该显示面板包含相对设置的阵列基板及彩膜基板，

该阵列基板具有第一外围区域，该第一外围区域包括：

第一区域，设置有第一测试垫及第二测试垫；以及

第二区域，该第一区域位于该第二区域的外侧，该第二区域上设置有第一导电部，该第一导电部于第一方向上具有相对且相连接的第一端及第二端，该第一端设置有第一连接垫，该第二端设置有第一梳状电极，该第一梳状电极具有沿该第一方向排布的多个第二连接垫，该第一梳妆电极电性连接该第一测试垫，该第一连接垫电性连接该第二测试垫；以及

该彩膜基板具有第二外围区域，该第二外围区域与该第二区域重叠，该第二外围区域上设置有第二导电部，该第二导电部于该第一方向上具有相对且相连接的第三端及第四端，该第三端设置有第三连接垫，该第四端设置有第四连接垫，该第三连接垫电性连接该第一连接垫，该第四连接垫电性连接该多个第二连接垫的其中之一；

使用时，测量该第一测试垫与该第二测试垫之间的电阻值，记为第一电阻值；根据该第一电阻值确定该阵列基板与该彩膜基板于该第一方向上的偏移距离。

作为可选的技术方案，该第一区域上还设置有第三测试垫及第四测试垫；

该第二区域上设置有第三导电部，该第三导电部于第二方向上具有相对且相连接的第五端及第六端，该第五端设置有第二梳状电极，该第二梳状电极具有沿该第二方向排布的多个第五连接垫，该第六端设置有第六连接垫，该第二梳状电极电性连接该第三测试垫，该第六连接垫电性连接该第四测试垫；以及

该第二外围区域上设置有第四导电部，该第四导电部于该第二方向上具有相对且相连接的第七端及第八端，该第七端设置有第七连接垫，该第八端设置有第八连接垫，该第七连接垫电性连接该多个第五连接垫的其中之一；该第八连接垫电性连接该第六连接垫；

使用时，测量该第三测试垫与该第四测试垫之间的电阻值，记为第二电阻值，根据该第二电阻值确定该阵列基板与该彩膜基板于该第二方向上的偏移距离，根据该阵列基板与该彩膜基板于该第一方向上的偏移距离及于该第二方向上的偏移距离以确定该显示面板的穿透率。

作为可选的技术方案，该第一外围区域还设置有第一连接线及第二连接线，该第一连接线的两端分别连接该第一测试垫及该第一梳状电极，该第二连接线的两端分别连接该第二测试垫及该第一连接垫。

作为可选的技术方案，该第一外围区域还设置有第三连接线及第四连接线，该第三连接线的两端分别电性连接该第三测试垫及该第二梳状电极，该第四连接线的两端分别电性连接该第四测试垫及该第六连接垫。

作为可选的技术方案，该第二外围区域还设置有第五连接线，该第五连接线的两端分别电性连接该第三连接垫及该第四连接垫。

作为可选的技术方案，该第二外围区域还设置有第六连接线，该第六连接线的两端分别电性连接该第七连接垫及该第八连接垫。

此外，本发明还提出另一种显示面板，该显示面板包含相对设置的阵列基板及彩膜基板，

该阵列基板具有第一外围区域，该第一外围区域包括：

第一区域，该第一区域上设置有第一测试垫及第二测试垫；以及

第二区域，该第一区域位于该第二区域的外侧，该第二区域上设置有第一连接垫，该第一测试垫电性连接该第一连接垫；以及

该彩膜基板具有第二外围区域，该第二外围区域与该第二区域重叠，该第二外围区域上设置有第二连接垫，该第二测试垫电性连接该第二连接垫，该第二连接垫与该第一连接垫于第一方向上部分重叠且相互绝缘；

使用时，测量该第一测试垫与该第二测试垫之间的电容值，记为第一电容值；根据该第一电容值确定该阵列基板与该彩膜基板于该第一方向上的偏移距离。

作为可选的技术方案，该第一区域上还设置有第三测试垫及第四测试垫；该第二区域上设置有第三连接垫，该第三连接垫电性连接该第三测试垫；该第二外围区域上设置有第四连接垫，该第四连接垫电性连接该第四测试垫，且该第四连接垫与该第三连接垫于第二方向上部分重叠且相互绝缘；

使用时，测量该第三测试垫与该第四测试垫之间的电容值，记为第二电容值；根据该第二电容值确定该阵列基板与该彩膜基板于该第二方向上的偏移距离，根据该阵列基板与该彩膜基板于该第一方向上的偏移距离及于该第二方向上的偏移距离以确定该显示面板的穿透率。

作为可选的技术方案，该第一外围区域上还设置有第一连接线及第二连接线，该第一连接线的两端分别连接该第一测试垫及该第一连接垫，该第二外围区域上设置有第三连接线，该第二连接线的两端分别连接该第二测试垫及该第三连接线的一端，该第三连接线的另一端电性连接该第二连接垫。

此外，本发明还提出一种显示模块，其包含上述显示面板。

本发明的显示面板及显示模块，其于显示面板的外围区域设置检测电路，从而可在显示面板的制程中，测试其他电性特点的同时进行电阻或电容值的检测，从而知晓阵列基板与彩膜基板的对组偏移量，以确定显示面板的穿透率。操作简单方便，且不会占用额外的时间。若判定某一显示面板的穿透率低于规格范围，还可在后续与背光模块的组装中，搭配高亮度的背光模块，使得最终的显示模块成品的亮度在规格范围内，从而提高了最终的显示模块的良品率。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为本发明的显示面板的第一实施例的局部俯视图；

图2为本发明的显示面板的第一实施例的剖面示意图；

图3a为本发明的第一实施例中阵列基板的局部俯视图；

图3b为本发明的第一实施例中彩膜基板的局部俯视图；

图4为本发明的显示面板的第二实施例的局部俯视图；

图5为本发明的显示面板的第二实施例的剖面示意图；

图6a为本发明的第二实施例中阵列基板的局部俯视图；

图6b为本发明的第二实施例中彩膜基板的局部俯视图。

具体实施方式

以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。

在以下实施例中，在不同的图中，相同部分是以相同标号表示。

请参考图1、图2、图3a及图3b，图1为本发明的显示面板的第一实施例的局部俯视图，图2为本发明的显示面板的第一实施例的剖面示意图，图3a为本发明的第一实施例中阵列基板的局部俯视图，图3b为本发明的第一实施例中彩膜基板的局部俯视图。需要说明的是，为了方便说明，图1及图3b中除了部分边框采用虚线绘示，其他元件均以实线进行绘示，实际上这些元件在俯视显示面板100是不能直接看到的。

本实施例的显示面板100包含相对设置的阵列基板1000及彩膜基板2000。阵列基板1000具有第一外围区域1100。显示面板100具有显示区，阵列基板1000包含组成该显示区的部分以及上述第一外围区域1100，第一外围区域1100绕设于组成该显示区的部分的外围。第一外围区域1100包括第一区域1200及第二区域1300，其中第一区域1200位于第二区域1300的外侧，即第二区域1300位于上述第一区域1200与组成该显示区的部分两者之间。第一区域1200上设置有第一测试垫1201及第二测试垫1202。第二区域1300上设置有第一导电部1310，第一导电部1310于第一方向f1上具有相对且相连接的第一端(未标注)及第二端(未标注)，第一端设置有第一连接垫1311，第二端设置有第一梳状电极1312，第一梳状电极1312具有沿第一方向f1排布的多个第二连接垫1313，第一梳妆电极1312电性连接第一测试垫1201，第一连接垫1311电性连接第二测试垫1202。

彩膜基板2000具有第二外围区域2100，第二外围区域2100与第二区域1300重叠。实际操作中，彩膜基板2000也包含组成该显示区的部分以及上述第二外围区域2100，第二外围区域2100绕设于组成该显示区的部分的外围。第二外围区域2100上设置有第二导电部2110，第二导电部2110于第一方向f1上具有相对且相连接的第三端(未标注)及第四端(未标注)，第三端设置有第三连接垫2111，第四端设置有第四连接垫2112，第三连接垫2111与第四连接垫2112电性连接，且第三连接垫2111电性连接第一连接垫1311，第四连接垫2112电性连接该多个第二连接垫1313的其中之一。

使用时，测量第一测试垫1201与第二测试垫1202之间的电阻值，记为第一电阻值r1；根据第一电阻值r1确定阵列基板1000与彩膜基板2000于第一方向f1上的偏移距离。

本实施例中，第三连接垫2111于第一方向f1上的宽度小于第一连接垫1311于第一方向f1上的宽度。这样的设计，使得彩膜基板2000与阵列基板1000在第一方向f1上存在些许偏移(对组偏移量)时，仍能够保证第一连接垫1311与第三连接垫2111之间的电性连接。

当测量第一测试垫1201与第二测试垫1202之间的电阻值时，具体路线如下，测试仪器的一端连接第一测试垫1201，依次经过第一梳状电极1312中多个第二连接垫1312的其中之一、第四连接垫2112、第三连接垫2111、第一连接垫1311，然后到达第二测试垫1202，第二测试垫1202连接测试仪器的另一端，由此测得该段路径的电阻值。彩膜基板2000相对于阵列基板1000在第一方向f1上的位置不同时(即对组偏移量不同)，与第四连接垫2112连接的第一梳状电极1311上的第二连接垫1312就会不同，从而第一测试垫1201与第二测试垫1202之间的路径就会不同，两者之间的第一电阻值r1就会不同。

如图1及图3a所示，第一区域1200上还设置有第三测试垫1203及第四测试垫1204。第二区域1300上设置有第三导电部1320，第三导电部1320于第二方向f2上具有相对的第五端(未标注)及第六端(未标注)，第五端设置有第二梳状电极1321，第二梳状电极1321具有沿第二方向f2排布的多个第五连接垫1322，第六端设置有第六连接垫1323，第二梳状电极1321电性连接第三测试垫1203，第六连接垫1323电性连接第四测试垫1204。

与此同时，第二外围区域2100上还设置有第四导电部2120，第四导电部2120于第二方向f2上具有相对且相连接的第七端(未标注)及第八端(未标注)，第七端设置有第七连接垫2121，第八端设置有第八连接垫2122，第七连接垫2121电性连接上述多个第五连接垫1322的其中之一；第八连接垫2122电性连接第六连接垫1323。

使用时，测量第三测试垫1203与第四测试垫1204之间的电阻值，记为第二电阻值r2，根据第二电阻值r2确定阵列基板1000与彩膜基板2000于第二方向f2上的偏移距离，以确定显示面板100的穿透率。

本实施例中，第八连接垫2122于第二方向f2上的宽度小于第六连接垫1323于第二方向f2上的宽度。这样的设计，使得彩膜基板2000与阵列基板1000在第二方向f2上存在些许偏移(对组偏移量)时，仍能够保证第六连接垫1323与第八连接垫2122之间的电性连接。

当测量第三测试垫1203与第四测试垫1204之间的电阻值时，具体路线如下：测试仪器的一端连接第三测试垫1203，依次经过第二梳状电极1321中多个第五连接垫1322的其中之一、第七连接垫2121、第八连接垫2122、第六连接垫1323，然后达到第四测试垫1204，第四测试垫1204连接测试仪器的另一端，由此测得该段路径的电阻值。彩膜基板2000相对于阵列基板1000在第二方向f2上的位置不同时(即对组偏移量不同)，与第七连接垫2121连接的第二梳状电极1321上的第五连接垫1322就会不同，从而第三测试垫1203与第四测试垫1204之间的路径就会不同，两者之间的第二电阻值r2就会不同。

实际操作中，可以在实际生产前，通过测量一定数量的显示面板样品的第一电阻值r1和第二电阻值r2，同时通过自动光学检测机台测量出对应样品的彩膜基板2000与阵列基板1000之间于第一方向f1上偏移的距离(即第一方向偏移量)及第二方向f2上偏移的距离(即第二方向偏移量)，然后再测量出对应样品的穿透率，从而建立对应关系的查找表。这样一来，使用者在生产过程中，测得第一电阻值r1及第二电阻值r2后，可直接查询查找表，来确定出当前测试的显示面板100的穿透率。查找表的内容例如表1，但不以此为限。

表1

实际操作中，例如当穿透率低于5.64％后，判定当前测试的显示面板100的穿透率不在规格范围，则可针对穿透率较低的显示面板100在后续与背光模块组装时，特别搭配高亮度的背光模块，以使得最终由该显示面板100与该高亮度的背光模块组装而成的显示模块的成品的亮度在规格范围内。当然，实际操作中，亦可根据每一片显示面板100的穿透率的检测结果，在后续与背光模块组装时，搭配与其穿透率匹配的背光模块。例如，若显示面板100的穿透率稍高，则搭配亮度稍低的背光模块；若显示面板100的穿透率稍低，则搭配亮度稍高的背光模块等，从而使得最终的显示模块的成品亮度均在规格范围内，从而提高显示模块的良品率。

此外，本发明还提出一种显示模块(未绘示)，显示模块包含上述显示面板100及背光模块，显示面板100组装于背光模块上，显示面板100的穿透率与背光模块的亮度相匹配，以使得该显示模块的亮度在规格范围内。

如图1及图3a所示，第一外围区域1100上还设置有第一连接线1401及第二连接线1402，第一测试垫1201借由第一连接线1401连接第一梳状电极1312，第二测试垫1202借由第二连接线1402连接第一连接垫1301。实际操作中，第一连接1401、第二连接1402与第一测试垫1201及第二测试垫1202可由同一导电层形成。

如图1及图3a所示，第一外围区域1100上还设置有第三连接线1403及第四连接线1404，第三测试垫1203借由第三连接线1403连接第二梳状电极1321，第四测试垫1204借由第四连接线1404连接第六连接垫1323。实际操作中，第三连接线1403、第四连接线1404与第三测试垫1203及第四测试垫1204可由同一道导电层形成。实际操作中，第一测试垫1201、第二测试垫1202、第三测试垫1203及第四测试垫1204可由同一导电层形成。

如图1及图3b所示，第二外围区域2100上还设置有第五连接线2201，第五连接线2201的两端分别电性连接第三连接垫2111及第四连接垫2112。实际操作中，第五连接线2201、第三连接垫2111及第四连接垫2112可由同一道导电层形成。

如图1所示，第二外围区域2100上还设置有第六连接线2202，第六连接线2202的两端分别电性连接第七连接垫2121及第八连接垫2122。实际操作中，第六连接线2202、第七连接垫2121及第八连接垫2122可由同一道导电层形成。

实际操作中，由于第一连接垫1311设置于阵列基板1000上，第三连接垫2111设置于彩膜基板2000上，为了实现第一连接垫1311与第三连接垫2111的电性连接，可将两者对应框胶3000进行设置，且框胶3000中含有导电粒子，第一连接垫1311连接于框胶3000的下表面，第三连接垫2111连接于框胶3000的上表面，从而借由具有导电性的框胶3000实现两者的电性连接。类似的，第一梳状电极1312与第四连接垫2112亦对应框胶3000设置，第一梳状电极1312连接于框胶30000的下表面，第四连接垫2112连接于框胶3000的上表面，从而借由框胶3000实现两者的电性连接。第二梳状电极1321与第七连接垫2121的电性连接，以及第六连接垫1323与第八连接垫2122的电性连接的方式与之类似，不另赘述。

请参考图4、图5、图6a及图6b，图4为本发明的显示面板的第二实施例的局部俯视图，图5为本发明的显示面板的第二实施例的剖面示意图，图6a为本发明的第二实施例中阵列基板的局部俯视图，图6b为本发明的第二实施例中彩膜基板的局部俯视图。需要说明的是，为了方便说明，图4及图6b中除了部分边框采用虚线绘示，其他元件均以实线进行绘示，实际上这些元件在俯视显示面板100’是不能直接看到的。

本实施例的显示面板100’包含相对设置的阵列基板1000’及彩膜基板2000’，阵列基板1000’具有第一外围区域1100’。显示面板100’具有显示区，阵列基板1000’包含组成该显示区的部分以及上述第一外围区域1100’，第一外围区域1100’绕设于组成该显示区的部分的外围。第一外围区域1100’包括第一区域1200’及第二区域1300’，其中第一区域1200’位于第二区域1300’的外侧，即第二区域1300’位于上述第一区域1200’与组成该显示区的部分两者之间。第一区域1200’上设置有第一测试垫1201’及第二测试垫1202’。第二区域1300’上设置有第一连接垫1301’，第一测试垫1201’电性连接第一连接垫1301’。

彩膜基板2000’具有第二外围区域2100’，第二外围区域2100’与第二区域2100’重叠。实际操作中，彩膜基板2000’也包含组成该显示区的部分以及上述第二外围区域2100’，第二外围区域2100’绕设于组成该显示区的部分的外围。第二外围区域2100’上设置有第二连接垫2101’，第二测试垫1202’电性连接第二连接垫2101’，第二连接垫2101’与第一连接垫1301’于第一方向f1上部分重叠且相互绝缘。

使用时，测量第一测试垫1201’与第二测试垫1202’之间的电容值，记为第一电容值c1；根据第一电容值c1确定阵列基板1000’与彩膜基板2000’于第一方向f1上的偏移距离。

实际操作中，彩膜基板2000相对于阵列基板1000在第一方向f1上的位置不同时(即对组偏移量不同)，第一连接垫1301’与第二连接垫2101’重叠的面积不同，从而两者之间的电容就会不同，由第一测试点1201’与第二测试垫1202’测得的第一电容值c1就会不同。

如图4及图6a、图6b所示，第一区域1200’上还设置有第三测试垫1203’及第四测试垫1204’，第二区域1300’上设置有第三连接垫1302’，第三连接垫1302’电性连接第三测试垫1203’；第二外围区域2100’上设置有第四连接垫2102’，第四连接垫2012’电性连接第四测试垫1204’，且第四连接垫2102’与第三连接垫1302’于第二方向f2上部分重叠且相互绝缘。

使用时，测量第三测试垫1203’与第四测试垫1204’之间的电容值，记为第二电容值c2；根据第二电容值c2确定阵列基板1000’与彩膜基板2000’于第二方向f2上的偏移距离，以确定显示面板100’的穿透率。

实际操作中，彩膜基板2000相对于阵列基板1000在第二方向f2上的位置不同时(即对组偏移量不同)，第三连接垫1302’与第四连接垫2102’重叠的面积会不同，从而两者之间的电容就会不同，由第三测试点1203’与第二测试垫1204’测得的第二电容值c2就会不同。

与第一实施例类似，可在实际生产前，通过测量一定数量的显示面板样品的第一电容值c1及第二电容值c2，同时通过自动光学检测机台测量出对应样品的彩膜基板2000’与阵列基板1000’之间于第一方向f1上的偏移的距离(即第一方向偏移量)及第二方向f2上偏移的距离(即第二方向偏移量)，然后再测量出对应样品的穿透率，从而建立对应关系的查找表。这样一来，使用者在生产过程中，测得第一电容值c1及第二电容值c2后，可直接查询查找表，来确定当前测试的显示面板100’的穿透率。

同样的，当判定某一显示面板100’的穿透率低于规格范围时，则可针对该显示面板100’在后续与背光模块组装时，特别搭配高亮度的背光模块，以使得最终由该显示面板100’与该高亮度的背光模块组装而成的显示模块的成品亮度在规格范围内。使用者还可根据每一片显示面板100’的穿透率检测结果，在后续与背光模块组装时，搭配与其穿透率匹配的背光模块。

如图4及图6a、图6b所示，第一外围区域1100’上设置有第一连接线1401’及第二连接线1402’，第一连接线1401’的两端分别连接第一测试垫1201’及第一连接垫1301’，第二外围区域2100’上设置有第三连接线2201’，第二连接线1402’的两端分别连接第二测试垫1202’及第三连接线2201’的一端，第三连接线2201’的另一端电性连接第二连接垫2101’。实际操作中，第一连接线1401’、第二连接线1402’与第一测试垫1201’及第二测试垫1202’可由同一道导电层形成。第三连接线2201’可与第二连接垫2101’、第四连接垫2102’由同一导电层形成。

如图4及图6a、图6b所示，第一外围区域1100’上还设置有第四连接线1403’及第五连接线1404’，第四连接线1403’的两端分别连接第三测试垫1203’及第三连接垫1303’，第二外围区域2100’上还设置有第六连接线2202’，第五连接线1404’的两端分别连接第四测试垫1204’及第六连接线2202’的一端，第六连接线2202’的另一端电性连接第四连接垫2102’。实际操作中，第四连接线1403’、第五连接线1404’与第三测试垫1203’及第四测试垫1204’可由同一导电层形成。实际操作中，第一测试垫1201’、第二测试垫1202’、第三测试垫1203’及第四测试垫1204’可由同一导电层形成。第六连接线2202’可与第三连接线2201’由同一导电层形成。

实际操作中，为了实现位于阵列基板1000’上的第二连接线1402’与位于彩膜基板2000’上的第三连接线2201’的电性连接，可将两者对应框胶3000’进行设置，对应此处的框胶3000’内可包含导电粒子(形成类似异方性导电架构)，第二连接线1402’连接于此处框胶3000’的下表面，第三连接线2201’连接于此处框胶3000’的上表面，从而借由局部导电的框胶3000’实现两者的电性连接。第五连接线1404’与第六连接线2202’的电性连接与此类似，不另赘述。

实际操作中，为了实现第一连接垫1301’与第二连接垫2101’的绝缘，(1)若两者对应框胶3000’设置，则此处的框胶3000’内不含导电粒子而呈绝缘状态，且介电系数满足实际需要；(2)若两者的位置与框胶3000’不对应，则可直接借由阵列基板1000’与彩膜基板2000’之间的间隙实现绝缘。当然，亦可在两者之间填充介电系数满足实际需要的其他材质。第三连接垫1302’与第四连接垫2102’的设置与此类似，不另赘述。

此外，本发明还提出一种显示模块(未绘示)，显示模块包含上述显示面板100’及背光模块，显示面板100’组装于背光模块上，显示面板100’的穿透率与背光模块的亮度相匹配，以使得该显示模块的亮度在规格范围内。

本发明的显示面板及显示模块，其于显示面板的外围区域设置检测电路，从而可在显示面板的制程中，测试其他电性特点的同时进行电阻或电容值的检测，从而知晓阵列基板与彩膜基板的对组偏移量，以确定显示面板的穿透率。操作简单方便，且不会占用额外的时间。若判定某一显示面板的穿透率低于规格范围，还可在后续与背光模块的组装中，搭配高亮度的背光模块，使得最终的显示模块成品的亮度在规格范围内，从而提高了最终的显示模块的良品率。

借由以上较佳具体实施例的详述，是希望能更加清楚描述本发明的特征与精神，而并非以上述所揭露的较佳具体实施例来对本发明的保护范围加以限制。相反地，其目的是希望能涵盖各种改变及具相等性的安排于本发明所欲申请的权利要求的保护范围内。因此，本发明的权利要求的保护范围应该根据上述的说明作最宽广的解释，以致使其涵盖所有可能的改变以及具相等性的安排。