一种主动式循环TFT测试架的制作方法

文档序号:15110398发布日期:2018-08-07 13:12阅读:来源:国知局
技术特征:

1.一种主动式循环TFT测试架,包括工作台(1)、测试机构(2)和传输机构(3),其特征在于:所述测试机构(2)包括固定在工作台(1)表面的两条测试轨道(201),且在两条测试轨道(201)上设置有滑动测试台(202),所述测试轨道(201)的正后方安装有固定在工作台(1)表面的测试气缸(203),且测试气缸(203)通过活塞杆(204)与滑动测试台(202)固定连接,所述传输机构(3)包括位于测试轨道(201)正前方且安装在工作台(1)表面的TFT传输带(301),所述TFT传输带(301)的表面设置有若干个均匀分布的TFT固定夹(302)。

2.根据权利要求1所述的一种主动式循环TFT测试架,其特征在于:所述滑动测试台(202)的正前方连接有测试触头(205),且在测试触头(205)的前端连接有测试探针(206)。

3.根据权利要求1所述的一种主动式循环TFT测试架,其特征在于:所述TFT固定夹(302)包括呈倒“匚”形结构的支撑板(303),且在支撑板(303)的内壁底面设置有垂直于支撑板(303)侧壁的调节滑槽(304),所述调节滑槽(304)上设置有两块平行于支撑板(303)侧壁的调节板(305),且调节板(305)均通过调节弹簧(306)与邻近的支撑板(303)侧壁相连。

4.根据权利要求3所述的一种主动式循环TFT测试架,其特征在于:两块所述的调节板(305)的内侧均设置有TFT卡槽(307),且在TFT卡槽(307)的内表面均设置有缓冲垫(308)。

5.根据权利要求2所述的一种主动式循环TFT测试架,其特征在于:所述滑动测试台(202)的侧面固定连接有限位杆(207),且限位杆(207)垂直于TFT传输带(301),所述限位杆(207)的端点到滑动测试台(202)的距离略大于测试探针(206)的端点到滑动测试台(202)的距离。

6.根据权利要求1所述的一种主动式循环TFT测试架,其特征在于:所述滑动测试台(202)的底面两端均设置有倒“T”形结构的滑动凸起(208),所述测试轨道(201)的表面均设置有倒“T”形结构的滑动凹槽(209),且滑动凸起(208)卡在滑动凹槽(209)内。

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