本实用新型涉及适配器技术领域，具体涉及一种易洁型光源适配器转接装置。
背景技术：
光源适配器用于光学器件测试时与测试设备的适配连接，适配器基座固定于测试设备面板上并与光源输出接头连接，测试时适配器与基座连接，待测件通过适配器与光源输出接头连接，连接过程就是将输出接头和待测件的陶瓷插芯通过适配器内部的陶瓷套筒对中装置进行耦合连接，工业生产中生产线上或工程施工过程需要进行大量测试，因此，陶瓷插针耦合面容易磨损，从而影响测试精度。陶瓷插针端面磨损后，现有的方案是将机器打开，取出跳线放到研磨设备上研磨，如果没有研磨设备和能力则只能寄回设备生产厂商进行维修，浪费了大量时间，造成生产线中断。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于克服上述现有技术的不足，提供一种易洁型光源适配器转接装置，通过在光源输出端口和光源适配器之间设置一个转接头，当陶瓷端面磨损时，只需将转接头取下，更换新的转接头即可立即投入使用，从而避免了设备维修导致的生产中断，大大提高了设备的利用率，降低了设备的维护费用。
本实用新型技术方案一种易洁型光源适配器转接装置，包括底座和光源适配器，还包括一转接头，所述转接头包括插芯套、导套和固定套，所述转接头左端设有凸出的插芯套，所述插芯套与固定套通过连接套固定，所述插芯套内部设有陶瓷套筒，所述转接头的右端开设有开口向外的内凹式导套，所述陶瓷套筒中设有陶瓷插针，所述陶瓷插针还通过设在导套内部的插针套固定在导套的凹腔中；
所述底座通过螺丝固定在光源设备面板上，其内端与光源输出连接头连接，其外端与转接头的左端连接，所述转接头的右端与光源适配器连接，所述光源适配器与测试件连接。
作为上述技术方案的进一步描述：
所述插针套的侧面开设有一凹槽，所述导套的侧面开设有一孔洞，定位销与导套上的孔洞紧密配合。
作为上述技术方案的进一步描述：
所述陶瓷插针采用APC陶瓷插针，APC陶瓷插针通过插针套上的凹槽与定位销连接定位，从而定位APC陶瓷插针的8°斜面。
作为上述技术方案的进一步描述：
所述固定套的外部包设有螺套，所述螺套与固定套之间通过紧固圈固定。
作为上述技术方案的进一步描述：
所述底座右端设有一定位槽，所述转接头通过螺套左端的内螺纹及插芯套与底座的定位槽键槽连接实现定位，所述光源适配器左端设有一定位键，所述光源适配器的定位键插设在陶瓷插针与导套形成的空隙中键槽连接实现定位，并通过螺套右端的外螺纹与其固定。
作为上述技术方案的进一步描述：
所述底座、转接头和光源适配器的安装方向始终一致。
与现有技术相比，本实用新型采用一种新型结构将光纤转接机构设计为一个整体独立的装置，使用时转接头与底座连接后固定于光源设备上作为固定装置，光源适配器作为活动件与转接头连接，这样就在底座与光源适配器之间接入了一个可轻松更换的转接头，由于光源适配器外接光纤跳线，需要频繁插拔测试，待测件的插针端面与转接头右端的陶瓷插针端面频繁接触，造成插针端面磨花，光纤插入损耗变大，测试精度变差，无法继续使用。此情况下，只需将转接头取下，更换新的转接头即可立即投入使用，从而避免了设备维修导致的生产中断，大大提高了设备的利用率，降低了设备的维护费用；
此结构同时适用于FC、SC、ST、LC等光源适配器，由于连接和对中耦合装置采用一体化结构且设有定位装置，使更换不同类型的适配器十分方便快捷，同时也能保证测试精度的重复性和一致性。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型中转接头的结构示意图。
图例说明：
1、底座；2、转接头；3、光源适配器；4、插针套；5、连接套；6、陶瓷套筒；7、插芯套；8、螺套；9、定位销；10、导套；11、紧固圈；12、陶瓷插针；13、固定套。
具体实施方式
为便于本领域技术人员理解本实用新型技术方案，现结合说明书附图对本实用新型技术方案做进一步的说明。
如图1-2所示，本实用新型提供的一种易洁型光源适配器转接装置，包括底座1和光源适配器3，还包括一转接头2，所述底座1、转接头2和光源适配器3组成整个光源的输出接口系统，其中，转接头2包括插芯套7、导套10和固定套13，所述转接头2左端设有凸出的插芯套7，所述插芯套7与固定套13通过连接套5固定，所述插芯套7内部设有陶瓷套筒6，所述转接头2的右端开设有开口向外的内凹式导套10，所述陶瓷套筒6中设有陶瓷插针12，其中，陶瓷插针12主要用于实现系统中设备间、设备与仪表间、设备与光纤间以及光纤与光纤间的非永久性两个端面精密地对接起来，使发射光纤输出的光能量最大限度地耦合到接收光纤中，陶瓷套筒6为耦合套筒，起对准的作用，所述陶瓷插针12还通过设在导套10内部的插针套4固定在导套10的凹腔中；
底座1通过螺丝固定在光源设备面板上，其内端与光源输出连接头连接，其外端与转接头2的左端连接，所述转接头2的右端与光源适配器3连接，所述光源适配器3与测试件连接。
本实施例中，所述插针套4的侧面开设有一凹槽，所述导套10的侧面开设有一孔洞，定位销9与导套10上的孔洞紧密配合，其目的在于，用定位销9实现陶瓷插针12的定位。
本实施例中，所述陶瓷插针12采用APC陶瓷插针，APC陶瓷插针通过插针套4上的凹槽与定位销9连接定位，从而定位APC陶瓷插针的8°斜面，采用APC陶瓷插针是因为其端面被磨成一个8度角，可以减少反射，其工业标准的回波损耗为-60dB。
本实施例中，所述固定套13的外部包设有螺套8，所述螺套8与固定套13之间通过紧固圈11固定，设置螺套8可便于连接底座1与光源适配器3。
本实施例中，所述底座1右端设有一定位槽，所述转接头2通过螺套8左端的内螺纹及插芯套7与底座1的定位槽键槽连接实现定位，所述光源适配器3左端设有一定位键，所述光源适配器3的定位键插设在陶瓷插针12与导套10形成的空隙中，键槽连接实现定位，并通过螺套8右端的外螺纹与其固定。
使用方法：
使用时转接头2与底座1连接后固定于光源设备上作为固定装置，光源适配器3作为活动件与转接2适配。由于光源适配器3外接光纤跳线，需要频繁插拔测试，待测件的插针端面与转接头2的右端陶瓷插针12的端面频繁接触，造成陶瓷端面磨花，光纤插入损耗变大，测试精度变差，无法继续使用；此情况下，只需将转接头2取下，更换新的转接头2即可立即投入使用，从而避免了设备维修导致的生产中断，大大提高了设备的利用率，降低了设备的维护费用。
此外，底座1、转接头2和光源适配器3的安装方向始终一致，可以同时适用于FC、SC、ST、LC等适配器，由于连接和对中耦合装置采用一体化结构且设有定位装置，使更换不同类型适配器十分方便快捷，同时也能保证测试精度的重复性和一致性。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，本实用新型的保护范围并不仅局限于上述实施例，凡属于本实用新型思路下的技术方案均属于本实用新型的保护范围。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理前提下的若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。