本发明涉及显示面板领域，尤其涉及一种可预防esd的显示面板。
背景技术：
薄膜晶体管液晶显示器(thin-filmtransistorliquidcrystaldisplay，tft-lcd)是显示器的一种，具有低功耗、薄型化、高解析度等优点。随着科技发展，薄膜晶体管显示器的显示面板的制造技术逐渐成熟，市场上的薄膜晶体管显示面板使用范围也越来越广泛。
然而，在薄膜晶体管显示面板的生产过程中，静电放电(electrostaticdischarge，esd)往往会对薄膜晶体管显示面板内部的线路造成伤害，进而影响薄膜晶体管显示面板的良率，故越来越多业者关注在静电放电的预防。
相关技术的显示面板包括阵列基板、设置于所述阵列基板表面的公共电压总线和阵列基板测试组线，所述公共电压总线用于提供公共电压，所述阵列基板测试组线用于对所述公共电压总线提供公共电压测试信号进行测试，因为所述阵列基板测试组线需要向所述公共电压总线传输测试信号，所以在所述公共电压总线和所述阵列基板测试组线之间采用跨线连接，导致在跨线的部位极易发生esd现象。
因此，有必要提供一种显示面板，以有效预防静电带来的损伤。
技术实现要素：
本发明的目的是克服上述技术问题，提供一种能有效减少esd现象发生的显示面板。
为了实现上述目的，本发明技术提供了一种显示面板，所述具显示区的显示面板包括
阵列基板，所述阵列基板包括功能区和设于所述功能区外侧的测试区；
公共电压总线，所述公共电压总线设置于所述功能区的周缘部分，用于所述向显示区提供公共电压；
阵列基板测试组线，所述阵列基板测试组线设置于所述测试区最靠近所述公共电压总线的区域，所述阵列基板测试组线包括公共电压测试线，用于向所述公共电压总线提供公共电压测试信号进行测试；
连接线，用于连接设置于所述功能区和所述测试区的走线，所述连接线与所述公共电压测试线及所述公共电压总线的至少一部分位于同一金属层。
优选的，在所述阵列基板测试组线中，所述公共电压测试线位于所述阵列基板测试组线的外侧且最靠近所述公共电压总线设置。
优选的，所述公共电压总线和所述公共电压测试线均为双层走线结构，所述双层走线结构分别位于第一金属层和第二金属层上，所述连接线为位于第一金属层上的单层走线结构，所述连接线的两端分别与所述公共电压总线和所述公共电压测试线中位于第一金属层的走线部分直接连接。
优选的，所述公共电压总线和所述公共电压测试线均为双层走线结构，所述双层走线分别位于第一金属层和第二金属层上，所述连接线为位于第二金属层上的单层走线结构，所述连接线的两端分别与所述公共电压总线和所述公共电压测试线中位于第二金属层的走线部分直接连接。
优选的，所述公共电压总线、所述公共电压测试线和所述连接线均为双层走线结构，所述双层走线分别位于第一金属层和第二金属层上，所述连接线在所述第一金属层和所述第二金属层上均与所述公共电压总线和所述公共电压测试线直接连接。
优选的，在显示面板的第一金属层和第二金属层上，所述公共电压测试线与所述公共电压总线均相邻设置。
优选的，在显示面板的第一金属层上，所述公共电压测试线与所述公共电压总线相邻设置，所述连接线的两端分别与所述公共电压总线和所述公共电压测试线直接连接。
优选的，在显示面板的第二金属层上，所述公共电压测试线与所述公共电压总线相邻设置，所述连接线的两端分别与所述公共电压总线和所述公共电压测试线直接连接。
与相关技术相比，本发明提供的显示面板通过用所述连接线连接所述公共电压总线和所述公共电压测试线，将测试信号由所述阵列基板测试组线向所述公共电压总线传递，因所述连接线仅连接所述公共电压总线和所述公共电压测试线，且所述公共电压总线和所述公共电压测试线之间在对应的金属层上不设置其他走线，避免了跨线结构的设置，从而减小了esd现象发生的可能性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：
图1为本发明提供的显示面板的结构示意图；
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1，本实施例提供的显示面板100包括阵列基板11、设置于所述阵列基板11上的公共电压总线13、阵列基板测试组线15以及连接线17。
所述阵列基板11包括显示区(图未示)和非显示区113，所述显示区用于发光成像，所述非显示区113用于收容所述阵列基板11的走线。
所述非显示区113包括功能区1131以及设置于所述功能区1131外侧的测试区1133。
所述公共电压总线13设置于所述功能区1131的周缘部分，用于向所述显示区提供公共电压。
所述阵列基板测试组线15设置于所述测试区1133最靠近所述公共电压总线13的区域，所述阵列基板测试组线15包括公共电压测试线151，用于对所述公共电压总线13提供公共电压测试信号，并对所述公共电压总线13进行测试，所述阵列基板测试组线15通过设置连接所述阵列基板测试组线15与所述公共电压总线13之间的连接线19向所述公共电压总线13传递信息。
需要说明的是，所述公共电压总线13和所述阵列基板测试组线15均为设于面板之上的导电线路，所述公共电压总线13为多条相同的走线并排设置形成，所述阵列基板测试组线15为多条相同的走线与所述公共电压测试线151并排设置形成。
优选的，为了进一步减少esd现象发生的可能性，在所述阵列基板测试组线15中，将所述公共电压测试线151设置于所述阵列基板测试组线15的外侧且最靠近所述公共电压总线13的位置。
所述连接线17用于连接设置于所述功能区1131和所述测试区1133的走线。
具体的，所述连接线17用于连接所述公共电压测试线151及所述公共电压总线13，且所述连接线17与所述公共电压测试线151及所述公共电压总线13的至少一部分位于同一金属层。
在走线的设计中，为了降低走线的阻抗，可以将所述公共电压总线13、所述阵列基板测试组线15及所述连接线17设计为双层走线结构，也就是说，所述公共电压总线13、所述阵列基板测试组线15及所述连接线17均包括两层，即第一金属层和第二金属层。综上，所述因为所述公共电压总线13和所述公共电压测试线151均为双层走线结构，所述双层走线结构分别位于第一金属层和第二金属层上，对应的，依据所述连接线17的设置方案不同，在本实施例中，有如下三种连接方案：
方案一：所述连接线17为位于第一金属层上的单层走线结构，所述公共电压测试线151与所述公共电压总线13相邻设置，所述连接线17的两端分别与所述公共电压总线13和所述公共电压测试线151中位于第一金属层的走线部分直接连接；
方案二：所述连接线17为位于第二金属层上的单层走线结构，所述公共电压测试线151与所述公共电压总线13相邻设置，所述连接线17的两端分别与所述公共电压总线13和所述公共电压测试线151中位于第二金属层的走线部分直接连接；
方案三：所述双层走线分别位于第一金属层和第二金属层上，所述连接线17在所述第一金属层和所述第二金属层上均与所述公共电压总线13和所述公共电压测试线151直接连接。所述公共电压测试线151与所述公共电压总线13相邻设置。
当然，在其他实施例中，所述公共电压总线13和/或所述公共电压测试线151采用单层走线结构，依据所述连接线17的设置方案不同，有如下两种连接方案：
方案四：所述公共电压总线13和/或所述公共电压测试线151仅包括第一金属层，在所述显示面板100的第一金属层上，所述公共电压测试线151与所述公共电压总线13相邻设置，且所述连接线的两端分别与所述公共电压总线13和所述公共电压测试线151直接连接。
方案五：所述公共电压总线13和/或所述公共电压测试线151仅包括第二金属层，在所述显示面板100的第二金属层上，所述公共电压测试线151与所述公共电压总线13相邻设置，且所述连接线的两端分别与所述公共电压总线13和所述公共电压测试线151直接连接。
需要说明的是，在所述显示面板100的第一金属层和第二金属层上，所述公共电压测试线151与所述公共电压总线13均是相邻设置。
与相关技术相比，本发明提供的显示面板100通过用所述连接线17连接所述公共电压总线13和所述公共电压测试线151，将测试信号由所述阵列基板测试组线15向所述公共电压总线13传递，因所述连接线17仅连接所述公共电压总线13和所述公共电压测试线151，且所述公共电压总线13和所述公共电压测试线151之间在对应的金属层上不设置其他走线，避免了跨线结构的设置，从而减小了esd现象发生的可能性。
以上所述的仅是本发明的实施方式，在此应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明创造构思的前提下，还可以做出改进，但这些均属于本发明的保护范围。