像差测量装置及方法与流程

文档序号:19416905发布日期:2019-12-14 01:00阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种像差测量装置,其特征在于,包括:沿空间由上至下顺次分布的对准照明单元、掩模标记单元、待测投影物镜单元以及掩模对准单元,所述掩模对准单元包括至少两个相同的x向和/或y向探测器,两个相同的x向和/或y向探测器之间的间距为第一间距。

2.如权利要求1所述的像差测量装置,其特征在于,所述掩模标记单元包括至少两个x向和/或y向标记,所述两个x向和/或y向标记之间的间距为第二间距。

3.如权利要求1所述的像差测量装置,其特征在于,所述第一间距与所述第二间距的数值比例为m,m为待测投影物镜单元的物镜倍率。

4.如权利要求1所述的像差测量装置,其特征在于,所述掩模标记单元中的标记与所述掩模对准单元中的探测器的尺寸比例为m,m为待测投影物镜单元的物镜倍率。

5.一种像差测量的方法,采用如权利要求1至4中任一项所述的像差测量装置,其特征在于,包括如下步骤:

s1:掩模标记单元移动至待测投影物镜单元的视场中心位置;

s2:掩模对准单元测量掩模标记单元的预定向上所有标记在预定向位置和z向位置,并计算预定向上相邻两个标记的预定向位置差值和z向位置差值,所述预定向为x向和/或y向;

s3:根据预定向上所有相邻两个标记的预定向位置差值和z向位置差值得到物镜视场预定向v线条或h线条的畸变和场曲。

6.如权利要求5所述的像差测量的方法,其特征在于,所述预定向为x向时,所述掩模对准单元包括两个相同的x向探测器,两个相同的x向探测器同时测量所述测量掩模标记单元的预定向上的标记的x向位置和z向位置。

7.如权利要求5所述的像差测量的方法,其特征在于,所述预定向为y向时,所述掩模对准单元包括两个相同的y向探测器,两个相同的y向探测器同时测量所述测量掩模标记单元的预定向上的标记的y向位置和z向位置。

8.如权利要求5所述的像差测量的方法,其特征在于,s3中,根据预定向上所有相邻两个标记的预定向位置差值和z向位置差值得到物镜视场预定向v线条的畸变过程如下:

基于预定向各个相邻两个标记的预定向位置差值计算对应相邻两个标记的物镜视场预定向的畸变,根据预定向所有相邻两个标记的物镜视场预定向的畸变获得物镜视场预定向v线条畸变。

9.如权利要求8所述的像差测量的方法,其特征在于,所述预定向为x向时,所述基于预定向各个相邻两个标记的预定向位置差值计算对应相邻两个标记的物镜视场预定向的畸变的公式如下:

dt0=0;

dt1=dt0+x1;

dt2=dt1+x2;

dtn=dt(n-1)+xn;

其中,dt0为x向畸变初始值,dt1为x向第一个相邻两个标记的畸变,dt2为x向第二个相邻两个标记的畸变,dtn为x向第n个相邻两个标记的畸变,n为大于2的正整数;x1为第一标记和第二标记的x向位置差值,x2为第二标记和第三标记的x向位置差值,xn为第n标记和第(n+1)标记的x向位置差值。

10.如权利要求8所述的像差测量的方法,其特征在于,所述根据x向所有标记的物镜视场x向的畸变获得物镜视场x向v线条畸变的过程为:

将x向所有相邻两个标记的畸变数组化,并去除一阶量。

11.如权利要求5所述的像差测量的方法,其特征在于,s3中,根据预定向上所有相邻两个标记的预定向位置差值和z向位置差值得到物镜视场预定向v线条的场曲过程如下:

基于预定向各个相邻两个标记的z向位置差值计算对应相邻两个标记的物镜视场预定向的场曲,根据预定向所有相邻两个标记的物镜视场预定向的场曲获得物镜视场预定向v线条场曲。

12.如权利要求11所述的像差测量的方法,其特征在于,所述预定向为x向时,所述基于预定向各个相邻两个标记的z向位置差值计算对应相邻两个标记的物镜视场预定向的场曲的公式如下:

fc0=0;

fc1=fc0+z1;

fc2=fc1+z2;

fcn=fc(n-1)+zn;

其中,fc0为x向场曲初始值,fc1为x向第一个相邻两个标记的场曲,fc2为x向第二个相邻两个标记的场曲,fcn为x向第n个相邻两个标记的场曲,n为大于2的正整数;z1为第一标记和第二标记的z向位置差值,z2为第二标记和第三标记的z向位置差值,zn为第n标记和第(n+1)标记的z向位置差值。

13.如权利要求11所述的像差测量的方法,其特征在于,所述根据x向所有标记的物镜视场x向的场曲获得物镜视场x向v线条场曲的过程为:

将x向所有相邻两个标记的场曲数组化,并去除一阶量。


技术总结
本发明提供了一种像差测量装置及方法,所述像差测量的方法包括:掩模标记单元移动至待测投影物镜单元的视场中心位置;掩模对准单元测量掩模标记单元的预定向上所有标记在预定向位置和Z向位置,并计算预定向上相邻两个标记的预定向位置差值和Z向位置差值,所述预定向为X向和/或Y向;根据预定向上所有相邻两个标记的预定向位置差值和Z向位置差值得到物镜视场预定向V线条或H线条的畸变和场曲。测量时两个相同的预定向探测器同时对标记进行测量,计算时基于预定向上相邻两个标记的预定向位置差值和Z向位置差值,因此本测量不受工件台漂移和工件台运动误差的影响,从而大幅度提高物镜低阶像差的测量精度。

技术研发人员:韩春燕;单世宝
受保护的技术使用者:上海微电子装备(集团)股份有限公司
技术研发日:2018.06.05
技术公布日:2019.12.13
当前第2页1 2 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1