液晶玻璃屏表面灰尘与内部异物区分的成像机构的制作方法

本实用新型涉及一种液晶屏检测领域，特别是涉及一种液晶玻璃屏表面灰尘与内部异物区分的成像机构。

背景技术：

随着液晶屏技术的发展，cell玻璃越来越薄，分辨率越来越高，表面灰尘与玻璃内部异物越来越难以区分。

目前，现有技术中已经可以实现对各阶段自动点灯的质量检测，但是，现有技术中的自动检测装置无法实现cell玻璃内部与表面灰尘的区分，由于LCD/OLED玻璃较薄，相应的产品缺陷就会更靠近产品上表面或者下表面；由于普通的光源穿透率和扩散性都比较强，如果使用普通的光源进行打光，光线穿透玻璃，就会出现玻璃内部异物在光源打亮的同时被拍出，无法与表面灰尘区分。

如图1所示，为一种液晶玻璃屏20的结构示意图，液晶玻璃屏20的内部会存在异物颗粒22，同时，其两侧表面也会存在灰尘颗粒21，在检测过程中，实际需要对表面的灰尘颗粒21进行检测即可，内部异物图像采用其他工艺和装置进行采集，然而，现有的表面成像装置，在采集分析所需要的图像时，容易发生同时采集到内部异物和表面灰尘共存的问题，不利于对内部异物和表面灰尘进行区分对。

技术实现要素：

本实用新型的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种液晶玻璃屏表面灰尘与内部异物区分的成像机构，以解决现有技术中自动检测设备将液晶玻璃屏内的异物误判为表面灰尘的问题。

本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的：

一种液晶玻璃屏表面灰尘与内部异物区分的成像机构包括定位治具、光源模组及成像相机；

所述定位治具上设置有定位区，所述定位区用于对液晶玻璃屏进行定位，所述定位治具位于所述定位区的两侧分别设置有过光区；

所述光源模组包括上平行光源组件及下平行光源组件，所述上平行光源组件包括两个上平行光源，两个所述上平行光源分别位于定位区的两侧的斜上方，且两个所述上平行光源分别用于向两个所述过光区发出上平行光；所述下平行光源组件包括两个下平行光源，两个所述下平行光源分别位于定位区的两侧的斜下方，且两个所述下平行光源分别用于向两个所述过光区发出下平行光；

所述成像相机用于朝向液晶玻璃屏设置。

在其中一个实施例中，所述定位区上开设有容置槽，所述容置槽相对的两内侧壁分别开设有定位槽，两个所述定位槽分别用于放置液晶玻璃屏相对的两侧边。

在其中一个实施例中，所述容置槽的两侧分别开设有缺口，两个所述缺口分别形成两个所述过光区，容置槽底部与液晶玻璃屏之间设置有间隙。

在其中一个实施例中，所述成像相机用于朝向液晶玻璃屏远离所述容置槽的底部的一侧面的正上方设置。

在其中一个实施例中，所述定位槽的宽度略大于液晶玻璃屏的宽度，所述定位槽的长度略大于液晶玻璃屏的长度。

在其中一个实施例中，两个所述上平行光源以所述液晶玻璃屏的中心轴线呈轴对称分布。

在其中一个实施例中，两个所述下平行光源以所述液晶玻璃屏的中心轴线呈轴对称分布。

在其中一个实施例中，所述上平行光源包括壳体、灯珠及电路板，所述电路板设置于所述壳体内，所述灯珠与所述电路板电连接，所述灯珠用于向所述过光区发出下平行光。

在其中一个实施例中，所述上平行光源与所述下平行光源贴合。

在其中一个实施例中，所述液晶玻璃屏表面灰尘与内部异物区分的成像机构还包括操作平台，所述操作平台用于放置所述定位治具。

与现有技术相比，本实用新型至少具有以下优点：

上述液晶玻璃屏表面灰尘与内部异物区分的成像机构通过设置定位治具、光源模组及成像相机。光源模组发射的平行光线经过放置在定位治具上的液晶玻璃屏表面，当平行光线遇到附着在液晶玻璃屏表面的灰尘会发生反射，从而被成像相机检测出来，同时避免了光源模组发射出的光线照射到液晶玻璃屏内部的异物上，有效地避免了将液晶玻璃屏内部的异物误判为液晶玻璃屏表面灰尘的现象。

附图说明

图1为本实用新型一实施方式中待检测的液晶玻璃屏的示意图；

图2为本实用新型一实施方式中液晶玻璃屏表面灰尘与内部异物区分的成像机构的结构示意图。

图3为本实用新型一实施方式中的定位治具的结构示意图。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳实施方式。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本实用新型的公开内容理解的更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

如图1所示，其为一种液晶玻璃屏20的结构示意图，液晶玻璃屏20的内部会存在异物颗粒22，同时，其两侧表面也会存在灰尘颗粒21，本实用新型公开的液晶玻璃屏表面灰尘与内部异物区分的成像机构10用于检测液晶玻璃屏20表面的灰尘颗粒21，因此，采集得到的图像，必须要排除异物颗粒22，只需要保存液晶玻璃屏20上下表面的灰尘颗粒21，以确保后续对图像检测后的精确性。

请一并参阅图1-3，一种液晶玻璃屏表面灰尘与内部异物区分的成像机构10包括定位治具100、光源模组200及成像相机300，定位治具100用于放置液晶玻璃屏20，光源模组200及成像相机300分别朝向定位治具100上的液晶玻璃屏20设置。

请一并参阅图1-3，定位治具100上设置有定位区110，定位区110用于对液晶玻璃屏20进行定位，即用于放置液晶玻璃屏20，定位治具位于定位区110的两侧分别设置有过光区120，过光区120用于供光源模组200发出的光线穿过，以顺利地照射至放置在定位区110上的液晶玻璃屏20。

请一并参阅图1-3，光源模组200包括上平行光源组件210及下平行光源组件220，上平行光源组件210包括两个上平行光源211，两个上平行光源211分别位于定位区110的两侧的斜上方，且两个上平行光源211分别用于向两个过光区120发出上平行光；上平行光源用于照射在液晶玻璃屏20的上表面上。下平行光源组件220包括两个下平行光源221，两个下平行光源221分别位于定位区110的两侧的斜下方，且两个下平行光源221分别用于向两个过光区120发出下平行光，下平行光源用于照射在液晶玻璃屏20的下表面上。

请一并参阅图1-3，成像相机300用于朝向液晶玻璃屏20设置，成像相机300用于拍摄被上下平行光源照射后的液晶玻璃屏20，用于获得待检测需要的图像。

下面将对液晶玻璃屏表面灰尘与内部异物区分的成像机构10的具体工作原理进行介绍：

将待检测的液晶玻璃屏20放置在定位治具的定位区110上，定位区110对待检测的液晶玻璃屏20进行定位，以保证待检测的液晶玻璃屏20的表面与定位治具的表面平行，亦即，使得光源模组200所发射出的光束不会穿透待检测的液晶玻璃屏20。由此提高对待检测的液晶玻璃屏20的检测的精度。

将待检测的液晶玻璃屏20放置在定位治具的定位区110上后，光源模组200开始运作。首先，上平行光源组件210上的两个上平行光源211启动，两个上平行光源211分别向两个过光区120发射出上平行光源，上平行光源的传递方向与待检测的液晶玻璃屏20的上表面平行，以及两个上平行光源211所发射出的光线均与液晶玻璃屏20的上表面平行。需要说明的是上平行光源211所发射出的光线不穿透液晶玻璃屏20但又贴近液晶玻璃屏20的上表面，如此，若液晶玻璃屏20的上表面附着有灰尘颗粒21，部分上平行光源会照射到灰尘颗粒21并发生反射，由此将液晶玻璃屏20的上表面的灰尘颗粒21点亮，此时成像相机300进行图像采集操作，即可拍出位于液晶玻璃屏20的上表面的灰尘颗粒21；即上表面的灰尘颗粒21会反射上平行光源，从而能够将上表面的灰尘颗粒21留在拍摄得到图像中，同理，下表面的灰尘也是采用上述原理。然后，下平行光源组件220下的两个下平行光源221启动，两个下平行光源221分别向两个过光区120发射出下平行光源，下平行光源的传递方向与待检测的液晶玻璃屏20的下表面平行，以及两个下平行光源221所发射出的光线均与液晶玻璃屏20的下表面平行。需要说明的是下平行光源221所发射出的光线不穿透液晶玻璃屏20但又贴近液晶玻璃屏20的下表面，如此，若液晶玻璃屏20的下表面附着有灰尘颗粒21，部分下平行光源会照射到灰尘颗粒21并发生反射，由此将液晶玻璃屏20的下表面的灰尘颗粒21点亮，此时成像相机300进行图像采集操作，即可拍出位于液晶玻璃屏20的下表面的灰尘颗粒21。

还需要特别指出的是，由于上下平行光源能够照射的区域为液晶玻璃屏20的上下表面，能够使得上下表面的灰尘分别被“点亮”，但是，不会穿透至液晶玻璃屏20的内部，内部异物则不会被“点亮”，因此，留在采集后的图像中的目标只会存在上下表面的灰尘，而不会存在内部异物，从而能够解决现有技术中自动检测设备将液晶玻璃屏的内部异物误判为表面灰尘的问题。

经过上述操作能够检测到液晶玻璃屏20表面的灰尘颗粒21，并且能够分辨灰尘颗粒21在液晶玻璃屏20的具体位置。进一步的，采用平行光源进行检测能够防止在对液晶玻璃屏20进行打光时，光线穿透液晶玻璃屏20将位于液晶玻璃屏20内部的异物颗粒22点亮，位于液晶玻璃屏20内部的异物颗粒22显示在成像相机300所采集的图像中，将位于液晶玻璃屏20内部的异物颗粒22误判为灰尘颗粒21的情况。

进一步的，为了保证光源模组200所发射出来的平行光线与穿透液晶玻璃屏20平行，以提高检测精度，定位区110上开设有容置槽，容置槽相对的两内侧壁分别开设有定位槽，两个定位槽分别用于放置液晶玻璃屏20相对的两侧边，定位槽的宽度略大于液晶玻璃屏20的宽度，所述定位槽的长度略大于液晶玻璃屏20的长度，以便于将液晶玻璃屏20放入定位槽中。如此，将透液晶玻璃屏20放置在定位槽，以防止在进行检测时透液晶玻璃屏20因外部影响而发生滑动，影响检测效果。进一步的，容置槽的两侧分别开设有缺口，两个缺口分别形成两个过光区120，容置槽底部与液晶玻璃屏20之间设置有间隙。下平行光源组件220所发射出来的下平行光源由间隙经过液晶玻璃屏20的下表面，对液晶玻璃屏20的下表面进行打光操作。成像相机300用于朝向液晶玻璃屏20远离容置槽的底部的一侧面的正上方设置，由此使得成像相机300能够采集到清晰的液晶玻璃屏20的图像，提高成像相机300采集得到的图像的品质。

在一实施例中，两个上平行光源211以液晶玻璃屏20的中心轴线呈轴对称分布，两个下平行光源221以液晶玻璃屏20的中心轴线呈轴对称分布，上平行光源211包括壳体、灯珠及电路板，电路板设置于壳体内，灯珠与电路板电连接，灯珠用于向过光区120发出下平行光。通过两个对称分布的两个上平行光源211，在成像相机300对液晶玻璃屏20的上表面进行图像采集操作时提供更加稳定、充足的光照，使得成像相机300采集得到的液晶玻璃屏20的上表面的图像更加清晰直观。同理，两个下平行光源221以液晶玻璃屏20采用上述设置方式，能够得到更加清晰直观的液晶玻璃屏20的下表面的图像，由此提高液晶玻璃屏20表面灰尘颗粒的检测精度。

在一实施例中，上平行光源211与下平行光源221贴合。在防止光源模组200发射出的上平行光线穿透液晶玻璃屏20点亮液晶玻璃屏20的内部存在异物颗粒22，造成误判的同时，能够保证上平行光源211与下平行光源221所发射出的上平行光及下平行光能够更加接近液晶玻璃屏的表面，以确保不会漏检附着在液晶玻璃屏20表面的灰尘颗粒21。

在一实施例中，液晶玻璃屏表面灰尘与内部异物区分的成像机构还包括操作平台，操作平台用于放置定位治具。由此提高液晶玻璃屏表面灰尘与内部异物区分的成像机构的结构稳定性，防止外部震动干扰检测操作。

与现有技术相比，本实用新型至少具有以下优点：

上述液晶玻璃屏表面灰尘与内部异物区分的成像机构通过设置定位治具、光源模组200及成像相机300。光源模组200发射的平行光线经过放置在定位治具上的液晶玻璃屏20表面，当平行光线遇到附着在液晶玻璃屏20表面的灰尘会发生反射，从而被成像相机300检测出来，同时避免了光源模组200发射出的光线照射到液晶玻璃屏20内部的异物上，有效地避免了将液晶玻璃屏20内部的异物误判为液晶玻璃屏20表面灰尘的现象。

以上实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。