技术特征：
技术总结
本发明公开了一种受激发射损耗显微镜的成像系统，包括损耗光单元、激发光单元、成像单元与计数器单元，损耗光单元产生环形损耗光并控制环形损耗光的光强和偏振，激发光单元被损耗光单元触发后发出高斯型激发光，高斯型激发光经过第三格兰棱镜分为第一高斯型激发光与第二高斯型激发光，环形损耗光与第一高斯型激发光重叠后输入成像单元，成像单元对样品进行扫描成像并收集荧光信号。第二高斯型激发光作为参考信号，与荧光信号一并进入计数器单元，用于荧光强度成像和荧光寿命成像。当施加较低的环形损耗光能量时，样品的荧光寿命随着激光照射时间而增加，增加的荧光寿命降低了荧光样品的饱和强度，进而可以实现成像分辨率的进一步提高。
技术研发人员：严伟;屈军乐;王璐玮;叶彤
受保护的技术使用者：深圳大学
技术研发日：2019.01.04
技术公布日：2019.04.16