1.一种太阳能电池板硅基片表面检测用光学系统，其特征在于，包括：沿着光线入射方向依次设有三片球面镜和两片微透镜，球面镜分别包括第一球面镜、第二球面镜和第三球面镜，第一球面镜的出光面与第二球面镜的入光面为边缘接触式连接，第二球面镜的出光面与第三球面镜的入光面之间设有间距，微透镜包括第一微透镜和第二微透镜，第一微透镜和第二微透镜的相对镜面的y轴方向均设有球面阵列结构。
2.根据权利要求1所述的太阳能电池板硅基片表面检测用光学系统，其特征在于，第一球面镜的入光面和出光面的曲率半径为27.92±0.01mm，第二球面镜的入光面的曲率半径为136.02±0.01mm，第二球面镜的出光面的曲率半径为28.348±0.01mm，第三球面镜的入光面的曲率半径为81.8±0.01mm，第三球面镜的出光面的曲率半径为59.7±0.01mm。
3.根据权利要求1所述的太阳能电池板硅基片表面检测用光学系统，其特征在于，光源到第一球面镜的入光面中心的间距为32.29±0.1mm，第二球面镜的出光面中心与第三球面镜的入光面中心之间的间距为4.62±0.1mm，第三球面镜的出光面中心与第一微透镜中心之间的间距为12.32±0.1mm。
4.根据权利要求1所述的太阳能电池板硅基片表面检测用光学系统，其特征在于，第一球面镜的中心厚度为8±0.1mm,边缘厚度为7.5±0.1mm，第二球面镜的中心厚度为5±0.1mm，边缘厚度为2.6±0.1mm，第三球面镜的中心厚度为8±0.1，边缘厚度为5.7±0.1mm。
5.根据权利要求1所述的太阳能电池板硅基片表面检测用光学系统，其特征在于，第一球面镜、第二球面镜和第三球面镜的轴向长度为180~200mm。
6.根据权利要求1所述的太阳能电池板硅基片表面检测用光学系统，其特征在于，第一微透镜的入光面为平面结构，出光面的y轴方向为球面阵列结构，第二微透镜的入光面的y轴方向为球面阵列结构，出光面为平面结构；所述阵列球面的曲率半径为1.1±0.01mm。
7.根据权利要求1所述的太阳能电池板硅基片表面检测用光学系统，其特征在于，第一微透镜的中心与第二微透镜的中心之间间距为6.23±0.1mm。
8.根据权利要求1所述的太阳能电池板硅基片表面检测用光学系统，其特征在于，第一微透镜和第二微透镜的中心厚度为2±0.1mm，高度为25±1mm，轴向长度为180~200mm，第一微透镜的轴向与光线入射方向垂直。
9.根据权利要求1所述的太阳能电池板硅基片表面检测用光学系统，其特征在于，光线光源由半导体多模激光器发出，发散角na＝0.22；波长=808nm；光纤纤径=200μm，连接方式sma905。