显示装置用基板及其显示装置的制作方法

本公开涉及显示
技术领域：
，尤其涉及一种显示装置用基板及其显示装置。
背景技术：
：随着显示技术的飞速发展，显示装置已经逐渐遍及在人们的生活中。目前，在显示装置的制作过程中，需要进行高温高湿信赖性测试。然而，相关技术中的显示装置在高温高湿信赖性测试后，经常会出现黑屏的问题，显示装置的不良率较高。技术实现要素：本公开提供一种显示装置用基板及其显示装置，以降低显示装置的不良率。一方面，提供一种显示装置用基板。所述显示装置用基板包括衬底、多个绑定引脚、多个测试电极、多个第一导电图案和至少一个第二导电图案。所述多个绑定引脚设于所述衬底上；所述多个绑定引脚包括多个第一引脚和至少一个第二引脚，所述多个第一引脚包括相邻设置的第一目标引脚和第二目标引脚，所述第一目标引脚被配置为传输第一电压信号，所述第二目标引脚被配置为传输第二电压信号，所述第一电压信号和所述第二电压信号之间具有压差；所述第二引脚被配置为，浮空状态。所述多个测试电极设于所述衬底上；每个测试电极对应一个绑定引脚，且所述测试电极与对应的绑定引脚之间具有间隙。至少一个第一导电图案覆盖所述第一目标引脚及与所述第一目标引脚对应的测试电极，或覆盖所述第二目标引脚及与所述第二目标引脚对应的测试电极。所述第二导电图案至少覆盖所述第二引脚的部分，且与所述第二引脚对应的测试电极之间具有间隙。在一些实施例中，所述第一目标引脚被配置为传输电源电压信号，所述第二目标引脚被配置为传输参考电压信号。在一些实施例中，相邻设置的第一目标引脚及对应的测试电极，和第二目标引脚及对应的测试电极，均被所述第一导电图案覆盖。在一些实施例中，所述多个第一引脚中除所述第一目标引脚和所述第二目标引脚以外的其他引脚，及对应的测试电极，均被所述第一导电图案覆盖。在一些实施例中，所述多个绑定引脚沿第一方向排成一行，所述多个测试电极沿所述第一方向排成一行；每个所述绑定引脚与其对应的测试电极沿第二方向排成一列，所述第二方向与所述第一方向大致垂直。在一些实施例中，所述至少一个第二引脚设置于所述多个第一引脚沿所述第一方向相对两侧中的至少一侧。在一些实施例中，所述显示装置用基板包括多个第二引脚，所述多个第二引脚对称设置于所述多个第一引脚的沿所述第一方向的相对两侧。在一些实施例中，沿所述第二方向，所述绑定引脚与其对应的测试电极之间的间隙的长度为1.5μm～2.5μm。在一些实施例中，所述第二引脚靠近所述测试电极的一侧未被所述第二导电图案覆盖。本公开提供的显示装置用基板，所包括的第一目标引脚及与第一目标引脚对应的测试电极、第二目标引脚及与第二目标引脚对应的测试电极中，至少一个被第一导电图案覆盖。在这种情况下，在高温高压信赖性测试中，第一目标引脚和第二目标引脚中的被第一导电图案覆盖的目标引脚无法与外界的有机物和水氧接触，即被第一导电图案覆盖的目标引脚不会向周围腐蚀扩散，可以降低相邻的两个目标引脚之间出现微短路的风险，降低显示装置的不良率。此外，第二导电图案至少覆盖第二引脚的部分，可以减少第二引脚向周围的腐蚀扩散，并且第二导电图案与第二引脚对应的测试电极之间具有间隙，这样，在绑定工艺过程中，通过间隙能够准确的识别绑定压头的压合位置，避免绑定压头压到测试电极，进而导致测试电极下方的功能电路损坏。又一方面，提供一种显示装置。该显示装置包括上述任一实施例所述的显示装置用基板和驱动集成电路，所述驱动集成电路与所述显示装置用基板的多个绑定引脚和多个测试电极电连接。与现有技术相比，本公开实施例提供的显示装置的有益效果与上述任一实施例提供的显示装置用基板的有益效果相同，在此不做赘述。附图说明为了更清楚地说明本公开中的技术方案，下面将对本公开一些实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例的附图，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。此外，以下描述中的附图可以视作示意图，并非对本公开实施例所涉及的产品的实际尺寸、方法的实际流程、信号的实际时序等的限制。图1为根据一些实施例的显示装置的结构图；图2为根据一些实施例的显示装置的基本结构的示意图；图3为根据一些实施例的显示装置的爆炸图；图4为图1所示的显示面板为电致发光显示面板时i-i＇处的一种剖视图；图5为图1所示的显示装置的显示面板为液晶显示面板时i-i＇处的一种剖视图；图6为根据一些实施例的一种显示装置用基板的结构图；图7为相关技术中的一种显示装置用基板的绑定引脚与测试电极处的局部放大图；图8为相关技术中的另一种显示装置用基板的绑定引脚与测试电极处的局部放大图；图9为根据一些实施例的一种显示装置用基板的绑定引脚与测试电极处的局部放大图；图10为根据一些实施例的另一种显示装置用基板的绑定引脚与测试电极处的局部放大图；图11为根据一些实施例的再一种显示装置用基板的绑定引脚与测试电极处的局部放大图；图12为相关技术中的绑定引脚与测试电极的目标区域进行esd分析的结果图；图13为根据一些实施例的绑定引脚与测试电极的目标区域进行esd分析的结果图；图14a为图11所示的显示装置用基板m-m＇处的一种剖视图；图14b为图11所示的显示装置用基板n-n＇处的一种剖视图。具体实施方式下面将结合附图，对本公开一些实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本公开所提供的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。除非上下文另有要求，否则，在整个说明书和权利要求书中，术语“包括(comprise)”及其其他形式例如第三人称单数形式“包括(comprises)”和现在分词形式“包括(comprising)”被解释为开放、包含的意思，即为“包含，但不限于”。在说明书的描述中，术语“一个实施例(oneembodiment)”、“一些实施例(someembodiments)”、“示例性实施例(exemplaryembodiments)”、“示例(example)”、“特定示例(specificexample)”或“一些示例(someexamples)”等旨在表明与该实施例或示例相关的特定特征、结构、材料或特性包括在本公开的至少一个实施例或示例中。上述术语的示意性表示不一定是指同一实施例或示例。此外，所述的特定特征、结构、材料或特点可以以任何适当方式包括在任何一个或多个实施例或示例中。以下，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本公开实施例的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。在描述一些实施例时，可能使用了“连接”和“电连接”及其衍伸的表达。例如，描述一些实施例时可能使用了术语“连接”以表明两个或两个以上部件彼此间有直接物理接触或电接触。又如，描述一些实施例时可能使用了术语“电连接”以表明两个或两个以上部件有直接电接触。然而，术语“电连接”也可能指两个或两个以上部件彼此间并无直接接触，但仍彼此协作或相互作用。这里所公开的实施例并不必然限制于本文内容。本文中“适用于”或“被配置为”的使用意味着开放和包容性的语言，其不排除适用于或被配置为执行额外任务或步骤的设备。另外，“基于”的使用意味着开放和包容性，因为“基于”一个或多个所述条件或值的过程、步骤、计算或其他动作在实践中可以基于额外条件或超出所述的值。如本文所使用的那样，“约”、“大致”或“近似”包括所阐述的值以及处于特定值的可接受偏差范围内的平均值，其中所述可接受偏差范围如由本领域普通技术人员考虑到正在讨论的测量以及与特定量的测量相关的误差(即，测量系统的局限性)所确定。本文参照作为理想化示例性附图的剖视图和/或平面图描述了示例性实施方式。在附图中，为了清楚，放大了层和区域的厚度。因此，可设想到由于例如制造技术和/或公差引起的相对于附图的形状的变动。因此，示例性实施方式不应解释为局限于本文示出的区域的形状，而是包括因例如制造而引起的形状偏差。例如，示为矩形的蚀刻区域通常将具有弯曲的特征。因此，附图中所示的区域本质上是示意性的，且它们的形状并非旨在示出设备的区域的实际形状，并且并非旨在限制示例性实施方式的范围。如图1所示，本公开的一些实施例提供一种显示装置100，该显示装置100可以为电视、手机、电脑、笔记本电脑、平板电脑、个人数字助理(personaldigitalassistant，简称pda)、车载电脑等。其中，显示装置100可以为液晶显示装置(liquidcrystaldisplay，简称lcd)；显示装置100也可以为电致发光显示装置或光致发光显示装置。在显示装置100为电致发光显示装置的情况下，电致发光显示装置可以为有机电致发光显示装置(organiclight-emittingdiode，简称oled)或量子点电致发光显示装置(quantumdotlightemittingdiodes，简称qled)。在显示装置100为光致发光显示装置的情况下，光致发光显示装置可以为量子点光致发光显示装置。如图2所示，显示装置100包括显示面板1、框架2、盖板3以及电路板4等其它电子配件。在显示装置100为液晶显示装置的情况下，显示装置100还包括背光组件，背光组件被配置为向显示面板1提供显示画面所需要的光线。附图2中未示意出背光组件。其中，框架2的纵截面呈u型，盖板3设置于框架2的开口侧，显示面板1、电路板4以及其它电子配件均设置于框架2内，电路板4与显示面板1绑定连接。在一些实施例中，如图3所示，显示面板1具有显示区aa和位于显示区aa至少一侧的周边区bb，附图3以周边区bb包围显示区aa为例进行示意。此处，显示区aa为显示图像的区域，显示区aa被配置为设置亚像素p。周边区bb为不显示图像的区域，周边区bb可以被配置为布置显示画面所需要的各种信号线；周边区bb也可以被配置为布置向显示区aa的亚像素p输出扫描信号的栅极驱动电路、以及向显示区aa的亚像素p输出数据信号的源极驱动电路等。在一些实施例中，显示面板1为电致发光显示面板，如图4所示，电致发光显示面板包括显示基板11以及用于封装显示基板11的封装层12。此处，封装层12可以为封装薄膜，也可以为封装基板。如图4所示，上述的显示基板11的每个亚像素均包括设置于第一衬底sub1上的发光器件和像素驱动电路，像素驱动电路包括多个薄膜晶体管111。薄膜晶体管111包括有源层、源极、漏极、栅极及栅绝缘层，源极和漏极分别与有源层接触。发光器件包括阳极112、发光功能层113以及阴极114，阳极112和多个薄膜晶体管111中作为驱动晶体管的薄膜晶体管111的源极或漏极电连接，图4中以阳极112和薄膜晶体管111的漏极电连接进行示意。显示基板11还包括像素界定层115，像素界定层115包括多个开口区，一个发光器件设置于一个开口区中。在一些实施例中，发光功能层113仅包括发光层。在另一些实施例中，发光功能层113除包括发光层外，还包括电子传输层(electiontransportinglayer，简称etl)、电子注入层(electioninjectionlayer，简称eil)、空穴传输层(holetransportinglayer，简称htl)和空穴注入层(holeinjectionlayer，简称hil)中的至少一个。在一些实施例中，如图4所示，显示基板11还包括设置于薄膜晶体管111和阳极112之间的平坦层116。在一些实施例中，如图4所示，显示基板11还包括第一保护层117，第一保护层117设置于阴极114背离第一衬底sub1的一侧。在一些实施例中，显示面板1为液晶显示面板，如图5所示，液晶显示面板包括相对设置的阵列基板13和对盒基板14、以及设置于阵列基板13和对盒基板14之间的液晶层15。阵列基板13的每个亚像素均包括位于第一衬底sub1上的薄膜晶体管111和像素电极131。像素电极131与薄膜晶体管111的源极或漏极电连接，图5中以像素电极131和薄膜晶体管111的漏极电连接进行示意。在一些实施例中，如图5所示，阵列基板13还包括公共电极132，公共电极132设置于第一衬底sub1上。示例性地，像素电极131和公共电极132可以设置于同一层，在此情况下，像素电极131和公共电极132均为包括多个条状子电极的梳齿结构。示例性地，像素电极131和公共电极132也可以设置于不同层，在此情况下，如图5所示，像素电极131和公共电极132之间设置有第一绝缘层133。此外，在公共电极132设置于薄膜晶体管111和像素电极131之间的情况下，如图5所示，公共电极132与薄膜晶体管111之间设置有第二绝缘层134。在另一些实施例中，对盒基板14包括第二衬底sub2和公共电极132，公共电极132设置于第二衬底sub2上。如图5所示，液晶显示面板还包括彩色滤光层cf和黑矩阵图案bm。其中，彩色滤光层cf至少包括设置于红色亚像素中的红色光阻单元、设置于绿色亚像素中的绿色光阻单元以及设置于蓝色亚像素中的蓝色光阻单元。黑矩阵图案bm被配置为将从不同亚像素发出的光间隔开，并且具有减少外界环境光进入液晶显示面板内部后产生反射光线的作用。如图5所示，液晶显示面板还包括设置于对盒基板14远离液晶层15一侧的上偏光片16，以及设置于阵列基板13远离液晶层15一侧的下偏光片17。本公开的一些实施例提供了一种显示装置用基板1000，该显示装置用基板1000可以应用于上述任一实施例所述的显示装置100中。在显示装置100为液晶显示装置的情况下，参阅图5，本公开实施例提供的显示装置用基板1000可以为液晶显示面板；也可以为液晶显示面板中的阵列基板13。在显示装置100为电致发光显示装置的情况下，参阅图4，本公开实施例提供的显示装置用基板1000可以是电致发光显示面板；也可以是电致发光显示面板中显示基板11。可以理解的是，参阅图3和图6，显示装置用基板1000具有显示区aa和位于显示区aa至少一侧的周边区bb，周边区bb包括绑定区cc，绑定区cc设置有多个绑定引脚1100，电路板4与显示装置用基板1000通过多个绑定引脚1100绑定连接。可以理解的是，在制作完成显示装置用基板1000中的的源极和漏极之后，需要对显示装置用基板1000中的各电路进行检查，以确定显示装置用基板1000中的各电路是否有短路或断路的问题。基于此，在一些实施例中，如图6所示，显示用基板1000还包括设置于绑定区cc的多个测试电极1200，每个测试电极1200与一个绑定引脚1100电连接。这样，可以利用测试设备通过测试电极1200输入像素驱动信号、goa驱动信号等一系列的驱动信号，以向显示区aa的亚像素p输出扫描信号和发光信号。鉴于测试电极1200仅用于对各电路进行检查，无需进行绑定工艺，故测试电极1200的下方可以布置功能电路的连接走线和功能电路。但是，绑定引脚1100由于后续要进行绑定工艺，绑定引脚1100的下方不能设置功能电路及连接走线，防止功能电路被压伤。基于此，在一些实施例中，上述测试电极1200靠近衬底sub(即为上述第一衬底sub1)的一侧设置有功能电路，该功能电路可以为源极驱动电路1500(参见图14a和图14b)，这样利于显示装置100的窄边框设计。在一些相关技术中，参阅图7和图8，测试电极1200和绑定引脚1100之间留下明显的断差，该断差的长度d1约为2μm；绑定引脚1100上设有导电图案1300＇，导电图案1300＇覆盖在绑定引脚1100上，使得绑定引脚1100仅靠近测试电极1200的一侧裸露。然而，相关技术中的显示装置100在高温高湿信赖性测试后，经常会出现黑屏的问题。此时，对多个测试电极1200和多个绑定引脚1100处进行静电放电(electrostaticdischarge，简称esd)分析，发现相关技术中的多个绑定引脚1100中所包括avee引脚与其对应的测试电极1200、以及verf1引脚与其对应的测试电极1200之间的十字交叉处(参见图12中的方框处)，出现了活泼性元素铝(分析结果参见表1)，使得avee引脚和verf1引脚出现微短路，导致verf1引脚的电压拉出预设的范围以外，从而造成显示装置100的黑屏。其中，avee引脚被配置为，向驱动集成电路(integratedcircuit，简称ic)传输电源电压，verf1引脚被配置为，向驱动ic传输参考电压，并且avee引脚avee和verf1引脚相邻设置。表1元素线类型表观浓度k比值wt％wt％sifma标准样品标签ck线系111.351.1135479.930.66cvitok线系23.760.079957.290.3sio2alk线系1.980.014220.890.18al2o3sik线系8.20.064943.970.29sio2clk线系13.710.119857.920.6nacl其中，每个元素都有最能代表自己的特征位置，k线系指的是，每个元素对应的特征位置；表观浓度指的是，被测样品中目标元素与标准样品中目标元素的强度比；k比值指的是，k线的线性能量；wt％指的是，元素的质量百分含量；wt％sifma指的是，元素的质量百分含量的偏差；标准样品标签指的是，是根据测试的结果，对比国家标准化组织提供的物质，得出的此元素应该属于什么物质；cvit是指含碳的元素。基于此，本公开的一些实施例提供了一种显示装置用基板1000，如图6、图9和图10所示，该显示装置用基板1000包括衬底sub、多个绑定引脚1100、多个测试电极1200、多个第一导电图案1300和至少一个第二导电图案1400。其中，无论该显示装置用基板1000用于液晶显示装置还是电致发光显示装置，该衬底sub均为上述第一衬底sub1。如图6和图9所示，多个绑定引脚1100设于衬底sub上，多个绑定引脚1100包括多个第一引脚1110和至少一个第二引脚1120，多个第一引脚1110包括相邻设置的第一目标引脚1111和第二目标引脚1112，第一目标引脚1111被配置为，传输第一电压信号；第二目标引脚1112被配置为，传输第二电压信号；第一电压信号和第二电压信号之间具有压差；第二引脚1120被配置为，浮空状态，即第二引脚1120不与任何电路连接。请继续参阅图6和图9，多个测试电极1200设于衬底sub上，每个测试电极1200对应一个绑定引脚1100，且测试电极1200与对应的绑定引脚1100之间具有间隙。此处，每个测试电极1200对应一个绑定引脚1100指的是，该测试电极1200与其对应的绑定引脚1100被配置为，传输相同的信号。例如，与第一目标引脚1111对应的测试电极1200，同样被配置为传输第一电压信号；与第二目标引脚1112对应的测试电极1200，同样被配置为传输第二电压信号；与第二引脚1120对应的测试电极1200，同样被配置为，浮空状态，即与第二引脚1120对应的测试电极1200不与任何电路连接。如图9和图10所示，至少一个第一导电图案1300覆盖第一目标引脚1111及与第一目标引脚1111对应的测试电极1200，或覆盖第二目标引脚1112及与第二目标引脚1112对应的测试电极1200。请继续参阅图9和图10，第二导电图案1400至少覆盖第二引脚1120的部分，且与第二引脚1120对应的测试电极1200之间具有间隙。由上述可知，本公开的一些实施例提供的显示装置用基板1000，所包括的第一目标引脚1111及与第一目标引脚1111对应的测试电极1200、和第二目标引脚1112及与第二目标引脚1112对应的测试电极1200中，至少一个被第一导电图案1300覆盖。在这种情况下，在高温高压信赖性测试中，第一目标引脚1111和第二目标引脚1112中被第一导电图案1300覆盖的目标引脚无法与外界的有机物和水氧接触，即被第一导电图案1300覆盖的目标引脚不会向周围腐蚀扩散，可以降低相邻的两个目标引脚之间出现微短路的风险，降低显示装置100的不良率。此外，第二导电图案1400至少覆盖第二引脚1120的部分，可以减少第二引脚1120向周围的腐蚀扩散，并且第二导电图案1400与第二引脚1120对应的测试电极1200之间具有间隙，这样，在绑定工艺过程中，通过间隙能够准确的识别绑定压头的压合位置，避免绑定压头压到测试电极1200，进而导致测试电极1200下方的功能电路损坏。此处，为了保证多个绑定引脚1100与电路板4能够形成可靠的绑定，且保证良好的导电效果，在一些实施例中，绑定引脚1100和测试电极1200的材料均采用活泼性较高的金属材料，例如铝。此处，为了保证第一导电图案1300和第二导电图案1400的导电性，并降低第一导电图案1300和第二导电图案1400上的原子扩散的风险，在一些实施例中，第一导电图案1300和第二导电图案1400的材料采用活泼性较低的金属，例如，铟锡氧化物(indiumtinoxides，简称ito)。图14a为图11所示的显示装置用基板m-m＇处的一种剖视图，图14b为图11所示的显示装置用基板n-n＇处的一种剖视图。在一些实施例中，参阅图14a和图14b，显示装置用基板1000还包括功能电路、第一绝缘层1600和第二绝缘层1700。这里，功能电路可以为源极驱动电路1500。示例性地，功能电路设置在衬底sub上，第一绝缘层1600设置在功能电路背离衬底sub的一侧，第一绝缘层1600预留有绑定引脚1100的设置位；第一绝缘层1700设置在第一绝缘层1600背离衬底sub的一侧，预留有测试电极1200的设置位、以及绑定引脚1100的设置位，绑定引脚1100与测试电极1200对应设置在预留的设置位内。此处，绑定引脚1100可以在制作完功能电路及各个绝缘层后单独制作，当然还可以与显示装置用基板1000中的其他金属层同层同材料制作，例如与源极或漏极同层同材料制作，本公开对此不做限定。在一些实施例中，参阅图9和图10，第一目标引脚1111被配置为传输电源电压信号，第二目标引脚1112被配置为传输参考电压信号。这样的话，第一目标引脚1111及与第一目标引脚1111对应的测试电极1200、和第二目标引脚1112及与第二目标引脚1112对应的测试电极1200中的至少一个被第一导电图案1300覆盖。示例性地，第一目标引脚1111及与第一目标引脚1111对应的测试电极1200被第一导电图案1300覆盖。此时，第一目标引脚1111及与第一目标引脚1111对应的测试电极1200无法与外界的有机物和水氧接触，第一目标引脚1111及与第一目标引脚1111对应的测试电极1200上的铝原子不能向周围腐蚀扩散；同时，第一导电图案1300的材料采用铟锡氧化物，铟锡氧化物的活泼性较低，第一导电图案1300的铟锡氧化物几乎不会向周围腐蚀扩散或扩散很小，故可以降低第一目标引脚1111和第二目标引脚1112出现微短路的风险，降低显示装置100在高温高湿信赖性测试后出现黑屏的风险。在一些实施例中，如图9和图10所示，相邻设置的第一目标引脚1111及对应的测试电极1200，和第二目标引脚1112及对应的测试电极1200，均被第一导电图案1300覆盖。此时，第一目标引脚1111及与第一目标引脚111对应的测试电极1200被一个第一导电图案1300覆盖，第二目标引脚1112及与第二目标引脚1112对应的测试电极1200被另一个第一导电图案1300覆盖。这样的话，第一目标引脚1111及与第一目标引脚1111对应的测试电极1200上的铝原子不能向周围腐蚀扩散；第二目标引脚1112及与第二目标引脚1112对应的测试电极1200上的铝原子不能向周围腐蚀扩散；同时，第一导电图案1300的材料采用铟锡氧化物，铟锡氧化物的活泼性较低，第一导电图案1300的铟锡氧化物几乎不会向周围腐蚀扩散或扩散很小，故可以进一步地降低第一目标引脚1111和第二目标引脚1112出现微短路的风险，降低显示装置100的不良率。在一些实施例中，多个第一引脚1110中除第一目标引脚1111和第二目标引脚1112以外的其他引脚，及对应的测试电极1200，均被第一导电图案1300覆盖。也就是说，每个第一引脚1110及与第一引脚1110对应的测试电极1200均被一个第一导电图案1300覆盖。此时，多个第一引脚1110中任意相邻的两个第一引脚1110与第一引脚1110对应的测试电极1200上的铝原子不能向周围腐蚀扩散，并且第一导电图案1300的铟锡氧化物几乎不会向周围腐蚀扩散或扩散很小，因此，故可以降低任意相邻的两个第一引脚1110之间出现微短路的风险，降低显示装置100的不良率。在一些实施例中，如图6和图9所示，多个绑定引脚1100沿第一方向x排成一行，多个测试电极1200沿第一方向x排成一行；每个绑定引脚1100与其对应的测试电极1200沿第二方向y排成一列，第二方向y与第一方向x大致垂直。此处，对于第一方向x的方向不作具体限定。示例性地，第一方向x与显示装置用基板1000靠近电路板4的边界近似平行。在此基础上，沿第二方向y，绑定引脚1100与其对应的测试电极1200之间的间隙的长度d2为1.5μm～2.5μm；示例性地，绑定引脚1100与其对应的测试电极1200之间的间隙的长度d2为1.5μm、2μm和2.5μm中的任一种。这样，可以减小绑定引脚1100和测试电极1200整体在衬底sub上的空间占用，利于显示装置用基板1000的窄边框设计。此外，显示装置用基板1000可以利用现有的制程设置绑定引脚1100与测试电极1200，便于生产制造。在一些实施例中，如图9和图10所示，第二引脚1120靠近测试电极1200的一侧未被第二导电图案1400覆盖，即第二引脚1120靠近测试电极1200的一侧裸露。这样的话，在第二导电图案1400采用溅射工艺制作的过程中，所使用的掩膜版能够完全覆盖测试电极1200以及测试电极1200与绑定引脚1100之间的间隙，避免制作第二导电图案1400的材料溅射到测试电极1200与绑定引脚1100之间的间隙内，保证后续的绑定工艺中能够准确的识别绑定压头的压合位置。此处，除了第二引脚1120靠近测试电极1200的一侧未被第二导电图案1400覆盖，第二引脚1120的其它侧均被第二导电图案1400覆盖。在一些实施例中，如图10和图11所示，至少一个第二引脚1120设置于多个第一引脚1110沿第一方向x相对两侧中的至少一侧。这样的话，多个第一引脚1110集中分布，多个第二引脚1120集中分布，降低工艺难度，便于生产制造。在一些实施例中，如图10和图11所示，显示装置用基板1000包括多个第二引脚1120，多个第二引脚1120对称设置于多个第一引脚1110的沿第一方向x的相对两侧。在这种情况下，在后续的绑定工艺中，识别绑定压头的压合位置的参考区域(第二引脚1120与对应的测试电极1200之间的间隙)位于多个第一引脚1110的沿第一方向x的相对两侧，这样能够提高识别绑定压头的压合位置的准确度。示例性地，如图11所示，显示装置用基板1000包括4个第二引脚1120，每两个第二引脚1120分别对称设置于多个第一引脚1110的沿第一方向x的相对两侧。每侧通过两个第二引脚1120与对应的测试电极1200之间的间隙识别绑定压头的压合位置，可以降低识别误差的风险，提升识别的准确度；此外，对称设置的第二引脚1120的工艺一致，利于后续的阻抗的监控。此时，对第一目标引脚1111及与第一目标引脚1111对应的测试电极1200、和第二目标引脚1112与第二目标引脚1112对应的测试电极1200之间的十字交叉处(参阅图13中的方框处)进行esd分析，分析结果参见表2，该十字交叉处不存在铝原子，第一目标引脚1111与第二目标引脚1112之间不会产生微短路。其中，第一目标引脚1111被配置为传输电源电压信号，第二目标引脚1112被配置为传输参考电压信号。表2元素线类型表观浓度k比值wt％wt％sifma标准样品标签ck线系134.321.343281.880.53cvitok线系39.840.1340612.110.34sio2sik线系70.055483.450.27sio2clk线系4.350.038042.560.41nacl其中，每个元素都有最能代表自己的特征位置，k线系指的是，每个元素对应的特征位置；表观浓度指的是，被测样品中目标元素与标准样品中目标元素的强度比；k比值指的是，k线的线性能量；wt％指的是，元素的质量百分含量；wt％sifma指的是，元素的质量百分含量的偏差；标准样品标签指的是，是根据测试的结果，对比国家标准化组织提供的物质，得出的此元素应该属于什么物质；cvit是指含碳的元素。本公开的一些实施例提供了一种显示装置100，参阅图1、图3和图6，该显示装置100包括上述任一实施例的显示装置用基板1000和驱动集成电路，驱动集成电路与显示装置用基板100的多个绑定引脚1100和多个测试电极1200电连接。与现有技术相比，本公开实施例提供的显示装置100的有益效果与上述任一实施例提供的显示装置用基板1000的有益效果相同，在此不做赘述。以上所述，仅为本公开的具体实施方式，但本公开的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
技术领域：
的技术人员在本公开揭露的技术范围内，想到变化或替换，都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此，本公开的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。当前第1页12