技术特征：
1.一种阵列基板，其特征在于，包括显示区域，所述显示区域至少包括：构成多个触控行和多个触控列的多个触控电极，以及构成多个像素行和多个像素列的多个像素单元，所述触控单元在所述阵列基板上的正投影与多个像素单元在所述阵列基板上的正投影至少部分交叠，所述像素单元包括多个子像素；至少一个相邻的像素列之间设置有触控引线组，所述触控引线组至少包括并列设置的第一引线和第二引线，所述第一引线与一个触控行中的一个触控电极连接，所述第二引线与相邻触控行中的另一个触控电极连接。2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，至少一个触控列包括沿着所述像素列方向依次设置的n个触控电极，所述触控列在所述阵列基板上的正投影与n/2个像素列在所述阵列基板上的正投影至少部分交叠，位于第i像素列和第i+1像素列之间的第一引线与第2i-1触控行中的触控电极连接，位于第i像素列和第i+1像素列之间的第二引线与第2i触控行中的触控电极连接，n为大于1的偶数，i为大于或等于1、小于或等于n/2的正整数。3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，至少一个像素单元包括沿着所述像素行方向依次设置的第一子像素、第二子像素和第三子像素，所述子像素包括栅线、数据线、薄膜晶体管和像素电极，所述薄膜晶体管分别与所述栅线、数据线和像素电极连接，所述触控电极复用为公共电极，所述第一引线和第二引线复用为公共电极线；所述第一引线设置在所述第三子像素远离所述第一子像素的一侧，所述第二引线设置在所述第一引线远离所述第一子像素的一侧。4.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，至少一个像素行中，所述第一引线上设置有第一连接块，所述第一连接块通过第一过孔与一个触控电极连接。5.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，至少一个像素行中，所述第一引线至少包括第一直线段、第二直线段以及位于所述第一直线段和第二直线段之间的弯折段，所述弯折段的第一端与所述第一直线段连接，所述弯折段的第二端与所述第二直线段连接，所述弯折段的中部向着远离所述第二引线的方向凸起，所述第一连接块设置在所述弯折段弯折形成的区域内。6.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，所述第一连接块在所述阵列基板上的正投影与所述栅线在所述阵列基板上的正投影至少部分交叠。7.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，所述第一过孔在所述阵列基板上的正投影与所述栅线在所述阵列基板上的正投影至少部分交叠。8.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，至少一个像素行中，所述第二引线上设置有第二连接块，所述第二连接块通过第二过孔与另一个触控电极连接。9.根据权利要求8所述的阵列基板，其特征在于，至少一个像素行中，所述第一引线至少包括第一直线段、第二直线段以及位于所述第一直线段和第二直线段之间的弯折段，所述弯折段的第一端与所述第一直线段连接，所述弯折段的第二端与所述第二直线段连接，所述弯折段的中部向着远离所述第二引线的方向凸起，所述第二连接块设置在所述弯折段弯折形成的区域内。10.根据权利要求8所述的阵列基板，其特征在于，所述第二连接块在所述阵列基板上的正投影与所述栅线在所述阵列基板上的正投影至少部分交叠。11.根据权利要求8所述的阵列基板，其特征在于，所述第二过孔在所述阵列基板上的正投影与所述栅线在所述阵列基板上的正投影至少部分交叠。
12.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，至少一个像素单元中，所述触控电极包括电极部和连接部，所述电极部设置在所述像素单元内，所述连接部设置在相邻的像素单元之间，且与相邻的像素单元内的电极部连接。13.根据权利要求12所述的阵列基板，其特征在于，至少一个像素单元中，所述电极部在所述阵列基板上的正投影与所述栅线在所述阵列基板上的正投影没有交叠，所述电极部在所述阵列基板上的正投影与所述第一引线在所述阵列基板上的正投影没有交叠，所述电极部在所述阵列基板上的正投影与所述第二引线在所述阵列基板上的正投影没有交叠。14.根据权利要求12所述的阵列基板，其特征在于，至少一个像素单元中，所述连接部在所述阵列基板上的正投影与所述栅线在所述阵列基板上的正投影至少部分交叠，所述连接部在所述阵列基板上的正投影与所述第一引线在所述阵列基板上的正投影至少部分交叠，所述连接部在所述阵列基板上的正投影与所述第二引线在所述阵列基板上的正投影至少部分交叠。15.根据权利要求12所述的阵列基板，其特征在于，至少一个像素单元中，至少一个连接部通过第一过孔所述第一引线连接，或者，至少一个连接部通过第二过孔与所述第二引线连接。16.根据权利要求1至15任一项所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括位于所述显示区域一侧的绑定区域以及位于所述显示区域远离所述绑定区域一侧的上边框区；所述绑定区域至少包括多个引脚，所述上边框区至少包括测试电路，所述测试电路通过多条连接线与所述绑定区域的多个引脚对应连接，所述测试电路被配置为对所述阵列基板的短路不良进行检测。17.根据权利要求16所述的阵列基板，其特征在于，所述测试电路包括多个测试单元，多个测试单元与多个触控列的位置相对应；至少一个测试单元包括第一测试线、第二测试线、开关控制线、第一开关和第二开关；所述第一测试线通过所述第一开关与所述显示区域中的第一引线连接，所述第二测试线通过所述第二开关与所述显示区域中的第二引线连接，所述开关控制线与所述第一开关和第二开关的控制端连接；所述第一测试线被配置为在所述开关控制线的控制下向所述第一引线传输第一灰阶电压，所述第二测试线被配置为在所述开关控制线的控制下向所述第二引线传输第二灰阶电压；所述第一灰阶电压的电压值大于所述第二灰阶电压的电压值，或者，所述第一灰阶电压的电压值小于所述第二灰阶电压的电压值。18.根据权利要求17所述的阵列基板，其特征在于，所述测试单元还包括第一数据引线、第二数据引线、第三数据引线、第三开关、第四开关和第五开关，所述第一数据引线通过所述第三开关与所述显示区域中第一子像素的数据线连接，所述第二数据引线通过所述第四开关与所述显示区域中第二子像素的数据线连接，所述第三数据引线通过所述第五开关与所述显示区域中第三子像素的数据线连接，所述开关控制线与所述第三开关、第四开关和第五开关的控制端连接；所述第一数据引线、第二数据引线和第三数据引线被配置为在所述开关控制线的控制下向所述显示区域的数据线传输公共基准电压。19.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1至18任一项所述的阵列基板。20.一种采用如权利要求1至18任一项所述阵列基板的阵列基板的检测方法，其特征在于，包括：
向显示区域中的多条栅线提供开启电压，使得显示区域中多个子像素的薄膜晶体管导通；向所述显示区域中的多条数据线提供公共基准电压，使得所述显示区域中多个子像素的像素电极具有公共基准电压；向所述显示区域中的第一引线提供第一灰阶电压，使得显示区域中与所述第一引线连接的多个触控电极具有第一灰阶电压；向所述显示区域中的第二引线提供第二灰阶电压，使得显示区域中与所述第二引线连接的多个触控电极具有第二灰阶电压；所述第一灰阶电压的电压值大于所述第二灰阶电压的电压值，或者，所述第一灰阶电压的电压值小于所述第二灰阶电压的电压值。21.根据权利要求20所述的检测方法，其特征在于，当所述阵列基板上无短路不良时，一个触控行中的触控电极显示第一灰阶，相邻触控行中的触控电极显示第二灰阶，显示区域呈现纵向亮暗相间的显示画面；当所述阵列基板上有短路不良时，一个触控行中的至少一个触控电极与相邻触控行中的至少一个触控电极显示相同的灰阶。
技术总结
本公开提供一种阵列基板及其检测方法、显示装置。阵列基板构成多个触控行和多个触控列的多个触控电极，以及构成多个像素行和多个像素列的多个像素单元，所述触控单元在所述阵列基板上的正投影与多个像素单元在所述阵列基板上的正投影至少部分交叠，所述像素单元包括多个子像素；至少一个相邻的像素列之间设置有触控引线组，所述触控引线组至少包括并列设置的第一引线和第二引线，所述第一引线与一个触控行中的一个触控电极连接，所述第二引线与相邻触控行中的另一个触控电极连接。本公开通过在相邻的像素单元之间设置触控引线组，减小了引线数量，增加了子像素的空间，提高了像素开口率，有利于显示装置分辨率的提高。有利于显示装置分辨率的提高。有利于显示装置分辨率的提高。
技术研发人员：王栋 李红敏 唐锋景
受保护的技术使用者：京东方科技集团股份有限公司
技术研发日：2022.08.31
技术公布日：2023/3/3