一种精密光学器件抛光用阻尼布及其制备方法与流程

文档序号:15639444发布日期:2018-10-12 21:53阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
本发明提供一种精密光学器件抛光用阻尼布的及其制备方法,涉及抛光技术领域,包括从上到下依次设置的阻尼布基材层、热熔胶层和固定磨料层,所述阻尼布基材层的厚度为0.2‑0.4mm,所述热熔胶层的厚度为0.02‑0.04mm,所述固定磨料层的厚度为0.2‑0.4mm;所述阻尼布基材层由内胶层、织物增强层和外胶层组成,所述织物增强层由聚酯纤维编织形成,所述内胶层和外胶层是涂覆在织物增强层上的聚氨酯;所述固定磨料层由以下重量百分数的原料组成:亚微米氧化铈50‑70%、氧化锆2‑5%、氧化铬5‑10%、稀土10‑15%、二氧化硅5‑10%、余量为钴,本发明不仅清理效率高,而且不容易对精密光学器件表面造成划伤,使用寿命长。

技术研发人员:李加海;谭鸿;梁则兵
受保护的技术使用者:安徽禾臣新材料有限公司
技术研发日:2018.04.24
技术公布日:2018.10.12
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