专利名称：物品分类装置及其运转方法
技术领域：
本发明涉及物品分类装置及其运转方法，特别是涉及适合LED元件这样的电子零件分类的物品分类装置及其运转方法。
背景技术：
自以往，即已知如专利文献I所示的电子零件分类装置。专利文献I所记载的电子零件分类装置中，通过喷嘴11的吹送将由分度盘2的吸附嘴8吸附而运送至排出位置的电子零件W，投入到分配装置4的投入管12，利用摆动管13的摆动，经由所需的分配构件14的分配口 14A将所投入的电子零件W分配至收纳箱15。此电子零件的分类装置中有下列问题。即，在排出位置将由吸附嘴8吸附的电子零件W排出时，利用喷嘴11沿水平方向吹送电子零件W，而且，投入管12使得电子零件W的·前进方向朝铅直下方弯曲，所以，若由陶瓷等较脆材质构成的电子零件W有破裂的危险。而且，为了利用喷嘴11进行吹送，需要电磁阀的开/关动作，所以排出时间延长了相当于电磁阀动作延迟(time lag)的时间。在此，若使电子零件W自然落下，将其投入上下延伸的直线状投入管，则发生如上所述的工件缺陷的可能性会降低，并且，也可以实现排出时间的缩短。作为如此经由排出孔自然落下式的分类装置，已知专利文献2所示的电子零件分类装置。但是，如此的电子零件分类装置是利用检查装置检查电子零件的光学特性或电气特性，根据此特性进行分类。因此，在电子零件分类装置的工作开始时、或者检查的电子零件的生产批次或品种变更时等情况下，为了调整该检查装置，需进行测试运转。此测试运转重复检查预先检查过电子零件特性的上述检查装置的校正用基准芯片，根据其检查结果调整检查装置。如此的测试运转通常是一天进行大约数次。然而，专利文献2所示的电子零件分类装置具有排出孔，所以无法为了测试运转进行连续的循环运送。该情况下，每当进行一日数次的测试运转时，操作员即会重复将已经通过检查装置且分配至特定分类容器的基准芯片再次向装置供给的作业，测试运转用的作业变得烦杂。曾有人考虑下列方法在专利文献I所示的电子零件分类装置中进行用于调整检查装置的测试运转时，在排出位置保持吸附嘴8的吸引的状态下，不进行喷嘴11的吹送，由此在分度盘2上连续循环运送电子零件W，以重复使其通过检查装置。然而，此时在测试运转结束后的排出之际，也无法避免检查装置的校正用基准芯片破裂的危险。此外，在背景技术中使用的附图标记是在专利文献I中使用的附图标记。在先技术文献专利文献I :日本特许第4474612号特许公报专利文献2 :日本特许第2814525号特许公报
发明内容
为解决上述问题点，本发明的目的在于提供一种物品分类装置及其运转方法，在分类运转时使分类对象物品在运送机构的排出位置自然落下至位于下方的分配机构，或在测试运转结束时使基准物品在运送机构的排出位置自然落下至位于下方的分配机构，降低作为工件的这些物品发生缺陷的可能性，并在测试运转时可以连续循环运送基准物品，可利用检查装置重复检查相同的基准物品。为解决上述课题，第I发明在物品分类装置中采用以下结构。第1，该物品分类装置包括运送机构，具备旋转体和固定体，该旋转体在外周设有分别收纳物品的多个收纳部，该固定体从下方支持 由该旋转体的各收纳部收纳的物品，并且，该运送机构具有使物品从设于该固定体的排出部落下并排出的排出位置；检查机构，沿该运送机构的运送路径设置，检查物品的特性；多个分类容器，设于该排出部的下方；以及分配机构，设于该排出部的下方，将被排出的物品根据该物品的特性分类至所需的分类容器。第2，设置排出部关闭机构，其设于该固定体的排出部，在开放时使物品落下，在关闭时阻止物品落下而使其通过该排出部。第3，在将由该运送机构所运送的物品分类至所需的分类容器的分类运转中，开放该排出部关闭机构而使物品落下。第4，在由该运送机构循环运送物品的测试运转中，关闭该排出部关闭机构以阻止物品落下，由此继续进行利用该运送机构的物品的运送。第2发明是在第I发明中附加了以下结构的物品分类装置。第I，对该运送机构供给物品的供给路径为I个。第2，在该分类运转中，从该供给路径自动供给物品。第3，在该测试运转中，停止自该供给路径的物品的自动供给物品，并且手动供给基准物品。第3发明是在第I发明中附加了以下结构的物品分类装置。第I，对该运送机构供给物品的供给路径为2个。第2，在该分类运转中，从第I供给路径自动供给物品的同时，关闭第2供给路径。第3，在该测试运转中，从第2供给路径自动供给基准物品的同时，关闭第I供给路径。第4发明在物品分类装置的运转方法中采用下列构成。第1，该物品分类装置包括运送机构，具备旋转体和固定体，该旋转体在外周设有分别收纳物品的多个收纳部，该固定体从下方支持由该旋转体的各收纳部收纳的物品，并且，该运送机构具有使物品从设于该固定体的排出部落下并排出的排出位置；检查机构，沿该运送机构的运送路径设置，检查物品的特性；多个分类容器，设于该排出部的下方；以及分配机构，设于该排出部的下方，将被排出的物品根据该物品的特性分类至所需的分类容器。第2，设置排出部关闭机构，其设于该固定体的排出部，在开放时使物品落下，在关闭时阻止物品落下而使其通过该排出部。第3，在将由该运送机构所运送的物品分类至所需的分类容器的分类运转中，开放该排出部关闭机构而使物品落下。
第4，在由该运送机构循环运送物品的测试运转中，关闭该排出部关闭机构以阻止物品落下，由此继续进行利用该运送机构的物品的运送。第5发明是在第4发明中附加了以下构成的物品分类装置的运转方法。第I，对该运送机构供给物品的供给路径为I个。第2，在该分类运转中，从该供给路径自动供给物品。第3，在该测试运转中，停止自该供给路径的物品的自动供给的同时，手动供给基准物品。第6发明是在第4发明中附加了以下构成的物品分类装置的运转方法。第I，对该运送机构供给物品的供给路径为2个。 第2，在该分类运转中，从第I供给路径自动供给物品的同时，关闭第2供给路径。第3，在该测试运转中，从第2供给路径自动供给基准物品的同时，关闭第I供给路径。发明效果第I发明及第4发明是一种物品分类装置及其运转方法，通过选择排出部关闭机构的开放或关闭而实施的简单方法，可轻易切换分类运转与测试运转。而且，在分类运转中，仅开放排出部关闭机构使物品因自重落下，因此，可谋求降低对作为工件的物品的损害。而且，在测试运转中，关闭排出部关闭机构以阻止物品(由于是测试运转时，故为基准物品)落下，由此可连续地继续运送基准物品，利用检查装置重复检查同一基准物品，可使测试运转变得容易。第2发明及第5发明中，供给路径为I个，在分类多个物品的分类运转中自动供给物品，在循环运送同一基准物品的测试运转中，停止自动供给而手动供给基准物品，由此可不需要为测试运转而去除残存于供给路径的物品这样的繁杂作业。第3发明及第6发明中，设置2个供给路径，在分类运转与测试运转时供给路径不同，在分类运转中，从第I供给路径自动供给物品的同时，关闭第2供给路径；在测试运转中，从第2供给路径自动供给基准物品的同时，关闭第I供给路径，由此可不需要每当切换运转就要去除残存于供给路径的物品的繁杂作业。
图I是表示本发明的一实施例的电子零件分类装置的概要说明图。图2是运送机构的俯视说明图。图3是表示供给位置及检查位置的运送机构的侧视说明图。图4是排出位置的剖面说明图。图5是表示供给位置处的供给方法的说明图。图6是表示检查位置处的探针与LED芯片的位置关系的说明图，(A)表示检查前后的状态，(B)表示正在检查。附图标记说明I...零件给料器2...检查装置
3...运送机构4...分配装置5...分类部6...固定台7...分度盘8.闸门9. 侧导件
10...管子11. 给料钵12...轨条20...探针21...积分球30...供给位置31...检查位置32...排出位置33.外罩34...收纳检测传感器50...分类容器61. 排出部62...同心圆状沟槽70.外周71...收纳部72...放射状沟槽80. 排出孔81...辅助吹送喷嘴82...连结管83. 轴90...侧导件91...侧边及顶部导件L1、L2、L3、L4. LED 芯片
具体实施例方式以下，说明关于图示的实施例并说明本发明的实施方式。图I是表示本发明的一实施例的电子零件分类装置的概要说明图。实施例中，作为工件的零件是LED芯片L，该分类装置根据电气特性与光学特性分配该LED芯片L。电子零件分类装置包括零件给料器1，整齐地供给LED芯片L ;运送机构3，从零件给料器I接受LED芯片L，将其吸附保持从供给位置30通过检查位置31向排出位置32运送；检查装置2，沿运送机构3运送路径设置，利用检查位置31检查LED芯片L的电气特性与光学特性；分配装置4，配置在排出位置32的下方(具体而言配置在排出部61的下方)，根据电气特性与光学特性分配被排出的LED芯片L ;以及由多个分类容器50构成的分类部5，配置在其更下方，储存由分配装置4分配、且通过管子10送入的LED芯片L。零件给料器I如图I所示，包括随机收纳多个LED芯片L的给料钵11和轨条12，是利用振动将LED芯片L自给料钵11朝轨条12沿长边方向排列成一列送出、并且从轨条12向运送机构3供给LED芯片L的机构，成为本发明中的供给路径。在实施例中此供给路径虽为I个，但本发明中，也可以设置在分类运转时使用的第I供给路径和在测试运转时使用的第2供给路径这2个供给路径。运送机构3如图3所示，由间歇旋转的圆盘状分度盘7和配置在分度盘7下方的固定台6构成。分度盘7成为本发明中的旋转体，固定台6成为发明中的固定体。在分度盘I的外周70隔着规定间隔设有多个缺口，此缺口成为收纳LED芯片L的口袋状的收纳部71。实施例中，收纳部71以等间隔设置。在分度盘7的背面形成多个连通各收纳部71的放射状的沟槽72。·
在固定台6中形成支持部，从下方支持被各收纳部71收纳的LED芯片L ;及排出部61，切开固定台6，使由收纳部71运送来的LED芯片L朝配置在运送机构3下方的分配装置4自然落下。形成有该排出部61的位置成为排出位置32。除了排出位置32处的排出部61以外的固定台6上表面，成为支持部。在排出部61设有成为本发明中的排出部关闭机构的闸门8。闸门8开放时使LED芯片L自然落下，在关闭时阻止LED芯片L落下，使其在排出部61上不落下而通过。闸门8如图2及图4所示，是形成有LED芯片L可通过的排出孔80的呈圆盘状构件，能够以轴83为支点旋转。而且，实施例中虽使用了如上所述的旋转式闸门8，但也可以是进退式闸门或装卸式闸门。此外，在排出部61的上方设有辅助吹送喷嘴81，辅助吹送喷嘴81为了可靠地排出LED芯片L，按照使LED芯片L不产生缺陷的压力，从位于排出部61上的排出孔80的上方朝下方吹气。在排出部61的下方连结着连结管82，连结管82的下端连结到分配装置4。固定台6中，除排出位置32以外，更形成供给位置30、检查位置31。运送机构3是利用固定台6与分度盘7的收纳部71吸附保持LED芯片L，从图2所示的供给位置30通过检查位置31向排出位置32运送LED芯片L的机构。因此，需要产生用于使收纳部71吸附LED芯片L的负压。因此，在固定台6上表面的供给位置30、检查位置31、排出位置32以外的、且仅运送LED芯片L的区域，雕刻了与形成在分度盘7背面的放射状沟槽72连通的同心圆状沟槽62，该沟槽62分别连接未图示
的真空源。通过此固定台6的同心圆状沟槽62与分度盘7的放射状沟槽72相连通，对收纳部71供给负压，将被收纳的LED芯片L吸附保持在收纳部71。又，在固定台6供给位置30、检查位置31分别形成其它沟槽，在各位置向收纳部71供给负压。在供给位置30向收纳部71传递LED芯片L的动作如下进行。在供给位置30，自零件给料器I的轨条12的前端向间歇移动至供给位置30的分度盘7的收纳部71，逐一供给LED芯片L。具体而言，如图5所示，使轨条12前端的LED芯片LI的吸引2关，与此同时，使吸引I开，向收纳部71移动供给LED芯片LI。S卩，LED芯片LI移动至图5中虚线位置。
此时，可动而可开启的外罩33，位于供给位置30的收纳部71上方。利用此外罩33覆盖收纳部71的上方，LED芯片L可顺畅地向收纳部71移动。即使在发生了 LED芯片LI向收纳部71的供给时，吸引3也维持开放。即LED芯片L2停留于原来位置。其次，使吸引2开，并使吸引3关，使后续先头的LED芯片L2朝轨条12的前端移动。由收纳检测传感器34检测是否已向收纳部71供给了 LED芯片LI。通过观察外罩33可检测出被供给的LED芯片L的姿态是否不良。通过用显微摄影传感器检测姿态不良的LED芯片L顶起的外罩33，可检测出发生了收纳错误、供给未结束。
在分度盘7的侧方设有侧导件9 (在排出位置32是特殊形状的侧导件90)，防止LED芯片L的意外飞出。此外，在检查位置31设有引导存在于该检查位置31的LED芯片L4的侧边及上方的侧边及顶部导件91。 检查装置2包括可升降地设于检查位置31下方的探针20和设于检查位置31上方的积分球21。由检查装置2进行的检查如图6(A)至(B)所示，使探针20上升而抵接LED芯片L4的电极，对LED芯片L4供给电流使其发光，由积分球21接收该发光光线，检查LED芯片L4的光学特性和电气特性。电子零件分类装置需进行以下运转分类运转，开放闸门8使由运送机构3运来的LED芯片L朝排出部61落下，分配至所需的分类容器50 ；以及测试运转，关闭闸门8以阻止其朝排出部61落下，继续LED芯片L的循环运送，以调整检查装置2。以下，说明分类运转与测试运转的方法。分类运转如下进行。首先，在供给位置30，从成为供给路径的零件给料器I的轨条12前端，向分度盘7的收纳部71逐一自动供给LED芯片L。由收纳检测传感器34检测是否已向收纳部71供给了 LED芯片LI。确认了对收纳部71的供给之后，分度盘7旋转，通过间歇运送使LED芯片L4到达检查位置31。使上升的探针20抵接到达的LED芯片L4，使电流流入而发光，利用设置在上方的积分球21检查光学特性及电气特性。检查结束后，当LED芯片L到达排出位置32的排出部61上方时，闸门8的排出孔80位于排出部61，所以LED芯片L自排出部61的落下不受闸门8的阻碍，LED芯片自排出部61排出。通过排出孔80从排出部61排出的LED芯片L如图4所示，在连结管82内自然落下，由连接其下游的分配装置4根据物品的特性进行分配，经由管子10分类到作为分类部5的所需的分类容器50。其次，测试运转如下进行。首先，由闸门8关闭排出部61，S卩，通过使闸门8的排出孔80从排出部61的上方偏移90度，利用闸门8关闭形成于固定台6的排出部61，并且吸附固定零件给料器I的轨条12前头的LED芯片LI，停止来自供给路径的自动供给。使图5中的吸引2开。之后，打开供给位置30的外罩33，由操作员将约310个任意数量的基准芯片收纳至分度盘7的收纳部71。即，进行基准芯片的手动供给。测试运转时，打开外罩33，用镊子手动放置基准芯片。其后，关闭外罩33并使分度盘7旋转，排出部61由闸门8关闭，所以，通过了检查位置31的LED芯片L，在通过排出部61上时也通过被关闭的闸门8上，再通过检查位置31而被连续循环运送。测试运转结束后，打开闸门8，S卩，使闸门8的排出孔80对准于排出部61上。基准芯片从通过时打开的排出部61自然落下，朝所需的分类容器50排出而结束。此外，基准芯
片可重复使用。如此，通过用闸门8关闭排出部61，可循环运送基准芯片，所以可容易进行测试运转。此外，测试运转时可打开外罩33以便用人手供给基准芯片，所以，例如从紧急停止状态恢复时，即使在多个LED芯片L留在零件给料器I内的状态下，也可以供给基准芯片，进行测试运转。再者，即使零件给料器I是空的，由于基准芯片少至约仅有数个，与对零件给料器I供给基准芯片并自动供给基准芯片相比，利用人手的供给较为简单。在实施例中，虽然测 试运转时用于以人手供给基准芯片的位置是供给位置30，但由于是手动供给，位置不受限定，也可以是其它位置。再者，也可以在希望的位置设置外罩，仅在供给时打开外罩。在以上的实施例中，向运送机构3供给LED芯片L或基准芯片的供给路径(零件给料器I)是I个，但也可以是2个，将第I供给路径用于自动供给LED芯片，第2供给路径用于自动供给基准芯片。此时，在分类运转中，由第I供给路径自动供给LED芯片L的同时，关闭第2供给路径而运行；在测试运转中，由第2供给路径自动供给基准芯片的同时，关闭第I供给路径而运转。
权利要求
1.一种物品分类装置，包括运送机构，具备旋转体和固定体，该旋转体在外周设有分别收纳物品的多个收纳部，该固定体从下方支持由该旋转体的各收纳部收纳的物品，并且，该运送机构具有使物品从设于该固定体的排出部落下并排出的排出位置；检查机构，沿该运送机构的运送路径设置，检查物品的特性；多个分类容器，设于该排出部的下方；以及分配机构，设于该排出部的下方，将被排出的物品根据该物品的特性分类至所需的分类容器，其特征在于， 设置排出部关闭机构，其设在该固定体的排出部，在开放时使物品落下，在关闭时阻止物品落下而使其通过该排出部； 在将由该运送机构运送的物品分类至所需的分类容器的分类运转中，开放该排出部关闭机构而使物品落下； 在由该运送机构循环运送物品的测试运转中，关闭该排出部关闭机构以阻止物品落下，由此继续进行利用该运送机构的物品的运送。
2.如权利要求I所述的物品分类装置，其中， 向该运送机构供给物品的供给路径为I个，在该分类运转中，从该供给路径自动供给物品，并且，在该测试运转中，停止自该供给路径的物品的自动供给，并且手动供给基准物品O
3.如权利要求I所述的物品分类装置，其中， 向该运送机构供给物品的供给路径为2个，在该分类运转中，从第I供给路径自动供给物品的同时，关闭第2供给路径；在该测试运转中，从第2供给路径自动供给基准物品的同时，关闭第I供给路径。
4.一种物品分类装置的运转方法，该物品分类装置包括运送机构，具备旋转体和固定体，该旋转体在外周设有分别收纳物品的多个收纳部，该固定体从下方支持由该旋转体的各收纳部收纳的物品，并且，该运送机构具有使物品从设于该固定体的排出部落下并排出的排出位置；检查机构，沿该运送机构的运送路径设置，检查物品的特性；多个分类容器，设于该排出部的下方；以及分配机构，设于该排出部的下方，将被排出的物品根据该物品的特性分类至所需的分类容器，其特征在于，该物品分类装置的运转方法中， 设置排出部关闭机构，其设在该固定体的排出部，在开放时使物品落下，在关闭时阻止物品落下而使其通过该排出部； 在将由该运送机构运送的物品分类至所需的分类容器的分类运转中，开放该排出部关闭机构而使物品落下； 在由该运送机构循环运送物品的测试运转中，关闭该排出部关闭机构以阻止物品落下，由此继续进行利用该运送机构的物品的运送。
5.如权利要求4所述的物品分类装置的运转方法，其中， 向该运送机构供给物品的供给路径为I个，在该分类运转中，从该供给路径自动供给物品，并且，在该测试运转中，停止自该供给路径的物品的自动供给，并且手动供给基准物品O
6.如权利要求4所述的物品分类装置的运转方法，其中， 向该运送机构供给物品的供给路径为2个，在该分类运转中，从第I供给路径自动供给物品的同时，关闭第2供给路径；在该测试运转中，从第2供给路径自动供给基准物品的同时，关闭第I供给路径 。
全文摘要
本发明提供一种物品分类装置及其运转方法，可在运送机构的排出位置使物品向下方的分配机构自然落下，降低发生物品缺陷的可能性，并且，在测试运转时连续循环运送基准物品，由此能够重复进行检查。第1，该物品分类装置包括运送机构，具有使物品落下并排出的排出部；物品特性的检查机构；多个分类容器，设于排出部下方；以及分配机构，根据物品的特性将其分类至分类容器。第2，设置了排出部关闭机构，其设于排出部，在开放时使物品落下，在关闭时阻止物品落下而使其通过该排出部。第3，在分类运转中，开放排出部关闭机构以使物品落下。第4，在测试运转中关闭排出部关闭机构以阻止物品落下，由此继续进行利用运送机构的物品的循环运送。
文档编号B07C5/342GK102950117SQ201210285768
公开日2013年3月6日 申请日期2012年8月10日 优先权日2011年8月22日
发明者堀俊一 申请人:澁谷工业株式会社