本发明涉及工业设备领域，尤其涉及一种碳膜片阻值精度分检系统及其工作方法。
背景技术
电位器应用企业对电位器精度上的一致性要求与目前生产企业采用的人工检测失误率大造成严重的贸易纠纷，而招工难、高待遇要求又与生产效率低形成严重的反差。
因此，为了满足各类电位器生产厂家，提高电位器生产精度误差的一致性，同时提高生产效率，现在亟需开发一种碳膜片阻值精度分检系统及其工作方法以克服上述问题。
技术实现要素：
本发明的目的是提供一种碳膜片阻值精度分检系统及其工作方法，通过阻值检测机构以及分流机构对被测碳膜片进行阻值检测和精度分流，克服市场上电位器生产精度误差的一致性差问题，实现了筛选不同精度阻值的碳膜片的功能。
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种碳膜片阻值精度分检系统，其包括：处理器模块、阻值检测机构以及分流机构；其中所述处理器模块适于控制所述阻值检测机构对被测碳膜片的阻值进行检测，并根据检测结果控制所述分流机构对不同阻值精度的被测碳膜片进行分流。
进一步，所述阻值检测机构包括：进料口、碳膜片滑轨以及出料口；被测碳膜片从所述进料口进料后依次排列在所述碳膜片滑轨上，在所述出料口设置有与所述处理器电性相连的检测装置，所述检测装置适于对所述被测碳膜片的阻值进行检测。
进一步，所述检测装置包括：与所述处理器模块电性相连的光电开关，位于所述碳膜片滑轨上、下方的上、下探针头，以及两探针头分别由相应气缸驱动；即当所述光电开关检测到被测碳膜片进入检测位置时，所述处理器模块控制气缸带动上、下探针头相向运动触及被测碳膜片以测出其阻值。
进一步，所述进料口连接有上料用振动盘；以及位于出料口处设有出料推板，所述出料推板适于采用由处理器模块控制的气动机构执行推料动作。
进一步，所述分流机构包括：错层设置的第一、第二分流板，两分流板均由相应转动装置驱动，以及位于分流机构的底部设有至少三种分类仓；所述处理器模块适于根据测出的阻值控制相应转动装置带动第一分流板和/或第二分流板转动一定角度，以使被测碳膜片在下落过程中经过第一分流板和/或第二分流板引导掉落至相应分类仓内。
另一方面，本发明还提供一种碳膜片阻值精度分检系统的工作方法，其包括：对被测碳膜片的阻值进行检测；对不同阻值精度的被测碳膜片进行分流。
进一步，所述碳膜片阻值精度分检系统包括：处理器模块、阻值检测机构以及分流机构；其中所述处理器模块适于控制所述阻值检测机构对被测碳膜片的阻值进行检测，并根据检测结果控制所述分流机构对不同阻值精度的被测碳膜片进行分流。
本发明的有益效果是，本发明通过阻值检测机构以及分流机构对被测碳膜片进行阻值检测和精度分流，实现了筛选不同精度阻值的碳膜片的功能，以满足客户对于不同精度阻值的碳膜片的需求。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明碳膜片阻值精度分检系统的阻值检测机构的结构图；
图2是本发明碳膜片阻值精度分检系统的控制原理图；
图3是本发明碳膜片阻值精度分检系统的分流机构的结构图；
图4是本发明的分流机构的分流被测碳膜片正超阻值时结构示意图；
图5是本发明的分流机构的分流被测碳膜片负超阻值时结构示意图。
图中：阻值检测机构1、进料口101、碳膜片滑轨102、出料口103、光电开关104、探针头105、气缸106、上料用振动盘107、出料推板108；
分流机构2、转动装置201、分流板202、合格仓203、正超仓204、负超仓205；
被测碳膜片3。
具体实施方式
现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。
实施例1
图1是本发明碳膜片阻值精度分检系统的阻值检测机构的结构图；
图2是本发明碳膜片阻值精度分检系统的控制原理图。
在本实施例中，如图1、图2所示，本实施例提供一种碳膜片阻值精度分检系统，其包括：处理器模块、阻值检测机构1以及分流机构2；其中所述处理器模块适于控制所述阻值检测机构1对被测碳膜片3的阻值进行检测，并根据检测结果控制所述分流机构2对不同阻值精度的被测碳膜片3进行分流。
在本实施中，所述处理器模块可以采用但不限于是stm32系列处理器。
在本实施例中，本实施例通过阻值检测机构1以及分流机构2对被测碳膜片3进行阻值检测和精度分流，实现了筛选不同精度阻值的碳膜片的功能，以满足客户对于不同精度阻值的碳膜片的需求。
为了流水线式检测被测碳膜片3的阻值，如图1所示，所述阻值检测机构1包括：进料口101、碳膜片滑轨102以及出料口103；被测碳膜片3从所述进料口101进料后依次排列在所述碳膜片滑轨102上，在所述出料口103设置有与所述处理器电性相连的检测装置，所述检测装置适于对所述被测碳膜片3的阻值进行检测。
在本实施例中，如图1所示，位于所述碳膜片滑轨102上、下方设置有探针头105和带动探针头105运动的气缸106，当然也可以采用其他驱动机构如丝杆机构带动探针头105作相向运动。
为了定位被测碳膜片3到达检测位置后启动检测装置，所述检测装置包括：与所述处理器模块电性相连的光电开关104，位于所述碳膜片滑轨102上、下方的上、下探针头，以及两探针头分别由相应气缸驱动；即当所述光电开关104检测到被测碳膜片3进入检测位置时，所述处理器模块控制气缸带动上、下探针头相向运动触及被测碳膜片3以测出其阻值。
在本实施例中，上、下探针头连接有阻值检测电路，所述阻值检测电路适于发送阻值信息至所述处理器模块。
在本实施例中，光电开关104(光电传感器)是光电接近开关的简称，其利用被检测物对光束的遮挡或反射，由同步回路接通电路，从而检测物体的有无。
为了被测碳膜片3能够自动上料、出料，所述进料口101连接有上料用振动盘107；以及位于出料口103处设有出料推板，所述出料推板适于采用由处理器模块控制的气动机构执行推料动作。
图3是本发明碳膜片阻值精度分检系统的分流机构的结构图；
在本实施中，如图3所示，所述分流机构2设置有分流板202和控制分流板202运动的转动装置201。
在本实施例中，转动装置可以采用但不限于是转动气缸或步进电机。
为了对不同精度阻值的碳膜片进行分检，如图3所示，所述分流机构2包括：错层设置的第一、第二分流板，两分流板均由相应转动装置驱动，以及位于分流机构2的底部设有至少三种分类仓；所述处理器模块适于根据测出的阻值控制相应转动装置带动第一分流板和/或第二分流转动一定角度，以使被测碳膜片3在下落过程中经过第一分流板和/或第二分流板引导掉落至相应分类仓内。
在本实施例中，如图3所示，当被测碳膜片3由出料推板从出料口103推出后沿f1方向下落至分流机构2，若阻值合格，所述第一分流板按f2方向向右转动至如图3所示位置，被测碳膜片3顺着第一分流板滑入合格仓203内。
图4是本发明的分流机构的分流被测碳膜片正超阻值时结构示意图；
图5是本发明的分流机构的分流被测碳膜片负超阻值时结构示意图。
在本实施例中，结合图3和图4所示，当被测碳膜片3被测得其阻值不合格且其阻值超过合格值时，所述第一分流板按f2方向向左转动至如图4所示位置，且此时第二分流板被触发按f3方向向右转动至如图4所示位置，即此时被测碳膜片3顺着第一分流板、第二分流板滑入正超仓204内。
在本实施例中，结合图4和图5所示，当被测碳膜片3被测得其阻值不合格且其阻值低于合格值时，所述第一分流板沿f2方向向左转动至如图5所示位置，且此时第二分流板被触发沿f3方向向左转动至如图5所示位置，即此时被测碳膜片3顺着第一分流板、第二分流板滑入负超仓205内。
在本实施例中，第一、第二分流板由相应转动装置驱动，一旦被测碳膜片3阻值检测分析结束，第一、第二分流板便在处理器模块控制下提前进入正确的分流状态。
在本实施例中，所述碳膜片阻值精度分检系统包括：输入设备；输入设备是向处理器模块输入数据和信息的设备，可以采用按键输入或者触摸屏输入等方式进行。
综上所述，本实施例通过阻值检测机构以及分流机构对被测碳膜片进行阻值检测和精度分流，实现了筛选不同精度阻值的碳膜片的功能，以满足客户对于不同精度阻值的碳膜片的需求；通过碳膜片滑轨，实现了流水线式生产；通过光电开关对碳膜片进行定位，使碳膜片到达检测位置时自动开启检测装置；通过分流机构，实现了对不同精度阻值的碳膜片进行分检的功能。
实施例2
在实施例1的基础上，本实施例提供一种实施例1所提供的碳膜片阻值精度分检系统的工作方法，其包括：对被测碳膜片的阻值进行检测；对不同阻值精度的被测碳膜片进行分流。
为了对碳膜片进行检测并分流，所述碳膜片阻值精度分检系统包括：处理器模块、阻值检测机构以及分流机构；其中所述处理器模块适于控制所述阻值检测机构对被测碳膜片的阻值进行检测，并根据检测结果控制所述分流机构对不同阻值精度的被测碳膜片进行分流。
在本实施例中，上述处理器模块、阻值检测机构以及分流机构的结构、工作原理和工作过程均在实施例1中进行了详细阐述，因此此处不再赘述。
综上所述，本实施例通过碳膜片阻值精度分检系统，实现全自动化操作，精度可预置；可高效率连续工作；可大幅提高产品的精度一致性；单次检测时间：小于1秒，可顶替一至二个工人操作，有很好的市场前景。
以上述依据本发明的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。