平整度快速检测装置的制作方法

本实用新型涉及一种平整度快速检测装置，属于机电设备技术领域。

背景技术：

在板材加工过程中，通常情况下对板材表面平整度的检测是采用直尺配合目测的方式，这种检测方式存在人为误差，检测精确度差，并且费时费力。另外，现有的人工检测方法检测速度慢，并且不能够将合格板材和不合格板材分区分流。

技术实现要素：

本实用新型解决的技术问题是，提供一种检测精确度高，检测速度快，可将合格板材和不合格板材分区分流的平整度快速检测装置。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：

平整度快速检测装置，包括两立柱，两所述立柱顶端之间由横杆相连接，两所述立柱之间设置有用于放置待检测工件的底板，所述横杆的下表面设置有第一滑轨，所述第一滑轨上设置有第一滑块，所述第一滑块上连有载具，所述载具上设置有正对所述底板的平整度测量仪，在所述立柱正下方的所述底板上开有翻转门，所述翻转门的一端与所述底板相铰接，所述翻转门的另一端与所述底板之间由电磁阀门相连，所述翻转门的铰接端下表面设置有立杆，所述立杆与所述翻转门的下表面中部之间连有斜向弹簧，所述立柱的底端连有第二滑块，所述第二滑块位于与所述底板相平行的第二滑轨内；所述电磁阀门与控制器相连，所述控制器与平整度测量仪相连。

所述第一滑块与第一电机相连，所述第二滑块与第二电机相连。

所述平整度测量仪包括激光测距传感器、超声波测距传感器、声纳测距传感器、红外线测距传感器中的一种或几种。

所述控制器包括CPU或MCU。

所述载具包括密闭壳体，所述密闭壳体内设置有所述平整度测量仪，所述密闭壳体下表面设置有投射孔，所述投射孔上设置有旋转盖，所述旋转盖的内表面设置有软毛刷。

所述翻转门的长度大于所述待检测工件的长度，所述翻转门的下方设置有不合格板件收集箱。

所述底板前方设置有合格板件收集箱。

本实用新型提供的一种平整度快速检测装置，平整度测量仪可沿着待检测板件运动，故本实用新型检测精确度高，检测速度快；若板件检测合格，则由下一块待检测板件推送至合格板件收集箱，若板件检测不合格，则控制器控制电磁阀门打开翻转门，不合格板件掉落至不合格板件收集箱，掉落后在斜向弹簧的作用下翻转门闭合，实现了将合格板材和不合格板材分区分流；软毛刷的设置，用于启闭过程中自动清扫平整度测量仪表面的灰尘，使检测灵敏度高。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作更进一步的说明。

如图1所示，平整度快速检测装置，包括两立柱1，两所述立柱1顶端之间由横杆2相连接，两所述立柱1之间设置有用于放置待检测工件的底板3，所述横杆2的下表面设置有第一滑轨，所述第一滑轨上设置有第一滑块4，所述第一滑块4上连有载具5，所述载具5上设置有正对所述底板3的平整度测量仪，在所述立柱1正下方的所述底板3上开有翻转门6，所述翻转门6的一端与所述底板3相铰接，所述翻转门6的另一端与所述底板3之间由电磁阀门相连，所述翻转门6的铰接端下表面设置有立杆7，所述立杆7与所述翻转门6的下表面中部之间连有斜向弹簧8，所述立柱1的底端连有第二滑块9，所述第二滑块9位于与所述底板3相平行的第二滑轨10内；所述电磁阀门与控制器相连，所述控制器与平整度测量仪相连。

所述第一滑块4与第一电机相连，所述第二滑块9与第二电机相连。

所述平整度测量仪包括激光测距传感器、超声波测距传感器、声纳测距传感器、红外线测距传感器中的一种或几种。

所述控制器包括CPU或MCU。

所述载具5包括密闭壳体11，所述密闭壳体11内设置有所述平整度测量仪，所述密闭壳体11下表面设置有投射孔，所述投射孔上设置有旋转盖，所述旋转盖的内表面设置有软毛刷。

所述翻转门6的长度大于所述待检测工件的长度，所述翻转门6的下方设置有不合格板件收集箱。

所述底板3前方设置有合格板件收集箱。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出：对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。