技术特征：
1.一种检测设备，其特征在于，包括：上料装置、缺陷检测装置、下料装置以及分拣装置；所述上料装置被配置为用于承载待检测产品并将其输送至所述缺陷检测装置；所述缺陷检测装置被配置为用于对所述待检测产品进行缺陷检测，并对所述待检测产品进行分类，得到分类结果；所述缺陷检测装置包括用于检测待检测产品的内弧缺陷的第一缺陷检测线；所述第一缺陷检测线包括相对设置的第一光学检测件和第二光学检测件以及第一输送机构；所述第一输送机构被配置为用于承载待检测产品并将其输送至第一光学检测件和第二光学检测件之间；所述第一光学检测件和第二光学检测件沿第一输送机构的输送方向前后布局；所述第一光学检测件的光路沿第一输送机构的输送方向的投影和第二光学检测件的光路沿第一输送机构的输送方向的投影相互交叉；所述分拣装置被配置为用于根据分类结果将完成检测的产品输送至所述下料装置；所述下料装置被配置为用于承载和输送完成检测的产品。2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述第一缺陷检测线包括位于第一光学检测件和第二光学检测件之间的遮光板；所述遮光板被配置为用于将第一光学检测件和第二光学检测件的光路隔离开。3.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，第一光学检测件和第二光学检测件形成缺陷检测机构；所述第一缺陷检测线包括沿所述第一输送机构的输送方向设置的第一缺陷检测机构和第二缺陷检测机构以及旋转机构；第一缺陷检测机构被配置为用于检测所述待检测产品内弧的两相对侧边缘；第二缺陷检测机构被配置为用于检测所述待检测产品内弧的另外两相对侧边缘；所述旋转机构被配置为用于带动所述待检测产品旋转设定角度。4.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述缺陷检测装置包括多条并列设置的第一缺陷检测线；所述上料装置包括上料转运机构，所述上料转运机构包括用于拾取待检测产品的多个上料动子；所述上料转运机构用于将多个上料动子分别输送至对应的第一缺陷检测线；多条所述第一缺陷检测线分别用于检测对应的待检测产品的内弧缺陷。5.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述第一缺陷检测线包括位于第一缺陷检测机构和第二缺陷检测机构之间的转接机构，所述旋转机构位于所述转接机构上；当第一缺陷检测机构检测完成后，所述转接机构被配置为用于带动待检测产品旋转设定角度后将待检测产品输送至第二缺陷检测机构。6.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述第一光学检测件包括架体以及位于所述架体上的图像采集件、第一光源和第一光源调节件；
所述图像采集件，用于采集所述待检测产品的图像信息；所述第一光源调节件，用于使第一光源的出射光和所述图像采集件的采集光聚焦在所述待检测产品的同一点上。7.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述第一光源调节件包括第一光源调节部、第二光源调节部和第三光源调节部；所述第一光源调节部，用于沿所述第一输送机构的输送方向调节所述第一光源的位置；所述第二光源调节部，用于沿所述图像采集件的采集光路的方向调节所述第一光源的位置；所述第三光源调节部，用于调节所述第一光源的出射光路与所述图像采集件的采集光路之间的夹角。8.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述第一光学检测件还包括位于所述架体上的第二光源以及与所述第一光源调节件呈对称设置的第二光源调节件；所述第二光源与所述第一光源相对于所述图像采集件呈对称设置；所述第二光源调节件，用于使第二光源的出射光、所述第一光源的出射光和所述图像采集件的采集光聚焦在所述待检测产品的同一点上。9.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述缺陷检测装置包括用于检测待检测产品的外弧缺陷的第二缺陷检测线；第二缺陷检测线设置于第一缺陷检测线的上游或下游；第一缺陷检测线与第二缺陷检测线之间设置有用于将所述待检测产品翻转设定角度的转运翻转机构。10.根据权利要求9所述的设备，其特征在于，所述第二缺陷检测线包括相对设置的第三光学检测件和第四光学检测件和第二输送机构；所述第二输送机构被配置为用于承载待检测产品并将其输送至第三光学检测件和第四光学检测件之间；所述第三光学检测件和第四光学检测件分别用于检测所述待检测产品外弧的两相对侧边缘。11.根据权利要求9所述的设备，其特征在于，所述缺陷检测装置包括用于检测待检测产品的内部缺陷的第三缺陷检测线；所述第三缺陷检测线设置于第一缺陷检测线或第二缺陷检测线的上游或下游。
技术总结
本发明实施例公开一种检测设备。在一具体实施方式中，该检测设备包括上料装置、缺陷检测装置、下料装置以及分拣装置；上料装置被配置为用于承载待检测产品并将其输送至缺陷检测装置；缺陷检测装置被配置为用于对待检测产品进行缺陷检测，并对待检测产品进行分类，得到分类结果；分拣装置被配置为用于根据分类结果将完成检测的产品输送至下料装置；下料装置被配置为用于承载和输送完成检测的产品。该实施方式的检测设备可实现同时对多个产品进行缺陷检测，并进行分类输送，使得产品的检测流程更加合理，有效减少TT时间，提高产品的检测效率。效率。效率。
技术研发人员：王俊 刘坤 于伟
受保护的技术使用者：苏州华兴源创科技股份有限公司
技术研发日：2021.08.13
技术公布日：2021/9/9