技术特征：1.一种i3c器件的量产测试系统，所述i3c器件为带有i3c接口的mems器件，其特征在于，其包括量产测试机和fpga测试板卡，所述fpga测试板卡包括：
2.根据权利要求1所述的i3c器件的量产测试系统，其特征在于，所述fpga主控单元包括：
3.根据权利要求2所述的i3c器件的量产测试系统，其特征在于，其还包括：
4.根据权利要求3所述的i3c器件的量产测试系统，其特征在于，
5.根据权利要求4所述的i3c器件的量产测试系统，其特征在于，
6.根据权利要求5所述的i3c器件的量产测试系统，其特征在于，
7.根据权利要求6所述的i3c器件的量产测试系统，其特征在于，
8.根据权利要求1-7任一所述的i3c器件的量产测试系统，其特征在于，所述fpga主控单元还包括；
9.根据权利要求1所述的i3c器件的量产测试系统，其特征在于，
10.根据权利要求1所述的i3c器件的量产测试系统，其特征在于，
技术总结本发明提供一种I3C器件的量产测试系统，I3C器件为带有I3C接口的MEMS器件，I3C器件的量产测试系统包括量产测试机和FPGA测试板卡，所述FPGA测试板卡包括：测试机接口，其连接于所述FPGA主控单元和所述量产测试机之间；FPGA主控单元，其用于通过所述测试机接口接收所述量产测试机发送的测试启动指令，并执行所述I3C器件的多个项目的测试，以得到每个项目的测试数据，通过所述测试机接口向所述量产测试机发送各个项目的所述测试数据；高速缓冲器，其与所述FPGA主控单元连接，其用于改善经过信号的失真；I3C器件载具，其与所述高速缓冲器连接，其用于放置待测的所述I3C器件。与现有技术相比，本发明能够兼容现有的慢通信时序的量产测试设备，对MEMS器件的高速I3C通信功能进行量产阶段的测试。
技术研发人员：张曦军,李妍君,柯亮,林武
受保护的技术使用者：美新半导体（无锡）有限公司
技术研发日：技术公布日：2024/1/11