电子元件分类方法及装置的制造方法
【专利摘要】本发明提供一种电子元件分类方法及装置，包括：使多个受测元件被一第一旋转流路进行搬送及检测电性，当检测出其为落料频率较高的受测元件时，受测元件被搬送进入另一第二间歇性旋转流路，并由该第二间歇性旋转流路的排出通道排入一第一料盒装置中多个中的一个被预先设定的第一料盒；当检测出其为落料频率较低的受测元件时，受测元件由该第一间歇性旋转流路上一共通管排出至一第二料盒装置中多个中的一个被预先设定的第二料盒；借此使不同落料频率的受测元件可分别输送，令产能效率有效提高。
【专利说明】
电子元件分类方法及装置
【技术领域】
[0001]本发明是有关于一种分类方法及装置，尤指一种用以对落料的受测元件，其电性规格具较高集中度的电子元件进行分类的电子元件分类方法及装置。
【【背景技术】】
[0002]按，一般电子元件由于具有不同的物理特性，故常需经由检测、分选的程序来进行包装或分类，由于电子元件的微细化及量大属性，用于作检测、分选的装置必须提供迅速而精确的搬送，这些被检测、分选的电子元件例如被动元件或LED
发光二极管。
[0003]先前技术在进行检测时，常采用可作间歇旋转的测盘，在测
盘周缘环列布设等间距凹设的载槽，借以自震动送料机的输送槽道承载受检测元件以间歇性旋转流路搬送，历经多个检测站的程序后依其检测出的电性，予以排出至不同的管路，以输送至特定的收集盒进行收集;但由测盘进入各不同管路前，需经由一分配机构依受检测元件的检测结果进行分类，此种分配机构常采用一表面开有多数孔道的分配盘，并以一位于分配盘中央上方的分配头作对应各孔道的逐一分配。
[0004]另一种先前技术，采用在一测盘上进行多个检测站的程序后
，将其排至另一个周缘环列布设等间距凹设的载槽的转盘，再由该转盘上的喷出机构将各载槽中电子元件喷出至各自对应并以排出管接设的料盒，而为增加分BIN数，可以采用多个转盘。
[0005]另一种先前技术，采用在一转塔式转盘所形成的量测平台，
使落料频率较高的受测元件经一分配的孔板被导入距转塔式转盘所形成的量测平台较近的料盒，落料频率较低的受测元件被导入距转塔式转盘所形成的量测平台较远的料合
ΙΤΓΤ.0
【
【发明内容】
】
[0006]然而，先前技术在进行分类时，大多未考虑进行分类的电子元件具有在电性条件检测上电性规格落料频率高、低的状况，因为每批量的受测元件其电性规格常会在某一规格范围具有较多的数量，这些电性规格具较高集中度的受测元件若与其他电性规格较分散的受测元件以同一分类机构或条件进行分类时，并无法经由差异化的考量，使整个分类的效率提升；另一方面，电性规格具较高集中度的电子元件显然会具有较高的落料频率及较高的数量，当用以容载具有较高数量电子元件的料盒参杂在其他具有较低数量电子元件的料盒间，其不容易被发现已装载满料，在管理上不具方便性，在后续收集搬送上亦大为不便!且具有较高数量电子元件的分类机构显然会有较高的故障及损耗几率，其与进行其他具有较低数量电子元件的分类机构并存在一起，将在维修上不具方便性，并影响整体机构的使用寿命!虽然先前技术亦有提供以料盒距转塔式转盘所形成的量测平台的远、近，来将落料频率较高与落料频率较低的受测元件作分别输送，但该设计采转塔式转盘，其能仅适用检测分选大尺寸的受测元件，且其承接落料频率较高与落料频率较低的受测元件的料盒是以距量测平台远、近作区别设计，其必须采高、低配置，致使料盒高度受到限制，产能效率过低，且虽然承接落料频率较高的受测元件的料盒其距量测平台较近，但量测平台至料盒的路径中为增加分BIN数而设有分配的孔板，其等于在落料路径中形成阻滞，使落料速度减缓，致整体效能并未因其料盒距量测平台较近而提升。
[0007]爰是，本发明的目的，在于提供一种借由落料频率差异化的考量，使整个分类的效率提升的电子元件分类方法。
[0008]本发明的另一目的，在于提供一种借由落料频率差异化的考量，使整个分类的效率提升的电子元件分类装置。
[0009]本发明的又一目的，在于提供一种用以执行任一所述电子元件分类方法的装置。
[0010]依据本发明目的的电子元件分类方法，包括:使多个受测元件被一第一旋转流路进行搬送及检测电性，当检测出其为落料频率较高的受测元件时，受测元件被搬送进入另一第二间歇性旋转流路，并由该第二间歇性旋转流路的排出通道排入一第一料盒装置中多个中的一个被预先设定的第一料盒；当检测出其为落料频率较低的受测元件时，受测元件由该第一间歇性旋转流路上一共通管排出至一第二料盒装置中多个中的一个被预先设定的第二料盒。
[0011]依据本发明另一目的的电子元件分类装置，包括:一第一转盘，周缘环列布设等间距且设有朝外开口的多个载槽，其形成一第一间歇旋转流路并以该载槽承收自一输送槽道输入的受测元件，该第一间歇旋转流路上设有一电性检测单元及一共通管;一第二转盘，其承接该第一转盘传送来的受测元件并以一第二间歇旋转流路进行搬送，周缘环列布设等间距且设有朝外开口的多个载槽，各载槽分别对应设有排出通道;该第一转盘、第二转盘间以一连接单元形成搬送流路的连接;当受测元件经电性检测单元进行电性检测的结果为属于落料频率较高的受测元件时，该受测元件被搬送到达该连接单元处时，由连接单元进入第二转盘的第二间歇性旋转流路的载槽被搬送，并依电性检测结果被排入预设的载槽分别各自对应的排出通道，以排出第二转盘的第二间歇性旋转流路；当受测元件经电性检测单元进行电性检测的结果为属于落料频率较低的受测元件时，该受测元件被由共通管排出第一转盘的第一间歇性旋转流路。
[0012]依据本发明又一目的的电子元件分类装置，包括用以执行任一所述电子元件分类方法的装置。
[0013]本发明实施例的子元件分类方法及装置，由于第一转盘、第二转盘、连接单元同设在该水平检测台面上;落料频率较高的受测元件，经第二转盘的排出通道排出后，直接经由排出管毫无阻滞并直通地排入对第一料盒，其可以简化排料路径的阻滞而使落至第一料盒的速度较快;落料频率较低的受测元件在经由共通管排出后，因其落料频率较低，时间效率上可允许经一排出管进入一分配机构，并经由该分配机构将受测元件依其电性检测结果进行分配以传送至第二料盒，如此使不同落料频率的受测元件不仅可分别输送，同时具落料频率较高的数量较高的电子元件可被较大容量的第一料盒承载，具落料频率较低的较少数量电子元件可被较小容量的第一料盒承载，对落料量容置管控更恰当；而第一料盒及第二料盒可不受尚度、距检测台面远近限制而提尚容量，使广能效率有效提尚。【【附图说明】】
[0014]图1是本发明实施例中第一转盘及第二转盘在检测台面上的立体示意图。
图2是本发明实施例中第一转盘及第二转盘在检测台面上与第一料盒装置及第二料盒装置间联结关系的正面示意图。
图3是本发明实施例中第一转盘及第二转盘在检测台面上与第一料盒装置及第二料盒装置间联结关系的立体示意图。
图4是本发明实施例中分配机构的立体示意图。
图5是本发明实施例中分配机构的俯视示意图。
图6是本发明实施例中分配机构的正面示意图。
图7是本发明实施例中分配机构的分配座立体示意图。
【符号说明】
[0015]A 检测台面 Al输送槽道 A2 震动送料机 B第一转盘 BI 载槽 B2限位件 B3 电性件测单元 B4共通管 B41 排出管 C第二转盘 Cl 载槽 C2限位件 C3 排出通道 C4排出管
D 连接单元 E第一料盒装置
El 第一料盒 F分配机构
Fl 模座 Fll操作区间
F12 第一侧座 F13第二侧座
F14 第三侧座 F15滑轨
F2 第一驱动件 F21皮带
F3 第二驱动件 F31输出轴
F32 驱动臂 F33连动臂
F4 移摆机构 F41第一固定座
F42 嵌轮 F43转轴
F44 嵌沟 F45第二固定座
F46 拨架 F47分配头
F48 枢座 F5分配座
F51 上端缘 F52管座
F53 上方端口 F6导管
G 第二料盒装置 Gl第二料盒 H 机台台面
【【具体实施方式】】
[0016]请参阅图1、3，本发明实施例的电子元件分类方法及装置可以如图所示的使用在以LED发光二极管为受测元件的分类装置来作说明，该装置包括:一检测台面A，呈水平设置于机台台面H(请配合参阅图3)上的一适当高度，设有输送槽道Al输送由震动送料机A2(图示于图3)整列传送的受测元件；
一第一转盘B，设于该检测台面A上，并以一第一间歇性旋转流路进行搬送，周缘环列布设等间距且设有朝外开口的载槽BI，环列布设的载槽BI外周设有限位件B2，以防止旋转搬送的受测元件受离心力抛出；该第一转盘B形成一顺时针的第一间歇性旋转流路并承收自输送槽道Al输入的受测元件，该第一间歇性旋转流路上依序设有一电性检测单元B3、一共通管B4;
一第二转盘C，设于该检测台面A上，并以一第二间歇性旋转流路进行搬送，周缘环列布设等间距且设有朝外开口的载槽Cl，环列布设的载槽BI外周设有限位件C2，以防止旋转搬送的受测元件受离心力抛出；该第二转盘C形成一顺时针的第二间歇性旋转流路，并与该第一转盘B邻近;该第二间歇性旋转流路上的各载槽Cl分别各自对应设有排出通道C3;
该第一转盘B、第二转盘C间以一连接单元D形成搬送流路的连接，其可为一通道或以吸附搬送方式传递受测元件于第一转盘B的载槽BI及第二转盘C的载槽Cl间的传送机构;第一转盘B、第二转盘C、连接单元D同设在该水平检测台面A上;该共通管B4位于越过该连接单元D的后段第一间歇性旋转流路上，如此可避开与前段第一间歇性旋转流路上各种检测单元或装置的干涉；
该第一转盘B进行搬送的第一间歇性旋转流路在该连接单元D处形成二个相分叉的流路；当受测元件经电性检测单元B3进行电性检测的结果为属于落料频率较高的受测元件时，该受测元件被搬送到达该连接单元D处时，将由第一转盘B的第一间歇性旋转流路自水平径向排出，并进入连接单元D，再以水平径向进入第二转盘C的第二间歇性旋转流路的载槽Cl被搬送，并依电性检测结果被排入预设的载槽Cl分别各自对应的排出通道C3，以排出第二转盘C的第二间歇性旋转流路；当受测元件经电性检测单元B4进行电性检测的结果为属于落料频率较低的受测元件时，该受测元件被搬送到达该连接单元D处时，将续循第一转盘B的第一间歇性旋转流路被搬送越过连接单元D，而到达共通管B4，并由共通管B4排出第一转盘B的第一间歇性旋转流路；
该第一转盘B的圆径较第二转盘C的圆径小，使受测元件可以在较小的第一间歇性旋转流路完成电性检测后，尽快被搬送至第二转盘C的各排出通道C3以及由共通管B4排出第一转盘B的第一间歇性旋转流路，同时亦因第二转盘C的圆径较大，故可以在较大的第二间歇性旋转流路中排列更多的分BIN。
[0017]请参阅图2、3，落料频率较高的受测元件经第二转盘C的排出通道C3排出后，将直接经由排出管C4毫无阻滞并直通地排入对应设于检测台面A下方的第一料盒装置E中多个中的一个被预先设定的第一料盒El;落料频率较低的受测元件在经由共通管B4排出检测台面A上第一转盘B的第一间歇性旋转流路后，将经一排出管B41进入一分配机构F，并经由该分配机构F将受测元件依其电性检测结果进行分配，以传送至预定的导管F6被排入对应设于该分配机构F下方的第二料盒装置G中多个中的一个被预先设定的第二料盒Gl;该分配机构F与震动送料机A2位同一侧，并与检测台面A分别位于机台台面H不同的两侧，该分配机构F并位于机台台面H上，其较检测台面A处于较低的阶层；
其中，用以承收落料频率较高的受测元件的第一料盒装置E被配置在靠第二转盘C一侧下方且为对应检测台面A的下方;用以承收落料频率较低的受测元件的二料盒装置G被配置在靠第一转盘B—侧下方且为对应分配机构F的下方;该第一料盒装置E中的第一料盒El呈一圆筒状并具有圆形截面;该第二料盒装置G中的第二料盒Gl呈一长方筒状并具有一方矩形截面;该第一料盒El容积较大以承接并收容数量较多的落料频率较高的受测元件，而第二料盒Gl容积较小，以承接并收容数量较少的落料频率较低的受测元件，并因第二料盒Gl容积设计为较小，故可配合落料频率较低的受测元件其分BIN必须较多的需求，使第二料盒装置G可以较小的体积容置较多的第二料盒Gl;而第一料盒El与第二料盒Gl分别设为圆筒状及长方筒状等二种不同形状，可用以区别其中承收落料频率较高、较低的不同受测元件。
[0018]请参阅图4、5，该分配机构F包括设于机台台面H上的模座Fl，其设有一镂空的操作区间Fll，并经由该镂空的操作区间Fll将模座Fl区隔出位于操作区间Fll —侧的第一侧座F12，以及对应第一侧座F12并与其平行且位于操作区间Fll另一侧的第二侧座F13，和位于第一侧座F12与第二侧座F13间的第三侧座F14;该第一侧座F12上方设有由马达构成的第一驱动件F2，其输出轴(图中未示)平行第一侧座F12表面，并朝第三侧座F14的方向伸设;第二侧座F13下方设有一由马达构成的第二驱动件F3，其偏靠第三侧座F14的方向设置，其输出轴F31垂直第二侧座F13表面，并凸伸于第二侧座F13表面;第三侧座F14上设置一移摆机构F4，其以一第一固定座F41枢设一嵌轮F42，嵌轮F42中设有一转轴F43，该转轴F43的圆周设有轴向嵌沟F44，转轴F43的轴向与该第一侧座Fl 2上的第一驱动件F2输出轴平行，转轴F43的一端凸伸于嵌轮F42后端，转轴F43借该嵌沟F44嵌卡并与嵌轮F42旋转连动，但转轴F43可自由伸经嵌轮F42并于其中前后滑移;该转轴F43位于嵌轮F42的另一端伸经第一固定座F41而与一第二固定座F45固定并在轴向位移上连动，但转轴F43的旋转不与第二固定座F45连动；该第二固定座F45呈L型而以一侧设于第二侧座F13上一滑轨F15，该滑轨F15与转轴F43的轴向平行;转轴F43伸经第二固定座F45前方并于端部固设一与转轴F43轴向垂直的拨架F46，拨架F46底端设有一分配头F47，该分配头F47借排出管B41连接共通管B4 (参阅图3)以承接受测元件；
该第一侧座Fl 2上的第一驱动件F2输出轴(图中未示)以一与输出轴轴向垂直圈设的皮带F21与移摆机构F4嵌轮F42形成连动，使水平设置的转轴F43可被驱动进行间歇性转动，而带动其前端的拨架F46进行与转轴F43轴向垂直的间歇性旋摆运动；
该第二侧座F13的第二驱动件F3的输出轴F31固设一与输出轴F31垂直设置的驱动臂F32—端，驱动臂F32另一端则枢设一连动臂F33—端，连动臂F33另一端则与该移摆机构F4第二固定座F45上一枢座F48枢设，并借此形成连动，以借单独驱动第二固定座F45在滑轨F15上滑移作间歇性直线运动时，将带动转轴F43可沿转轴轴向作间歇性直线位移，并连动拨架F46及其上分配头F47在转轴F43轴向前、后伸移地作间歇性直线位移，此时分配头F47的移动动路为一直线并与转轴F43轴向在相隔一间距下相互平行。
[0019]请同时参阅图6、7，在镂空的操作区间Fll下方设有一三度空间的矩形立体向下凹陷的凹弧状平面的分配座F5，其三度空间的矩形立体向下凹陷的凹弧状平面两侧上端缘F51分别各固设于操作区间Fll两侧的第一侧座F12及第二侧座F13上，而由两侧的第一侧座F12及第二侧座F13处向下凹陷弧设，分配座F5矩形的凹弧状平面上设有多个管座F52，各管座F52的配设呈由上往下的扇形放射状配置，其下端各分别接设连至第二料盒装置G中的第二料盒Gl的导管F6(参阅图2、3)，各管座？52上方端口？53呈凹弧状平面排列布设，分配头F47是在各管座F52上方端口 F53排列布设的凹弧状平面作上、下的弧形摆移。
[0020]请参阅第九、十图，本发明实施例中的分配机构F在进行分
类时，当受测元件自图1中第一转盘B的共通管B4排出至分配头F47时，第一驱动件F2驱动嵌轮F42连动转轴F43旋转，使拨架F46载动分配头F47作间歇性旋摆运动，并贴靠在分配座F5上方凹弧状平面排列布设的各管座F52上方端口F53上缘作上、下的弧形摆移，同时第二驱动件F3也使驱动臂F32驱动连动臂F33使第二固定座F45在滑轨F15上以间歇性直线运动作前、后的水平直线滑移，以连动拨架F46载动分配头F47作前或后位移，而由该弧形摆移配合直线滑移将拨架F46上分配头F47带到预定的管座F52上方端口F53，以令排出管B41中的受测元件被卸放至预定的管座F52中被排放收集。
[0021]本发明实施例的电子元件分类方法及装置，由于第一转盘B、
第二转盘C、连接单元D同设在该水平检测台面A上;落料频率较高的受测元件，使其经第二转盘C的排出通道C3排出后，直接经由排出管C4毫无阻滞并直通地排入对应设于检测台面A下方的第一料盒装置E中多个中的一个被预先设定的第一料盒E1，其可以简化排料路径的阻滞而使落至第一料盒El的速度较快;落料频率较低的受测元件在经由共通管B4排出检测台面A上的第一转盘B的第一间歇性旋转流路后，因其落料频率较低，时间效率上可允许经一排出管B41进入一分配机构F，并经由该分配机构F将受测元件依其电性检测结果进行分配，以传送至预定的导管F6被排入对应设于该分配机构F下方的第二料盒装置G中多个中的一个被预先设定的第二料盒Gl，如此使不同落料频率的受测元件不仅可分别输送，同时具落料频率较高的数量较高的电子元件可被较大容量的第一料盒装置E中第一料盒El承载，具落料频率较低的较少数量电子元件可被较小容量的第二料盒装置G中第一料盒Gl承载，对落料量容置管控更恰当；而第一料盒装置E中的第一料盒El及第二料盒装置G中的第一.料盒Gl受可不受尚度、距检测台面A远近限制而提尚容量，使广能效率有效提尚。
[0022]惟以上所述者，仅为本发明的较佳实施例而已，当不能以此限定本发明实施的范围，即大凡依本发明申请专利范围及发明说明内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本发明专利涵盖的范围内。
【主权项】
1.一种电子元件分类方法，包括: 使多个受测元件被一第一旋转流路进行搬送及检测电性，当检测出其为落料频率较高的受测元件时，受测元件被搬送进入另一第二间歇性旋转流路，并由该第二间歇性旋转流路的排出通道排入一第一料盒装置中多个中的一个被预先设定的第一料盒；当检测出其为落料频率较低的受测元件时，受测元件由该第一间歇性旋转流路上一共通管排出至一第二料盒装置中多个中的一个被预先设定的第二料盒。2.如权利要求1所述电子元件分类方法，其特征在于，该落料频率较低的受测元件由共通管排出后，被一排出管排至一分配机构，而以一分配头在一具有多个连接导管的管座上摆移，并将排出管中的受测元件卸放至分配座上预定的管座中，由其接设的导管排放至被预先设定的第二料盒。3.如权利要求1所述电子元件分类方法，其特征在于，该第一转盘、第二转盘间以一连接单元形成搬送流路的连接，该共通管位于越过该连接单元的后段第一间歇性旋转流路上。4.一种电子元件分类装置，包括: 一第一转盘，周缘环列布设等间距且设有朝外开口的多个载槽，其形成一第一间歇旋转流路并以该载槽承收自一输送槽道输入的受测元件，该第一间歇旋转流路上设有一电性检测单元及一共通管； 一第二转盘，其承接该第一转盘传送来的受测元件并以一第二间歇旋转流路进行搬送，周缘环列布设等间距且设有朝外开口的多个载槽，各载槽分别对应设有排出通道； 该第一转盘、第二转盘间以一连接单元形成搬送流路的连接；当受测元件经电性检测单元进行电性检测的结果为属于落料频率较高的受测元件时，该受测元件被搬送到达该连接单元处时，由连接单元进入第二转盘的第二间歇性旋转流路的载槽被搬送，并依电性检测结果被排入预设的载槽分别各自对应的排出通道，以排出第二转盘的第二间歇性旋转流路；当受测元件经电性检测单元进行电性检测的结果为属于落料频率较低的受测元件时，该受测元件被由共通管排出第一转盘的第一间歇性旋转流路。5.如权利要求4所述电子元件分类装置，其特征在于，该落料频率较高的受测元件由一第一料盒装置中呈一圆筒状并具有圆形截面的第一料盒承收，落料频率较低的受测元件由一第二料盒装置中呈一长方筒状并具有一方矩形截面的第二料盒承收，第一料盒容积较第二料盒容积大。6.如权利要求4所述电子元件分类装置，其特征在于，该第一转盘的圆径较第二转盘的圆径小。7.如权利要求4所述电子元件分类装置，其特征在于，该第一转盘、第二转盘、连接单元同设在呈水平设置于机台台面上的一适当高度的检测台面上。8.如权利要求7所述电子元件分类装置，其特征在于，该分配机构与一震动送料机位同一侧，并与检测台面分别位于一机台台面不同的两侧，该分配机构并位于机台台上，其较检测台面处于较低的阶层。9.如权利要求4所述电子元件分类装置，其特征在于，该落料频率较高的受测元件经第二转盘的排出通道排出后，直接经由排出管毫无阻滞并直通地排入一第一料盒装置中多个中的一个被预先设定的第一料盒。10.如权利要求9所述电子元件分类装置，其特征在于，该用以承收落料频率较高的受测元件的第一料盒装置被配置在靠第二转盘一侧下方。11.如权利要求4所述电子元件分类装置，其特征在于，该落料频率较低的受测元件在经由共通管排出后，经一排出管进入一分配机构，并经由该分配机构将受测元件依其电性检测结果进行分配，以传送至预定的导管被排入对应设于该分配机构下方的第二料盒装置中多个中的一个被预先设定的第二料盒。12.如权利要求11所述电子元件分类装置，其特征在于，该用以承收落料频率较低的受测元件的第二料盒装置被配置在靠第一转盘一侧下方且为对应分配机构的下方。13.如权利要求11所述电子元件分类装置，其特征在于，该分配机构包括一移摆机构，其设有一水平设置的转轴，转轴一端设有一拨架并与其连动，拨架上设有一分配头，转轴受一第一驱动件驱动可作间歇性转动，及受一第二驱动件驱动可沿转轴轴向作间歇性直线位移，以带动分配头在一设有多个管座且各管座分别各接设该导管的分配座上摆移;该分配头借排出管连接共通管以承接受测元件，并将排出管中的受测元件卸放至分配座上预定的管座中，由其接设的导管排放至第二料盒装置中多个中的一个被预先设定的第二料盒。14.一种电子元件分类装置，包括用以执行权利要求1至3中任一所述电子元件分类方法的装置。
【文档编号】B07C5/38GK106064154SQ201610014988
【公开日】2016年11月2日
【申请日】2016年1月11日 公开号201610014988.6, CN 106064154 A, CN 106064154A, CN 201610014988, CN-A-106064154, CN106064154 A, CN106064154A, CN201610014988, CN201610014988.6
【发明人】陈荣宗, 高铭彬, 王安田
【申请人】万润科技股份有限公司