专利名称：X射线照相检验用叠厚承载试块组的制作方法
技术领域：
本实用新型属于X射线探测设备附件制造领域。
在X射线探测广泛应用于工业和其它领域，根据国家标准，在对工件实施射线透射的同时，亦需在底片上留下该工件的各种数据及参数以方便存档，这就需要一种与工件厚度相同、材料相同的试块作为产生字符的铅字(或像质器)的承载体并与工件同时透照。这样在被照射过的底片上就会留下与工件的影像密度相同的区域，并且在该区域内包含所放铅字的清晰影像。但目前在该领域所使用的承载垫块一般采用自制的垫片临时组合，这类承载试块厚度的分布既随意又不合理，往往将同厚度的试块用上多块，叠了一大堆还达不到所需的厚度要求，给检测人员的工作造成很大的麻烦。
本实用新型的目的是设计一种X射线照相检验用叠厚承载试块组，使之具有结构简单，方便使用的特点。
本实用新型的目的是通过如下的设计实现的。
用于在X射线探测时组成适合高度的字符铅字的承载垫层X射线照相检验用叠厚承载试块组，至少有一块基本厚度d的试块，其余n个试块的厚度依次以该基本厚度d的2K倍依次递增，K＝1，2，3.....n－1，n。
采用如上的手段后，本实用新型使用简单，标识明确，可在一定的范围内方便地用最少的试块数量取得最多的厚度组合，从而方便地组合出各种厚度的承载垫层。
如下。
图1为本实用新型实施例之一片试块的外观图。
以下结合附图对本实用新型的结构作进一步的详述由图1可看出本实用新型的基本结构，本实用新型由多块这样的试块组成，呈十定规律的厚度组合分布，至少有一块基本厚度d的试块，其余n个试块的厚度依次以该基本厚度d的2K倍依次递增，K＝1，2，3.....n－1，n。基本厚度d的选择有一定的任意性，一般情况下，选取d＝1毫米有独到的方便之处。
权利要求1.X射线照相检验用叠厚承载试块组，用于在X射线探测时组成适合高度的字符铅字的承载垫层，由呈一定厚度分布的多个金属块状物组成，其特征在于，至少有一块基本厚度d的试块，其余n个试块的厚度依次以该基本厚度d的2K倍依次递增，K＝1，2，3.....n－1，n。
2.根据权利要求1所述X射线照相检验用叠厚承载试块组，其特征在于，所述基本厚度d为1毫米。
专利摘要本实用新型公开了一种X射线照相检验用叠厚承载试块组,用于在X射线探测时组成适合高度的字符铅字的承载垫层,至少有一块基本厚度d的试块,其余n个试块的厚度依次以该基本厚度d的文档编号G01N23/04GK2480836SQ01206539
公开日2002年3月6日 申请日期2001年6月13日 优先权日2001年6月13日
发明者李国胜 申请人:李国胜