具有x射线信号放大功能的x射线测厚仪的制作方法

文档序号:9983188阅读:516来源:国知局
具有x射线信号放大功能的x射线测厚仪的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及X射线应用领域,尤其涉及具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪。
【背景技术】
[0002]X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给乳机厚度控制系统,已达到要求的乳制厚度,而测试的X射线强度需要很强大,X射线强度过小可能导致射线击穿材料后强度太弱,导致检测偏大较大。
[0003]因此,现有技术还有待于改进和发展。
【实用新型内容】
[0004]鉴于上述现有技术的不足,本实用新型的目的在于提供一种具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,旨在解决利用低能量X射线测厚度的问题。
[0005]本实用新型的技术方案如下:
[0006]一种具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,包括X射线管,板带,冷却装置,其中,还包括用于将穿透待测品的X射线转换为电离电流的电离室,与电离室连接的用于对电离电流进行放大处理的射线处理装置。
[0007]所述的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,其中,所述射线处理装置包括与电离室连接,用于对电离电流进行放大处理的前置放大器。
[0008]所述的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,其中,所述射线处理装置还包括与所述前置放大器连接的用于对放大的电离电流信号转换成数字信号的A/D转换器。
[0009]所述的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,其中,还包括与所述A/D转换器连接的用于对所述数字信号分析处理得出被测物体厚度的PC机。
[0010]所述的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,其中,所述PC机还与一控制开关连接,所述PC机控制所述控制开关的开闭,所述控制开关控制X射线管的启停。
[0011 ] 所述的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,其中,所述控制开关与高压电源和灯丝电流连接,控制所述高压电源和灯丝电流的启停。
[0012]有益效果:本实用新型的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,包括X射线管,板带,冷却装置,其中,还包括用于将穿透待测品的X射线转换为电离电流的电离室,与电离室连接的用于对电离电流进行放大并分析处理得出被测物体厚度的射线处理装置,通过前置放大器对输出的X射线进行放大,再经过A/D转换器将放大后的电离电流信号转换成数字信号,最后对数字信号进行分析处理得出被测物体厚度,本实用新型通过增大穿透后的射线强度,减小了测量的误差,增加了测量的准确性。
【附图说明】
[0013]图1为本实用新型的所述具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪的结构框图。
【具体实施方式】
[0014]本实用新型提供一种具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,为使本实用新型的目的、技术方案及效果更加清楚、明确,以下对本实用新型进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
[0015]请参阅图1,一种具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,包括X射线管100,板带200,冷却装置300,其中,还包括用于将穿透待测品的X射线转换为电离电流的电离室400,与电离室400连接的用于对电离电流进行放大处理的射线处理装置500。本实用新型的所述具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,通过对穿透后的X射线进行放大处理后,增加测量的准确性,待测物品放置在板带上,X射线管发射X射线,穿透待测物品,电离室对穿透的X射线进行转换处理,将穿透的X射线转换为电离电流信号,再通过射线处理装置对转换的电离电流信号进行放大处理后分析得出待测物品的厚度。
[0016]进一步的,所述的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,其中,所述射线处理装置500包括与电离室400连接,用于对电离电流进行放大处理的前置放大器501。本实用新型的所述具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,所述射线处理装置需要将所述穿透待测物品后的X射线进行放大处理,因此包括一前置放大器,与电离室连接,对电离室输出的电离电流进行放大处理,由于所述X射线不处理的话,强度过小,测量数据不够精确,将其放大处理后,能够得到较为精确的数据,最后分析处理时,只需将得到的数据与放大倍数之间进行处理即可得到待测物品的厚度,这相比直接测量穿透的X射线的强度,精度更高。
[0017]进一步的,所述的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,其中,所述射线处理装置500还包括与所述前置放大器501连接的用于对放大的电离电流信号转换成数字信号的A/D转换器502。本实用新型的所述具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,还包括A/D转换器,A/D转换器即模数转换器,或简称ADC,通常是指一个将模拟信号转变为数字信号的电子元件。通常的模数转换器是将一个输入电压信号转换为一个输出的数字信号。由于数字信号本身不具有实际意义,仅仅表示一个相对大小。故任何一个模数转换器都需要一个参考模拟量作为转换的标准,比较常见的参考标准为最大的可转换信号大小。而输出的数字量则表示输入信号相对于参考信号的大小。
[0018]进一步的,所述的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,其中,还包括与所述A/D转换器502连接的用于对所述数字信号分析处理得出被测物体厚度的PC机600。本实用新型的所述具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪还包括PC机,经过A/D转换器处理的数字信号在PC机中进行分析处理得出被测厚度。
[0019]进一步的,所述的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,其中,所述PC机600还与一控制开关700连接,所述PC机600控制所述控制开关700的开闭,所述控制开关700控制X射线管100的启停。本实用新型的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,所述PC机除了由于分析处理经过一系列处理后的X射线外,还可以控制所述X射线管的启停,所述PC机与一控制开关连接,所述控制开关控制X射线管的启停。
[0020]进一步的,所述的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,其中,所述控制开关700与高压电源800和灯丝电流900连接,控制所述高压电源800和灯丝电流900的启停。本实用新型的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,所述控制开关控制X射线管的启停,具体的,所述X射线管通过高压电源和灯丝电流产生X射线,本实用新型的所述控制开关与高压电源和灯丝电流连接,通过控制所述高压电源和灯丝电流控制X射线管的启停。
[0021]综上所述,本实用新型的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,包括X射线管,板带,冷却装置,其中,还包括用于将穿透待测品的X射线转换为电离电流的电离室,与电离室连接的用于对电离电流进行放大并分析处理得出被测物体厚度的射线处理装置,通过前置放大器对输出的X射线进行放大,再经过A/D转换器将放大后的电离电流信号转换成数字信号,最后对数字信号进行分析处理得出被测物体厚度,本实用新型通过增大穿透后的射线强度,减小了测量的误差,增加了测量的准确性。
[0022]应当理解的是,本实用新型的应用不限于上述的举例,对本领域普通技术人员来说,可以根据上述说明加以改进或变换,所有这些改进和变换都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。
【主权项】
1.一种具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,包括X射线管,板带,冷却装置,其特征在于,还包括用于将穿透待测品的X射线转换为电离电流的电离室,与电离室连接的用于对电离电流进行放大处理的射线处理装置。2.根据权利要求1所述的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,其特征在于,所述射线处理装置包括与电离室连接,用于对电离电流进行放大处理的前置放大器。3.根据权利要求2所述的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,其特征在于,所述射线处理装置还包括与所述前置放大器连接的用于对放大的电离电流信号转换成数字信号的A/D转换器。4.根据权利要求3所述的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,其特征在于,还包括与所述A/D转换器连接的用于对所述数字信号分析处理得出被测物体厚度的PC机。5.根据权利要求4所述的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,其特征在于,所述PC机还与一控制开关连接,所述PC机控制所述控制开关的开闭,所述控制开关控制X射线管的启停。6.根据权利要求5所述的具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,其特征在于,所述控制开关与高压电源和灯丝电流连接,控制所述高压电源和灯丝电流的启停。
【专利摘要】本实用新型公开一种具有X射线信号放大功能的X射线测厚仪,包括X射线管,板带,冷却装置,其中,还包括用于将穿透待测品的X射线转换为电离电流的电离室,与电离室连接的用于对电离电流进行放大处理的射线处理装置,通过前置放大器对输出的X射线进行放大,再经过A/D转换器将放大后的电离电流信号转换成数字信号,最后对数字信号进行分析处理得出被测物体厚度,本实用新型通过增大穿透后的射线强度,减小了测量的误差,增加了测量的准确性。
【IPC分类】B21B38/04
【公开号】CN204892561
【申请号】CN201520586346
【发明人】刘骏, 邵鲁东, 井元庆
【申请人】深圳市日联科技有限公司
【公开日】2015年12月23日
【申请日】2015年8月6日
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