专利名称：有机发光二极管的光电特性的测量方法及测量设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种光电特性的测量方法及测量设备，且特别是有关于一种有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode)的光电特性的测量方法及测量设备。
背景技术：
有机发光二极管是一种可将电能转换成光能且具有高转换效率的平面显示器元件，常见的用途为手机、PDA以及光源的各种平面显示器元件等等。由于有机发光二极管元件具备一些特性，如无视角、工艺简易、低成本、高应答速度、使用温度范围广泛与全彩化等，符合多媒体时代显示器特性的要求，近年来已成为研究的热潮。
而通常有机发光二极管于制作完成之后，都会进行其温湿光电特性的测试。意即将有机发光二极管产品置放在高温、高湿或高温高湿的环境中，进行其光电性质的测试。其测试的方法如下所述首先，将有机发光二极管产品放入一恒温恒湿试验机(机型GTM-225-40-1P)中，并在恒温恒湿试验机中施以一高温、一高湿或一高温高湿的状态。之后，每隔一段时间(例如每4小时、每8小时或每24小时)，必须先将恒温恒湿试验机关闭，待降温之后再以人工的方式将恒温恒湿试验机中的有机发光二极管产品取出。然后，利用一电源以提供一电流点亮有机发光二极管，并且以光学测量仪器(例如SR-2、BM-7或BM-5)测量有机发光二极管发光亮度的变化状态。再以人工的方式纪录光学测量仪器所测量到的亮度变化的数据，再将数据一一输入计算机中以进行数据资料的处理步骤。
然而，由于现有的测量设备中的恒温恒湿试验机、电源与光学测量仪器为三个不相关的装置，因此现有在进行测量时必须以人工的方式，从恒温恒湿试验机中将有机发光二极管产品搬出，再利用光学测量仪器以进行光电特性的测量，如此一来不但会影响高温高湿的实验，而影响到测量的正确性，并且由于恒温恒湿试验机回温需要时间，因此将会耗费许多等待升温降温的时间。此外，由于现有测量的方法必须安排人力定时的将有机发光二极管产品由恒温恒湿试验机中取出以进行其光电特性的测量，并且需要以人力的方式纪录测量的数据后再输入计算机，因此将耗费许多人力资源。再者，由于现有是以人工方式重复将有机发光二极管产品由恒温恒湿试验机中搬进搬出，因此，若操作不当可能有人员受伤的危险。
发明内容
因此，本发明的目的在于提供一种有机发光二极管的光电特性的测量方法及测量设备，以自动化的测量方式取代现有人工检测的方式，以降低人力成本。
本发明的另一目的是提供一种有机发光二极管的光电特性的测量方法，以改善改善利用现有的测量设备与测量方法可能有实验不准确的情形。
本发明的再一目的是提供一种有机发光二极管的光电特性的测量方法，以改善利用现有的测量设备与省测量方法中会浪费许多等待升温降温的时间。
本发明提出一种有机发光二极管的光电特性的测量方法，其首先提供一计算机、一电源与一腔体室，其中腔体室中放置有一治具，且治具上固定有至少一光学测量装置(Photodiode)。接着，将有机发光二极管放置在腔体室中的治具上，再于腔体室中施以一高温状态、一高湿状态或一高温高湿状态。之后，利用计算机以控制电源提供一固定的电流、电压或其它条件，以点亮腔体室中的有机发光二极管，此时腔体室中的光学测量装置将会测量有机发光二极管所产生的一发光亮度。之后，光学测量装置所测量到的发光亮度的一信号值，将传回至计算机中以进行一数据处理步骤。本发明还包括利用计算机设定每隔一段时间，便由电源提供一固定的电流、电压或其它条件以点亮有机发光二极管，并且以光学测量装置监测有机发光二极管所产生的发光亮度。
本发明提出一种有机发光二极管的光电特性的测量设备，此设备主要是由一计算机、一电源与一腔体室所构成，其中腔体室中还包括放置有一治具，且治具上固定有至少一光学测量装置(Photodiode)。而利用本发明的测量设备以进行有机发光二极管的光电特性的测量方法，首先将一有机发光二极管放置在腔体室中的治具上，再于腔体室中施以一高温状态、一高湿状态或一高温高湿状态。之后，利用计算机以控制电源提供一固定的电流、电压或其它条件，以点亮腔体室中的有机发光二极管，此时治具内的光学测量装置将会测量有机发光二极管所产生的一发光亮度。之后，光学测量装置所测量到的发光亮度的一信号值，将传回至计算机中以进行一数据处理步骤。本发明还包括利用计算机设定每隔一段时间，便由电源提供一固定的电流、电压或其它条件以点亮有机发光二极管，并且以光学测量装置监测有机发光二极管所产生的发光亮度。
本发明的有机发光二极管的光电特性的测量方法及测量设备，由于为自动化的测量，因此可降低许多人力成本。
本发明的有机发光二极管的光电特性的测量方法及测量设备，由于不需再将有机发光二极管搬进搬出，因此可省去许多等待升温降温的时间。
本发明的有机发光二极管的光电特性的测量方法及测量设备，由于不需再将有机发光二极管搬进搬出，因此可提高测量的准确性。
为让本发明的上述和其它目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举一较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下图1为依照本发明一较佳实施例的有机发光二极管的光电特性的测量方法的流程示意图；图2为依照本发明一较佳实施例的有机发光二极管的光电特性的测量设备的配置示意图；以及图3为依照本发明一较佳实施例的有机发光二极管的光电特性的测量设备中，其治具上的装置配置图。
图中符号说明100计算机
102电源104腔体室106光学测量装置107固定杆108治具110有机发光二极管112固定装置114、116连接线具体实施方式
图1所示，其示出为依照本发明一较佳实施例的有机发光二极管的光电特性的测量方法的流程示意图；图2所示，其示出为依照本发明一较佳实施例的有机发光二极管的光电特性的测量设备的配置示意图。
请同时参照图1与图2，利用本发明的有机发光二极管的光电设备以进行测量的方法，首先提供一计算机100、一电源102与一腔体室104。
其中腔体室104中放置有一治具108，且治具108的上固定有至少一光学测量装置106。而光学测量装置106通过一固定杆107以固定在治具108之上，且光学测量装置106是与计算机100连接。当进行测量之前，会将有机发光二极管110放置在治具108上，并通过治具108上的一固定装置(未示出)，将有机发光二极管110固定在治具108上。而有机发光二极管1 10的阳极与阴极分别与电源102连接，且电源102又与计算机100连接。
图3所示，其示出为依照本发明一较佳实施例的有机发光二极管的光电特性的测量设备中，其治具上的装置配置图。
请参照图3，光学测量装置106以一固定杆107固定在治具的上，且治具上配置有一固定装置112，用以固定一有机发光二极管110。而连接线114、116分别与有机发光二极管110的阴极与阳极连接，其中连接线114、116的另一端连接在电源上。
请继续参照图1与图2，将有机发光二极管110固定在腔体室104中的治具108上之后，便于腔体室104中施以一高温状态、一高湿状态或一高温高湿状态。其中高温状态例如为摄氏25度至摄氏100度，高湿状态例如为相对湿度40至100。
之后，利用计算机100控制电源102提供一固定的电流、电压或其它条件至腔体室104中，以点亮有机发光二极管。此时，治具108上的光学测量装置106会测量到有机发光二极管1 10所产生的一发光亮度。然后，光学测量装置106将会把所测量到的发光亮度的信号值传回计算机100中，以进行一数据处理步骤。其中此数据处理步骤例如为一数据处理步骤、一图表制作步骤或一统计分析步骤。
本发明亦可利用计算机100设定治具108上的光学测量装置106的取样时间，意即定时的取得有机发光二极管110所产生的发光亮度，且光学测量装置110会将所测量到的发光亮度的信号值传回计算机100中，以进行数据处理步骤。
本发明还包括利用计算机100设定于每隔一段时间(依实验的需求而定)，便由电源102提供一固定的电流、电压或其它条件至治具108中，以点亮有机发光二极管110，并由光学测量装置106测量有机发光二极管110所产生的发光亮度。之后，光学测量装置106会将所测量到的发光亮度的信号值传回至计算机100中以进行一数据处理步骤。
本发明将光学测量装置放置在治具内并将治具放置在腔体室内，以随时监测有机发光二极管的亮度变化的状态。因此，较现有方法中必须重复将有机发光二极管由温恒湿测试机中搬进搬出以进行其光电特性的测量，可省去许多人力成本与等待升温降温的时间。其中，现有测量方法所需的人力为2人/天，而本发明的测量方法所需的人力仅需0.5人/天，因此，可减少约4倍的人力。且由于本发明的测量方法不需取出有机发光二极管以进行其光电性质的测试，因此不会中断其高温高湿的实验而影响测量的正确性。此外，本发明可利用计算机自由设定测量频率，意即可依照需要设定每隔一段时间即测量一次有机发光二极管的光电特性，因此对于细微的变化较易掌控。再者，本发明系为全自动化的测量，由于人员不需直接接触高温高湿的腔体室，因此较不会有人员安全的顾虑。
综合以上所述，本发明具有下列优点
1.本发明的有机发光二极管的光电特性的测量方法及测量设备，由于为自动化的测量，因此可降低许多人力成本。
2.本发明的有机发光二极管的光电特性的测量方法及测量设备，由于不需再将有机发光二极管搬进搬出，因此可省去许多等待升温降温的时间。
3.本发明的有机发光二极管的光电特性的测量方法及测量设备，由于不需再将有机发光二极管搬进搬出，因此可提高测量的准确性。
虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视所附的权利要求书所界定者为准。
权利要求
1.一种有机发光二极管的光电特性的测量方法，包括下列步骤提供一计算机、一电源与一腔体室，其中该腔体室中放置有一治具，且该治具上固定有至少一光学测量装置；将有机发光二极管放置在该腔体室中的该治具上；利用该计算机控制该电源以点亮该有机发光二极管；以及该光学测量装置将会测量到该有机发光二极管所产生的一发光亮度，且该光学测量装置会将该发光亮度的一信号值传回该计算机中，以进行一数据处理步骤。
2.如权利要求1所述的有机发光二极管的光电特性的测量方法，其特征在于，该计算机还包括控制该电源点亮该有机发光二极管的一频率。
3.如权利要求1所述的有机发光二极管的光电特性的测量方法，其特征在于，该计算机还包括设定该光学测量装置的一取样时间。
4.如权利要求1所述的有机发光二极管的光电特性的测量方法，其特征在于，该数据处理步骤包括一数据处理步骤、一图表制作步骤与一统计分析步骤。
5.如权利要求1所述的有机发光二极管的光电特性的测量方法，其特征在于，该腔体室中的温度介于摄氏25度至摄氏100度。
6.如权利要求1所述的有机发光二极管的光电特性的测量方法，其特征在于，该腔体室中的湿度介于相对湿度40至100。
7.如权利要求1所述的有机发光二极管的光电特性的测量方法，其特征在于，该电源提供一电流以点亮该有机发光二极管。
8.如权利要求1所述的有机发光二极管的光电特性的测量方法，其特征在于，该电源提供一电压以点亮该有机发光二极管。
9.一种自动测量有机发光二极管的光电特性的方法，包括下列步骤提供一计算机、一电源与一治具，其中该治具上固定有至少一光学测量装置；将有机发光二极管放置在该治具上；利用该计算机控制该电源以点亮该有机发光二极管；以及该光学测量装置将会测量到该有机发光二极管所产生的一发光亮度，且该光学测量装置会将该发光亮度的一信号值传回该计算机中，以进行一数据处理步骤。
10.如权利要求9所述的自动测量有机发光二极管的光电特性的方法，其特征在于，该计算机还包括控制该电源点亮该有机发光二极管的一频率。
11.如权利要求9所述的自动测量有机发光二极管的光电特性的方法，其特征在于，该计算机还包括设定该光学测量装置的一取样时间。
12.如权利要求9所述的自动测量有机发光二极管的光电特性的方法，其特征在于，该数据处理步骤包括一数据处理步骤、一图表制作步骤与一统计分析步骤。
13.如权利要求9所述的自动测量有机发光二极管的光电特性的方法，其特征在于，该电源提供一电流以点亮该有机发光二极管。
14.如权利要求9所述的自动测量有机发光二极管的光电特性的方法，其特征在于，该电源提供一电压以点亮该有机发光二极管。
15.一种有机发光二极管的光电特性的测量设备，包括一计算机；一电源，该电源系与该计算机连接，通过该计算机以控制该电源；以及一腔体室，其特征在于，腔体室中配置有一治具，该治具用来放置一有机发光二极管，且该有机发光二极管的一阳极与一阴极与该电源连接；以及至少一光学测量装置，该光学测量装置固定在该治具之上且该光学测量装置与该计算机连接，通过该计算机以控制该光学测量装置。
16.如权利要求15所述的有机发光二极管的光电特性的测量设备，其特征在于，该治具上还包括配置有一固定杆，用以将该光学测量装置固定于该治具之上。
17.如权利要求15所述的有机发光二极管的光电特性的测量设备，其特征在于，该治具上还包括一固定装置，用以将该有机发光二极管固定在该治具上。
18.如权利要求15所述的有机发光二极管的光电特性的测量设备，其特征在于，该计算机控制该电流供应器点亮该有机发光二极管的一频率。
19.如权利要求15所述的有机发光二极管的光电特性的测量设备，其特征在于，该计算机控制该光学测量装置的一取样时间。
20.如权利要求15所述的有机发光二极管的光电特性的测量设备，其特征在于，该腔体室中的温度为摄氏25度至摄氏100度。
21.如权利要求15所述的有机发光二极管的光电特性的测量设备，其特征在于，该腔体室中的湿度为相对湿度40至100。
22.一种有机发光二极管的光电特性的测量设备，包括一计算机；一电源，该电源与该计算机连接，通过该计算机以控制该电源；以及一治具，该治具的上固定有至少一光学测量装置，该光学测量装置与该计算机连接，通过该计算机以控制该光学测量装置，且该治具用来放置一有机发光二极管，该有机发光二极管的一阳极与一阴极系与该电源连接。
23.如权利要求22所述的有机发光二极管的光电特性的测量设备，其特征在于，还包括一固定杆，以将该光学测量装置固定在该治具的上方。
24.如权利要求22所述的有机发光二极管的光电特性的测量设备，其特征在于，该治具上还包括一固定装置，以将该有机发光二极管固定在该治具。
25.如权利要求22所述的有机发光二极管的光电特性的测量设备，其特征在于，该计算机控制该电流供应器点亮该有机发光二极管的一频率。
26.如权利要求22所述的有机发光二极管的光电特性的测量设备，其特征在于，该计算机系控制该光学测量装置的一取样时间。
全文摘要
一种有机发光二极管的光电特性的测量方法及测量设备，此方法首先于腔体室中的治具上固定至少一光学测量装置。接着，将有机发光二极管放置在治具上，再于腔体室中施以高温、高湿或高温高湿状态。之后，利用计算机控制电源以提供电流或电压以点亮有机发光二极管，再以光学测量装置测量有机发光二极管所产生的发光亮度。所测量到的发光亮度的信号值将会传回至计算机中(计算机中需先输入至少两组不同发光亮度的信号值)，以进行数据处理步骤。由于本发明为完全自动化，因此可以省去许多人力成本，且能提高测量准确性。
文档编号G01R31/26GK1510430SQ0215911
公开日2004年7月7日 申请日期2002年12月20日 优先权日2002年12月20日
发明者吴明信, 陈汝中, 林树新, 王彦琳 申请人:铼宝科技股份有限公司