电子及测试业专用复合式治具的制作方法

文档序号:5885104阅读:324来源:国知局
专利名称:电子及测试业专用复合式治具的制作方法
技术领域
本发明涉及一种电子及测试业测试电路板的复合式治具。
背景技术
现有治具包括一底座、一针板、一底板、若干探针组件及导线,底板与底座固定在一起,而底板与针板之间通过定位柱和定位孔而连接定位,针板和底板均由多层板组成,其中底板由多层板叠置组成,而在针板的各层板之间设有软质橡胶,在针盘和底板上均设有若干穿孔,内置有探针组件,探险针组件主要有两种一种是传统的结构,由大针套、小针套、装在小针套内的弹簧、探针组成,探针的下部插于并固定于小针套内,带探针的小针套插于大针套内,导线与大针套的尾部固定连接,大针套置于底板的穿孔中;一种是去掉了针套,由相互独立的弹簧和探针构成,弹簧置于底板的穿孔中,而探针置于针板的穿孔中,当两者置于针板和底板内的穿孔后,探针的尾部与弹簧的头部相接触,弹簧的尾部接设有导线。该两种治具因为底座与底板固定在一起,且导线与探针组件固定连接,所以制作复杂,维修不便,且第二种治具不便于更换弹簧且弹簧不便于重复使用,利用率低,而第一种治具其探针组件制作要求高,价格昂贵,成本极高。

发明内容
本发明的目的在于针对以上所述问题,提供一种维修方便、易于更换探针、弹簧且便于探针、弹簧重复使用的电子及测试业专用复合式治具。
本发明的目的是这样实现的本发明包括底座、牛角连接器、针板、底板、若干探针组件及导线,针板由多层板组合而成,在板之间设有间隔,底板由多层板叠置而成,在针盘和底板上均设有若干穿孔,探针组件置于针板和底板的穿孔内,其探针的头部露出于针板的表面,针板和底板固定成为整体的针盘,底座包括底座板和支架,在底座板上设有与底板对应的穿孔,针盘与底座板之间为可拆式连接,导线的一端与牛角连接器的接线柱连接,另一端定位于底座板的穿孔内,并与探针组件的底部通过接触的方式导通。
本发明的技术效果在于本发明由于针盘与底座可方便拆开,而且导线与探针组件是通过相接触的方式导通,所以当探针、弹簧需更换时只需把针盘与底座分开,再取出探针组件更换探针、弹簧即可,维修非常方便,另外弹簧没有与导线焊在一起,可以重复使用。
以下结合附图和实施例对本发明作进一步说明。


图1是实施例一的立体分解图。
图2是实施例一的剖视图。
图3是实施例一中一种探针组件的结构示意图。
图4是图3中弹簧的结构图。
图5、图7、图8是本发明几种不同形状弹簧的示意图。
图6是图5所示弹簧的放大的俯视图。
图9是实施例二的部分结构示意图。
图10是实施例二中探针组件的结构图。
具体实施例方式
如图1、图2所示,实施例一包括上、下两套治具,分别用于测试待测电路板1上、下面上的待测端点,以下治具为例说明其结构如下;下治具包括一针盘2、一底座3、探针组件、导线5、牛角连接器4,每个探针组件包括一弹簧6和一探针8,针盘2由针板201和底板203组合而成,针板201包括四层板,每两层板之间设有空隙并由支柱202支撑,底板203由三层板叠置而成,在针板201和底板203上均设有若干穿孔,其孔位、孔径、孔距、孔数由待测电路板5上待测端点的点位及点数决定,针板201和底板203由连接柱7及两端的螺钉连接成一个整体,针板201上穿孔的孔径大于探针8的外径,探针8置于针板201的穿孔内,其头部露出于针盘2的表面,在测试时与待测电路板1的待测端点相接触,弹簧6置于底板203的穿孔内,且底板203上穿孔的孔径大于弹簧的最大外径,底板203的底层为一层薄板,当然也可以是一层胶片,其上穿孔的孔径小于弹簧6的最大外径而与弹簧6尾部的外径相适应,这样弹簧6就被限制在底板203的穿孔内而不会掉下来;底座3由底座板301和支架302组成,在底座板301上设有与底板203对应的穿孔,底板203与底座板301之间通过导向柱和导向孔而连接且定位,导线5的一端焊接有一金属套筒,该金属套筒卡于底座板301的穿孔内,与弹簧6的底部相接触,从而弹簧6与导线5通过金属套筒接触而导通,在底座3的支架302上固定有牛角连接器4,导线5的另一端与牛角连接器4的接线柱连接,牛角连接器4则与测试机的排线相连接。
如图2所示,实施例一中探针组件由弹簧6和探针8连接成一个可拆式整体,图3所示的探针组件采用两端形状相同的探针8,这样探针8可以重复交换使用,从而提高利用率而节省成本。如图4所示,图3中的弹簧6由头部61、中部62和尾部63构成,其中部62为圆柱形,在该中部62设有一处由三圈钢线并拢绕成的并拢段,其尾部63为倒锥形,其头部61由下面的锥形段和上面的错位段组成,探针8的底部紧插于该错位段内,并由弹簧头部的锥形段来托抵。
如图2所示,实施例一中有的探针斜置于针盘1的穿孔内,即上下针板201上对应穿孔的中心有一定的错位,这样可增加检测密度。
为了防尘,实施例一把针盘1的四周封闭起来作成一个箱体的形式,如图1所示。
实施例一中的弹簧还可采用各种结构如图5、图7、图8所示,如下所述图5所示弹簧的头部由下面的锥形段和上面的圆柱段9组成,在其圆柱段9上每圈设有向内绕成的凸点如图6所示,该凸点也可以是在一圈上设有,或在多圈上设有,用于卡住探针,该圆柱段也可为普通的圆柱形,探针的底部紧插于该圆柱段内并由下面的锥形段托抵。图7所示弹簧的头部由下面的锥形段和上面的弯曲段10组成,探针的底部紧插于该弯曲段10内并由下面的锥形段托抵。图8所示弹簧的头部为圆柱形,与一金属的针套11相连接,针套11的底部紧塞于弹簧的头部内,在该针套11内壁设有凸点,探针的底部紧插于该针套11内,该弹簧也可采用普通的弹簧。除此之外,该弹簧还可采用其它的形状。
如图9和图10所示,实施例二与实施例一不同之处在于实施例二中的探针组件由金属针套13、弹簧14和探针12组成,在金属针套13内壁上设有用于卡住探针12的凸点,弹簧14置于金属针套13内,探针12的下部紧插于金属针套13内,并由凸点固定,带探针的金属针套13的底部与连有套筒的导线15通过接触的方式导通。另外,实施例二中所有探针组件的金属针套的长度相同。
本发明中的探针除了可采用上述实施例的形状外,还可采用其它的形状,探针的长度为11.5mm-100mm。
本发明中导线与探针组件的底部相接触的方式还可以是导线的一端焊接于底座板的穿孔内,并使该堵塞点与探针组件的底部相接触导通。
本发明在针板的各层之间可以设置有绝缘的材料如软橡胶、高弹力绝缘布等,以夹住探针;也可以在所述探针的中部或下部套有一段弹簧或内壁有凸点的套筒,该弹簧可以是普通的圆柱形,也可以是带向内凸点的圆柱形,还可以是弯曲的或错位卷绕而成的弹簧,而在针板的各层之间不设置软性绝缘材料。
本发明中针板及底板均为由绝缘材料制成的板,如纤维板、压克力板、电木板等。
在实际使用中,位于待测电路板两面的上、下治具可以均采用本发明的治具,也可是其中之一采用本发明的治具,而另一个采用传统的治具。
权利要求
1.一种电子及测试业专用复合式治具,包括底座、牛角连接器、针板、底板、若干探针组件及导线,针板由多层板组合而成,在板之间设有间隔,底板由多层板叠置而成,在针盘和底板上均设有若干穿孔,探针组件置于针板和底板的穿孔内,其探针的头部露出于针板的表面,导线的一端与牛角连接器的接线柱连接,其特征在于所述针板和底板固定成为整体的针盘,所述底座包括底座板和支架,在底座板上设有与底板对应的穿孔,针盘与底座板之间为可拆式连接,所述导线的另一端定位于底座板的穿孔内,并与探针组件的底部通过接触的方式导通。
2.根据权利要求1所述的电子及测试业专用复合式治具,其特征在于每个所述探针组件由弹簧和探针组成为可拆式整体,探针的底部紧插入弹簧的头部,探针置于针板的穿孔内,弹簧位于底板的穿孔内,弹簧的底部与导线的一端通过接触的方式导通。
3.根据权利要求2所述的电子及测试业专用复合式治具,其特征在于所述弹簧的头部由下面的锥形段和上面的弯曲段组成,探针的底部紧插于该弯曲段内。
4.根据权利要求2所述的电子及测试业专用复合式治具,其特征在于所述弹簧的头部由下面的锥形段和上面的错位段组成,探针的底部紧插于该错位段内。
5.根据权利要求2所述的电子及测试业专用复合式治具,其特征在于所述弹簧的头部由下面的锥形段和上面的圆柱段组成,探针的底部紧插于该圆柱段内。
6.根据权利要求5所述的电子及测试业专用复合式治具,其特征在于所述弹簧头部的圆柱段设有向内的凸点。
7.根据权利要求1所述的电子及测试业专用复合式治具,其特征在于所述探针组件由弹簧、套筒和探针组成,套筒的底部紧塞于弹簧的顶部内,在该套筒内壁设有凸点,探针的底部紧插于该套筒内。
8.根据权利要求1所述的电子及测试业专用复合式治具,其特征在于每个所述探针组件由金属针套、弹簧和探针组成,在金属针套内壁上设有用于卡住探针的凸点,弹簧置于金属针套内,探针的下部插于金属针套内并由凸点固定,带探针的金属针套的底部与导线通过接触的方式导通;所有探针组件的金属针套的长度相同。
9.根据权利要求1所述的电子及测试业专用复合式治具,其特征在于所述导线的一端是焊接于底板的穿孔内,并使该堵塞点与探针组件的底部相接触。
10.根据权利要求1所述的电子及测试业专用复合式治具,其特征在于所述导线的一端固定连接一金属套筒,该金属套筒卡于底座板的穿孔内,并与探针组件的底部相接触。
11.根据权利要求1或2或7或8所述的电子及测试业专用复合式治具,其特征在于在所述探针的中部或下部还套有一段弹簧,该弹簧为普通、弯曲的或错位卷绕而成的弹簧。
12.根据权利要求1或2或7或8所述的电子及测试业专用复合式治具,其特征在于在所述探针的中部或下部还套有一段内壁有凸点的套筒。
13.根据权利要求1所述的电子及测试业专用复合式治具,其特征在于有的探针斜置于针盘的穿孔内,即上下针板的相应穿孔的中心有一定的错位。
14.根据权利要求1所述的电子及测试业专用复合式治具,其特征在于所述探针两端的形状相同,探针的长度为11.5mm-100mm。
全文摘要
本发明为一种电子及测试业专用复合式治具,包括底座、牛角连接器、针板、底板、若干探针组件及导线,针板由多层板组合而成,在板之间设有间隔,底板由多层板叠置而成,在针盘和底板上均设有若干穿孔,探针组件置于针板和底板的穿孔内,其探针的头部露出于针板的表面,针板和底板固定成为整体的针盘,底座包括底座板和支架,在底座板上设有与底板对应的穿孔,针盘与底座板之间为可拆式连接,导线的一端与牛角连接器的接线柱连接,另一端定位于底座板的穿孔内,并与探针组件的底部通过接触的方式导通。本发明维修方便,易于更换探针、弹簧且便于探针、弹簧重复使用。
文档编号G01R31/28GK1529181SQ0313599
公开日2004年9月15日 申请日期2003年9月30日 优先权日2003年9月30日
发明者王云阶 申请人:王云阶
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