专利名称：X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种X射线荧光分析用设备，尤其涉及一种X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘，用于承载坩埚。
背景技术：
目前，高精度X射线荧光分析中，要将分析样品制备成玻璃片。通常采用的设备有高频感应炉和电热熔样炉两类，后者用高温合金支架来承载盛放有样品的铂-黄合金坩埚，因高温下合金支架会与坩埚作用并损坏坩埚，因此要在支架与坩埚之间辅以陶瓷柱进行隔离，并在坩埚上制作相应的缺口以防熔样炉工作时坩埚脱落，从而造成整体结构复杂。另外，合金支架长期在高温下使用会被氧化、损坏，使用寿命有限。
为克服结构复杂、使用寿命短的缺陷，要求提供一种载样盘，该载样盘可直接承载铂-黄合金坩埚，在高温下不与坩埚作用；同时，载样盘耐热性能非常好，结构简单，不会在高温下被氧化、损坏，使用寿命长，成本低。
发明内容
鉴于上述现有技术所存在的问题，本实用新型的目的是提供X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘，可直接承载铂-黄合金坩埚，在高温下不与坩埚作用；同时，载样盘耐热性能非常好，结构简单，不会在高温下被氧化、损坏，使用寿命长，成本低。
本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的一种X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘，陶瓷载样盘的整体为一圆盘，圆盘的中心设置有轴孔，轴孔与电热熔样炉的转动轴连接；圆盘的四周设有多个沿轴向的透孔。
所述的圆盘的上表面为平面，圆盘的下表面中部设有圆台，轴孔设于圆台中部；圆盘的下表面从圆台侧面至圆盘外边沿径向设有加强筋。
所述的轴孔为方孔。
所述的加强筋为多个，设于两个透孔之间。
所述的加强筋沿径向由内至外厚度逐渐减小。
所述的透孔为圆型。
所述的透孔边缘设有缺口。
由以上技术方案可知本实用新型所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘，陶瓷载样盘的整体为一圆盘，圆盘的中心设置有轴孔，轴孔与电热熔样炉的转动轴连接；圆盘的四周设有多个沿轴向的透孔。另外陶瓷载样盘由高温陶瓷材料制成的，解决合金制坩埚架的结构复杂问题和在高温下的氧化问题。可直接承载铂-黄合金坩埚，在高温下不与坩埚作用；同时，载样盘耐热性能非常好，结构简单，不会在高温下被氧化、损坏，使用寿命长，成本低。
图1为本实用新型所述X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘主视图；图2为本实用新型所述X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘俯视图；图3为本实用新型所述X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘仰视图。
具体实施方式
本实用新型所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘，的具体实施方式
如图1、图2与图3所示陶瓷载样盘的整体为一圆盘，圆盘的上表面为平面，圆盘的下表面中部设有圆台1，圆盘的中心的轴孔2设于圆台1中部；所述的轴孔2为方孔，轴孔2与电热熔样炉的转动轴连接。圆盘的四周设有多个沿轴向的透孔3，用于承载坩埚，透孔3为圆型，透孔3边缘设有缺口4，该缺口4的目的是取放样品、释放盘面在高温下的热应力。圆盘的下表面从圆台1侧面至圆盘外边沿径向设有加强筋5，用以增加整个载样盘的机械强度，加强筋5沿径向由内至外厚度逐渐减小。
本实用新型所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘是经高温烧制而成，烧制方法与常规高温陶瓷相同。烧制成的载样盘经抛光后，可直接使用。可用于在1250摄氏度以下。使用时，将载样盘的方形轴孔2套在熔样炉中的转动轴上，在有透孔3的位置放置盛有样品的坩埚即可。
权利要求1.一种X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘，其特征在于，陶瓷载样盘的整体为一圆盘，圆盘的中心设置有轴孔，轴孔与电热熔样炉的转动轴连接；圆盘的四周设有多个沿轴向的透孔。
2.根据权利要求1所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘，其特征在于，所述的圆盘的上表面为平面，圆盘的下表面中部设有圆台，轴孔设于圆台中部；圆盘的下表面从圆台侧面至圆盘外边沿径向设有加强筋。
3.根据权利要求1或2所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘，其特征在于，所述的轴孔为方孔。
4.根据权利要求1或2所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘，其特征在于，所述的加强筋为多个，设于两个透孔之间。
5.根据权利要求2所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘，其特征在于，所述的加强筋沿径向由内至外厚度逐渐减小。
6.根据权利要求1所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘，其特征在于，所述的透孔为圆型。
7.根据权利要求1或6所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘，其特征在于，所述的透孔边缘设有缺口。
专利摘要本实用新型所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘，陶瓷载样盘的整体为一圆盘，圆盘的中心设置有轴孔，轴孔与电热熔样炉的转动轴连接；圆盘的四周设有多个沿轴向的透孔。另外陶瓷载样盘由高温陶瓷材料制成的，解决合金制坩埚架的结构复杂问题和在高温下的氧化问题。可直接承载铂－黄合金坩埚，在高温下不与坩埚作用；同时，载样盘耐热性能非常好，结构简单，不会在高温下被氧化、损坏，使用寿命长，成本低。
文档编号G01N23/223GK2748909SQ03266100
公开日2005年12月28日 申请日期2003年6月27日 优先权日2003年6月27日
发明者詹秀春, 陈永君, 杨啸涛 申请人:国家地质实验测试中心