专利名称：光学检测系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种光学检测系统。
背景技术：
目前的光学检测系统如图1所示，其包括一平行光源1及一光学测试仪器2(如CCD测试机)。检测时，平行光源1向被测物体3发射平行光线，经被测物体3反射后，到达CCD测试机2中，由CCD测试机2进行分析比较，以判断该被测物体3是否合格。这种光学检测系统一般适用于在空气中直接检测，但如果在光源1与被测物体3之间有一玻璃或其它类似透明物4时，因为玻璃4的折射作用，检测结果会产生较大的误差，严重影响检测的精确性。
发明内容本发明的目的在于提供一种光学检测系统，以能较精确地透过透明物体进行检测。
为实现上述目的，本发明光学检测系统，用于光线需穿过透明体的场合，其包括光源、光学测试仪器，其特征在于该光学检测系统进一步包括一半反射镜，该光源、半反射镜与光学测试仪器具有适当的位置与角度，使光源发出的光线能垂直进入透明体，经被测物体反射后沿原路返回到达光学测试仪器中。
与现有技术相比，因为本发明可使光源发出的光线能垂直进入透明体，经被测物体反射后沿原路返回到达光学测试仪器中，从而能避免光线在透明体中产生折射而影响检测的精确性，保证检测的精确性。
图1为现有光学检测系统应用时的工作原理图。
图2为本发明光学检测系统应用时的工作原理图。
图3为本发明另一种光学检测系统应用时的工作原理图。
图4为本发明又一种光学检测系统应用时的工作原理图。
具体实施方式请参阅图3与图4，本发明光学检测系统系用来检测安装LGA型IC后电连接器10端子12上接触端14的位置，其包括以下步骤1)提供一透明体20(如玻璃)，该透明体20包括主体22及位于主体22两端的导引部24和安装部26；2)提供一工作台30，且将该透明体20安装部26固定于工作台30上；3)将电连接器10放置于透明体20上，该电连接器中央的通孔(未标示)穿过透明体20上的导引部24，且使电连接器端子12的上接触端14面向透明体20；4)将一辅助件40压迫于电连接器10上，且对其施加一定的竖直向下的作用力，使其端子12和透明体20压缩接触，达到正常工作时所处的状态；5)通过一光学检测系统50来检测出端子12与透明体20的接触点16的位置。在本实施例中该光学检测系统50包括CCD测试机52(也可为其它光学测试仪器)、一半反射镜54和一反射镜56以及一平行光源58。半反射镜54为一既能反射光线又能让光线透射的镜子(如在透明玻璃上涂布一些细小的点状可反射物，如水银)，且半反射镜54和反射镜56分别与水平面呈45度和135度夹角；5)通过判断这些接触点16位置是否在设定范围内，来确定该电连接器是否合格。
测试时，首先从平行光源58发射出一组平行光，光线到达半反射镜54后将被反射，由光线反射原理以及半反射镜54的摆放位置，一部份光将被水平方向反射出去到达反射镜56，之后按照同样的原理光线将会垂直向上透过透明体20，然后碰到实物后被反射回来。因为端子12与透明体20的接触点16会因挤压形成一小平面，相当于一小反射镜，故射到该处的光线会沿原路返回，然后再经反射镜56反射、半反射镜54透射而到达CCD测试机52的镜头，而透过透明体20的光线到达除端子接触点16外的其它部位时，因为这些部位不是镜面，且大部分非水平，故经反射后到达CCD镜头的光线较少，从而CCD测试机52可根据亮度的不同检测出接触点16的位置，再将其与设定范围比较，可得出这些接触点16是否落在设定范围内，从而可判断出该电连接器10是否合格。
因为上述光学检测系统50中设有半反射镜，再通过对半反射镜、反射镜、光源及CCD测试机的位置与角度进行适当设计，可保证光线垂直向上透过透明体，使光线能垂直透过透明体而到达CCD镜头，故可避免光线在透明体中产生折射而影响检测的精确性。
当然，本发明光学检测系统还可采取其它多种不同的方式，如改变半反射镜54’与反射镜56’的角度和位置，将其角度分别设为与水平方向成30度及120度夹角(如图5所示)，也可不用反射镜，而直接将其半反射镜54”与水平方向成135度夹角(如图6所示)，等等，这些方式都能使光线沿原路返回，且到达CCD镜头，从而适于应用在需透过透明体进行检测的场合。
容易理解，本发明光学检测系统并不局限于应用在与LGA型IC相配合的电连接器上，还可应用于需穿过透明体进行检测的场合。当然，如果一个CCD镜头分辨不出接触点的位置，可以利用多个CCD镜头从不同方向检测接触点，来检测出接触点的准确位置。
权利要求
1.一种光学检测系统，用于光线需穿过透明体的场合，其包括光源、光学测试仪器，其特征在于该光学检测系统进一步包括一半反射镜，该光源、半反射镜与光学测试仪器具有适当的位置与角度，使光源发出的光线能垂直进入透明体，经被测物体反射后沿原路返回到达光学测试仪器中。
2.如权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于该半反射镜与水平面呈135度夹角。
3.如权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于该光学检测系统进一步设有一反射镜，且该半反射镜和反射镜分别与水平面呈45度和135度夹角。
4.如权利要求1、2或3所述的光学检测系统，其特征在于该光学测试仪器为CCD测试机。
5.如权利要求1、2或3所述的光学检测系统，其特征在于该光学检测系统可应用于与LGA型IC相配合的电连接器端子。
6.如权利要求3所述的检测方法，其特征在于该半反射镜既能反射光线又能让光线透过。
全文摘要
本发明公开了一种光学检测系统，用于光线需穿过透明体的场合，其包括光源、光学测试仪器，其特征在于该光学检测系统进一步包括一半反射镜，该光源、半反射镜与光学测试仪器具有适当的位置与角度，使光源发出的光线能垂直进入透明体，经被测物体反射后沿原路返回到光学测试仪器中。与现有技术相比，因为本发明可使光源发出的光线能垂直进入透明体，经被测物体反射后沿原路返回到光学测试仪器中，从而能避免光线在透明体中产生折射而影响检测的精确性，保证检测的精确性。
文档编号G01N21/84GK1556398SQ20041001500
公开日2004年12月22日 申请日期2004年1月5日 优先权日2004年1月5日
发明者朱德祥, 陈恭统 申请人:番禺得意精密电子工业有限公司