专利名称：Ic检测装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种IC检测装置，其各取料机构独立作动，可易于提升组装精度及载送速度，进而更加提高检测效率。
背景技术：
请参阅图1～图5，是申请人先前申请的台湾专利申请第88217626号的“IC检测装置”，于测试台1的上方设有一横移机构2及二升降机构3、4，该横移机构2于机架两侧设有横向滑块5供具横向滑座7的直立板体6滑置组装，而各直立板体6间设有一支架8，该支架8以螺套螺合一横向螺杆9，该横向螺杆9由一马达10驱动，进而可带动支架8及直立板体6横移作动，另于直立板体6侧面设有直立滑块11，供二升降机构3、4的横向支架12、13以直立滑座14、15滑置组装，另于各支架12、13的底面设有吸嘴16、17，并于顶面设有一贯穿横移机构2支架8的纵向螺杆18、19，该纵向螺杆18、19由二马达20、21驱动，进而二升降机构3、4可分别带动吸嘴16、17升降作动，又该测试台1的两侧设有具数载台的载台机构22、23，该二载台机构22、23的前、后方设有一入料机构24及取料机构25；藉此，当一载台机构22的载台将IC载送至测试台1侧方时，二组升降机构3、4即同步下降，令一组升降机构3的吸嘴16吸取IC，而后该横移机构2即带动二组升降机构3、4同步反向位移，使已吸取IC的升降机构3下降，将IC置入于测试台1中进行测试，而另一升降机构4则于同侧的载台机构23上吸取IC，待IC检测完毕后，该横移机构2再次带动二组升降机构3、4反向位移，令各吸嘴16、17下降分别作放置IC及检测IC动作；但是，该检测装置虽可提升IC测试作业的生产率，但由于二升降机构是以支架横向连结于横向机构间而相互同步作动，其各机构间的搭配组装精度要求相当高，以致组装上相当不易且费时，若组装精度较低时，即必须减缓各机构的载送速度，以令各机构间可顺利同步位移作动，致使无法有效将测试作业时间缩短至最佳化，另当其一机构稍有卡掣时，即相互牵动而影响整体作动的顺畅性。
发明内容
本发明的目的是提供一种IC检测装置，于测试台的两侧设有具取料器的第一、二取料机构，该第一、二取料机构于机架上均设有横移结构及升降结构，并由二驱动源驱动，以带动取料器各别作X-Z方向位移，进而该第一取料机构于一入料机构上吸取IC，并载送至测试台进行测试，而第二取料机构即横移至入料机构吸取IC，第一取料机构于IC测试完毕后，则载送至一出料机构上出料，而第二取料机构即将IC载送至测试台测试，此时第一取料机构再重复进行取料作业；藉此，本发明的各取料机构独立作动，组件搭配组装简易，毋须费时组装，而易于提升组装精度，以增快各取料机构的位移速度，而缩短载送时间，达到更加有效提高检测效率的效益。
下面结合附图以具体实例对本发明进行详细说明。
图1是台湾第88217626号专利的示意图；图2是图1的局部俯视图；图3是图1的取料示意图；图4是图1的IC检测及另一取料IC示意图；图5是图1的放料及检测示意图；图6是本发明各机构的配置图；图7是本发明的第一、二取料机构示意图；图8-1是第一取料机构的示意图；图8-2是第一取料机构的侧视图；图9-1是第二取料机构的示意图；图9-2是第二取料机构的侧视图；图10是第一、二取料机构的正视图；图11是第一、二取料机构的俯视图；图12是载送IC的示意图；图13是第一取料机构吸取IC的示意图；图14是第一、二取料机构分别作IC测试及吸取另一IC的示意图；图15是第一、二取料机构分别作另一IC测试及IC出料的示意图；图16是第一、二取料机构分别作再次吸取IC及IC出料的示意图。
附图标记说明测试台1；横移机构2；升降机构3、4；横向滑块5；横向滑座7；直立板体6；支架8；横向螺杆9；马达10；直立滑块11；横向支架12、13；直立滑座14、15；吸嘴16、17；纵向螺杆18、19；马达20、21；载台机构22、23；入料机构24；取料机构25；测试台30；第一取料机构40；第二取料机构50；横向滑轨41、51；横向螺杆42、52；马达43、53；滑动件44、54；螺套441、541；横向滑座442、542；纵向滑座443、543；取料器45、55；纵向滑轨451、551；横向滑座452、552；支架46、56；横向滑轨461、561；纵向滑座462、562；螺套463、563；纵向滑轨47、57；纵向螺杆48、58；马达49、59；入料机构60；出料机构70；载台61、71；吸嘴62、72。
具体实施例方式
请参阅图6～图11，本发明的检测装置包含有测试台30、第一、二取料机构40、50及入、出料机构60、70，其中，该测试台30的两侧设有第一、二取料机构40、50，各取料机构均设有相互组装的横移结构及升降结构，各横移结构于机架上设有横向滑轨41、51及横向螺杆42、52，而横向螺杆42、52由一马达43、53驱动，一具有螺套441、541及横向滑座442、542的滑动件44、54，滑置且螺合于横向滑轨41、51及横向螺杆42、52上，并于另面设有纵向滑座443、543，而升降结构在一底面具吸嘴的取料器45、55侧面设有纵向滑轨451、551，以滑置于滑动件44、54的纵向滑座443、543中，该横移结构另于取料器45、55的顶面设有一横向滑座452、552，以滑置于一支架46、56的横向滑轨461、561上，而升降结构于该支架46、56的另面设有二纵向滑座462、562及一螺套463、563，以分别组装于机架的纵向滑轨47、57及纵向螺杆48、58上，而纵向螺杆48、58由一马达49、59驱动，进而当各横移结构的马达43、53驱动横向螺杆42、52时，即带动滑动件44、54的横向滑座442、542及取料器45、55的横向滑座452、552，于机架的横向滑轨41、51及支架46、56的横向滑轨461、561上作X方向往复位移，而当各升降结构的马达49、59驱动纵向螺杆48、58时，即带动支架46、56的纵向滑座462、562及取料器45、55的纵向滑轨451、551，于机架的纵向滑轨47、57及滑动件44、54的纵向滑座443、543上作Z方向往复位移，另该入料机构60及出料机构70是分别设于测试台30的前、后方，各设有一具载台61、71的载台结构，用以载送IC，及一具有吸嘴62、72的取放结构，用以取放IC；藉此，请参阅图12、图13所示，该入料机构60的吸嘴62将IC放置于载台61上，以载台61载送至第一取料机构40的取料器45下方，该第一取料机构40的马达49即驱动纵向螺杆48，以带动支架46及取料器45下降，令取料器45的吸嘴于载台61上吸取IC，并上升复位，而载台61再反向位移复位以承载IC；请参阅图11、图13、图14所示，该第一取料机构40的二马达49、43即分别驱动纵、横向螺杆48、42，以带动支架46、滑动件44及取料器45同步作X-Z方向位移，将取料器45上的IC置入于测试台30中进行测试作业，在此同时，入料机构60的载台61再载送另一IC至测试台30的侧方，而第二取料机构50的马达53即驱动横向螺杆52，以带动滑动件54及取料器55作X方向位移，令取料器55位于入料机构60的载台61上方，再以另一马达59驱动纵向螺杆58，而带动支架56及取料器55下降，令取料器55的吸嘴吸取IC，并反向位移复位；请参阅图11、图15、图16所示，当第一取料机构40的IC检测完毕后，即由二马达49、43驱动纵、横向螺杆48、42，以带动取料器45于各横向滑轨41、461上横向位移至出料机构70的载台71上方，并令取料器45下降将IC放置于载台71上送出，在此同时，第二取料机构50的二马达59、53即分别驱动纵、横向螺杆58、52，以带动支架56、滑动件54及取料器55同步作X-Z方向位移，将取料器55上的IC置入于测试台30中进行测试作业，当第二取料机构50的IC作测试时，该第一取料机构40的取料器45即反向位移作动，而再次于入料机构60的载台61上吸附IC，当第二取料机构50的取料器55将测试完的IC放置于出料机构70的载台71上送出时，第一取料机构40即可将IC置入于测试台30中进行测试，因此，该第一、二取料机构40、50可依序迅速载送IC进行测试作业。
权利要求
1.一种IC检测装置，包括测试台，设于机台上；第一取料机构，设于测试台的侧方，并设有横移结构及升降结构，且各由一驱动源驱动，以带动一取料器作X-Z方向位移；第二取料机构，设于测试台的侧方，并设有横移结构及升降结构，且各由一驱动源驱动，以带动一取料器作X-Z方向位移；入料机构，设于测试台的前方，具有载台结构，用以载送IC；出料机构，设于测试台的后方，并具有载台结构，用以载送IC。
2.依权利要求1所述的IC检测装置，其中，该第一、二取料机构的各横移结构用马达驱动一横向螺杆，该横向螺杆上螺设一具螺套的滑动件，各升降结构于滑动件及取料器间设有相互配合的纵向滑座及纵向滑轨，该横移结构另于取料器的顶面及一支架间设有相互配合的横向滑座及横向滑轨，升降结构于支架上设有螺套以螺合于一纵向螺杆上，纵向螺杆由一马达驱动。
3.依权利要求2所述的IC检测装置，其中，该第一、二取料机构的各横移结构在机架上设有数个横向滑轨，供取料器的横向滑座滑置组装。
4.依权利要求2所述的IC检测装置，其中，该第一、二取料机构的各升降结构在机架上设有数个纵向滑轨，供支架的纵向滑座滑置组装。
5.依权利要求1所述的IC检测装置，其中，该第一、二取料机构的取料器具有吸嘴。
6.依权利要求1所述的IC检测装置，其中，该入料机构设有取放结构，用以取放IC。
7.依权利要求1所述的IC检测装置，其中，该出料机构设有取放结构，用以取放IC。
全文摘要
本发明公开了一种IC检测装置，是于测试台的两侧设有具取料器的第一、二取料机构，该第一、二取料机构于机架上均设有横移结构及升降结构，并由二驱动源驱动，以带动取料器各别作X－Z方向位移，另于测试台的前后设有入、出料机构，进而该第一取料机构由入料机构上吸取IC，并载送至测试台进行测试，而第二取料机构即横移至入料机构以吸取IC，第一取料机构于IC测试完毕后，则载送至出料机构上出料，而第二取料机构即将IC载送至测试台测试，此时第一取料机构再重复进行取料作业；藉此，各取料机构独立作动，可易于提升组装精度及载送速度，进而更加提高检测效率。
文档编号G01R1/00GK1690717SQ20041003765
公开日2005年11月2日 申请日期2004年4月28日 优先权日2004年4月28日
发明者张原龙 申请人:鸿劲科技股份有限公司