专利名称：脉冲调制型光检测装置及方法、电子设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及从发光元件发出经脉冲调制后的光并检测有无物体的脉冲调制型光检测装置和脉冲调制型光检测方法，特别涉及一种适用于复印机、打印机等的FA(工厂自动化)及OA(办公自动化)设备、以及适用于检测硬币及弹珠等的娱乐设备等的电子设备的脉冲调制型光检测装置和脉冲调制型光检测方法。
背景技术：
在复印机、打印机等的FA及OA设备以及游戏机这样的娱乐设备等的电子设备中，有时需要对物体(诸如记录纸、硬币、弹珠等)在预定通路中的通过情况进行检测。用光对物体实施检测的光检测装置，由于其不接触物体，所以比较适于上述的检测。
图6表示现有技术的光检测装置的一个示例。图7表示现有技术中的同步脉冲光入射时的时序图。在上述光检测装置中，在振荡电路21中生成的基准时钟(CLK)信号(A2)由同步定时电路22调制成同步定时信号(B2)。根据同步定时信号(B2)，由发光元件驱动电路23驱动发光元件24，从发光元件24发出已脉冲调制过的脉冲光。
上述已脉冲调制过的脉冲光，在被从发光元件24和光接收元件25的前面通过的物体A反射后入射到光接收元件25，或者，在透射从发光元件24和光接收元件25之间通过的物体A后入射到光接收元件25。因而，如图7所示，如果周围不存在外部干扰光(C2)(在图7中，外部干扰光(C2)为Lo电平)，向光接收元件25入射的脉冲光因横穿上述脉冲光的物体A的通过而通/断(ON/OFF)。
然后，由光接收元件25将这样对光接收元件25的入射进行通/断的脉冲光实施光电转换，之后，由放大器26对光电转换后的光接收信号(D2)进行放大，并由判定电路27进行波形整形，然后，作为来自判定电路27的输出(E2)而输出之。上述输出(E2)被输入信号处理电路28，在该信号处理电路28中进行信号处理后生成并输出信号处理电路输出信号(F2)。然后，在输出电路29中，为适于向外部输出而对该信号处理电路输出信号(F2)进行调整并输出之，从该输出电路29将Hi或Lo的信号作为表示是否检测出物体A的检测信号而进行输出(参照日本专利公开公报特公平4-53396号公报(
公开日1987年6月12日)、日本专利公开公报特公平4-53273号公报(
公开日1986年8月8日))。
但是，在上述现有技术的结构中存在下述缺陷，即，尽管不存在要进行检测的物体A，但输出由于外部干扰光的干扰而反复Hi、Lo，好象产生了震荡，从而导致错误检测上述物体A。
这里，作为典型的外部干扰光，可以列举出来自反相器荧光灯的光。关于来自反相器荧光灯的光，如图8(a)所示，其中混杂有各种强度的光，在如图8(b)所示那样进行放大时，可知其是由被表示在反相器(inverter)荧光灯的设备的驱动频率及其高次谐波构成的。另外，一般所知的反相器荧光灯的驱动频率为40kHz～60kHz。
图9表示在图6的框图所示的现有技术的光检测装置中，当不存在要检测的物体A时，如图8(a)或图8(b)所示的反相器荧光灯的光作为外部干扰光入射时的时序图。
当反相器荧光灯入射时，判定输出(E2)表示相对发光定时(B2)存在多个脉冲光。如果反相器荧光灯的光和发光定时一致，会被错误地检测为同步光，如果反相器荧光灯的光与发光定时不一致，或者光接收强度减弱，则不再被检测为同步光，所以存在如下问题如果长时间观测的话，尽管不存在要进行检测的物体A，但输出会反复Hi、Lo，好象产生了震荡而错误检测上述物体A。
接着，对在上述错误检测时的图6所示的现有技术的框图中的信号处理电路28进行说明。图10表示信号处理电路28的一个例子。在信号处理电路28中设置有带有两个时间门(Timing Gate)的同步锁存电路2D及非同步锁存电路2F，用于分别以同步定时X2及非同步定时Z2取入来自判定电路27的输出E2，并分别保持所取入的各输出；状态检测电路2I，用于判断分别来自上述同步锁存电路2D、非同步锁存电路2F的各输出Q、Q-的取入信号的状态；以及移位寄存器2J。
这里，图11表示在图9所示的外部干扰光入射时在信号处理电路28中的时序图。判定输出E2表示相对于同步定时X2，没有信号的状态和存在较多的脉冲光的状态。当为存在数量较多的脉冲光的状态时，如果存在与同步定时X2一致的信号，则同步锁存电路2D保持输出，直到锁存复位定时(Latch Reset Timing)为止。同样地，如果存在与非同步定时Z2一致的信号，则非同步锁存电路2F保持输出，直到锁存复位定时为止。
即，同步锁存电路2D在判定输出E2的信号与同步定时X2一致的时刻起到锁存复位定时为止，保持该同步锁存电路2D的输出信号。而非同步锁存电路2F在判定输出E2的信号与非同步定时Z2一致的时刻起到锁存复位定时为止，保持该非同步锁存电路2F的输出信号。
上述同步锁存电路2D的输出信号和非同步锁存电路2F的输出信号被分别输入到状态检测电路2I。状态检测电路2I按照其逻辑向移位寄存器2J的S、R或CLK输出PRESET(预置)信号、CLR信号或CLK信号，并且移位寄存器2J进行计数。
通过输入CLR信号来保持图11的时序图中没有信号的状态、即，没有移位寄存器2J的输出F2的状态。但是，由于反相器荧光灯的噪声的作用而被输入判定输出E2的信号，当计数3次CLK后，移位寄存器2J的输出F2反转为Lo。根据PRESET信号，移位寄存器2J的输出F2被保持为Lo后，不再输入判定输出E2的信号，所以，由CLK开始计数。但是，即使在中途检测出噪声，通过向移位寄存器2J的CLR输入清零信号而对计数进行清零，移位寄存器2J的输出仍反转为Hi。
当诸如图8(a)及图8(b)所示那样的来自反相器荧光灯的作为噪声的外部干扰光持续入射时，会产生如下问题图11中所示的移位寄存器2J的输出F2反复Hi、Lo，看上去好象产生了震荡，从而进行误动作。
发明内容
本发明是鉴于上述现有技术的问题而进行的，其目的是提供一种脉冲调制型光检测装置、脉冲调制型光检测方法和采用了该脉冲调制型光检测装置及脉冲调制型光检测方法的电子设备，即使存在外部干扰光也能抑制因上述外部干扰光所导致的误动作。
为了实现上述目的，本发明的脉冲调制型光检测装置为，从发光元件发出与脉冲信号同步的脉冲光，利用来自光接收元件的光接收信号来检测是否存在物体，其中，该光接收元件接受要借助于上述脉冲光进行检测的物体的反射光或透射光，该脉冲调制型光检测装置具有脉冲生成电路，生成用于使得在一个周期中发出多次脉冲光的脉冲信号；以及光接收侧检测电路，检测与上述多次脉冲光对应的光接收信号，从而输出用于表示有无物体的检测信号。在上述结构中，可以在按照由移位寄存器等预先设定的计数次数分别连续同步地检测出与上述多次脉冲光对应的光接收信号时，将Hi或Lo电平的信号判断为检测信号并输出。
然而，在现有技术中，在一个周期中存在一次同步定时，当在该同步定时中有信号时，判断其为一个周期同步而进行信号处理，在该同步次数达到预先设定在移位寄存器中的次数时，就判断检测或非检测。
在本发明中，在一个周期中有多个同步定时，能够根据在进行下述信号处理后所得到的检测信号来判断是否检测出物体，即，仅在以上述多个同步定时中的至少两个同步定时在光接收信号中检测出信号时，才判断为一个周期同步。
其结果，在上述结构中，只在多次之中用至少两个同步定时检测出信号时才判断为一个周期同步，所以即使存在作为随机的噪声光——例如来自反相器荧光灯的外部干扰光，即便因上述外部干扰光而产生的一个光接收信号与上述至少两个同步定时中的一个一致，也能够减少与另一个同步定时一致，所以能够抑制因上述外部干扰光所导致的错误检测。
为了实现上述目的，本发明的电子设备使用上述脉冲调制型光检测装置。
为了实现上述目的，本发明的脉冲调制型光检测方法为，发出与脉冲信号同步的脉冲光，接受横穿上述脉冲光的光路的要进行检测的物体的反射光或透射光而得到光接收信号，并根据该光接收信号来检测有无物体，该脉冲调制型光检测方法包括对上述所发出的脉冲光进行设定使其具有两个或两个以上的脉冲间隔的步骤；以及根据因上述两个或两个以上的脉冲间隔的脉冲光而产生的光接收信号来检测有无物体的步骤。
在上述方法中，根据因所设定的两个或两个以上的脉冲间隔的脉冲光而产生的光接收信号来检测是否存在物体，因此，如上所述，能够减少因随机的外部干扰光所导致的对物体的错误检测。
本发明的其他目的、特征和优点通过以下所示的记载会变得十分清楚。此外，以下参照附图来明确本发明的优点。
图1是表示本发明的脉冲调制型光检测装置的一个实施方式的电路框图。
图2是上述脉冲调制型光检测装置的信号处理电路的电路框图。
图3是表示上述脉冲调制型光检测装置的各结构中的信号的、不存在外部干扰光时的时序图。
图4是表示上述脉冲调制型光检测装置的各结构中的信号的、在外部干扰光入射时的时序图。
图5是表示上述信号处理电路的各结构中的信号的、外部干扰光入射时的时序图。
图6是现有技术的脉冲调制型光检测装置的电路框图。
图7是现有技术中仅存在同步信号时的时序图。
图8(a)是反相器荧光灯波形的波形图。
图8(b)是上述波形图的放大波形9是现有技术的外部干扰光入射时的时序图。
图10是现有技术的脉冲调制型光检测装置的信号处理电路的电路框图。
图11是表示现有技术的信号处理电路的各结构中的信号的、在外部干扰光入射时的时序图。
具体实施例方式
下面，参照图1至图5，来说明本发明的脉冲调制型光检测装置及脉冲调制型光检测方法的一个实施方式。也就是说，在本实施方式的脉冲调制型光检测装置，如图1所示，设置有振荡电路11，借助于水晶振子等来生成并输出预定波长的基准时钟(以下，简称为“CLK”)信号(A1)；以及同步定时电路(脉冲生成电路)12，生成基于上述基准CLK信号的脉冲信号(B1)。
另外，在脉冲调制型光检测装置中，设置有发光元件驱动电路13，生成与上述脉冲信号对应的发光元件用驱动信号；以及发光元件14，根据发光元件用驱动信号，从上述发光元件朝预定方向(即，要检测的物体A的通过位置方向)发出与上述脉冲信号同步的光。
进而，在脉冲调制型光检测装置，设置有光接收元件15，用于接受要检测的物体A的反射光或透射光，将其转换成作为对应的检测电信号的光接收信号(D1)并输出；放大器16，对从光接收元件15得到的光接收信号(D1)进行放大，并将其作为放大光接收信号来输出；以及判定电路17，用于从上述放大光接收信号检测出上述脉冲信号并将其作为判定输出信号(E1)来输出。
另外，在脉冲调制型光检测装置中，还设置有信号处理电路(光接收侧检测电路)18，通过对判定输出信号(E1)与上述脉冲信号(B1)进行比较，以及对上述判定输出信号(E1)进行计数，来输出表示是否检测出上述物体A的判定处理信号(F1)；以及输出电路19，为了适于向外部输出(例如，低阻抗化或适当的输出电平)而对判定处理信号(F1)进行调整并输出之。在脉冲调制型光检测装置，优选的是，通过对作为上述光接收信号的上述判定信号(E1)中的多个(例如3个)判定信号(E1)进行计数来检测有无物体。
上述同步定时电路12，如图3所示，生成用于使脉冲光在一个周期中发生多次的发光定时脉冲信号(即，被设定了多个脉冲间隔的发光定时脉冲信号)。另外，上述信号处理电路18，能够在作为光接收信号的上述判定信号(E1)中，检测与上述多次发光定时脉冲信号对应的各信号。
因此，在上述脉冲调制型光检测装置中，上述判定信号(E1)在一个周期中有多次例如两次同步定时，在移位寄存器1J中例如三个周期连续同步的情况下，将Hi或Lo信号作为检测信号输出。另外，图3表示在本发明的实施方式，在没有外部干扰光的状态下，同步脉冲光入射时的时序图(本实施方式的脉冲调制型光检测方法)。
下面，对上述脉冲调制型光检测装置的动作进行说明。在振荡电路11中生成基准时钟信号(A1)。在同步定时电路12中，根据上述基准CLK信号，调制并生成在一个周期中具有两个同步定时的各发光定时脉冲信号(B1)。发光元件驱动电路13根据各发光定时脉冲信号(B1)来驱动发光元件14，从发光元件14朝物体A的通过位置发出被脉冲调制后的脉冲光。
这种已脉冲调制过的脉冲光，在被从发光元件14和光接收元件15的前面通过的物体A反射后入射到光接收元件15，或者，在透射从发光元件14和光接收元件15之间通过的物体A后入射到光接收元件15。因而，如果周围不存在外部干扰光(C1)，向光接收元件15入射的脉冲光则因物体A的通过而通/断(ON/OFF)。
然后，由光接收元件15进行了光电转换后的光接收信号(D1)被放大器16放大，在信号处理电路18中对波形整形后的判定电路17的上述判定信号(E1)进行处理(F1)，输出电路19将Hi或Lo的信号作为检测信号来输出。
图2表示上述信号处理电路18的一个示例。在信号处理电路18中，设置有用于分别以同步定时X1、Y1和非同步定时Z1取入判定电路17的输出E1的“与”电路1A、1B、1C。同步定时X1、Y1分别与用于使得在一个周期中发生多次(在本实施方式中为2次)脉冲光的各发光定时脉冲信号同步。非同步定时Z1被设定为与上述各发光定时脉冲信号非同步，即不一致。
另外，还设置有用于分别保持各“与”电路1A、1B、1C的、带有三个时间门的同步锁存电路1D、1E和非同步锁存电路1F。还设置有被分别输入上述同步锁存电路1D及1E的输出Q的“与非”电路1G、被分别输入上述同步锁存电路1D及1E的输出Q-的“与非”电路1H。
此外，还设置有状态检测电路1I，分别取入“与非”电路1G的输出、“与非”电路1H的输出、非同步锁存电路Z1的输出Q及Q-，对来自判定电路17的信号状态进行判断；以及移位寄存器1J。
上述状态检测电路1I，并不特别限定其电路结构，而只要是能够借助于可判断上述信号的状态的逻辑来检测出上述状态的逻辑电路即可。作为这样的逻辑，举出以下两个例子，但也可使用其他逻辑。
作为上述逻辑的一个示例，在没有外部干扰光的状态(非同步锁存1F的Q＝0)下，如果在非检测时(移位寄存器1J的Q＝1)时同步光入射，则“与非”电路1G的输出为0，状态检测电路1I对CLK输出“1”。进而，根据上述逻辑，即便是在检测状态(移位寄存器1J的Q＝0)下，当同步光入射时，“与非”电路1G的输出也为0，所以，状态检测电路1I对移位寄存器1J的“PRESET”(在图2中，为SET(S))输出“1”。另外，在上述逻辑中，如果在检测状态(移位寄存器1J的Q＝0)下不存在同步光，则“与非”电路1G的输出为1，状态检测电路1I对移位寄存器1J的CLK输出“1”。此外，根据上述逻辑，如果在非检测时(移位寄存器1J的Q＝1)不存在同步光，则“与非”电路1G的输出为“1”，对移位寄存器1J的CLR(在图2中，为RESET(R))输出“1”而使移位寄存器1J复位。
上述逻辑的另一个示例为，在没有外部干扰光的状态(非同步锁存1F的Q＝0)下，如果在非检测时(移位寄存器1J的Q＝0)不存在同步光，则“与非”电路1G的输出为1，状态检测电路1I对移位寄存器1J的CLK输出“1”。在检测状态时(移位寄存器1J的Q＝1)，如果不存在同步光，则“与非”电路1G的输出为1，所以，状态检测电路1I对移位寄存器1J的CLR(在图2中，为RESET(R))输出“1”。在检测状态时(移位寄存器1J的Q＝1)，当同步光入射时，“与非”电路1G的输出为0，所以，状态检测电路1I对移位寄存器1J的CLK输出“1”。在非检测时(移位寄存器1J的Q＝0)，当同步光入射时，“与非”电路1G的输出为0，所以，状态检测电路1I对移位寄存器1J的“PRESET”(在图2中，为SET(S))输出“1”。
关于上述移位寄存器1J，只要是能够保持输入值(数据)并根据需要清零(RESET)上述所保持的输入值的逻辑电路即可。D触发电路(Flip-flop)、JK触发电路及其他触发电路都可以使用而不存在什么问题。在本实施方式中，由三级D触发电路构成。
图4表示在图1的电路框图所示的脉冲调制型光检测装置中，当不存在同步脉冲光入射时，如图8(a)及图8(b)所示的反相器荧光灯的光作为外部干扰光入射时的时序图。
当反相器荧光灯入射时，判定输出(E1)表示相对于发光定时(B1)存在较多的脉冲光。在本实施方式中，如果在一个周期中不与两次同步定时都一致，则不被判断为一个周期同步。在反相器荧光灯的周期中，能够避免连续两次一致的情形，所以不会被判断为同步，输出能够保持非检测状态而不会发生误动作。
这里，图5表示在如图4所示的外部干扰光入射时的信号处理电路18的时序图。判定输出E1表示相对于发光定时X1不存在信号的状态和存在表示有较多脉冲光的各信号的状态。发光脉冲定时B1由同步定时X1和同步定时Y1构成，如果存在与同步定时X1一致的信号，同步锁存电路1D则保持输出，直到锁存复位定时为止。
同样地，如果存在与同步定时Y1一致的信号，同步锁存电路1E则保持输出直到锁存复位定时为止。另外，如果存在与非同步定时Z1一致的信号，非同步锁存电路1F则保持输出直至锁存复位定时为止。虽然，反相器荧光灯噪声有时会与同步定时X1或同步定时Y1一致，但是，能够防止同步定时X1和同步定时Y1在一个周期中同时相互一致的情形，即，反相器荧光灯噪声不会与同步定时X1及同步定时Y1的双方同步地产生，所以，“与非”电路1G就总是输出作为Hi电平的“1”的信号，其中，该“与非”电路1G被输入上述同步锁存电路1D、1E的各输出Q。因此，状态检测电路1I按照逻辑向作为移位寄存器1J的CLR的R输出“1”并使上述移位寄存器复位，即便有上述外部干扰光也能够保持非检测而不会发生误动作。
优选一个周期中的同步定时间隔比反相器荧光灯的周期40kHz～60kHz(λ＝25μm～16.7μm)快(短)。如果反相器荧光灯的光较强地入射，周期的两次高次谐波有可能在来自判定电路17的输出中出现，基于此，优选一个周期中的同步定时间隔比反相器荧光灯的周期40kHz～60kHz(λ＝25μm～16.7μm)的两倍快(比1/2短)。另外，一个周期中的同步定时间隔的上限并没有被特别限定，但优选反相器荧光灯的周期的十倍为止，更优选八倍为止，进一步优选五倍为止。
另外，如果外部干扰光是反相器荧光灯以外的光，则将一个周期中的同步定时间隔配置为比该外部干扰光的频率快的定时即可。
在本实施方式，说明了将一个周期中的同步定时设置为两个，但只要是在构成一个周期的基时钟(Base Clock)次数所允许的范围内，即使将同步定时设定为上述更多的多次，也是不存在问题的。当次数较多时，很难产生误动作。不过，由于发光元件14的驱动次数和同步定时次数是相同的，所以同步定时次数越多，消耗电流就越大。
如上所述，在脉冲调制型光检测装置中，能够防止在反相器荧光灯等的外部干扰光入射时的误动作。
另外，本实施方式的脉冲调制型光检测装置的光接收侧检测电路，优选具有多个分别与多次脉冲光对应的同步检测锁存电路，当在一个周期中各同步检测锁存电路均检测出同步的信号时，输出上述检测信号。
进而，上述脉冲调制型光检测装置的脉冲生成电路，优选是将在一个周期中多次发出的脉冲光的频率设定为大于假定的噪声信号的频率。
根据上述结构，在一个周期中多次发出的脉冲光的频率被设定为大于假定的噪声信号的频率，所以即使基于上述外部干扰光所产生的一个光接收信号与上述至少两个同步定时中的一个一致，但由于能够切实地减少与另一同步定时一致，因而也能可靠地抑制因上述外部干扰光所导致的错误检测。
上述光接收侧检测电路也可以具有在多个周期中连续同步的情况下判定为检测出物体的判定部。
根据上述结构，当在多个周期中连续同步时，就判定为检测出物体，因此，诸如外部干扰光那样的随机的噪声即使在一个周期中同步，但是，由于在多个周期中连续同步的几率小于上述在一个周期中同步的几率，所以能够更稳定地减少上述噪声光导致的错误检测。
另外，在本实施方式的脉冲调制型光检测方法中，优选将上述被发出的脉冲光的两个或两个以上的脉冲间隔中的至少一个设定得比对上述脉冲光的外部干扰光的假定的间隔长。
根据上述方法，能够将上述被发出的脉冲光的两个或两个以上的脉冲间隔中的至少一个设定得比外部干扰光的假定的间隔要长，另一方面，能够将其他脉冲间隔的任一者设定得比外部干扰光的假定的间隔要短。所以，即使上述一个脉冲间隔的脉冲光的一个与上述外部干扰光中的一个同步、即一致，由于能够减少上述另一个脉冲间隔的脉冲光的另一个与上述外部干扰光的另一个同步、即一致的情况，因此能可靠地抑制因外部干扰光所导致的对物体的错误检测。另外，上述两个或两个以上的脉冲间隔中的一个是指图3所示的、从任一个发光定时脉冲B1的同步定时Y1的上升沿至下一个发光定时脉冲B1的同步定时X1的上升沿为止的脉冲间隔d1，而上述其他脉冲间隔的任一者是指图3所示的、从任一个发光定时脉冲B1的同步定时X1的上升沿至该发光定时脉冲B1的同步定时Y1的上升沿为止的脉冲间隔d2。
另外，在上述脉冲调制型光检测方法中，也可利用因上述两个或两个以上的脉冲间隔中、和脉冲间隔最长的脉冲间隔不同的脉冲间隔的脉冲光而产生的光接收信号，对有无物体进行检测。
根据上述方法，利用两个或两个以上的脉冲间隔中、和脉冲间隔最长的脉冲间隔不同的脉冲间隔的脉冲光，从而能够将上述两个或两个以上的脉冲间隔中、至少一个脉冲间隔设定得比外部干扰光的假定的间隔短，所以能够可靠地抑制因外部干扰光所导致的对物体的错误检测。
本发明的上述具体实施方式
或实施例只是用于阐述本发明的技术内容的示例，并不限于上述具体实施方式
或实施例，不应对其进行狭义的解释。在本发明的精神和权利要求的范围内，可进行各种变更来实施。
权利要求
1.一种脉冲调制型光检测装置，从发光元件发出与脉冲信号同步的脉冲光，通过来自光接收元件的光接收信号来检测是否存在物体，其中，该光接收元件接受要借助于上述脉冲光进行检测的物体的反射光或透射光，其特征在于，该脉冲调制型光检测装置具有脉冲生成电路，生成用于在一个周期中使各脉冲光发光多次的上述脉冲信号；以及光接收侧检测电路，检测与上述多次脉冲光对应的光接收信号，从而输出用于表示是否存在物体的检测信号。
2.根据权利要求1所述的脉冲调制型光检测装置，其特征在于上述光接收侧检测电路具有多个分别与多次脉冲光对应的同步检测锁存电路，在一个周期中各同步检测锁存电路均检测出同步的信号时，输出上述检测信号。
3.根据权利要求1所述的脉冲调制型光检测装置，其特征在于上述脉冲生成电路将一个周期中多次发出的脉冲光的频率设定得比假定的噪声信号的频率大。
4.根据权利要求2所述的脉冲调制型光检测装置，其特征在于上述脉冲生成电路将一个周期中多次发出的脉冲光的频率设定得比假定的噪声信号的频率大。
5.根据权利要求1所述的脉冲调制型光检测装置，其特征在于上述光接收侧检测电路具有判定部，该判定部在检测出多个周期中连续同步所得到的多个检测信号时，判定为检测出物体。
6.根据权利要求2所述的脉冲调制型光检测装置，其特征在于上述光接收侧检测电路具有判定部，该判定部在检测出多个周期中连续同步所得到的多个检测信号时，判定为检测出物体。
7.根据权利要求3所述的脉冲调制型光检测装置，其特征在于上述光接收侧检测电路具有判定部，该判定部在检测出多个周期中连续同步所得到的多个检测信号时，判定为检测出物体。
8.根据权利要求4所述的脉冲调制型光检测装置，其特征在于上述光接收侧检测电路具有判定部，该判定部在检测出多个周期中连续同步所得到的多个检测信号时，判定为检测出物体。
9.一种电子设备，其特征在于使用权利要求1至8中的任一项所述的脉冲调制型光检测装置。
10.一种脉冲调制型光检测方法，发出与脉冲信号同步的脉冲光，接受横穿上述脉冲光的光路的要进行检测的物体的反射光或透射光而得到光接收信号，并根据该光接收信号来检测是否存在物体，其特征在于，该方法包括下述步骤对上述所发出的脉冲光进行设定，使其具有两个或两个以上的脉冲间隔的步骤；以及通过由上述具有两个或两个以上的脉冲间隔的脉冲光所得到的光接收信号来检测有无物体的步骤。
11.根据权利要求10所述的脉冲调制型光检测方法，其特征在于将上述被发出的脉冲光的两个或两个以上的脉冲间隔中的至少一个设定得比对上述脉冲光的外部干扰光的假定的间隔长。
12.根据权利要求10或11所述的脉冲调制型光检测方法，其特征在于通过由上述两个或两个以上的脉冲间隔中、与脉冲间隔最长的脉冲间隔不同的脉冲间隔的脉冲光所得到的光接收信号来检测有无物体。
全文摘要
本发明提供一种脉冲调制型光检测装置。该脉冲调制型光检测装置具有发光元件，发出与脉冲信号同步的脉冲光；光接收元件，接受要借助于上述脉冲光进行检测的物体的反射光或透射光；信号处理电路，根据来自上述光接收元件的光接收信号来检测是否存在物体；以及同步定时电路，生成用于使得在一个周期中发出多次脉冲光的脉冲信号。上述信号处理电路检测上述多次脉冲，并输出表示是否存在上述物体的检测信号。
文档编号G01V8/10GK1779489SQ20051012683
公开日2006年5月31日 申请日期2005年11月24日 优先权日2004年11月24日
发明者丸山康弘 申请人:夏普株式会社